「reference surface」に関連した英語例文の一覧と使い方(37ページ目) - Weblio英語例文検索

Images of the foreign matter particles in respective positions on a reference wafer are acquired using a microscope type surface inspection device, and are image-processed to calculate particle sizes of the respective foreign matter particles.例文帳に追加

また、顕微鏡型表面検査装置を用いて、基準ウェーハの各位置における異物粒子の画像を取得し、画像処理を行って各異物粒子の粒径を算出する。 - 特許庁

In the semiconductor light-emitting device formed by fixing semiconductor light emitting devices LD on a substrate B, the substrate B has a first surface FB and a second surface FR which crosses the first surface FB at a given angle for determining the crossing position as fixed reference position S and one or a plurality of semiconductor light emitting devices LD are engaged in the fixed reference position S and fixed on the substrate B.例文帳に追加

基台Ｂ上に半導体発光素子ＬＤが固定された半導体発光装置であって、第１の面ＦＢと、当該第１の面ＦＢに対して所定の角度で交差して当該交差位置を固定基準位置Ｓを規定する第２の面ＦＲとを有する基台Ｂと、固定基準位置Ｓに係止されて基台Ｂ上に固定された１つあるいは複数個の半導体発光素子ＬＤとを有する構成とする。 - 特許庁

In the medium sliding surface of the head core, the magnetic gap g1 is formed in a position deviated from the reference surface of a head base to the opposite side, and a part corresponding to a track pitch being a substantial recording track to the track width being the whole length of the magnetic gap g1 is arranged in the nearly central part of the medium sliding surface.例文帳に追加

そして、ヘッドコアの媒体摺動面において、磁気ギャップｇ１は、ヘッドベースの基準面と反対側にずれた位置に形成されており、磁気ギャップｇ１の全長であるトラック幅に対し、実質的な記録トラックとなるトラックピッチに対応する部分が、媒体摺動面のほぼ中央部に配置されている。 - 特許庁

The position measurement mechanism for measuring a registration pin position on an FIMS surface, a position measurement mechanism for measuring the registration pin hole position of an FOUP door, a distance measurement mechanism for measuring distance from the FIMS surface to a front virtual reference surface, and the like are combined, thus obtaining a load port adjusting took, an FOUP-measuring tool, and the like.例文帳に追加

前記ＦＩＭＳ面のレジストレーションピン位置を測定する位置測定機構、ＦＯＵＰドアのレジストレーションピンホール位置を測定する位置測定機構、前記ＦＩＭＳ面から前記正面仮想基準面までの距離を測定する距離測定機構などを組み合わせて、ロードポート調整治具、ＦＯＵＰ測定治具などを得る。 - 特許庁

An intra prediction apparatus includes: a prediction pixel value curved surface generating unit (12, 13) for generating a prediction pixel value curved surface for approximating a pixel value of a decoded reference block adjacent to a prediction block to be predicted; and a non-direction predicting unit (14) for producing a prediction image of the prediction block based on the prediction pixel value curved surface.例文帳に追加

イントラ予測装置は、予測の対象である予測ブロックに隣接する復号済みの参照ブロックの画素値を近似する予測画素値曲面を生成する予測画素値曲面生成部（１２、１３）と、前記予測画素値曲面に基づいて予測ブロックの予測画像を生成する無方向予測部（１４）とを備える。 - 特許庁

To simply correct misalignment of butting parts of a flange and diaphragm by bringing an abutting part of a fulcrum member into contact with a plate surface of the diaphragm being a reference plane for a plate surface of the flange to be corrected, and forcibly contacting the plate surface of the flange to be corrected to a contact part by turning and tightening a pressing bolt.例文帳に追加

支点部材の当接部位を修正すべきフランジの板面の基準面となるダイヤフラムの板面に当接させ、押圧ボルトを締付回動することによりフランジの修正すべき板面を接触部に強制的に接触させ、フランジとダイヤフラムとの突き合わせ部分の食い違いを容易に修正することができる。 - 特許庁

The projection 42 is formed by being dislocated to the small hole 43, and when superposing the small hole 43 on the other seal plate 40 as a reference position by reversing the front surface and the rear surface of one seal plate 40', the projection 42 is bilaterally symmetrically arranged, and thereby continuously arranged on the screw groove surface of the screw shaft.例文帳に追加

突起部４２は小孔４３に対してずれて形成されており、一方のシール板４０’の表裏を反転させて小孔４３を基準位置にして他方のシール板４０に重ね合わせると、突起部４２が左右対称に配置されることにより、ねじ軸のねじ溝面に続けて配置される。 - 特許庁

