「Load test」に関連した英語例文の一覧と使い方(14ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a compact apparatus for testing a material, which can apply a sufficient load to a minute object to be tested being sampled from an actual equipment structure and carry out a test at the site where the object to be tested is sampled.例文帳に追加

実機構造物において採取したより微小な供試体に対して十分な荷重を負荷でき、供試体を採取した現地で試験が行える小型材料試験装置を提供することである。 - 特許庁

The universal hardness of DIN standards measured by a test load of 3 mN when the crosslinked rubber sheets are stretched to 1,000% in overall length is ≥1.5 to ≤5 N/mm2.例文帳に追加

また、この架橋ゴムシートの、全長が１０００％まで伸張されたときに３ｍＮの試験荷重で測定されたＤＩＮ規格のユニバーサル硬さは、１．５Ｎ／ｍｍ^２以上５Ｎ／ｍｍ^２以下である。 - 特許庁

To provide a detecting method for water quality environments with high sensitivity, which can easily and stably carry out detections for a long period, while keeping the load light which is applied on a living organism used for the detection test.例文帳に追加

有害な水質環境の高感度な検出方法であって、容易にかつ長期間にわたって安定して実施することができ、供試生物に対する負担が少ない方法の提供。 - 特許庁

The device is configured to perform a friction test by contacting a friction element 24 to a specimen S mounted on a slide table 3 in a predetermined load condition and reciprocating the slide table 3 horizontally.例文帳に追加

スライドテーブル３に載せた試験片Ｓに対し摩擦子２４を所定の負荷条件にて当接させ、スライドテーブル３を水平方向に往復移動させて試験を行う摩擦試験装置である。 - 特許庁

To lighten the load on a transmission device side when a contents supply system having a contents supply center (transmission device) and a plurality of terminal devices distributes contents data for test viewing to the terminal devices.例文帳に追加

コンテンツ供給センタ（送信装置）と複数の端末装置とを有するコンテンツ供給システムにおいて、試し視聴用のコンテンツデータを端末装置に配信する際の送信装置側の負担を軽減する。 - 特許庁

In some embodiments, a calibration reference signal is transmitted directly from a test head through a load board interface, rather than through external instruments, so that timing errors associated with external wires and cables may be avoided.例文帳に追加

一部の実施例において、校正基準信号は、外部機器を介さずにロードボードインタフェースを通してテストヘッドから直接送信され、外部ワイヤやケーブルに関連するタイミング誤りを回避することができる。 - 特許庁

To provide a microcompression testing machine capable of sequentially and automatically performing a compression test with respect to the granular sample scattered on a lower pressure plate at random and reducing the load of an operator.例文帳に追加

下部圧盤上にランダムにばら撒かれた粒状試料に対し、逐次自動的に圧縮試験行うことができ、オペレータの負担を軽減することのできる微小圧縮試験機を提供する。 - 特許庁

The ratio (r value=ΔD/(ΔD+ΔEl)) obtained from the elongation ΔEl in a tube axis direction when performing tension test by the load of 80% of tensile break stress and the shrinking percentage ΔD is ≥0.28.例文帳に追加

引張破断応力の８０％の荷重で引張試験したときの管軸方向の伸びΔＥｌと外径の縮み率ΔＤより求めた比（ｒ値＝ΔＤ／（ΔＤ＋ΔＥｌ））は０．２８以上である。 - 特許庁

A projector 7 which is fixed to a table 1 of a testing machine main body, projects a straight emission line representing the load axis onto the surface of the test piece S which is sandwiched between an upper gripping tool 5 and a lower gripping tool 6.例文帳に追加

試験機本体のテーブル１に固定された投光器７は上掴み具５と下掴み具６に間で挟持される試験片Ｓの表面に負荷軸を示す直線状の輝線を投光する。 - 特許庁

A memory control part 9 calculates the next reading timing for the memory 8 on the basis of a rate value of output traffic detected by a traffic monitoring part 10, a load rate set value and the current memory 8 reading timing in response to a load rate and a load test start command issued from a terminal 1 for a maintenance person operation and reads the current traffic frame stored in the memory 8.例文帳に追加

