「OF test」に関連した英語例文の一覧と使い方(434ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a semiconductor memory in which an increment in pattern area is suppressed to the minimum and a BIST circuit which can obtain redundancy relieving information is realized, a fault rate of the BIST circuit itself can be reduced by using simple algorithm and its test method.例文帳に追加

パターン面積の増加を最低限に抑えてリダンダンシ救済情報を取得可能なBIST回路を実現し、簡易なアルゴリズムを使用してBIST回路自体の故障率を下げることが可能な半導体記憶装置およびそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

A clogging-up pressure correlation table 510 recording the correlation between the clogging-up ratio and the cooling liquid pressure, obtained at a preliminary test for measuring the cooling liquid pressure under state of intentionally clogging up the injection holes in the cooling jackets 200, 400, is prepared.例文帳に追加

冷却ジャケット２００、４００の噴射孔を意図的に目詰まりさせた状態で冷却液圧力を測定する予備試験にて得られる目詰まり率と冷却液圧力との相関を記録した目詰まり圧力相関テーブル５１０を用意する。 - 特許庁

Then, communication between the portable telephone 30 and the portable telephone 40 is tested while the mobile phone 30 is made to operate the mobile phone 40 by allowing a control circuit 34 of the mobile phone 30 to perform the communication test program.例文帳に追加

そして、この通信試験用プログラムを携帯電話３０の制御回路３４に実行させることで、携帯電話３０に携帯電話４０の操作を行わせながら、携帯電話３０と携帯電話４０相互間の通信試験を行う。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit wherein a test stabilization waiting time and easiness of trouble diagnosis are taken into consideration when a high-speed clock signal same to that in a usual operation for the semiconductor integrated circuit is generated in an inside, in response to an input clock.例文帳に追加

入力クロックに応じて、半導体集積回路の通常動作時と同じ高速なクロック信号を内部生成した場合のテスト安定待ち時間と故障診断の容易性を考慮した半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

To obtain the output buffer circuit which enables a stable test to be conducted without being affected by delay caused by additional capacitor a connected tester side by increasing the driving capability of an output buffer having low driving capacity when the output buffer circuit is tested.例文帳に追加

弱いドライブ能力の出力バッファ回路のテスト時に、出力バッファのドライブ能力を高くすることで、接続されたテスタ側の付加容量による遅延などの影響を受けることなく、安定なテストが行える出力バッファ回路を得る。 - 特許庁

To provide a wireless type in-subject information acquiring system for stably feeding power to a capsule type endoscope introduced into a living body from a power feeder without allowing a staff to always pay attention to the test posture of the subject during the inspection.例文帳に追加

検査中、スタッフが、常時、被検者の検査姿勢に注意を払うことなく、給電装置から体内に導入されたカプセル型内視鏡に対して安定した給電を可能にする無線型被検体内情報取得システムを提供すること。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a concrete specimen capable of obtaining the concrete specimen having a smooth surface even when the specimen for a strength test is moved to a predetermined stockyard.例文帳に追加

本発明は、強度試験を行うための供試体を所定の保管場所へ移動させた場合にも表面の平滑な供試体を得ることのできるコンクリート供試体の製造方法およびコンクリート供試体の成形器具を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide an inspection gas container holding structure for a gas leak alarm which stores the inspection gas for a gas leak alarm for which another gas is difficult to substitute in such a way that the inspection gas is hardly gone and is immediately extracted from the container at the test of the operation.例文帳に追加

他のガスでは代用の利きにくいガス漏れ警報器用の点検ガスを、無くしにくくしかも動作試験の際に直ぐに取り出せるように保管することのできるガス漏れ警報器の点検ガス容器保持構造を提供すること。 - 特許庁

Then, module loading acceptability specified by the module load sequence is tested, an error signal in response to a test result, significance of an error is determined and whether or not to continue module loading is determined.例文帳に追加

次いで、モジュールのロードシーケンスによって指定されるモジュールのロードの受け入れ可能性をテストし、このテスト結果に応答してエラー信号を生成するとともに、エラーの重大性を判断して、モジュールのロードを更に継続するのか中止するのかを判断する。 - 特許庁

The chips having identical structures are laminated, hence this eliminates the need to manufacture a plurality of chip kinds having different structures and allows the same test to be conducted for all the chips, and since there is no need to consider the laminating order, the manufacturing cost can be reduced.例文帳に追加

