「Test Pattern」に関連した英語例文の一覧と使い方(37ページ目) - Weblio英語例文検索

A program memory section 24 is prepared in a pattern generator generating testing patterns and one of a plurality of memory sections prepared in the semiconductor testing device to memorize test conditions of DUT.例文帳に追加

プログラムメモリ部２４は、試験パターンを生成するパターンジェネレータに設けられており、ＤＵＴの試験条件を記憶するために半導体試験装置に複数設けられているメモリ部等の１つである。 - 特許庁

Tester channels 301 to 30n are given serial patterns output from scan data memories SDM in synchronous with a cycle clock and primary patterns output from pattern memories so as to generate test patterns.例文帳に追加

テスタチャネル３０１〜３０ｎは、サイクルクロックに同期してスキャンデータメモリＳＤＭから出力されるシリアルパターンと、パターンメモリから出力されるプライマリパターンとを与えられて、テストパターンを発生していく。 - 特許庁

The power level of the output in the multistage multiplexer 2 is measured at a frequency corresponding to the input data speed of the multistage multiplexer 2 while a test pattern is being sent through the multistage multiplexer 2.例文帳に追加

多段マルチプレクサ２の出力の電力レベルは、多段マルチプレクサ２を通してテストパターンが送られる時間の間に、多段マルチプレクサ２の入力データ速度に対応する周波数において測定される。 - 特許庁

The ink discharge timing of the printing head H is corrected on the basis of the test pattern so that a value averaged out from the shift amounts at each position in the main scanning direction within the printing region becomes minimum.例文帳に追加

そのテストパターンに基づいて、プリント領域内の主走査方向の各位置におけるずれ量を平均した値が最も小さくなるように、プリントヘッドＨのインク吐出タイミングを補正する。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing apparatus capable of facilitating the measurement of pattern execution time performed for shortening test time and performing off-line measurement through the use of a simulator and to provide the simulator.例文帳に追加

テスト時間を短縮するために行うパターン実行時間の計測を、従来より容易に計測でき、更にシミュレータを用いてオフラインでも計測できる半導体試験装置及びそのシミュレータを提供する。 - 特許庁

An image region deciding circuit 112 decides the printing part of a recording head 109 from the image information of a test pattern for density correction on a material to be recorded which is read by an input sensor section 101.例文帳に追加

画像領域判定回路１１２は、入力センサ部１０１で読み取った被記録材上の濃度補正用テストパターンの画像情報から記録ヘッド１０９のプリント部分を判定する。 - 特許庁

The angle of the ink head 10 with respect to the paper P is adjusted by operating the angle changing means by printing a test pattern and detecting a paper end of the paper P by paper end detecting sensors 30a, 30b.例文帳に追加

そして、テストパターンを印字したり、紙端検出センサ３０ａ・３０ｂによって用紙の紙端を検出して、角度変更手段を操作してインクヘッド１０の用紙に対する角度を調整する。 - 特許庁

In such a structure, a contact area of the lead 15 and the conductive pattern is made smaller than in the prior art, so that release of heat at high-temperature function test can be made smaller.例文帳に追加

このような構造にすることにより、リード１５と導電パターンを接触させた際の接触面積が従来よりも小さくなり、高温ファンクションテストにおける熱の逃げを小さくすることができる。 - 特許庁

Subsequently, generates a test pattern C (S10), stores the image density Dc (S11) and adjusts a PWM value by an edge processing section to make Da1 to Da4 and Dc equal to each other (S12 and S13).例文帳に追加

次にテストパターンＣを生成して（Ｓ１０）、画像濃度Ｄｃを記憶し（Ｓ１１）、Ｄａ１〜Ｄａ４とＤｃが等しくなるようにＰＷＭ値をエッジ処理部にて調整する（Ｓ１２、Ｓ１３）。 - 特許庁

Thereby, in a test pattern, the 1st layer coil 1 and the 2nd layer coil 2 are disconnected electrically and the measurement of the insulations between the 1st layer coil 1-the yoke and the insulation between the 2nd layer coil 2-the yoke are carried out separately.例文帳に追加

以上により、テストパターンでは、第１層コイル１と第２層コイル２が電気的に断絶され、第１層コイル１−ヨーク間、第２層コイル２−ヨーク間の絶縁性を各別に測定できる。 - 特許庁

