「OF test」に関連した英語例文の一覧と使い方(432ページ目) - Weblio英語例文検索

A command for acquiring an analog waveform contained in the device test program 112 is executed, a content thereof is analyzed by a language analysis executing part 116, and then reading-in of the analog waveform is indicated from a tester library 118 to a tester bus emulator 120.例文帳に追加

デバイステストプログラム１１２に含まれるアナログ波形の取得命令が実行され、その内容が言語解析実行部１１６によって解析されると、テスタライブラリ１１６からテスタバスエミュレータ１２０に対してアナログ波形の取り込みが指示される。 - 特許庁

This Al-Mg-Si alloy extruded shape material has proof stress of ≥150 N/mm2, and, in an instrumentation Charpy test, the absorbed energy on and after the maximum load point to the absorbed energy till the maximum load point is ≥60%.例文帳に追加

耐力が１５０Ｎ／ｍｍ^２以上、かつ計装化シャルピー試験において、最大荷重点までの吸収エネルギーに対して最大荷重点以降の吸収エネルギーが６０％以上であるＡｌ−Ｍｇ−Ｓｉ系アルミニウム合金押出形材。 - 特許庁

The tear meniscus test device 1 is provided with a body part 2 having a slender shape, made of a synthetic resin material or synthetic rubber material with a groove 3 formed along the longitudinal direction, and a water-absorbent member 4 disposed inside the groove 3.例文帳に追加

涙液メニスカス検査用具１は、細長い形状を有し、その長さ方向に沿って溝３が形成された合成樹脂材料又は合成ゴム材料から成る本体部２と、該溝３内に配置される吸水性部材４とを備える。 - 特許庁

To provide porous alumina having such remarkably excellent durability that even when platinum is supported on the alumina and a high temperature and long time durability test is carried out, the surface area, pore volume and average pore diameter of the alumina hardly undergo a change.例文帳に追加

アルミナに白金を担持し、高温かつ長時間の耐久試験を行っても、その表面積、細孔容積、平均細孔直径が、使用したアルミナのそれと殆ど変わらない、耐久性に著しく優れた多孔質アルミナを提供する。 - 特許庁

Prior to the function inspection of a semiconductor integrated circuit with test signals applied to the integrated circuit, a signal for giving a higher load to the integrated circuit than in its usual operation is applied thereto under a normal temperature condition.例文帳に追加

本発明では、半導体集積回路にテスト信号を印加することによって半導体集積回路の機能検査を行う前に、常温条件下で半導体集積回路に通常の使用時よりも高負荷となる信号を印加することとした。 - 特許庁

In the present PET apparatus, multi-detectors 1 are placed around the examined objects so as to detect two photons generated when a positron by collapse of a radioactive isotope which doses test objects is pair-annihilated with electrons.例文帳に追加

本ＰＥＴ装置においては、検査対象の周囲に、該検査対象に投与された放射性同位元素の崩壊によるポジトロンが電子と対消滅をする時に発生される２個の光子を検出するために複数の検出器１が設置される。 - 特許庁

To provide a method for estimating the corrosion fatigue life of a metal material that is used in such devices as compressors and can not be directly subjected to a corrosion fatigue test to evaluate its life because the device is in an operating environment and to provide highly reliable devices that are appropriate for their design life.例文帳に追加

直接腐食疲労試験により寿命評価できない使用環境における圧縮機等の機器に使用される金属材料の腐食疲労寿命を推定し、機器の設計寿命に適した信頼性の高い機器を提供する。 - 特許庁

By using a compressional-wave velocity obtained by this vibrator sensor, and applying it to a regression curve representing relation between compressional wave velocity and uniaxial compressive strength obtained by an indoor test previously, the uniaxial compressive strength of the improved ground is inferred.例文帳に追加

この振動子センサで得られた粗密波速度を用いて、あらかじめ室内試験により得られた粗密波速度と一軸圧縮強度との関係を示した回帰曲線への当てはめを行って改良地盤の一軸圧縮強度を推定する。 - 特許庁

To provide an adhesive and an adhesive for circuit connection which exhibit high adhesive strength in spite of a radical curing system, has a stable performance even after a reliability test and is excellent in storage stability, too, and to provide a connected body and a semiconductor device using the adhesive.例文帳に追加

ラジカル硬化系でありながら、高い接着強度を示し、かつ、信頼性試験後においても安定した性能を有し、さらに貯蔵安定性にも優れる接着剤、回路接続用接着剤、接続体及び半導体装置を提供する。 - 特許庁