A floor surface sill and heat radiating pipe fixture A is formed by providing a collar-shaped pipe nonslipping part 2 on the peripheral edge of an upper end surface of a circular column 1 having the prescribed height, and the floor surface sill and heat radiating pipe fixture A is respectively arranged and fixed in a plurality of prescribed positions on a reference hot water radiator base board B.例文帳に追加

所定の高さを持たせた円状柱１の上端面の周縁に鍔状の配管滑り止部２を備えてなる床面土台兼放熱管固定具Ａを設け、基準温水放熱器基板Ｂ上の複数の所定位置に、床面土台兼放熱管固定具Ａをそれぞれ配設固着する。 - 特許庁

The image forming device main body is provided with a reference surface 91 for positioning the process cartridge 2 in a loaded state, a holding member 70 which is rotatably supported by the image forming device main body and provided with a 1st surface 71 and a 2nd surface 72, and an urging member 80 for urging the holding member 70.例文帳に追加

画像形成装置本体１４は、装着状態の前記プロセスカートリッジ２を位置決めするための基準面９１と、画像形成装置本体１４に回転可能に支持され、第一面７１と第二面７２とを有する保持部材７０と、該保持部材７０を付勢する付勢部材８０と、を有する。 - 特許庁

In the minute part analyzer using the focused ion beam, Ga whose ion kind is Ga is poured on a surface of a sample 4 by pre-radiating Ga focused ion beam 3 to make it a reference element for measuring a surface temperature of the sample 4, and the temperature of the minute part on the surface of the sample 4 during analysis is determined.例文帳に追加

集束イオンビームを用いる微細部位解析装置において、イオン種がGaのGa集束イオンビーム３の前照射によって試料４の表面に注入されたGaを、試料４の表面温度の測定のための参照元素とし、分析時の試料４の表面の微細部位の温度を決定する。 - 特許庁

The control means performs focusing operation in accordance with a focusing state on the reference surface P0, and also performs focusing operation using a first evaluated value Vn for AF acquired based on an imaging signal on the imaging surface P1 and a second evaluated value Vf for AF acquired based on an imaging signal on the imaging surface P2.例文帳に追加

制御手段は、基準面Ｐ０での合焦状態に応じた合焦動作を行うとともに、撮像面Ｐ１での撮像信号に基づいて取得されるＡＦ用の第１評価値Ｖｎと撮像面Ｐ２での撮像信号に基づいて取得されるＡＦ用の第２評価値Ｖｆとを用いた合焦動作を行う。 - 特許庁

In the wedge-shaped birefringent polarizers 3A and 3B for use in a polarization independent type optical isolator, at least one side surface (d) of each of the wedges is formed into a mirror-finished optical flat surface 31, and pairing of the wedge-shaped birefringent polarizers is performed with the optical flat surface 31 as a positional reference.例文帳に追加

偏波無依存型光アイソレータに使用される楔型複屈折率偏光子３Ａ，３Ｂであって、その楔型の少なくとも１つの側面ｄを鏡面加工された光学平面３１とし、この光学平面３１を位置基準にして楔型複屈折率偏光子のペアリングを行わせる。 - 特許庁

An accessory that can be connected to a machine drill comprises: a measurement device to determine measurement data containing an incline of the machine drill in reference to an operating surface and/or a distance between the machine drill and the operating surface; and a projector to project symbols onto the operating surface in accordance with the determined measurement data.例文帳に追加

穿孔機械と連結可能な補助装置において、穿孔機械の作業平面に対する傾き、および／または、穿孔機械の作業平面までの距離を含む測定データを求めるための測定装置と、求められた前記測定データに応じて作業平面上にシンボルを投影するプロジェクタと、を設ける。 - 特許庁

In the card conveying mechanism 1 for conveying a card 3 while along a reference card traveling surface 5 by a card energizing member 4 while holding the card 3 between a driving roller and a pad roller 7, plural grooves 9 are formed on a card abutting surface 8 of the pad roller 7 and a pressurized contact surface of the pad roller 7 is formed into divided plural surfaces.例文帳に追加

カード３をカード付勢部材４によりカード走行基準面５に沿わせながら、駆動ローラとパッドローラ７とによりカード３を挟み込んで搬送するようにしたカード搬送機構１において、パッドローラ７のカード当接面８に複数の溝９を形成し、パッドローラ７における圧接面を複数面に分割形成する。 - 特許庁