The control part 1 acquires the positions of the optical sensor parts 4a-4d on the projected image, based on the lighting timings of pixels on the basis of the test pattern and the output values of the optical sensor parts 4a-4d.例文帳に追加

制御部１は、上記テストパターンに基づく画素の点灯タイミングと光センサ部４ａ〜４ｄの出力値とに基づいて投射画像上における光センサ部４ａ〜４ｄの位置を取得する。 - 特許庁

An EOR circuit which makes exclusive OR of a leading bit and a final bit feed back to the leading bit, is provided in the LFSR and thereby the LFSR can output a test pattern having maximum cycle 15.例文帳に追加

また、先頭ビットと最終ビットとの排他的論理和を先頭ビットに帰還させるＥＯＲ回路が設けられており、これにより、最大周期を１５としたテストパターンを出力することができる。 - 特許庁

To reduce downtime for an apparatus due to processing control for an image formation using a test pattern; and to obtain a stable image quality while employing an intermediate transfer method with high image superposing accuracy.例文帳に追加

画像重ね精度が高い中間転写方式を採用しながら、テストパターンを用いた画像形成のためのプロセス制御による装置のダウンタイムを低減し、かつ安定した画像品質を得る。 - 特許庁

After a test pattern image is displayed on the screen from the DMD 4 for a period when the light from the light source 1 transmits through an R transmission region of the color wheel 3, a full black image is displayed.例文帳に追加

カラーホイール３のＲの透過領域に光源１からの光が通過している期間にて、ＤＭＤ４によりスクリーン６にテストパタン画像が表示された後、全黒画像が表示される。 - 特許庁

This device comprises a CPU 10 for controlling the whole operation, a main storage device 11 connected to the CPU 10, a display 12 connected to the CPU 10 and displaying a menu image screen, a menu file 21 and a storage device 20 including a joining tool 25 for joining data inputted or selected from at least one test pattern program and the menu image screen to one of the respective test pattern programs.例文帳に追加

全体の動作を制御するＣＰＵ１０と、該ＣＰＵ１０と接続される主記憶装置１１と、前記ＣＰＵ１０と接続され、メニュー画面を表示するディスプレイ１２と、メニューファイル２１、少なくとも一つのテストパターンプログラム、及びメニュー画面から入力又は選択されたデータを前記各テストパターンプログラムの一つと結合する結合ツール２５を含む記憶装置２０と、を含んで構成される。 - 特許庁

After forming one reference test pattern image expressed in a different gradation expression from the gradation expression of images formed in a plurality of printing modes carrying out normal printing process on a specified image carrier and detecting the density of the formed reference test pattern image, the density corrected data corresponding to the plurality of printing modes are produced based on the detected density.例文帳に追加

通常の印字処理を行う複数の印刷モードで形成される画像の階調表現とは異なる階調表現で表された一の基準テストパターン像を上記所定の像担持体上に形成し，この形成された上記一の基準テストパターン像の濃度を検知した後に，この検知された濃度に基づいて上記複数の印刷モードに対応する濃度補正データを生成するよう構成される。 - 特許庁

A program verifying tool installed in a computer has a program reading function 11 of reading the program for digital data casting stored in an HDD, and an automatic test pattern generation function 12 of interpreting a BML language and an ECMA script language of the program, detecting a branch caused by user operation in the program, and automatically generating a test pattern on the basis of the branch.例文帳に追加

このコンピュータにインストールされている番組検証ツールは、ＨＤＤ内に格納されているデジタルデータ放送用の番組を読み取る番組読取機能１１と、番組のＢＭＬ言語およびＥＣＭＡＳｃｒｉｐｔの言語を解釈し、番組の中でユーザ操作に伴ない発生する分岐を検出しこの分岐に基づいて試験パターンを自動的に作成する試験パターン自動作成機能１２を有している。 - 特許庁

The system comprises a tester 14 for supplying a test pattern signal for analysis to the semiconductor integrated circuit device and at the same time holding the supply test pattern at given timing, an electron gun 15 for applying electron beams to the semiconductor integrated circuit device which being related to the hold, and a detector for taking in the potential contrast of the semiconductor integrated circuit device that is illuminated with the electron beams.例文帳に追加

このシステムは、前記半導体集積回路装置へ、解析のためのテストパターン信号を供給するとともに、前記供給テストパターン信号を所与のタイミングでホールドするテスタ１４と、前記ホールドに関連付けて、前記半導体集積回路装置に電子ビームを照射する電子銃１５と、前記電子ビームの照射された前記半導体集積回路装置の電位コントラストを取り込む検出器２３と、を具備する。 - 特許庁