同一構造のチップを積層するので、異なる構造のチップを複数種類製造する必要がなく、全てのチップに対して同じテストを行うことができ、積層する順番も考慮する必要がないので、製造コストを低減できる。 - 特許庁

The ID of a product is used as a key, the process characteristic quantity data, a test data and a failure data are combined, and data for analysis that are generated by deleting invalid data in a data filter 10c is analyzed through data mining by an analysis part 10d to create a model.例文帳に追加

製品のＩＤをキーに、プロセス特徴量データと検査データ並びに故障データを結合し、データフィルター部１０ｃにて不正データを削除して生成した解析用データを、解析部１０ｄにてデータマイニングにより解析しモデルを作成する。 - 特許庁

The surface flaw repairing method includes a detection process for detecting surface flaws 14 on the metal rod material by a leakage flux flaw detection test, and a process for inspecting the surface flaws by confirming visually the degree of the surface flaws 14 by an operator.例文帳に追加

この表面疵補修方法は、漏洩磁束探傷試験によって金属製棒材の表面疵１４を検知する検知工程と、この表面疵１４の程度を作業者が目視で確認して表面疵の検査をする工程とを含む。 - 特許庁

There is provided the microreactor container for the blood test equipped with a lower housing part equipped with inert particles and an upper housing part in which a specimen is injected and characterized in that a lens is provided to the wall surface of the lower housing part.例文帳に追加

血液検査用マイクロ反応容器であって、不活性粒子を備える下部収容部、及び、検体が注入される上部収容部を具備し、前記下部収容部の壁面にレンズを備えることを特徴とするマイクロ反応容器が提供される。 - 特許庁

An actual stub determining process 104 called from the tentative stub 103 when a test is conducted determines and executes the execution stubs a1 and a2 according to the argument values at the time of the tentative stub calling, the internal conditions, and the specific condition file 107.例文帳に追加

そして、テスト実施時に仮スタブ１０３から呼び出される実スタブ決定処理１０４が、仮スタブ呼び出し時の引数値及び内部条件と指定条件ファイル１０７とに基づいて、実行する実スタブａ１又はａ２を決定し、実行する。 - 特許庁

A semiconductor integrated circuit is provided with a memory section (5) which has a plurality of memory banks (BNK0 to BNK3) and is accessed by specifying an X address and an Y address and a self-test section (3) which tests the memory section by responding to an instruction made by a command.例文帳に追加

半導体集積回路は、複数のメモリバンク（ＢＮＫ０〜ＢＮＫ３）を有し、バンクアドレス、Ｘアドレス及びＹアドレスを指定してアクセスされるメモリ部（５）と、コマンドによる指示に応答して前記メモリ部をテストするセルフテスト部（３）を有する。 - 特許庁

The apparatus for evaluation and test is designed to press the abrading object 11 by a specified force to the lens 1 by placing an arbitrary weight 5 onto the abrading tool 3 and to rub the surface of the lens 1 with the abrading object 11 by moving the chuck 2 in this state.例文帳に追加

擦傷治具３の上に任意の重り５を載せることでレンズ１に擦傷物１１を一定の力で押し付け、その状態でチャック２を運動させることによってレンズ１表面を擦傷物１１で擦る評価試験装置とする。 - 特許庁

To provide an apparatus for measuring setup/hold time, which produces data signals and an internal clock signal using an external clock signal in response to a test signal and measures the setup/hold time according to the states of buffered data without read/write operations.例文帳に追加

テスト信号に応じて外部クロック信号からデータ信号と内部クロック信号を生成し、読取り／書込み動作無しでバッファリングされたデータの状態によってセットアップ／ホールドタイムを測定できるようにしたセットアップ／ホールドタイム測定装置を提供する。 - 特許庁

After a base is temporarily attached to a bracket provided in a bottom part of the circular easing and having a triangular cross section to conduct the flooding test, the base is once removed, and the circular casing is pressed in and buried into the ground by a shaft excavator to complete the shaft.例文帳に追加

円形ケーシングの底部に設けた三角断面のブラケットに底版を仮に取付けて張水試験を行った後、一旦底版を取外し、この円形ケーシングを立坑掘削機で地中に圧入埋設して立坑を完成する。 - 特許庁

To obtain a gas barrier film which satisfies oxygen barrier properties, bending fatigue resistance (Gelbo characteristics) and adhesiveness under a high humidity condition and strikes a balance between oxygen barrier properties and adhesiveness under the high humidity condition even after a boil test (treated in hot water of 85°C for 30 min).例文帳に追加