保守者操作用端末１より発行された負荷レート及び負荷試験開始コマンドに応じて、メモリ制御部９は、トラフィック監視部１０で検出される出力トラフィックのレート値と負荷レート設定値と現在のメモリ８の読み出しタイミングとを基に、メモリ８の次の読み出しタイミングを算出し、メモリ８に蓄えられている現存トラフィックのフレームを読み出す。 - 特許庁

To provide an air actuator for eliminating an abnormal operation of a piston, surely and immediately stopping a test piece W and preventing the test piece W from being damaged even if an air supply is suddenly stopped so as to urgently stop the air actuator when the air actuator is used as an actuator of a load mechanism in a material tester.例文帳に追加

材料試験機の負荷機構等のアクチュエータとして、エアアクチュエータを用いた場合、エアアクチュエータを緊急停止させるべくエア供給を急激に停止した場合でも、ピストンが異常動作することなく、その位置で確実に停止することにより、試験片Ｗを損傷させることがないエアアクチュエータを提供する。 - 特許庁

To provide a contact wherein an electric conduction test is surely made and a lead terminal is protected, and operability, durability and test precision are improved and a downsizing of IC socket is made possible while minimizing a pressing load and stress generation, by extremely reducing a wiping phenomenon between a lead terminal and a terminal junction part at the time of pressure contact.例文帳に追加

リード端子と端子接点部との接圧時におけるワイピング現象を極減させることにより、通電検査を確実にするとともにリード端子を保護し、押圧荷重、発生応力を小さくして操作性、耐久性及び検査精度を向上させ、しかもＩＣソケットの小型化が可能なコンタクトを提供すること。 - 特許庁

The apparatus has a load means 2 for applying a stress or the like to a test piece 5 having a through hole 6, a detecting means 3 for detecting an area of the through hole 6 of the test piece 5, and an operating means 4 for calculating an apparent crack length L from the detected area of the through hole 6.例文帳に追加

この発明の評価装置１は、貫通孔６を形成した試験片５に応力等を加えるための負荷手段２と、前記試験片５の貫通孔６の面積を検知する検知手段３と、検知した貫通孔６の面積から見掛け亀裂長さＬを算出する演算手段４とを有することを特徴とする。 - 特許庁

To provide a vertical load test method for an existing pile performed for confirming support performance of a pile whether or not the existing pile used for an existing building can be reused as the pile of a new building when reconstructing the building.例文帳に追加

建物の建て替えに際し、既存建物に使用された既存杭を、新築建物の杭として再利用できるか、同杭の支持性能を確認するために実施する既存杭の鉛直載荷試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a scenario generation system which can save generation work of an operation scenario for an application program accompanied by operation screen display and can improve the working efficiency of a load test.例文帳に追加

本発明は、操作画面の表示を伴うアプリケーションプログラムを対象とした操作シナリオの作成作業を省力化でき、負荷試験の作業効率を向上できるシナリオ生成システムを提供することを課題とする。 - 特許庁

Mass loss percentages after a Taber abrasion test (ASTM D-1175; at a load of 4.9N and 500 revolutions) of the base layer and the surface of the cured resin film are 0.30% or more and 0.050% or less, respectively.例文帳に追加

該基層および樹脂硬化膜表面のテーバー摩耗試験（ＡＳＴＭ−Ｄ−１１７５、荷重４．９Ｎ、５００回転）後の質量の減少率がそれぞれ０．３０％以上および０．０５０％以下である。 - 特許庁

To provide a measuring device and a measuring method having high measuring accuracy, easy to operate and having a low load to a test piece, in measuring sheet resistance of a conductive layer formed on a polymer sheet film.例文帳に追加

高分子シート膜上に形成された導電層のシート抵抗を測定するに際し、測定精度が高く操作が容易で試験片に対する負荷の小さな測定装置および測定方法を提供することにある。 - 特許庁

The controlling device 2 calculates the abnormal tension reference value based on the maximum value of the warp tension on the test operation of a new fabric, which is output from a load cell 19 during the operation.例文帳に追加