By this setup, a contact probe 54 bears against either the pattern 50 belonging to the same net with the test lands 44 and 46 or the waste land 52 even if the contact probe 54 pressed against the test lands 44 and 46 reaches the printed wiring surfaces 20 and 22, breaking through the lands 44 and 46 and insulating base materials 32 and 34.例文帳に追加

これにより、テストランド４４，４６に押し当てられた接触針５４がテストランド４４，４６及び絶縁基材３２，３４をそれぞれ突き破って内層１２のプリント配線面２０，２２に達しても、この接触針５４がテストランド４４，４６と同一のネットに属するパターン部５０及び捨てランド５２の何れかに当接する。 - 特許庁

A pattern generator PG produces test patterns S_PTN1-S_PTN4 describing a test signal S_TEST which drivers DR_1-DR_4 should output, and control patterns S_PTN_CMPb and S_PTN_CMPa describing control signals S_CNTb and S_CNTa which drivers DR_5 and DR_6 should output.例文帳に追加

パターン発生器ＰＧは、ドライバＤＲ_１〜ＤＲ_４が出力すべき試験信号Ｓ_ＴＥＳＴを記述するテストパターンＳ_ＰＴＮ１〜Ｓ_ＰＴＮ４と、ドライバＤＲ_５、ＤＲ_６が出力すべき制御信号Ｓ_ＣＮＴｂ、Ｓ_ＣＮＴａを記述する制御パターンＳ_ＰＴＮ＿ＣＭＰｂ、Ｓ_ＰＴＮ＿ＣＭＰａを生成する。 - 特許庁

Since the test sequence and the testing patterns are stored in the nonvolatile memory 16 of the display device 10, this eliminates the need for cumbersome and extensive tasks of preparing testing devices respectively corresponding to the models of the display device and the test sequence and the testing pattern which are respectively suitable for the models of the display device and storing them in the testing devices, respectively.例文帳に追加

これにより、表示装置１０の不揮発性メモリ１６に検査シーケンスおよび検査用パターンが格納されているため、モデルごとに検査装置を準備し、モデルに合わせた検査シーケンスおよび検査用パターンをそれぞれの検査装置に格納するという煩雑で大掛かりな作業が不要となる。 - 特許庁

The resource board also provides the logic and balanced signal paths needed to deliver clock signals to the respective PLDs and reduces the number of signals needed to communicate with external test equipment by implementing much of the pattern generation and data acquisition functionality needed to test an emulated circuit.例文帳に追加

リソースボードは、また、クロック信号を各ＰＬＤに配信するのに必要なバランスのとれた論理信号通路も提供し、更に、エミュレートされた回路を試験するのに必要な多くのパターン発生とデータ獲得機能を実行することによって外部の試験機器との通信を行うために必要な信号の数を減らす。 - 特許庁

A Web page type specification part 122 specifies a type of a test object Web page by referring to information in a Web page feature information DB 121, etc., and a Web page importance determination part 125 specifies a transaction flow to be attained by a test object Web page group by referring to information in a transaction flow pattern DB 124.例文帳に追加

Ｗｅｂページ種類特定部１２２が、Ｗｅｂページ特徴情報ＤＢ１２１等の情報を参照して試験対象のＷｅｂページの種類を特定し、Ｗｅｂページ重要度判定部１２５が、試験対象のＷｅｂページ群により実現される取引フローを取引フローパターンＤＢ１２４の情報を参照して特定する。 - 特許庁

To perform a test by using a tensile-testing apparatus that is universally used for a fine test piece regarding a tool for testing the strength of micro junction such as the solder junction section of electronic components and a conductive pattern junction section formed on a printed circuit board and a bond section.例文帳に追加

本発明は電子部品のはんだ接合部やプリント回路基板上に形成された導体パターン接着部などのマイクロ接合および接着部の強度を試験するための治具に関し、微細な試験片に対して汎用されている引張試験装置を用いて試験を行ないうるようにすることを課題とする。 - 特許庁

The structure that the metal balls 106 are not provided at the four corners of the grid pattern is determined based on the result of the temperature cycle test that abrupt changes in ambient temperature are repeated after mounting a semiconductor device 1 on a mounting board via the bump electrodes of the metal balls 106 and the shock test which provides an established shock.例文帳に追加

