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operation defectの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 436件
This defect detection device 1 for detecting an internal defect of the molding 2 is characterized by being provided with a drill part 3 for penetrating the molding 2, and a viscometer 4 for measuring the viscosity generated in company with operation of the drill part 3 when the drill part 3 penetrates the molding 2, and calculating the viscosity as a torque by using a proper operation expression.例文帳に追加
成形体2の内部欠陥を検出する欠陥検出装置1において、成形体2に貫入するドリル部3と、ドリル部3が成形体2に貫入したときに、ドリル部3の作動に伴って生ずる粘度を測定し、その粘度を適宜の演算式を用いてトルクとして算出する粘度計4とを備えることを特徴とする。 - 特許庁
To provide an image forming device which is prevented from decreasing in its operation rate owing to printing operation disabled by not only an open or short circuit of a temperature detecting circuit itself, but also deterioration of solder in the circuit, a connector defect, etc.例文帳に追加
温度検知回路そのもののオープン,ショートのみならず、回路中の半田の劣化、コネクタ不良などの原因でプリント動作をまったく不許可にしてしまうことによる稼働率の低下を防いだ画像形成装置を提供する。 - 特許庁
To provide a device in which a circuit performing read-out of a ROM is separated from the other circuit to determine which circuit has caused defect, or defective read-out of a ROM caused by drop of power source voltage is prevented, when defect is caused in operation of a device.例文帳に追加
装置の動作に不良が発生した場合、ROM読み出し動作を行う回路と他の回路とを切り分けていずれに不良の原因があるかを特定し、あるいは電源電圧の低下によりROM読み出しに不良が発生することを防止することが可能な装置を提供する。 - 特許庁
Furthermore, as defect such as overheating of the source electrode 41 can be rapidly detected by the temperature sensor 41, breakage of the semiconductor device 1 can be prevented by arranging a protection circuit for stopping operation of the semiconductor device 1 when the defect is detected by the temperature sensor 41.例文帳に追加
また温度センサ41でソース電極41の過熱などの異常を迅速に検出することができるので、温度センサ41で異常が検出されたときに、半導体装置1の動作を止める保護回路を設置することによって、半導体装置1の破壊を防ぐことが可能である。 - 特許庁
A row of a normal memory cell comprising a memory cell in which defect is caused can be substituted by a useful row of a redundant memory cell having no defect by controlling operation of such the selection circuit 32 without connecting a row of a redundant memory cell and a row of a normal memory cell substituted generally.例文帳に追加
このような選択回路32の作動を制御することによって、不良が生じたメモリセルを含むノーマルメモリセルのローは、リダンダントメモリセルのローが一般的に代えられたノーマルメモリセルのローと連結されていなくても、不良がないリダンダントメモリセルの有用なローに代えることができる。 - 特許庁
A plot controller stores two-dimensional defect position data as plot data produced by projecting a position of the micro-defect generated in the painted surface of the vehicle onto the horizontal or vertical two-dimensional projecting plane, retrieves the plot data sequentially, in response to switch operation and plots them on the painted surface of the vehicle.例文帳に追加
プロット制御部が、車両塗面に生じている微小欠陥位置を水平もしくは垂直の二次元投影面に投影した二次元の欠陥位置データをプロットデータとして格納し、スイッチ操作に応答して順にプロットデータを検索して車両塗面にプロットする。 - 特許庁
In a method for writing, a position of a first data sector on a disk where write operation fails is located, the first data sector and a plurality of other data sectors near the first data sector are identified as a grown defect, and the locations of the first data sector and the plurality of other data sectors are stored in a grown defect list.例文帳に追加
書き込み方法は、書き込み動作が失敗したディスク上の第1データセクタの位置を見つけ、第1データセクタと第1データセクタ近傍にある複数の他のデータセクタを後発欠陥として特定し、第1データセクタと複数の他のデータセクタの位置を欠陥リストに格納する。 - 特許庁
To provide a flaw type classification boundary setting method in surface defect detection allowing even an operator without having a special technique to simply realize complicated defect classification, and enabling evaluation capable of remarkably reducing work and of rapidly responding to change of an operation state.例文帳に追加
特殊な技術をもたないオペレータでも簡便に複雑な欠陥分類が実現され、労力が大幅に削減されるとともに操業状態の変化に迅速に対応した評価が可能となるような表面欠陥検出における疵種分類境界設定方法を提供する。 - 特許庁