Also the computer, when preparing an instruction string for test use, designates for inputting of any instruction that may give rise to exception interrupt, such as floating point calculation or fixed point division, the input-dedicated register into which execution results are not written.例文帳に追加

また、コンピュータは、試験用命令列の作成時に、浮動小数点演算や固定小数点除算など例外割り込みが発生する可能性のある命令の入力に実行結果が書き込まれない入力専用レジスタを指定する。 - 特許庁

To provide an active energy ray-curable coating composition capable of suppressing metallic thin film cracking even when forming on a metallic thin film a rigid top coat layer sufficiently protecting the metallic thin film or performing heat resistance test, and to provide composite coating films.例文帳に追加

金属薄膜を十分に保護できる強固なトップコート層を金属薄膜上に形成したり、耐熱試験を行ったりしても、金属薄膜の割れを抑制できる活性エネルギー線硬化型塗料組成物、および複合塗膜を提供する。 - 特許庁

To provide an impact absorbing structure which comprises an impact resistance requested by a structure to be installed and is installable easily with a minimum labor for a confirmation test, and also provide a method of manufacturing the impact absorbing structure and a mobile body.例文帳に追加

設置する構造体に要求される耐衝撃特性で、確認試験の手間を最小限として容易に設置することが可能な衝撃吸収構造体及び衝撃吸収構造体の製造方法、並びに、移動体を提供する。 - 特許庁

When the battery voltage detected in the battery load test of the battery testing part 72 has decreased to a voltage lower than or equal to a specified threshold value, a battery capacity monitoring part 74 determines a battery capacity reduction and causes the notice part 32 to output a battery capacity reduction alarm.例文帳に追加

電池容量監視部７４は電池試験部７２の電池負荷試験により検出した電池電圧が所定の閾値以下に低下した場合に電池容量低下と判断し、報知部３２から電池容量低下警報を出力させる。 - 特許庁

To quickly, easily and precisely measure a unit water amount by setting a neutron moisture meter in a sample to detect the number of thermal neutrons, after measuring an air volume pursuant to an air volume test (JISA1128-1998) for ready-mixed concrete.例文帳に追加

生コンクリートの空気量試験（ＪＩＳＡ１１２８−１９９８）により空気量を測定した後、その試料に中性子水分計をセットして熱中性子数を検知することにより、単位水量を迅速、容易に、かつ高い精度で求める。 - 特許庁

To check in a short time and with high reliability whether a chamfering dimension of a chamfered part falls into a specified range, where a cylindrical part with a through-hole opening edge in a radial direction chamfered is a test object.例文帳に追加

径方向貫通孔の開口縁に面取り部が施された筒状部品を検査対象にして、前記面取り部の面取り寸法が規定範囲内にあるか否かの検査を短時間で信頼性良く行えるようにすることを課題としている。 - 特許庁

Thereafter, the control part (6) closes the outlet damper (3) when the detection temperature of the temperature sensor (5) falls down to the target temperature and changes over the cool air supply switches (41 and 42) to states that cool air is not supplied into the test tank (10) to stop the blower (2).例文帳に追加

その後、制御部（６）は、温度センサ（５）の検出温度が目標温度まで下がったときに、出口ダンパ（３）を閉じ、冷気供給切替部（４１，４２）を冷気が試験槽（１０）内に供給されない状態に切り替え、通風機（２）を停止させる。 - 特許庁

An external connection electrode 21, which has the same outer size and cross section as for an external connection electrode 21, formed in a semiconductor device forming region 11, is formed at a peripheral part of a semiconductor device test region 11a with the same process.例文帳に追加

半導体装置テスト用領域１１ａの周辺部には、半導体装置形成領域１１内に形成される外部接続用電極２１と同一プロセスで同一の外形サイズおよび断面積の外部接続用電極２１が形成される。 - 特許庁

This pallet 1 for a stone structure used for an earthquake resistance test for a stone structure such as a tomb stone is provided with a roughly box shaped pallet main body 20 and a receding rectangular base placement part 20a formed on the top face of the main body 20.例文帳に追加

お墓等の石造構造物の耐震試験に用いる石造構造物用パレット１において、略箱状のパレット本体部２０と、パレット本体部２０の上面に形成された、矩形状凹状の基礎設置部２０ａとを設ける。 - 特許庁

