「test values」に関連した英語例文の一覧と使い方(5ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an ASIC internal register switching circuit which can execute and easily confirm all branch routes, in software that is variously branched off depending on the values of registers, without working on the software under test at all.例文帳に追加

レジスタの値によって様々に分岐するソフトウェアにおいて、被試験ソフトウェアに一切手を加えることなく、その全ての分岐ルートを実行して容易に確認可能なＡＳＩＣ内部レジスタ切替回路を提供する。 - 特許庁

The values of the adhesives having the high tack force and the low tack force according to a probe tack test are preferably 100 g to 500 g and 1 g to 80 g, respectively.例文帳に追加

高タック力及び低タック力を有する粘着剤のプローブタック試験に基づく数値は、それぞれ１００ｇ〜５００ｇ及び１ｇ〜８０ｇであることが好ましい。 - 特許庁

An arithmetic control circuit 63 performs a balance test on the right eye ER and the left eye EL respectively and calculates equivalent sphericity of prescription values of the left/right both eyes based on the results.例文帳に追加

演算制御回路６３は、右眼ＥＲ、左眼ＥＬにそれぞれバランステストを施し、それらの結果を基に処方値の左右両眼の等価球面度を算出する。 - 特許庁

When a temperature detecting circuit 208 detects an abnormal temperature, a BIST circuit 206 suppresses the heating values of the chips by stopping prescribed time test on waiting time.例文帳に追加

ＢＩＳＴ回路２０６は温度検知回路２０８によって温度異常が検出されると所定の待ち時間自己テストを停止しチップの発熱量を抑える。 - 特許庁

The test patterns include a plurality of pattern parts P1-1 to P5-1 associated with the design values of density ratio when the image is recorded by the same recording density by using these inks.例文帳に追加

そのテストパターンは、それらのインクによって同一の記録密度で画像を記録したときの濃度比の設計値と関連付けられた複数のパターン部Ｐ１−１からＰ５−１を含む。 - 特許庁

A VDP 109 executes an alpha test or alpha blending using alpha values set in pixels for image data, and a decoration symbol images are gradually and stepwisely changed during variable display.例文帳に追加

また、ＶＤＰ１０９が、画像データの各画素に設定されたアルファ値を用いてアルファテスト処理やアルファ合成処理を実行し、可変表示中に飾り図柄の画像をグラデーションをつけて段階的に変化させる。 - 特許庁

An inflection point determination unit 110 specifies an inflection point on the basis of capacity measurement data comprising a data group of a prescribed of number of battery capacity-cycle measurement values by a charging and discharging test of a lithium ion battery.例文帳に追加

リチウムイオン電池の充放電試験による所定個数の電池容量−サイクルの測定値のデータ群からなる容量測定データから変曲点決定部１１０が変曲点を特定する。 - 特許庁

To provide a mobile communication terminal testing device and a method of displaying a test result, for: simultaneously displaying measurement values of adjacent channels having different communication systems; and displaying measurement results having different measurement conditions in a unified format.例文帳に追加

通信方式が異なる隣接チャネルの測定値を同時に表示し、測定条件の異なる測定結果を統一されたフォーマットで表示可能とする移動体通信端末試験装置及び試験結果表示方法を提供する。 - 特許庁

Accordingly, by sequentially measuring capacitance values between the test wiring 29 and a plurality of the signal wirings 27, it can be determined that a short circuit is formed in the second electrode 212.例文帳に追加

このため、検査用配線２９と複数の信号配線２７との各間の容量値を順次、測定すれば、第２電極２１２に断線が発生しているか否かを判定することができる。 - 特許庁

From the event equivalence class included in the transition path, a concrete event value generation function extracts the event instances included in the event equivalence class, and from the extracted event instances, the test cases are generated in which the parameter values are specified.例文帳に追加

イベント具体値化機能は、遷移パスに含まれるイベント同値クラスから、イベント同値クラスに含まれるイベントインスタンスを抽出し、抽出したイベントインスタンスからパラメータ値が示される試験ケースを作成する。 - 特許庁

A control unit 110 is configured to, in the low temperature/low humidity environment when the photosensitive drum 1 is new, measure a reference value as a peak voltage of a test electrostatic image 1s at 500 places on the surface of the photosensitive drum 1, and store the reference values.例文帳に追加

制御部１１０は、感光ドラム１の新品時の低温低湿環境で、感光ドラム１の表面の５００箇所につき、試験静電像１ｓのピーク電圧である基準値を測定し格納しておく。 - 特許庁

After that, a density variation rate α of a test region TL is calculated, estimated completion time ET is calculated based on density values D2a, D2b and the density variation rate α and it is determined whether sensitization treatment is required or not.例文帳に追加