To improve operation reliability by preventing development of transportation defect and information reading defect by returning a position of a dry analysis element when position of the dry analysis element stored in a element cartridge for loading at an element loading part of an automatic analysis device is deviated such that the dry analysis element pops out of an ejection port.例文帳に追加
自動分析装置の素子搭載部に搭載する素子カートリッジに収容した乾式分析素子が取出口より飛び出るように位置がずれたときに、その位置を戻して搬送不良、情報読み取り不良の発生を防止し、動作信頼性を向上する。 - 特許庁
The memory test circuit constitutes a part of a test pattern, executes the test to a memory 2 according to a pattern mode signal for specifying the partial pattern consisting of a plurality of operation and stores the pattern mode signal in a defect information storing register 17 as the part of the defect information.例文帳に追加
本発明にかかるメモリテスト回路は、テストパタンの一部を構成し、複数の動作からなる部分パタンを指定するパタンモード信号に応じてメモリ2に対するテストを実行するとともに、パタンモード信号を不良情報の一部として不良情報格納レジスタ17に格納するものである。 - 特許庁
Redundancy definition data for realizing a redundancy function of a memory device including arrangement of spare cells in a memory device and position information of a defect relieving range in which defect is relived by the spare cells is preparing by using a programming language A including item names, operation equation, and a repeating instruction.例文帳に追加
メモリデバイスのリダンダンシ機能を実現するための、メモリデバイス内のスペアセルの配置と、このスペアセルによって救済される不良救済範囲の位置情報とを含むリダンダンシ定義データを、項目名、演算式および繰返し命令を含むプログラミング言語Aを用いて作成する。 - 特許庁
Further, a defect is detected by a missing component and/or presence of a defect identification mark for the component mounting region positioned at the defective component detection position, whereby an operation of stamping out the component on the component mounting region is skipped when the region detected as the one including the missing component or the defect identification mark is positioned at the stamping position.例文帳に追加
さらに、不良品検出位置において位置決めされた部品搭載領域に対して、部品の欠損及び/又は不良品識別マークの有無により不良を検出することで、部品欠損あるいは不良品識別マーク有りと検出された部品搭載領域が打ち抜き位置に位置された際に、その部品搭載領域に対する部品打ち抜き動作をスキップさせる。 - 特許庁
Considering that the dot flaw and the longitudinal line flaw are adjacently present, the defect compensation circuit 76 performs designated difference operation using pixels around a pixel of an interest to be compensated and determines an interpolation pattern according to the result of comparison between differential operation values.例文帳に追加
点キズと縦線キズとが隣接して存在することを考慮し、欠陥補正回路76は補正すべき注目画素の周囲の画素を用いた所定の差分演算を実行し、差分演算値の大小比較に応じて補間パターンを決定する。 - 特許庁
To clean the surface of a photoreceptor by making good use of the operation of the photoreceptor and an intermediate transfer body, and also, to prevent the defect of image quality due to a scratch on the surface of the photoreceptor even when the operation is performed, regarding the electrophotographic image forming apparatus.例文帳に追加
電子写真方式の画像形成装置において、感光体と中間転写体の動作を利用して感光体表面の清浄化を行いつつ、その場合であっても感光体表面のスクラッチによる画質欠陥発生を未然に防ぐ。 - 特許庁
To provide a display device capable of deterring a transistor from operating unstably owing to variation in potential of a light shield film and also suppressing a defect in operation.例文帳に追加
遮光膜の電位の変動に起因してトランジスタの動作が不安定になるのを抑制し、かつ、動作不良が発生するのを抑制することが可能な表示装置を提供する。 - 特許庁
To provide a disk drive capable of automatically detecting and restoring an unreadable state even when a DMA (Defect Management Area) becomes unreadable after the recording operation due to a scratch, dirt, etc., of the disk.例文帳に追加
ディスクの傷や汚れ等によりDMAが記録後に読み取れなくなった場合でも、自動的に読取不能を検出して修復することができるディスク装置を提供する。 - 特許庁
To provide a method for the drive control of the electric motor as making its continued operation performable surely further with high reliability, in the case of generating a defect in a sensor signal for position determining of a rotor.例文帳に追加