The method is used in a test for a solution or a solid phase such as a nylon film, and the later method may be used in measurement by a device or tool such as a color reader, and in combination of another ALD testing means and a pH testing means.例文帳に追加

この方法は溶液又はナイロン膜等の固相での試験、また後者の方法は色読取装置等の装置又は器具による測定、更に別のＡＬＤ試験手段及びｐＨ試験手段との組み合わせにおいて使用することもできる。 - 特許庁

To provide an electronic music processor, an electronic music reproducer, and an electronic music distribution system and its method which enable test listening and is applicable to uncompressed music contents and enables control of sound quality for each frequency band.例文帳に追加

試聴可能であり、しかも圧縮を行っていない音楽コンテンツにも適用でき、さらに周波数帯域ごとに音質を制御可能にした、電子音楽加工装置、電子音楽再生装置、電子音楽配信システム及びその方法を提供する。 - 特許庁

This vulcanized molded article is prepared by subjecting an acrylic elastomer composition containing 100 pts.wt. acrylic elastomer having cross-linking groups and about 0.1-25 pts.wt. resinous ethylene or propylene polymer having a softening point (Vicat test according to ASTM D-1525) of 30°C or higher to vulcanization molding.例文帳に追加

架橋性基含有アクリルエラストマー100重量部および軟化点(ビカード試験ASTM D-1525準拠)が30℃以上のエチレンまたはプロピレンの樹脂状重合体約0.1〜25重量部を含有するアクリルエラストマー組成物を加硫成形した耐劣化油性加硫成形品。 - 特許庁

To improve a gradation correction characteristic for a density portion considered to be more important by a user, without increasing the total of test pattern images, in an image forming apparatus that subjects print data to gradation correction and forms an image based on print data subjected to the gradation correction.例文帳に追加

印刷データに階調補正を施し、その階調補正された印刷データに基づいて画像を形成する画像形成装置において、テストパターン画像の総量を増やさずに、ユーザーが重視する濃度部分の階調補正特性を向上させる。 - 特許庁

To measure both the sound wave receiving sensitivity and acceleration sensitivity in atmosphere in a test room and to perform identification between a measuring environment and a measuring condition and the measurement of the acceleration sensitivity and the sound wave receiving sensitivity in a common frequency region.例文帳に追加

受波感度と加速度感度の両方の測定を試験室内の大気中において行い、かつ、計測環境と計測条件の同一化と加速度感度と受波感度の測定を共通周波数領域において実施可能とする。 - 特許庁

To provide a light emission substrate and its manufacturing method, to provide a droplet material spotting precision test substrate for light emission substrate and its manufacturing method, to provide a method of measuring droplet material spotting precision, to provide an electrooptical device comprising the light emission substrate, and to provide electronic equipment comprising the electrooptical device.例文帳に追加

発光用基板およびその製造方法、発光用基板用液滴材料着弾精度試験基板およびその製造方法、液滴材料着弾精度の測定方法、電気光学装置ならびに電子機器を提供する。 - 特許庁

In processes IV, V, a bar code of a component a is read in with bar code reading means 4d, 4e, and at the same time, a characteristics test is made with a characteristics testing means 7a, 7b, whose result is registered in the data base DB in coordination with an ID shown in the bar code.例文帳に追加

工程IV、Ｖでは、バーコード読取手段４ｄ，４ｅで部品ａのバーコードを読み取るとともに、特性検査手段７ａ，７ｂで特性検査を行い、その検査結果をバーコードで示されるＩＤに対応付けて、データベースＤＢに登録する。 - 特許庁

To provide a laminated ceramic electronic component which prevents inner defect during baking such as delamination and crack, prevents crack in a thermal impact test, is excellent in print property of conductive paste, and has small characteristic dispersion, and to provide its manufacturing method.例文帳に追加

デラミネーション、クラックなどの焼成時の内部欠陥を防止するとともに、熱衝撃試験におけるクラックを防止し、かつ導電性ペーストの印刷性が良好で、特性ばらつきが小さい積層セラミック電子部品及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

Among signals obtained by using an optical system similar to an optical coherence tomography, signals caused by a surface reflection light and scattering light for one time on a surface layer of an object to test are removed, and signals caused by multiple scattered light are extracted and imaged.例文帳に追加

光コヒーレンストモグラフィと同様な光学系を用いて得た信号のうち、検査対象の表面反射光及び表層の一回散乱光に起因する信号を取り除き、多重散乱光に起因する信号を抽出し、画像化する。 - 特許庁