制御装置２は試し運転中にロードセル１９から出力される新しい織物の試し運転時経糸張力の最大値を基に経糸の異常張力基準値を算出し、記憶部に設定する。 - 特許庁

To provide an evaluation/inspection system of a high speed bus capable of performing a test by the worst pattern in consideration of the maximum transfer load and crosstalk by a single device for the high speed bus in the device without requiring an external device.例文帳に追加

装置内の高速バスについて最大転送負荷やクロストークを考慮した最悪パターンでの試験を外部装置を必要とせず装置単体で行うことが可能な高速バス簡易評価／検査システムを提供する。 - 特許庁

To provide an efficient elevator load test method using adjustment weight included in a balance weight with less labor by reducing the transfer work of the adjustment weights.例文帳に追加

釣合おもりに含まれる加減おもりを利用したエレベータの負荷試験方法であって、加減おもりの移送の手間をより少なくすることにより、より手間の掛からない効率の良いエレベータの負荷試験方法を提供する。 - 特許庁

A model in which a wedge is introduced by receiving the one point load from the surface of the test material is first investigated for taking into account of the stress field, and the calculated residual stress is calculated at the position in which the residual magnetic field is measured.例文帳に追加

先ず、応力場を考えるために試験材料の表面から一点荷重を受けてくさびが導入されるモデルを検討し、残留磁場を測定した位置における計算残留応力を計算した。 - 特許庁

To provide a control system reducing a load on a controller that controls objects to be controlled, and to provide a semiconductor tester for shortening test time by being equipped with the relevant control system.例文帳に追加

制御装置が制御対象を制御する負荷を軽減することができる制御システム、及び当該制御システムを備えることで試験時間の短縮を図ることができる半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

A test circuit for semiconductor integrated circuits has a ring oscillation circuit having (2k+1: k being an integer of one or greater) pieces of inverters, and load circuits of the same impedance value are provided between the respective adjacent inverters, respectively.例文帳に追加

（２ｋ＋１：ｋは１以上の整数）個のインバータを具備したリング発振回路を有してなり、隣接するインバータの間に、各々、同一インピーダンス値の負荷回路が設けられてなる半導体集積回路用テスト回路。 - 特許庁

An input data vector comprises, as elements, brain radioactive data within prescribed period as to a plurality of positions in brains about a plurality of subjects collected in a load test using a brain blood flow SPECT.例文帳に追加

入力データベクトルは脳血流ＳＰＥＣＴを用いた負荷試験において収集された複数の被験者に関する脳内の複数の位置についての所定期間内における脳放射能データを要素とする。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit capable of performing a test in a state that a maximum delay occurs in data transfer because a maximum load is applied to a bus, and to provide a maximum delay testing method of the semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

バスに最大負荷がかかり、データ転送に最大の遅延が生じた状態でのテストを可能にする半導体集積回路及び半導体集積回路の最大遅延試験定方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor chip in which completely sufficient test is enabled easily without applying a load to circuit constitution of a main body, a semiconductor device mounting the chip, and a method for manufacturing the semiconductor device.例文帳に追加

本体の回路構成に負担をかけず、徹底して十分なテストを容易に行うことができる半導体チップ、そのチップを実装した半導体装置およびその半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

A detection circuit 5 is provided for detecting the electrical load factors, affecting test results occurring at testing of a semiconductor device 4 from the electrical signal applied to input/output terminals of the semiconductor device 4.例文帳に追加

半導体装置４の試験時に発生する試験結果に影響を与える電気的負荷要因を、半導体装置４の入出力端子に印加する電気信号から検出する検出回路５を設ける。 - 特許庁

The test apparatus comprises a head load mechanism for receiving and positioning the read/write head during testing, and a multi-channel preamplifier arranged to interface plural channels to a measurement system.例文帳に追加

前記試験装置は、テスト中に、前記読取り／書込みヘッドを受容する及び位置決めするためのヘッドロード機構、及び複数のチャネルが測定システムとインターフェースで接続するように配置されたマルチチャネル前置増幅器を具備する。 - 特許庁