ロータの位置確定のためのセンサ信号に欠陥が生じた場合に、確実でかつ信頼性の高い電気モータの継続動作が可能となるような方法を提供すること。 - 特許庁
To provide a semiconductor memory which can perform defect analysis without affecting system operation even if a system is being operated while the device is incorporated in a system.例文帳に追加
システムに搭載された状態で、システムが動作中であっても、システムの動作に影響を及ぼすことなく不良解析を行なうことができる半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁
To provide an image display device which has superior productivity and reliability by suppressing an operation defect etc., of a circuit layer due to cutting of a sealing substrate, and its manufacturing method.例文帳に追加
封止基板の切断に起因した回路層の動作不良等が抑制され、生産性および信頼性に優れた画像表示装置およびその製造方法を提供すること。 - 特許庁
A projection acquiring means 403 performs a prescribed direction projection operation of image data obtained by picking up the image of the defect inspection object (photoreceptor, etc., of copying machine) of this time.例文帳に追加
射影取得手段403は、今回の欠陥検査対象物(複写機の感光ドラム等)を撮像して得られた画像データに対して、所定方向の射影演算を行なう。 - 特許庁
To provide an inspecting device capable of detecting a defect of an aperture grill, which has been performed by a complicated visual inspection by an inspecting person, in relatively simple structure and operation.例文帳に追加
検査者による煩雑な目視検査により行われていたアパーチャグリルの欠陥の検出を、比較的簡単な構成および動作により行うことができる検査装置を提供する。 - 特許庁
To provide a semiconductor integrated circuit with a built-in memory in which defect analysis by a device actual operation frequency can be easily realized using an internal BIST circuit and an external memory tester.例文帳に追加
内部のBIST回路と外部のメモリテスタを用いて、デバイス実動作周波数での不良解析が容易に実現できるメモリ内蔵半導体集積回路を提供する。 - 特許庁
To provide an on-board waterproofing antenna device structured such that waterproofing processing is facilitated and trouble such as an operation defect of a circuit board in the waterproofing processing is not caused.例文帳に追加
本発明は、車載用防水型アンテナ装置において、防水処理を簡素化するとともに、防水加工での回路基板の作動不良等の不具合を発生させない構造にすること。 - 特許庁
To provide a means capable of surely repairing a recessed defect part like a through hole caused at a weld end in friction diffusion welding wink a simple operation, and drastically improving strength and appearance.例文帳に追加
摩擦攪拌接合における接合終端に生じる抜き孔のような凹状欠陥部を簡単な操作で確実に補修し、強度及び外観を大きく向上させる手段を提供する。 - 特許庁
To provide a mesh and a filter using the mesh which facilitates a positioning operation at the time of setting the mesh to be insert-molded to the filter to a core pin of a die and suppresses a defect after molding.例文帳に追加
フィルタにインサート成形するメッシュを金型のコアピンにセットする際の位置合わせ作業を容易とし、成形後の不良を抑えたメッシュとそのメッシュを用いたフィルタを得る。 - 特許庁
To prevent aggravation of a rotation defect of a roller and fuel consumption performance by deposition of earth and sand on a side frame and to reduce or dispense with removing operation of the earth and sand by manpower.例文帳に追加
サイドフレーム上に土砂が堆積することによるローラの回転不良及び燃費性能の悪化を防止し、人手による土砂の排除作業を軽減又は不要にする。 - 特許庁
When a track having a defect is detected in the certification of a normal skipping system, operation is switched to scanning having a skipping rate lower than the normal skipping rate in an area in the vicinity thereof.例文帳に追加
通常の飛ばし方式サーティファイで欠陥が存在するトラックを検出したとき、その近傍領域で通常の飛ばし率よりも飛ばし率を下げた走査に切り替える。 - 特許庁
To provide a broadcast television lens apparatus for facilitating the analysis of a cause to a problematic operation by detecting a state of a lens moving part and recording the state at a point of time when the occurrence of a fault or a defect is discriminated.例文帳に追加
レンズ可動部の状態を検出して、異常や故障が発生したと判断した時点で、この状態の記録行い、問題動作の原因解析を容易にする。 - 特許庁
To provide a radiation image information reader that can eliminate an operation defect by properly evading entry of dust and read radiographic image information with high precision.例文帳に追加
塵の浸入を好適に回避して装置の動作不良の発生をなくすとともに、放射線画像情報を高精度に読み取ることのできる放射線画像情報読取装置を提供する。 - 特許庁
To improve the productivity of an inspecting operation, when whether a polarizing film applied to an LCD has a defect has been inspected.例文帳に追加