A semiconductor chip having a rectangular rear surface which is polished in random direction within its plane is measured for an angle θ formed by the extending direction of polishing trace on a rear surface 16 and the short-side direction A of the rear surface 16, and the measured angle θ is used as a reference to judge whether or not the semiconductor chip 14 is defective.例文帳に追加

面内でランダム方向に研磨された長方形状の裏面を有する半導体チップに対し、裏面１６に形成された研磨跡が延びる方向と、裏面１６の短辺方向Ａとが成す角度θを計測し、角度θを基準として、半導体チップ１４が不良品であるか良品であるかを判定する。 - 特許庁

An insulation block 61 having an inclination surface G that is low on a dielectric substrate 13 side and high on a band-like conductor 18b side using a surface of a base substrate 10 as a reference, and in which a line conductor pattern 62 is formed on the inclination surface G, is arranged on the base substrate 10 between the dielectric substrate 13 and the band-like conductor 18b.例文帳に追加

ベース基板１０の面を基準にして、誘電体基板１３側が低く帯状導体１８ｂ側が高くなる傾斜面Ｇを有し、その傾斜面Ｇに線路導体パターン６２を形成した絶縁ブロック６１を、誘電体基板１３と帯状導体１８ｂとの間のベース基板１０上に配置する。 - 特許庁

According to this assembling method, the magnetic head reference surface 3 of the magnetic head 2 is abutted on the assembling jig reference surface 4 of an assembling jig 1 and held, and by fitting a positioning pin 6 provided in the assembling jig 1 to the positioning hole 8 of the gimbals 7 provided in a position corresponding to the positioning pin 6, the magnetic head 2 and the gimbals 7 are positioned.例文帳に追加

また、この組立方法は磁気ヘッド２の磁気ヘッド基準面３を、組立治具１の組立治具基準面４にバネ力により当接保持し、この組立治具１に設けられている位置決めピン６と、この位置決めピン６に対応する位置に設けられたジンバル７の位置決め孔８とを嵌合させることにより、磁気ヘッド２とジンバル７との位置決めを行う。 - 特許庁

A probe 2 is allowed to trace a single reference spherical surface 1a to acquire a track as measurement data, a coordinate transformation amount of spherical coordinate transformation of the measurement data and a radius of the sphere are calculated, a squareness error is calibrated from the coordinate transformation amount, and a radius of the reference spherical surface is subtracted from the radius of the sphere, to thereby calibrate a radius of a probe tip sphere.例文帳に追加

単一の基準球面１ａにプローブ２を倣わせてその軌跡を測定データとして取得し、前記測定データを球状に座標変換する座標変換量とその球の半径を算出し、前記座標変換量から直角度誤差を校正し、前記球の半径から基準球面の半径を差し引くことで、プローブ先端球の半径を校正する。 - 特許庁

A screw portion 43 is turned to a thread cutting position to match an index 47 marked on the screw portion 43 with a first reference line 48 and position the probe 33 flush with the skin surface 31, and then the screw portion is turned in the opposite direction to match the index with a second reference line 49, and arrange the probe 33 at a measuring position in a predetermined distance away from the skin surface.例文帳に追加

ねじ部４３をねじ切り位置まで回して該ねじ部４３に印した指標４７を第１基準線４８に一致させて、プローブ３３を皮膚表面３１と面一状態とした後、今度は逆向きにねじ部を回して前記指標を第２基準線４９に一致させて、プローブ３３を皮膚表面から所定距離隔てた測定位置に配置させる。 - 特許庁

In the laminating step of the parallel plates, the parallel plate having a thickness of a reference value or more and the parallel plate having a thickness below the reference value are selected from among a plurality of ranks and laminated such that the misalignment of the contact surface in each cutting surface falls within a prescribed range in every cutting position.例文帳に追加

平行平板の積層工程では、各切断面に対する前記接合面の位置ズレが、いずれの切断位置においても所定範囲内に収まるように、厚さが前記基準値以上または前記基準値よりも大きいランクに属する前記平行平板と厚さが前記基準値未満または前記基準値以下のランクに属する前記平行平板とを選択して積層する。 - 特許庁

Laser level which is disposable on a reference surface comprises a housing, a pendulum rotatably connected in the housing, a first laser diode arranged on the pendulum and ejecting the first laser beam along the first path, and a lens arranged on the pendulum on the first path and converting the first laser beam to the first plane beam forming a line on the reference surface.例文帳に追加