高湿度下での酸素バリア性と耐屈曲疲労性（ゲルボ特性）と接着性を満足し、更に、ボイル試験（８５℃の熱水中で３０分間処理）後も高湿度下での酸素バリア性と接着性を両立させたガスバリアフィルムを得る。 - 特許庁

The communication device 10 determines that a transmission state for the user frame in the ring network is normal in the case that the transmitted test frame is acquired in a predetermined form via a second communication port connected to a transmission path in a second direction of the ring network.例文帳に追加

通信装置１０は、上記送出した試験フレームが、リング網の第２方向の伝送路と接続された第２の通信ポートを介して所定の態様で取得された場合、リング網におけるユーザフレームの伝送状態を正常と判定する。 - 特許庁

A gain acquisition unit 200, in consideration of resonance gains due to the structural features and gains acquired through hearing test at the same time, reduces gain correction time periods and possible errors while optimizing individual performances.例文帳に追加

利得獲得ユニット２００は、このような構造的特徴によって発生した共鳴利得と聴力検査を通じて獲得した利得とを同時に考慮することで、利得補正時間と生じ得る誤差とを減少させつつ、個人別性能を最適化する。 - 特許庁

The shrinkage force of the coil spring is so used such that the thermocouple temperature-measuring part is press-contacted and held with a material test piece surface by the band body.例文帳に追加

帯状体の両端にコイルバネ３２の一端を接続し、他端を該コイルバネが伸長状態となるように外部固定部材（支柱３４）に結合し、コイルバネの収縮力を利用して帯状体で熱電対測温部を材料試験片表面に圧接保持する。 - 特許庁

The method contains a step to extract a DNA from a test specimen, a step to amplify a recombination gene from the extracted DNA by an LAMP method to use a primer set derived from the target sequence of the recombination gene, and a step to detect the amplified DNA.例文帳に追加

被判別試料からDNAを抽出する工程と、抽出したDNAから、組換え遺伝子の標的配列由来のプライマーセットを使用するLAMP法により組換え遺伝子を増幅する工程と、増幅したDNAを検出する工程と、を含む方法である。 - 特許庁

To discover fault or abnormality in a terminal connected to a network, especially, the abnormality of hardware without directly touching the terminal by using a terminal provided with an Ethernet(R) interface having a test function for the terminal in a network system.例文帳に追加

テスト機能を有すイーサネット（登録商標）インタフェースを備えた端末をネットワークシステムの端末に用い、ネットワークに接続する端末の故障や異常、特にハードウェアの異常を、端末に直接触ることなく発見できるようにすること。 - 特許庁

The kit for detecting Mycobacterium tuberculosis and nontuberculous mycobacterium contains a test piece having immobilized oligonucleotide probes specifically hybridizing with wild-type rpoB genes of Mycobacterium tuberculosis, MAC (M. avium and M. intracellulare) and M. kansasii.例文帳に追加

本発明の結核菌および非結核性抗酸菌を検出するためのキットは、結核菌およびＭＡＣ（M. aviumおよびM. intracellulare）およびM. kansasiiの野生型ｒｐｏＢ遺伝子にそれぞれ特異的にハイブリダイズするオリゴヌクレオチドプローブが固定された試験片を含む。 - 特許庁

The test circuit is coupled to the bit lines, the determines selectively the voltage levels appearing on the bit lines based on a measured current level and supplies externally an electrical signal representative of the sensed voltage levels to the ferroelectric memory device.例文帳に追加

該テスト回路はビット線へ結合されており、測定した電流レベルに基づいてビット線上に表われる電圧レベルを選択的に決定し且つ検知した電圧レベルを表わす電気信号を外部的に強誘電体メモリ装置へ供給する。 - 特許庁

A plurality of test ring oscillators commonly connecting an output terminal are provided on a semiconductor chip, selectively oscillated by a logic circuit and oscillation output output through the output terminal is monitored by a tester.例文帳に追加

出力端子を共通に接続された複数のテスト用リングオシレータを半導体チップ上に設け、当該複数のリングオシレータを論理回路により選択的に発振させ、出力端子を介して出力される発振出力をテスタによってモニタする。 - 特許庁