本発明は、LCDに適用される偏光フィルムの不良の有無の検査の際、検査作業の生産性を改善することができる偏光フィルム検査装置及び方法に関するものである。 - 特許庁
To provide an induction heating cooker easy to assemble for arranging most of various operation/display functions on a top surface of a body, and capable of remarkably reducing occurrence of an appearance defect and the like.例文帳に追加
本体天面に、多彩な操作・表示機能の殆どを配置するのに、組立て易く、外観不良等の発生を大幅に低減できる誘導加熱調理器を提供する。 - 特許庁
To prevent a continued substituting process sequence due to the defect of a substitute area by preliminarily grasping the quality of the substitute area before the data recording or reproducing operation is requested from the outside.例文帳に追加
外部からのデータ記録又は再生要求がある前に予め交替領域の品質を把握しておき、交替領域の欠陥による連続した交替処理シーケンスを防止する。 - 特許庁
To provide an integrated circuit apparatus in which the frequency of erasing in which erasing voltage being comparatively large voltage is applied is stored for defect analysis or the like, and erasing operation is restricted.例文帳に追加
不良解析等のため、比較的大電圧である消去電圧が印加される消去回数を記憶し、加えて消去動作を制限する集積回路装置を提供すること。 - 特許庁
To provide a loudspeaker with illumination that provides a natural illumination effect corresponding to a change in a sound volume and to provided a speaker where no thermal operation defect is caused.例文帳に追加
音量の変化に対応した自然なイルミネーション効果を奏する、イルミネーション付きスピーカーを提供することと、熱的に動作不良のないイルミネーション付きスピーカーを提供すること。 - 特許庁
To provide a material capable of protecting a surface from a scratch and/or other defect brought about by the contact of the surface with an operation mechanism, and to provide a method for protecting the surface.例文帳に追加
表面が操作機構と接触することにより引き起こされる掻き傷および/または他の欠陥から表面を保護することができる材料および方法を提供する。 - 特許庁
To provide a detector for detecting the occurrence of a defect due to damage generated in an image pickup element such as a CCD image pickup device during its operation and the image pickup device provided with the detector.例文帳に追加
この発明は、CCD撮像デバイス等の撮像素子が、稼働中に損傷し欠陥が生じたのを検出する検出装置及びそれを搭載した撮像装置を提供する。 - 特許庁
Methods and devices are described using different defect detection standards to detect and map defects of different sizes and in specific regions that can affect a drive operation.例文帳に追加
サイズが異なり、特定の領域においてドライブ動作に影響し得る欠陥を検出してマップするために、異なる欠陥検出基準を用いる方法及び装置が説明される。 - 特許庁
To provide a synchronous semiconductor memory in which timing at which a word line is disabled is set by utilizing frequency information of a clock signal and defect of cell operation can be prevented.例文帳に追加
クロック信号の周波数情報を利用してワードラインのディスエーブルするタイミングを設定し、セル動作不良を防止することができる同期式半導体メモリ装置を提供すること。 - 特許庁
The coating operation is stopped before the coating film containing the defect is formed based on the monitoring result of the measuring unit 19, and the air bubble removing unit 18 can be maintained.例文帳に追加
測定装置19でのモニタリング結果に基づいて、欠陥を含んだ塗布膜が形成される前に塗布運転を停止して、気泡除去装置18のメンテナンスを行なうことができる。 - 特許庁
A developer sets a recording trigger event (specific operation or the like) which seems to be beneficial for the specification of the occurrence of any defect and an observation object (input/output or the like) prior to a test.例文帳に追加
開発者は、試験前に不具合発生の特定に有用であると思われる記録契機事象(特定の操作など)と観察対象(入出力など)とを設定しておく。 - 特許庁
To provide a carriage stop position adjusting apparatus which eliminates a read defect by eliminating an image read position shift due to, for example, misalignment of an optical axis through easy adjusting operation.例文帳に追加
画像読取装置において、簡単な調整作業で、例えば光軸ずれに基づく画像読取位置ずれをなくして読取不良を解消するキャリッジ停止位置調整装置を提供する。 - 特許庁
To provide a support system which is made efficient by a method wherein an observation operation for confirming the shape of an external appearance defect is narrowed down properly from an enormous number of defects detected by the high sensitivity of a visual inspection apparatus.例文帳に追加
外観検査装置の高感度化により検出された膨大な欠陥数から、外観不良の形状を確認する観察作業を適切に絞り込み、効率化を図ること。 - 特許庁