その後、テスト領域ＴＬの濃淡変化率αが算出され、推定完了時間ＥＴが濃淡値Ｄ２ａ、Ｄ２ｂおよび濃淡変化率αに基づいて算出されるとともに増感処理が必要か否かが判断される。 - 特許庁

With respect to each input screen, a CPU 10 generates combination test data for each command on the basis of level values of respective factors on the input screen.例文帳に追加

ＣＰＵ１０は、各入力画面毎に、各コマンドにつき、同入力画面上の各因子の水準値に基づいて、組合せテストデータを生成する。 - 特許庁

The strain gauges 61 stuck on the adjustment test specimen 10a are connected to a data logger 62 as a measuring means, and the detected values by the strain gauges 61 are recorded and stored.例文帳に追加

テスト用試験片１０ａに貼設された歪みゲージ６１は、計測手段であるデータロガー６２に接続され、歪みゲージ６１の検出値が記録および保存される。 - 特許庁

To make washing of a probe for collecting a specimen complete, to prevent contamination among specimens and to improve reliability of measured values when the specimens are continuously analyzed with a clinical test automatic analyzer.例文帳に追加

臨床検査自動分析装置で検体を連続して分析するに際し、検体を採取するプローブの洗滌を完璧にして、検体間汚染を防止して測定値の信頼性を向上する。 - 特許庁

To exclude the displacement of load meters themselves and to obtain original repulsion of a test object by preparing at least one pair of load meters having different rigidity values and calculating outputs from respective load meters.例文帳に追加

剛性の異なる荷重計を少なくとも１組を備え、おのおのの荷重計からの出力を演算をすることにより、荷重計自身の変位を排除し、被検体本来の反発力を得る。 - 特許庁

The instruments calculate disparity statistics of segments A, B, C, D and E of a 3D image under test to yield a plurality of markers representing these calculated values of disparity.例文帳に追加

被試験３次元イメージのセグメントＡ、Ｂ、Ｃ、Ｄ及びＥの不一致の統計値を計算し、これら不一致計算値を表す複数のマーカを発生する。 - 特許庁

To provide a method for simply estimating limit sliding speed and a limit PV value of a one-side intermittent slide from limit PV values of a bicontinuous slide measured by a combination of hollow cylinder test pieces.例文帳に追加

、中空円筒試験片同士の組合せで測定された両連続摺動の限界PV値から片側間欠摺動の限界すべり速度および限界PV値を簡便に推算する方法を提供する。 - 特許庁

The logarithmic exposure quantities PDX [i] corresponding to a plurality of objective densities TD [i] are respectively estimated on the basis of the density measured values D [n] of respective patches of a test chart and logarithmic exposure quantities PD [n] at a time of patch exposure recording [see (A)].例文帳に追加

テストチャートの各パッチの濃度測定値Ｄ[n],パッチ露光記録時の対数露光量ＰＤ[n] に基づき、複数の目標濃度ＴＤ[i] に対応する対数露光量ＰＤＸ[i] を各々推定する((A)参照）。 - 特許庁

A correction arithmetic circuit 208 first escapes present values included in conversion tables (LUT0), LUT1, and LUT2, and saves them, sets characteristics of the LUTs 1, 2 to linear characteristics and a test image is printed.例文帳に追加

補正演算回路２０８は、まず、変換テーブル（ＬＵＴ０）、ＬＵＴ１及びＬＵＴ２に含まれる現在の値を退避させて保持し、ＬＵＴ１，２の特性をリニアな特性に設定して、テスト画像を印刷する。 - 特許庁

The adhesion force of the pressure-sensitive adhesion layer 5 is preferably 20 to 40 in terms of values based on an inclined ball tack test, and thereby, the deposits on the photoreceptor can effectively be removed.例文帳に追加

そして、粘着層５の粘着力が、傾斜式ボールタックに基づく数値が２０以上４０以下であると好適であり、感光体上の付着物を効果的に除去できる。 - 特許庁

A test pattern generating device 6 generates a basic pattern rawD1 which repeats alternately a signal '0' in which value of all bits are 0 and a signal '1' in which values of all bits are 1.例文帳に追加

テストパターン生成装置６は、全ビットが値０の「０」信号と値１の「１」信号とを交互に繰り返す基本パターンｒａｗＤＩを生成する。 - 特許庁

To test and measure the shearing strength of a member protruding from a base member, in such a way that measurements are made in diverse positions and with accuracy of numerical values, without being affected by the portion of the base member near its end face.例文帳に追加