基準表面上で使い捨て可能なレーザー水準器は、ハウジングと、ハウジングに回動可能に連結された振り子と、振り子に配置され第１のレーザービームを第１の経路に沿って発射する第１のレーザーダイオードと、振り子に第１の経路上で配置され第１のレーザービームを基準表面上でラインを形成する第１の平面ビームに変換するレンズとを含んでいる。 - 特許庁

Resin 1 for molding on the side of a surface grounded on the magnetic recording and reproducing device as the reference surface of a magnetic head has, preferably, 60 to 75 Shore D hardness after hardening and resin 2 for molding on the side of the opposite surface from the grounded surface has ≥80 Shore D hardness after hardening and ≥40 Mpa tensile rupture strength after hardening.例文帳に追加

磁気ヘッドの基準面となる磁気記録再生装置への接地面側のモールド用樹脂１は、硬化後のショアーＤ硬度が６０〜７５の範囲が好ましく、また磁気ヘッドの基準面となる磁気記録再生装置への接地面の反対面側のモールド用樹脂２は、硬化後のショアーＤ硬度が８０以上で、硬化後の引張り破断強度を４０Ｍｐａ以上とする。 - 特許庁

To accurately adjust a plurality of spots in accordance with a signal which is produced for establishing the positional relation between a groove and a spot while observing both of the groove surface having the spot and the spot formed thereon, by using a translucent reference master disk correspond ing to the information recording surface.例文帳に追加

情報記録面に相当する半透明基準原盤を用いて、スポットとスポットが形成される溝面を同時に観察しながら、溝とスポットの相対位置関係を関係づける信号を生成し、該信号に基づき複数スポットを高精度に調整する。 - 特許庁

Separation parts 24b and 22c that separate from a reference circle Z, which passes the radial outermost of the rotor 20, to the inside gradually towards both ends in the circumferential direction are formed on an outside surface 24a of the magnet magnetic pole part 24 and an outside surface 22b of the salient pole 22a.例文帳に追加

マグネット磁極部２４の外側面２４ａ及び突極２２ａの外側面２２ｂには、その周方向両端に向かうほど、ロータ２０の最も径方向外側を通る基準円Ｚから次第に内側に離間する離間部２４ｂ，２２ｃが形成される。 - 特許庁

The correction implement J is used by abutting the reference positioning surface 101 of the front surface of the square bar members 100 to the right member FR and left member Fl of the outer peripheral frame F and abutting the lower end of the L-shaped metal fittings 400 to the lower member Ub of the game machine installation stand.例文帳に追加

この補正冶具Ｊは、角棒部材１００前面の基準位置決め面１０１を、外周枠Ｆの右部材Ｆｒと左部材Ｆｌとに当接させ、Ｌ字金具４００の下端を遊技機設置台の下部材Ｕｂに当接させて用いる。 - 特許庁

This lifting system E1 includes a base board B having a first base surface b01 and a second base surface, a positioner movable between a first reference position and a first predetermined position h3, and an assembly unit M1 having a first device 1 and a second device 2.例文帳に追加

昇降システムＥ１は、第１のベース面ｂ０１および第２のベース面を備える基板Ｂと第１の参照位置と第１の所定位置ｈ３の間を移動可能なポジショナと第１の装置１および第２の装置２を備えるアセンブリユニットＭ１とを含む。 - 特許庁

A plurality of gradient meters 3 which a reference level 1 touching a measurement surface is provided to the bottom surface and a gradient measuring part 2 measuring gradient is provided to the upper part are placed so that each gradient meter 3 is constituted to be able to measure different gradients.例文帳に追加

測定面に当接する基準面１を底面に備え、且つ、勾配度を測定する勾配測定部２を上部に備えた複数の勾配測定器３を設け、この各勾配測定器３を夫々異なる勾配度を測定し得るように構成したものである。 - 特許庁

To provide an image processor of a board for flexible wiring which can obtain a clear binary image of a reference part position, necessary for binarization with upper illumination and lower illumination, without being affected by reflecting action of a die surface which is subjected to mirror-surface finish.例文帳に追加

鏡面仕上げされているダイ表面の反射作用の影響を受けることなく、上方照明、下方照明でもって２値化に必要な鮮明な基準部位の２値化画像を得ることができるフレキシブル配線用基板の画像処理装置を提供する。 - 特許庁