To provide a leak testing method for a fully sealed rotating electric machine the testing time of which is shortened and the test accuracy is improved by forcibly circulating gas within the electric machine after mixed gas is pressurized and sealed in the electric machine.例文帳に追加

本発明の目的は、混合ガスを回転電機内に加圧封入後回転電機内のガスを強制的に循環させることにより試験時間が短縮し試験精度が向上する全閉型回転電機の漏洩試験方法を提供することにある。 - 特許庁

In this case, when scan is performed, the scan remaining time information is given to the subject under test SU by controlling performance of several lighting systems 211a, 211b, 211c, 211d and 211f for turning on the light according to the remaining time necessary for performing the scan.例文帳に追加

ここでは、スキャンが実施された際に、そのスキャンの実施に要する残り時間に基づいて複数の照明系２１１ａ，２１１ｂ，２１１ｃ，２１１ｄ，２１１ｆが照明光を照明する動作を制御することによって、そのスキャン残存時間情報を被検体ＳＵへ提供する。 - 特許庁

A bit which may cause a retention defect of a data retention capability resulting from random changes with time is screened by repeating a pause refresh test for checking a data retention function in the whole chip surface and the whole bits by an optimized frequency.例文帳に追加

データ保持機能を調べるポーズ・リフレッシュ試験を、チップ全面全ビットにおいて、最適化された回数分繰り返すことで、データ保持能力のランダムな経時変化に起因したリテンション不良を生じる可能性のあるビットをスクリーニングする。 - 特許庁

The sensor dispensing device is adapted such that a sensor pack having a plurality of sensors is handled and tests are carried out by using one sensor, and it has an electronic equipment assembly for carrying out the tests and displaying test results.例文帳に追加

複数のセンサを含有するセンサパックを取り扱うように適合され、センサの１個を使用して試験を実施するように適合されたセンサ分与装置であって、試験を実施し、試験結果を表示するための電子機器アセンブリを含有するセンサ分与装置。 - 特許庁

In a state that a body 1 under test is kept from being conveyed to a conveyance mechanism 2, that is, on condition comprising only an external electromagnetic noise environment condition, a connection state for minimizing the signal level of the combined detection signal is set in the selection part 16.例文帳に追加

そして、被検体１を搬送機構２に搬送させない状態、すなわち、外部の電磁ノイズ環境条件のみの条件において、合成検出信号の信号レベルが最小の接続状態を接続切換部１６に設定する。 - 特許庁

To provide a WLBI test method which allows bit lines to be individually controlled, "H/L" reverse-phase stress patterns to be applied between adjacent bit lines within the same sense amplifier line, and unspecified kinds of stress patterns to be applied to memory cells.例文帳に追加

ビット線を個別に制御することができ、同一センスアンプ列内の隣接ビット線間に“Ｈ／Ｌ”逆相ストレスパタンを印加できると共に、限定されない種々のストレスパタンをメモリセルに印加できるＷＬＢＩテスト方法を提供する。 - 特許庁

The sensors are elongate test strips 32 for in vitro testing, each having a substrate 34, at least one electrode 42, 44, an embossed channel 54 in the electrode, and lidding tape 38 covering at least a portion of the embossed channel 54.例文帳に追加

センサは、インビトロ試験のための細長い試験ストリップ３２であり、基板３４と、少なくとも１つの電極４２、４４と、電極内にエンボス加工されたチャネル５４と、エンボス加工されたチャネル５４の少なくとも一部分をカバーする蓋テープ３８とを含む。 - 特許庁

The optoelectronic circuit board can be tested by whether a light receiving device 4 has received a part of the optical signal 2 as a second optical signal 21 for test from the branch optical waveguide 15 through an aperture 150 for taking-out or not.例文帳に追加

分岐光導波路１５から取出用開口１５０を介してその光信号２の一部を、第２の検査用光信号２１として、受光装置４が受信したか否かによって光電子回路基板１の検査を行うことができる。 - 特許庁

To provide a probing apparatus for sufficiently and automatically performing probing even when the pitch between measuring points on an measurement object is narrow with an inexpensive constitution and easy control, in an electric characteristic test of an electronic component requiring multiple point waveform measurement.例文帳に追加

多点波形測定を必要とする電子部品の電気特性試験において、安価な構成で、かつ簡易な制御によって、被測定物測定点間が狭ピッチであっても、問題なく自動的にプロービングが可能なプロービング装置を得ること。 - 特許庁