A program is created on the programming interface for executing a sample test in a rheometer, by receiving the connection relationship between a number of nodes selected by the user and other nodes in each node by a connection indicator having directivity.例文帳に追加

プログラムは、ユーザが選択した多くのノードと、指向性を有する接続インディケータによる各ノードにおける他のノードとの接続関係と、を受信することによって、レオメータにおいてサンプルのテストを実行するために、プログラミングインターフェース上で作成される。 - 特許庁

Since the substrate potential of the semiconductor element 101 is fixed at 0 V by a substrate plate 102, voltage stress is applied between the gate electrode within the semiconductor wafer and the substrate, a burn-in test for the semiconductor element 101 can be conducted.例文帳に追加

半導体素子１０１の基板電位はサブストレートプレート１０２により０Ｖに固定されているため、半導体ウエハー内のゲート電極と基板との間には電圧ストレスがかかるため、半導体素子１０１にバーンインテストを行うことができる。 - 特許庁

Packet extracting and displaying means S5 and S6 extract data applied to the prescribed pins in test signals outputted from the tester simulate part as packet data based on data related with the packets, and display the data according to the constitution of the packets.例文帳に追加

パケット抽出表示手段（Ｓ５，Ｓ６）は、パケットに関するデータに基づいて、テスタシミュレート部から出力される試験信号の中で所定のピンに印加されるデータをパケットデータとして抽出し、そのデータをパケットの構成に従って表示する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device capable of accurately performing electric test that is conducted by abutting a conductive needle against a conductive pad, while preventing damaging a passivation film, and to provide a semiconductor wafer structure, and a semiconductor manufacturing method.例文帳に追加

パッシベーション膜の損傷を防ぎつつ、導電性パッドに導電性の針を当接させて行われる電気的な試験を正確に行うことが可能な半導体装置、半導体ウエハ構造、及び半導体装置の製造方法を提供すること。 - 特許庁

The prober assembly is also configured to test fractional sections of the large-area substrate positioned on a testing table, and the prober assembly can be configured for different display and contact point patterns, without having to remove the prober assembly from the testing table.例文帳に追加

プローバアセンブリは、検査テーブル上に位置された大面積基板の一部を検査するようにも構成されており、プローバアセンブリはプローバアセンブリを検査テーブルから取り外すことなく、異なるディスプレイ及び接触点パターンに合わせて構成し得る。 - 特許庁

The periodontal disease test piece 1 is provided with a color-changing part 2, having applied lead acetate for contacting sulfide, such as the hydrogen sulfide, the mercaptan, the dimethyl sulfide generated by the causative bacteria of the periodontal disease and changing own color.例文帳に追加

１は歯周病検査片で、該歯周病検査片１には、歯周病原因菌により産生される硫化水素，メチルメルカプタン，ジメチルサルファイド等の硫化物に接触して呈色変化する酢酸鉛が塗布された呈色変化部２が設けられている。 - 特許庁

The tests can be configured so that the test init function will constrain the input photomap to a specified number of levels, on a per-band basis, so that word-sizedand quad-sized pixels are passed through the flos.例文帳に追加

テストは、テストの初期化関数は、基本的にはバンドごとに、入力のフォトマップを指定された数のレベルに制限するように構成することができる。 また、ワード長のピクセルや、4倍長のピクセルが flo を通じて渡されるように構成することができる。 - XFree86

The safeness of the optical filter for practical use is improved by using a flame-retardant material showing <30 seconds burning duration in the vertical flammability test specified by the UL standard 94 for the all transparent polymer films which constitute the optical filter.例文帳に追加

光学フィルターを構成する全ての透明高分子フィルムを、ＵＬ規格９４に規定される垂直燃焼試験における燃焼継続時間３０秒未満の難燃性材料とすることで、光学フィルターの実用上の安全性を図る。 - 特許庁

An input signal generating circuit 23 for the test is provided further to set optionally an L level and an H level when testing an LSI, and a signal therein and the output signal S1 are switched by the third selector 19 to be connected to an input of the first boundary scan register.例文帳に追加

ＬＳＩテスト時に任意にＬとＨを設定できるテスト用入力信号生成回路２３を更に備え、その信号と出力信号Ｓ１を第３のセレクタ１９により切り替えて、第１のバウンダリスキャンレジスタの入力に接続する。 - 特許庁

Preferably, the size of the medium is automatically decided by a printer, and when the test pattern is printed, the printer automatically interprets it and sets or adjusts operation parameters such as a color calibration parameter.例文帳に追加