Here, Vickers hardness at a reference position corresponding to a position of 0.05 mm deep from the surface of the component, and the depth from the surface of the component showing an average value of the above Vickers hardness and Vickers hardness at the inner layer portion 3 are optimized with the use of a function according to the present invention.例文帳に追加

ここで、部材表面から深さ０．０５ｍｍに対応した基準位置でのビッカース硬さ、及び該ビッカース硬さと内層部３のビッカース硬さとの平均値を示す部材表面からの深さを、本発明内容に属する関数を用いて適正化する。 - 特許庁

The timing for writing image on the photoreceptor 8 is decided, based on a counted value set by each deflectingly reflecting surface of the mirror 5 by counting a reference clock from the time of the laser beam reflected by the front deflecting reflection surface of the mirror 5 being detected.例文帳に追加

感光体８に対する像書込みタイミングは、ポリゴンミラー５の前方の偏向反射面により反射されたレーザ光を検出した時点からの基準クロックをカウントし、ポリゴンミラー５の偏向反射面毎に定められたカウント値に基づき決定される。 - 特許庁

The gloss color sample of a face image is a chromatic color gloss face image which is obtained by adding a chromatic color component as its surface reflected light component to the face image determined as the reference by image processing and a plurality of surface reflected light components different in hues are presented.例文帳に追加

顔画像の光沢色サンプルは、画像処理により、基準とする顔画像にその表面反射光成分として有彩色成分を加えた有彩色光沢顔画像であって表面反射光成分の色相の異なるものが複数個提示されてなる。 - 特許庁

The aligner includes a coarse adjustment stage 2, the fine adjustment stage 1, first members 7a and 7b provided with a first reflection surface 66 for reflecting measurement light, second members 8a and 8b provided with a second reflection surface for reflecting reference light, and interferometers 9a and 9b.例文帳に追加

露光装置は、粗動ステージ２と、微動ステージ１と、計測光を反射する第１反射面６６を有する第１部材７ａ，７ｂと、参照光を反射する第２反射面を有する第２部材８ａ，８ｂと、干渉計９ａ，９ｂと、を備える。 - 特許庁

The electrode 31 on the measuring target gas side is provided to the inner peripheral surface 303 of the solid electrolyte 3, and the electrode 32 on the reference gas side is provided in the outer peripheral surface 304 of the solid electrolyte 3, at a position facing the electrode 31 on the measuring target gas side.例文帳に追加

被測定ガス側電極３１は、固体電解質体３の内周面３０３に設けてあり、基準ガス側電極３２は、固体電解質体３の外周面３０４において、被測定ガス側電極３１と対向する位置に設けてある。 - 特許庁

In processing, first, the position of allocation of rubber ribbons to be allocated continuously along the circumference by a plural number of perimeters is set at a reference circumferential position for the tire molding model, while the lamination surface of the rubber ribbons of the tire molding model is cut out open for expansion, so that an expansion lamination surface is obtained.例文帳に追加

処理時には、まず、タイヤ成形モデルの周方向の基準位置で、周方向に連続して複数周配置するゴムリボンの配置位置を設定し、タイヤ成形モデルのゴムリボンの積層面を基準位置で切り開いて展開し、展開積層面を取得する。 - 特許庁

In this inspection method, after a solution is applied to a partitioning area P of a dummy region, a surface shape of a solution pool k2 of the solution applied on the partitioning area is measured in three dimensions, and is compared with a reference surface shape defined beforehand.例文帳に追加

この検査方法では、ダミー領域の区画領域Ｐに対して溶液を塗布した後、当該区画領域に塗布された溶液の溶液溜りｋ２の表面形状を立体的に計測し、あらかじめ定義されている基準表面形状と比較する。 - 特許庁

The collet 1 for chucking the semiconductor, which chucks a semiconductor chip, is provided with reference surfaces 31 and 32 that adjusts the direction of a semiconductor chip by bringing them into abutment with at least the upper surface and the side surface of the semiconductor chip when chucking the semiconductor chip.例文帳に追加

半導体チップを吸着する半導体吸着用コレット１において、半導体チップの吸着時において少なくとも半導体チップの上面及び側面に当接させて前記半導体チップの向きを整える基準面３１、３２を設ける。 - 特許庁

Since a positional detection pattern 240, a focus detection pattern 242, and a depth detection part 244 are aggregated in one surface, that is a composite inspection surface 236, of a reference roll 226, detection can be performed in a shorter time by this detector than by a constitution comprising plural inspection surfaces.例文帳に追加