母材に突出した部材のセン断強度を試験測定する場合、母材の端面付近に限定されることなく様々な個所でかつ数値的に正確に試験測定できること。 - 特許庁

To provide a test device capable of observing different output values at normal time and at a failure time, improving the failure detection rate of the whole circuit, and improving the discrimination ability between a non- defective unit and a defective unit.例文帳に追加

正常時と故障時とで異なる出力値を観測することが可能で、回路全体の故障検出率を向上でき、良品／不良品の判別能力を向上できるテスト回路を得ることである。 - 特許庁

If set values of both outputs are different when the outputs from the amplifier and the driver are hit each other, a runtime error signal is generated, and an ON/OFF set value of a relay is fixed, and a test is finished forcibly.例文帳に追加

増幅器とドライバの出力をぶつけるときの両方の出力の設定値が異なるとランタイムエラー信号を発生させ、リレーのオンオフ設定値を固定すると共に、テストを強制的に終了させるようにした。 - 特許庁

The test data so set as to have the values which reach X, Y and Z respectively in total is stored at the head addresses plus a, b, c or d.例文帳に追加

先頭番地にａ、ｂ、ｃ、ｄをプラスした番地には、それぞれ合計した値がＸ、Ｙ、Ｚとなるように設定されたテストデータが記憶されている。 - 特許庁

To provide a phase locked loop (PLL) circuit capable of facilitating a test as to whether or not delay elements of phase shifters of the PLL circuit are normally in operation at desired delay values while suppressing variations in phase relations among R, G, B signals.例文帳に追加

Ｒ／Ｇ／Ｂの各信号間の位相関係のばらつきを抑制した上で、ＰＬＬ回路の移相器に備わる遅延素子が所望の遅延値で正常に動作しているか否かのテストの容易化が可能なＰＬＬ回路を提供する。 - 特許庁

On the basis of the reciprocatory printing deviation amount for each area detected on the basis of this test pattern, a plurality of correction values for independently correcting a printing timing at the plurality of areas are set.例文帳に追加

このテストパターンに基づいて検出されたエリア毎の往復印字ずれ量に基づいて複数のエリアで独立に印字タイミングを補正するための複数の補正値が設定される。 - 特許庁

The contrasts of the contrast areas 12-1 to 12-4 are adjusted so as to make how the respective test patterns look like almost coincide with the pixel values of the backgrounds fixed.例文帳に追加

そして、バックグランドの画素値を固定したまま、各テストパタンの見え方がほぼ一致するように、コントラスト領域１２−１〜１２−４のコントラストを調整する。 - 特許庁

One nodal point corresponds to the test of one attribute, the slave nodal point of the nodal point corresponds to a value, that the attribute can take, and traffic data for constructing a decision tree with the leaves of predictive values are collected (step 201).例文帳に追加

１つの節点が１つの属性のテストに対応し、前記節点の子節点が前記属性の取り得る値に対応し、葉が予測値である決定木を構築するための交通データを収集する（ステップ２０１）。 - 特許庁

To provide an address decoder check circuit and its check method capable of making a detailed check with less check steps without preparing expected values for the test memory data.例文帳に追加

検査ステップがより少なく、テスト用のメモリデータの期待値を設ける必要がなく、且つ検査を詳細に行うことができるアドレスデコーダの検査回路及びその検査方法を提供する。 - 特許庁

Tea extract analysis values in a cup test of the stem tea are (I) the content mass ratio (A)/(B) of (A) a non-polymer catechin compounds to (B) total polyphenol compounds is 0.2 to 0.7, and (II) a caffeine content is ≤15 mg/100 mL.例文帳に追加

茎茶のカップテストにおける茶抽出液分析値が、（Ｉ）（Ａ）非重合体カテキン類と（Ｂ）総ポリフェノール類の含有質量比（Ａ）／（Ｂ）＝０．２〜０．７、（II）カフェイン１５ｍｇ／１００ｍＬ以下。 - 特許庁

A pattern generator 4 repeatedly impresses the same test pattern to a DUT 2 via a driver 6, and power source current values measured in those times are turned into digital signals in a signal conversion circuit 8a so as to be supplied to an equalizing unit 8b.例文帳に追加

パタン発生器４からドライバ６を介してＤＵＴ２へ同一テストパタンを繰り返し印加し、そのとき測定された電源電流値を信号変換回路８ａでディジタル信号として平均化処理部８ｂへ供給する。 - 特許庁

To provide an apparatus for testing a filter, capable of precisely measuring removal efficiency of the filter being disposed in a duct channel, such as a large-sized duct channel in which concentration values of a test-use object are varied widely.例文帳に追加

本発明は、大型ダクト経路のように、検査用対象物の濃度のばらつきが大きいダクト経路内に設置されたフィルタの除去効率を、高い精度で測定することができるフィルタ検査装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