好ましくは、媒体のサイズはプリント装置によって自動的に判定され、テストパターンのプリントがプリントされるとプリント装置によって自動的に解釈されてプリント装置の、例えば色校正パラメータのような動作パラメータを設定あるいは調節する。 - 特許庁

A switch of the switching circuit is connected to one connection terminal following a control signal inputted from a switching control circuit 13, and the input/output pin connected to the connection terminal is conducted with the channel circuit, to thereby perform the test.例文帳に追加

そして、切替制御回路１３から入力される制御信号に従って、切替回路のスイッチを１つの接続端子に接続し、当該接続端子に接続されている入出力ピンがチャンネル回路と導通し、試験が行われる。 - 特許庁

The controlling part tests a recording power in a recording power test region other than a user data recording region and decides a controlling power before recording an user datum and the user datum is recorded on the user data recording region on the basis of the decided recording power.例文帳に追加

ユーザデータの記録を行なう前に、制御部は、ユーザデータ記録領域以外の記録パワーテスト領域にて、記録パワーのテストを行なって記録パワーを決定し、決定された記録パワーに基づいてユーザデータ記録領域にユーザデータの記録を行なう。 - 特許庁

In a connection test, data held in registers 241-1 and 241-2 are transferred to registers 211-1 and 211-2 in an interface circuit 210, further transferred to registers 312-1 and 312-2 at a side of the second chip 200-2 and held therein.例文帳に追加

接続試験においては、レジスタ２４１−１および２において保持されているデータを、インターフェース回路２１０内のレジスタ２１１−１および２に転送し、さらに第２チップ２００−２側のレジスタ３１２−１および２に対して転送して保持させる。 - 特許庁

The yarn comprising at least ultra-high molecular weight polyethylene filaments and having ≤5% elongation and (a) 1.01-10.0 specific gravity or (b) 14.0 g/d strength after 1,000 number of abrasion repetitions in the abrasion test is provided.例文帳に追加

少なくとも超高分子量ポリエチレンフィラメントからなり、伸度が５％以下、（ａ）比重が１．０１〜１０．０であること、または（ｂ）磨耗試験における磨耗回数が１０００回後の強度が１４．０ｇ／ｄ以上であることを特徴とする糸条。 - 特許庁

According to test pattern data, an identical and uniform colored image is recorded in a reference region 930 and comparison regions 931-934, and uniform clear images of different dot density are recorded on the uniform colored image in the comparison regions 931-934.例文帳に追加

テストパターンデータに従って、基準領域９３０および比較領域９３１〜９３４に同一の均一有色画像が記録され、比較領域９３１〜９３４の均一有色画像上に、ドット密度が異なる均一クリア画像が記録される。 - 特許庁

In the SRAM block, an error in a memory cell having a small operating margin which is caused by a variation in threshold voltage is generated intentionally by an acceleration test, so as to previously perform a predictive diagnosis of an error that occurs during a normal operation.例文帳に追加

ＳＲＡＭブロックにおいて、しきい値電圧のバラツキによって生じた動作マージンの小さいメモリセルにおけるエラーを、加速試験によって意図的に発生させ、通常動作時に発生するエラーを事前に予知診断することを図る。 - 特許庁

To provide a curable composition allowing formation of a cured film excellent in developability as well as excellent in various characteristics such as hardness, solder heat resistance, chemical resistance, adhesiveness, PCT (pressure cooker test) durability, electroless plating durability, whitening resistance, electric insulating property and flexibility.例文帳に追加

現像性に優れ、且つ、硬度、はんだ耐熱性、耐薬品性、密着性、ＰＣＴ（プレッシャー・クッカー・テスト）耐性、無電解金めっき耐性、白化耐性、電気絶縁性、可撓性などの特性に優れる硬化膜を形成できる硬化性組成物を提供する。 - 特許庁

The vehicle information such as speed signal, motor current, and brake cylinder pressure acquired from a railroad vehicle is taken into a personal computer, so that a time-series waveform is displayed on a display of a personal computer, for confirming the test data and for recording it on a hard disc.例文帳に追加

鉄道車両より得られる速度信号，モータ電流，ブレーキシリンダ圧力等の車両情報をパソコンに取り込んで、パソコンのディスプレイ画面上に時刻歴波形を表示させ試験データの確認を行うと同時に、ハードディスクに記録する。 - 特許庁