In this constitution, the shaft 38 of the test tool 36 is guided along the vertical direction of the moving direction of the weight 18 by the groove 32, when the weight 18 is dropped to collide with a load receiving section 40.例文帳に追加

この構成によれば、錘１８が落下されて荷重受け部４０と衝突された時には、試験治具３６の軸部３８が溝部３２によって錘１８の移動方向である鉛直方向に沿って案内される。 - 特許庁

A load device (such as a measuring test head) can be lifted or lowered by winding a transmission rope at the upper edge of a first (fixed) pulley and the lower edge of a second (moving) pulley by using a double-process principle.例文帳に追加

倍行程原理を利用し、伝動ロープを第一（定）滑車の上縁及び第二（動）滑車の下縁に巻回することにより、荷重装置（例えば、測定試験ヘッド）を上昇・下降させることが可能となる。 - 特許庁

Since the operation device 3 is erected to be held to an inclined state at the time of operation, operation can be easily carried out and a load value or the like is displayed and the filling-up of visual data can be achieved and test operation is made accurate and easy.例文帳に追加

また、操作に際しては起立させ、傾斜保持させるので、操作は容易に行なえるとともに荷重値等が表示され、視覚情報の充実化が図られ、試験操作を正確、容易ならしめる。 - 特許庁

An arithmetic unit 19 calculates the displacement X loaded on a sample 11 under test every time step according to the earth motion acceleration waveform from a waveform generator 18, measured outputs from a displacement sensor 15 and a load sensor 14.例文帳に追加

演算部１９は、波形発生部１８からの地動加速度波形、変位センサ１５および荷重センサ１４からの計測出力に応じて、試験体１１に負荷する変位Ｘを時間ステップ毎に算出する。 - 特許庁

To provide a self-diagnostic device for a semiconductor which allows its user side to prepare for a test mode, allows its LSI to automatically operate under load at actual operation level and perform self diagnosis after power on, and outputs the result.例文帳に追加

ユーザ側でテストモードを用意し、電源投入後は自動的にＬＳＩが実動作レベルの負荷で動作して自己診断を行い、その結果を出力することができる半導体自己診断装置を提供する。 - 特許庁

To provide food for the evaluation test of cholesterol responsiveness capable of being prepared simply and capable of diagnosing cholesterol responsiveness in a short time without applying a load to a subject, and to provide an evaluation method of cholesterol responsiveness using it.例文帳に追加

簡単に調製でき、かつ被験者に負担なくコレステロール応答性を短期間で診断できるコレステロール応答性評価試験用食品及びこれを用いたコレステロール応答性の評価方法を提供する。 - 特許庁

An operation part 53 calculates a wave at a pile head from the measured wave measured in the dynamic load test as an input wave into a pile model by the characteristic curve method using an introduction position of the input wave as a pile head.例文帳に追加

演算部５３は、入力波の導入位置を杭頭とした特性曲線法による杭モデルへの入力波として、動的載荷試験において計測された計測波から杭頭での波を計算する。 - 特許庁

The strength evaluation can be fine throughout the truck frame to significantly improve the evaluation reliability as compared to a conventional static load test using strain gages actually attached to the truck frame.例文帳に追加

本発明によれば、強度評価を台車枠全体に渡って細かく行うことができ、従来のように実際に歪みゲージを台車枠に貼って行われる静荷重試験に比べて、評価信頼性が格段に向上する。 - 特許庁

A control rod drive coil which is a simulated load for this simulated load device used in a test for checking the function and performance of a control rod controller is formed by connecting a reactor having inductance equal to that of the drive coil and a resistor having a resistance value qual to that of the drive coil.例文帳に追加

制御棒制御装置の機能および性能を確認する試験に用いる模擬負荷装置の模擬負荷である制御棒駆動コイルとして、前記制御棒駆動コイルと同等のインダクタンスを有するリアクトルと、前記制御棒駆動コイルと同等の抵抗値を有する抵抗器とを接続して構成した。 - 特許庁