An output acquisition part 51 acquires output values of a urine sugar sensor 2 for measuring the amount of sugar in urine in a test solution when a reference solution of which a urine sugar component is specified at a prescribed concentration is applied to the urine sugar sensor 2.例文帳に追加

出力取得部５１は、被験液中の尿中糖分の量を測定する尿糖センサ２に、尿糖成分が所定濃度に定められた基準液が掛けられたときの尿糖センサ２の出力値を取得する。 - 特許庁

The first test pattern is a pattern set to include maximum and minimum values of potential in photoreceptor potential irregularity data stored in a photoreceptor potential characteristics uneven data memory 105, in advance.例文帳に追加

第１のテストパターンは、あらかじめ感光体電位特性ムラデータメモリ１０５に記憶された感光体電位ムラデータの電位の最大と最小の値を含むように設定されたパターンである。 - 特許庁

Then a scan-out signal 18 and an output test signal 19 outputted from the LSI to be measured 5 are compared with threshold values, and the quality of the LSI to be measured 5 is determined on the basis of the results of the comparison.例文帳に追加

また、被測定ＬＳＩ５から出力されたスキャンアウト信号１８及び出力テスト信号１９を期待値と比較して、その結果に基づき被測定ＬＳＩ５の良否判定を行う。 - 特許庁

When contact resistances r1, r2, r3 and r4 at the tips of the test probes 11, 12, 13 and 14 are large, the difference in the measuring values of characteristics before and after trimming becomes large, and the result of a wafer tested is judges as being defect.例文帳に追加

テストプローブ１１，１２，１３，１４の針先の接触抵抗ｒ１，ｒ２，ｒ３，ｒ４が大きいときは、トリミングの前後の特性の計測値の差が大きくなり、ウエハテストの結果は不良と判断する。 - 特許庁

Thus, a particular test result for forming direct index into Huffman table symbol values can be obtained, while reducing the size of a reference table used for such a purpose.例文帳に追加

これにより、ハフマン・テーブルの記号値への直接索引を生成する特定の試験結果が得られる一方、このような目的に使う参照テーブルのサイズを大幅に小さくすることができる。 - 特許庁

In an operation mode after the completion of the test mode, the control circuit 15 is structured to execute operation based on the new steady-state values stored in the nonvolatile memory 18, and the cycle of the high-frequency pulse signal.例文帳に追加

試験モード終了後の運転モード下では、制御回路15は不揮発性メモリ18に記憶されている新たな定常値と高周波パルス信号の周期に基づいた動作をなすように構成する。 - 特許庁

When the restitutions Rc and Rs and the transmission velocities Vc and Vs of the structure 10 and the standard test pieces 12a and 12d are obtained, strength estimation of the structure is performed based on these values.例文帳に追加

構造物１０および標準試験体１２ａ〜１２ｄの反発度Ｒｃ，Ｒｓまたは伝播速度Ｖｃ，Ｖｓが得られると、これらの値に基づいて構造物１０の強度推定が行われる。 - 特許庁

The control part 1 acquires the positions of the optical sensor parts 4a-4d on the projected image, based on the lighting timings of pixels on the basis of the test pattern and the output values of the optical sensor parts 4a-4d.例文帳に追加

制御部１は、上記テストパターンに基づく画素の点灯タイミングと光センサ部４ａ〜４ｄの出力値とに基づいて投射画像上における光センサ部４ａ〜４ｄの位置を取得する。 - 特許庁

These expected value generating means are composed in the same connection mode as the blocks in the single chip circuit to generate expected values by using the input supply group A supplied from the test vector supply means A.例文帳に追加

そして、これらの期待値生成手段を、１チップ回路内のブロックと同一の接続形態となるようにし、テストベクタ供給手段Ａから供給される入力信号群Ａを用いて、期待値を生成する。 - 特許庁

A test chart where the respective highest density patches of Y, M, C, R, G and B are arrayed is printed in the image forming apparatus (S12), and is read (S14) to calculate the colorimetric values of the respective patches (S16).例文帳に追加

Ｙ，Ｍ，Ｃ，Ｒ，Ｇ，Ｂの各々の最高濃度のパッチを配列したテストチャートを画像形成装置で印刷し（Ｓ１２）、それを読み取って（Ｓ１４）、各パッチの測色値を計算する（Ｓ１６）。 - 特許庁

The rotational movement, between the displacement measuring probe and the optical test surface, defines the data surface of a globe shape or an approximate globe shape of an object that the measured values of the probe are to be acquired.例文帳に追加

変位計測プローブと光学テスト表面との間の回転運動は、プローブの計測値が取得される対象となる球形または近似球形データ表面を画定する。 - 特許庁