A flowchart creation part 1 displays a user interface screen on a display, and based on input by a user on the user interface screen, creates a flowchart consisting of at least one module for defining a test on a verification objective logic circuit.例文帳に追加

フローチャート作成部１は、ユーザインタフェース画面をディスプレイに表示し、このユーザインタフェース画面上でのユーザの入力に基づいて、検証対象の論理回路のテストを規定するための、少なくとも１つのモジュールから構成されるフローチャートを作成する。 - 特許庁

A test circuit 5 composed of through-gates and scan cells disposed near memory cells 3 sends output signals from a combinational logic 2 to a following combinational logic 4, without passing through the memory cells 3 or after collecting the signals.例文帳に追加

本発明は、スルーゲート及びスキャンセルにより構成されたテスト回路をメモリセルの近傍に配置し、組み合わせ回路２からの出力信号をメモリセル３を通過させずにスルー、或いは取りまとめて、後段の組み合わせ回路４に出力する。 - 特許庁

This multivariable decision tree construction system 1 is configured to construct a multivariable decision tree where multivariable test functions for dividing data are installed in every non-terminal end node by using a plurality of data for training equipped with element data.例文帳に追加

本発明に係る多変数決定木構築システム１は、要素データを備えた複数の訓練用データを用いて、データの分割を行うための多変数テスト関数が非終端節点毎に設けられた多変数決定木を構築するシステムである。 - 特許庁

To provide a transformation plastic coefficient testing device for measuring successively deformation of a test piece during a rapid cooling time by assuming rapid-cooling thermal treatment after heating a material, and identifying a transformation plastic coefficient from the deformation.例文帳に追加

材料を加熱した後に急速冷却する熱処理を想定し、急速冷却時の試験片の変形量を逐次測定可能とし、その変形量から変態塑性係数を同定することができる変態塑性係数試験装置を提供する。 - 特許庁

A bit configuration of a test mat is reduced by enabling an access to a memory mat with the largest bit width unit in a valid bit width modifiable according to a designation from the outside by setting a data size alignment circuit in a direct peripheral circuit.例文帳に追加

データサイズアライメント回路を直接周辺回路に設け、外部からの指定に応じて変更可能な有効ビット幅における最大のビット幅単位でメモリマットをアクセス可能とすることで、検査マットのビット構成の低減化を達成する。 - 特許庁

A power line 7a for feeding a stress voltage in a burn-in test and a GND line 7b for feeding the ground potential are formed on each of dicing regions 5 between semiconductor chips 3, 3 on a semiconductor wafer 1.例文帳に追加

半導体ウエハー１上の半導体チップ３，３間のダイシング領域５に、バーンインテスト時にストレス電圧を供給するための電源ライン７ａ及び接地電位を供給するためのＧＮＤライン７ｂがそれぞれ１本ずつ形成されている。 - 特許庁

In a case where a difference between the highest patch density and the highest target image density is large, the target toner image density that is a control target value in the toner image density control is corrected, thereby altering the image density of a test image used for the calibration.例文帳に追加

また、最大パッチ濃度と最大目標画像濃度の差分が大きい場合には、トナー像濃度制御における制御目標値である目標トナー像濃度を補正することにより、キャリブレーションに用いるテスト画像の画像濃度を変化させる。 - 特許庁

An anode electrode 8 of an oxygen pump cell is arranged in an internal cavity 3 enclosed by zirconia solid electrolyte, so that a cathode electrode 11 is led to a test gas atmosphere outside the internal cavity 3, and a prescribed voltage Vp is applied on the oxygen pump cell.例文帳に追加

酸素ポンプセルのアノード電極（８）をジルコニア固体電解質により囲まれた内部空間（３）内に、カソード電極（１１）を内部空間（３）の外の被検ガス雰囲気に通ずるように配置し、酸素ポンプセルに所定の電圧（Ｖp）を印加する。 - 特許庁

Output cells 302a, 302b use either of an output from the programmable logic circuit 100 and scan-in as input corresponding to a test mode signal MODE, and select scan-out corresponding to the select signal SELECT and the configuration information.例文帳に追加

出力セル３０２ａ，３０２ｂは、テストモード信号ＭＯＤＥに応じてプログラマブルロジック回路１００の出力またはスキャンインの一方を入力とし、セレクト信号ＳＥＬＥＣＴおよびコンフィギュレーション情報に応じてスキャンアウトを選択する。 - 特許庁