Hereby, since self-diagnosis of an operation defect of each receiving element R2-R4 can be performed without preparing an external detection object of the ultrasonic sensor 30, transmitting an ultrasonic wave, and using a reflected wave from the detection object, the operation defect of the ultrasonic sensor 30 can be diagnosed at a desired timing, and reliability of the ultrasonic sensor 30 can be improved.例文帳に追加
これにより、超音波センサ30の外部の被検出体を用意して超音波を送信し、被検出体からの反射波を用いることなく、受信素子R2〜R4の動作不良を自己診断することができるので、所望のタイミングで超音波センサ30の動作不良を診断することができ、超音波センサ30の信頼性を向上することができる。 - 特許庁
At the time of normal operation of the processing system, in the case that any defect about parts other than base mechanisms (an indirect heating means 2, a heat generation means 3, a gas element combustion means 4) is detected, operation of the base mechanism is continued and operation of respective means of its supplementary mechanisms is suspended and terminated.例文帳に追加
加工システムにおける正常運転の際、基幹機構(間接加熱手段2,熱発生手段3,ガス成分燃焼手段4)以外の箇所に関して不具合が検出された場合には、該基幹機構に関しては稼動を継続させ、その補助機構の各手段の稼動を中断し停止させる。 - 特許庁
To provide a semiconductor memory device in which malfunction never be caused and operation can be performed with low power consumption by performing a test again and detecting optimum operation conditions for a cell being easy to be defect out of cells passing a test, and a method for testing the same.例文帳に追加
テストをパスしたセルのうち最も不良になり易いセルに対し、再びテストを行って最適の動作条件を検出することによって、誤動作せず、低消費電力で動作可能な半導体メモリ装置及びそのテスト方法を提供すること。 - 特許庁
To provide an operation control method for a show case, capable of not only forecasting the occurrence of a defect and a trouble of a refrigerator unit or the like, but also preventing the commodity from being damaged by continuing the cooling operation even when requiring long time until the completion of repairing.例文帳に追加
冷凍機ユニット等の不具合、トラブルの発生を予測するだけでなく、修理完了までに長時間を要するようなときでも冷却運転を継続して商品に損傷を与えることを防止できるショーケースの運転制御方法を提供する。 - 特許庁
When any defect occurs in an operation data group acquired by an operation data acquiring means 3, the defective data part is complemented by using complement data complemented by a defective data complementing means 6, and analyzed according to a failure diagnostic rule 5a by a failure diagnosing means 4.例文帳に追加
運転データ取得手段3で取得された運転データ群に欠損がある場合、その欠損データ部分を欠損データ補完手段6で補完された補完データを用いて補完した上で故障診断手段4で故障診断ルール5aに従って解析する。 - 特許庁
To provide a screen printing device by which a flat film without defect can be obtained by preventing the occurrence of foams and printing operation and screen mesh removing operation can be smoothly carried out and a manufacturing method and a manufacturing device of an illuminating device using this kind of screen printing device.例文帳に追加
気泡の発生を防止して平坦で欠損のない膜が得られ、かつ印刷動作、スクリーンメッシュ剥離動作が円滑に行えるスクリーン印刷装置、この種のスクリーン印刷装置を用いた発光装置の製造方法および製造装置を提供する。 - 特許庁
To provide a two-dimensional image reader and a drive control method capable of salvaging a photosensor where the defect of reset operation characteristics is generated and excellently reading two-dimensional images while suppressing increase of the entire operation processing time and the rise of the product cost.例文帳に追加
全体の動作処理時間の増大や製品コストの上昇を抑制しつつ、リセット動作特性の不良が生じたフォトセンサを救済して、2次元画像を良好に読み取ることができる2次元画像読取装置及びその駆動制御方法を提供する。 - 特許庁
A controller (20) performs processing (20-2) in which an off-track occurrence point is detected when off-track is caused and defect determination processing (20-1) in which continuous off-track in the same point is detected and it is determined as defect (dust, scratch), in read operation, detection conditions of off-track detection processing (22-1) are relaxed.例文帳に追加
コントローラ(20)が、オフトラック発生時に、オフトラック発生箇所を検出する処理(20−2)と、同一箇所でオフトラックが連続したことを検出し、欠陥(ごみ、傷)と判断する欠陥判断処理(20−1)を実行し、リード動作の場合は、オフトラック検出処理(22−1)の検出条件を緩和する。 - 特許庁
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