基準ロール２２６の一面、すなわち複合検査面２３６に、位置検出パターン２４０、フォーカス検出パターン２４２、及び深度検出部２４４を集約したので、検査面が複数ある構成と比較し、短時間で検知を行なうことができる。 - 特許庁

The displacement object of the autofocus mechanism is set to the surface (4) of the sample, displacement quantity from a reference point on the surface of the sample is measured, and a displaced point is set as the acting point of the control of the autofocus mechanism, thereby controlling the focus of the objective (6) of the optical device.例文帳に追加

そして、オートフォーカス機構の変位対象物を試料表面（４）に設定し、試料表面の基準点からの変位量を測定し、変位した点をオートフォーカス機構の制御の動作点として光学装置の対物レンズ（６）の焦点を制御する。 - 特許庁

By using a tip surface 15 of a tip 11 of an insulator 1 as a reference in the direction of an axial line O, a projection amount D by which a tip surface 22 of a tip 21 of a center electrode 2 is projected toward the tip direction is set to -0.5 to 0.3 mm.例文帳に追加

軸線Ｏ方向において、絶縁碍子１の先端部１１の先端面１５を基準とし、中心電極２の先端部２１の先端面２２が先端方向に向けて突出した突出量Ｄを−０．５ｍｍ以上０．３ｍｍ以下とした。 - 特許庁

Then, registration is carried out regarding the conveying direction of the image formed on the first surface and the image formed on the second surface by measuring the timing for feeding the sheet S to a transfer section 50C by a registration unit 55 with the mark detected by the detection means 522 as the reference.例文帳に追加

そして、検出手段５２２により検出した印を基準として、レジストユニット５５によりシートＳを転写部５０Ｃに送るタイミングを計り、第一面に形成された画像と第二面に形成される画像との搬送方向に関する位置合わせを行う。 - 特許庁

In an optical prism PR of this invention, a first mark M1, which defines the position (an arrangement reference position) to arrange a reflection sheet 11 that reflects the effective portion of a luminous flux on a freely curved fifth surface S5, is arranged on the fifth surface S5.例文帳に追加

本発明の光学プリズムＰＲでは、光束の有効部分を反射させる反射シート１１を、自由曲面である第５面Ｓ５に配設させるための位置（配設基準位置）を定めた第１印Ｍ１が、第５面Ｓ５上に設けられるようになっている。 - 特許庁

At the time, a band 20 provided with reference lines 24A and 24B and grid-shaped lines 21 and 22 separated by 180° in a peripheral direction is mounted to the body of the subject 2 so as to make the lines 24A and 24B coincident with the center lines of the front surface and the back surface of the body.例文帳に追加

その際、周方向に１８０度離れた基準線２４Ａ，２４Ｂと格子状ライン２１，２２とを有するバンド２０を、被検者２の身体に基準線２４Ａ，２４Ｂを身体の正面，背面の中心線に一致させるようにして装着する。 - 特許庁

An upper part of the base 10 is provided with first and second structure abutting surfaces 16A and 16B which abut on a lower end surface of the structure 2, and an exterior wall holding block body 17 for holding a lower end surface of the exterior wall material 2 at a reference height H_1 with respect the surfaces 16A and 16B.例文帳に追加

基台１０の上部には、構造体２の下端面に当接する第１、第２の構造体当接面１６Ａ、１６Ｂと、これらに対し外壁材２の下端面を基準高さＨ_１に保持する外壁保持ブロック体１７とが設けられている。 - 特許庁

The wavelength dispersion characteristic α40 is a ratio of retardation Re measured with incident lights of 430 and 550 nm in wavelength from a direction slanted by 40° from the normal direction of a birefringent layer surface or liquid crystal cell surface set as a reference (0°).例文帳に追加

前記波長分散特性α４０は、複屈折層表面若しくは液晶セル表面の法線方向を基準（０°）とし、これから４０°傾いた方向からの４３０ｎｍおよび５５０ｎｍの各波長の入射光で測定したリターデーションＲｅの比である。 - 特許庁

A fan case 39 of a fan unit is constituted of the printed circuit board 19, a wall 45 for the fan case which stands up from a surface of the printed circuit board 19 around a fan 44, and a ceiling wall 41 which spreads along a reference plane parallel to the surface of the printed circuit board 19.例文帳に追加

ファンユニットのファンケース３９は、プリント基板１９と、羽根４４の周囲でプリント基板１９の表面から立ち上がるファンケース用壁体４５と、プリント基板１９の表面に平行な基準面に沿って広がる天井壁４１とで構成される。 - 特許庁