When an enterprise A1 and clients α31 and β32 exchange data, the data are passed through a hub server 2 and then a network administrator of the company is not loaded even when transactions increase; and the load in a continuity test is lightened, so the data exchange system can greatly lighten the load of management.例文帳に追加

企業Ａ１と取引先α３１や取引先β３２とのデータの交換を行う際、ハブサーバ２を経由させることにより、取引先が増加した場合でも自社内でのネットワーク管理者に対し負荷がかからず、導通テスト時の負荷をも軽減するため管理負担を大幅に軽減することができるデータ交換システム。 - 特許庁

In the evaluation data generating process, evaluation data are generated per material of the skin member based on a data indicating a relationship between a contact area and the impact load corresponding to a human bone fracture previously collected per material of the skin member and the impact load of the test skin member measured in the measurement process.例文帳に追加

次いで、評価用データ生成工程により、表皮部材の材料種毎に予め採取された人体骨折相当の衝撃荷重と接触面積との関係を示すデータと、測定工程により測定した試験用表皮部材の衝撃荷重に基づいて、表皮部材の材料種毎の評価用データを生成する。 - 特許庁

The control part 14 for the vehicle model finds a vehicle load, braking torque, etc. by using the running model based on the running conditions from the operation panel 12, gives these findings to the dynamometer 22, and performs torque control for the dynamometer 22 in synchronization with torque control for a driving motor 56 of a test vehicle by communicating with an ECU 52 of the test vehicle.例文帳に追加

車両モデル・ＥＣＵＩ／Ｆ制御部１４は、操作盤１２からの走行条件に基づき、車両走行モデルを用いて車両の負荷や制動トルク等を求め、これらの結果を動力計２２に与え、また試験車両のＥＣＵ５２と交信することで、動力計２２のトルク制御と、試験車両の駆動モータ５６のトルク制御とを同期して行う。 - 特許庁

A plurality of spring probes 168 are positioned in the holes 166 of the housing 162, so as to provide a spring force for the electrical contact of the spring probes 168 between test points 170 of the integrated circuit package 172 and load board 164.例文帳に追加

ハウジング１６２の孔１６６内には複数のスプリングプローブ１６８が位置決めされ、集積回路パッケージ１７２の試験部位１７０とロードボード１６４との間でスプリングプローブ１６８が電気接触するようにばね力を提供する。 - 特許庁

The test device measures the bearing power of a pile 12 buried in the ground 10, in which a measuring instrument 16 that measures the loading load applied to a pile head 14 located at the upper end of the pile 12 and the displacement is placed.例文帳に追加

試験装置は、地盤１０中に埋設された杭１２の支持力を測定するものであって、杭１２の上端側に位置する杭頭部１４に加えられる載荷荷重と変位とを測定する計測器１６が設置される。 - 特許庁

To provide a configuration capable of implementing a voltage application test and to protect voltage between gates and sources of FETs from overvoltage, in a semiconductor integrated circuit including a plurality of FETs of the same conductive type connected in series in a load electrification route.例文帳に追加

負荷通電経路中に直列接続された同一導電型の複数のＦＥＴを備えたものにおいて、電圧印加テストを実施可能な構成を備えるとともに各ＦＥＴのゲート・ソース間を過電圧から保護する。 - 特許庁

To provide a performance evaluation test machine capable of testing by causing the same elliptic distortion of outer wheel and a weight load state as the state caused in an actual machine of bearing for a planetary gear support, and obtaining highly reliable data.例文帳に追加

遊星歯車支持用軸受の実機で起きる状態と同様な外輪楕円変形および荷重負荷状態を生じさせて試験することができて、信頼性の高いデータを得ることのできる性能評価試験機を提供する。 - 特許庁

In the IC tester, including the electronic load part connecting a current source on both ends of a diode bridge, the diode bridge and the current source are synchronized with the test pattern signal to be connected via an on/off control switch.例文帳に追加

ダイオードブリッジの両端に電流源を接続した電子負荷部を含むＩＣテスタにおいて、 これらダイオードブリッジと電流源とを、テストパターン信号に同期してオンオフ制御するスイッチを介して接続したことを特徴とするもの。 - 特許庁