格子状形状の４隅に金属ボール１０６を設けない構造は、半導体装置１を金属ボール１０６のバンプ電極を介して実装基板へ実装した後、急激な周囲温度の変化を繰り返す温度サイクル試験、及び所定の衝撃力を与える衝撃試験の結果に基づく処理である。 - 特許庁

This burn-in test system is provided with a control circuit 6 for selecting a terminal corresponding to the burn-in pattern out of the plurality of terminals 7α, 7β, 7γ of a semiconductor device 5, and for connecting selected terminal electrically to an external terminal 3 of the burn-in board 1, in the burn-in test system for the semiconductor device 5.例文帳に追加

半導体装置５のバーンイン試験システムであって、前記半導体装置５の複数の端子７α、７β、７γの中からバーンインパターンに対応した端子を選択し、選択した端子を前記バーンインボード１の外部端子３と電気的に接続する制御回路６を備えることを特徴とするバーンイン試験システム。 - 特許庁

A prescribed test pattern is inputted with reference to previously generated test data for an LSI 105 to the LSI 105, which is provided with both a plurality of shift registers 200 and an indeterminate mask device 220 for masking output of a shift register 200 to be masked, on the basis of randomly generated mask patterns and control signals.例文帳に追加

複数のシフトレジスタ２００と、ランダムに生成したマスクパターンと制御信号とに基づいて、マスク対象となったシフトレジスタ２００の出力をマスクする不定マスク器２２０と、を備えたＬＳＩ１０５に、あらかじめ作成したＬＳＩ１０５用のテストデータを参照して、所定のテストパターンを入力する。 - 特許庁

Functional verification between a net list 12 generated by the test synthesis and a timing verified net list by the static timing analysis is verified (step S15), the function verified net list is released to a manufacturing section (step S17) and a test pattern is automatically generated by using the net list 15 by an ATPG tool (step S18).例文帳に追加

テスト合成により生成されたネットリスト１２と、静的タイミング解析によるタイミング検証済みのネットリストとのファンクション検証をおこない（ステップＳ１５）、ファンクション検証済みのネットリストを製造部門へリリースし（ステップＳ１７）、そのネットリスト１５を用いてＡＴＰＧツールによりテスト・パターンを自動生成する（ステップＳ１８）。 - 特許庁

The main and sub-trigger signals of timing suitable for the maximum writing density and a given test pattern are generated so as to enable operations of a writing test mode such as the color shift or the like, using the period other than the transfer time of the print output image from the copy application board, to transfer the generated patterns to the LDBs adapting the patterns to the trigger signals.例文帳に追加

又コピーアプリからの印刷出力画像の転送時以外の期間を利用し、色ずれ等の書き込みテストモードの動作を可能にすべく、最大書き込み密度に適合するタイミングの主副トリガ信号、所定のテストパターンを生成し、生成したパターンをトリガ信号に合わせ込んでＬＤＢに転送する。 - 特許庁

A test pattern for detecting a density variation amount (reflected light variation amount) of an image in one rotation cycle of the electric motor for rotating or moving an image carrier is formed while changing a motor control constant, and the density variation amounts of the respective test patterns are compared, whereby the appropriate motor control constant is set.例文帳に追加

像担持体を回転或いは移動させる為の電動モータ１回転周期の画像の濃度変動量（反射光変動量）を検出するためのテストパターンを、モータ制御定数を変化させながら形成し、各テストパターンの濃度変動量を比較することで、適切なモータの制御定数を設定する。 - 特許庁

This semiconductor device according to one embodiment includes: a plurality of test elements formed in an array pattern on a semiconductor substrate; an address signal generating part for generating an address signal in response to the respective test elements; and a digital-analog converter for converting the address signal into an analog signal for outputting.例文帳に追加

本発明の一態様は、半導体基板上にアレイ状に形成された複数のテスト素子と、各々の前記テスト素子に対応するアドレス信号を生成するアドレス信号生成部と、前記アドレス信号をアナログ信号に変換して出力するデジタルアナログコンバータとを備える半導体装置である。 - 特許庁

An expected value generation circuit 22 generates an expected value pattern on the basis of output patterns of the reference semiconductor integrated circuits 32A, 32B, and 32C, and a determination circuit 24 compares the expected value pattern generated by the expected value generation circuit 22 with an output pattern of the semiconductor integrated circuit 34 to be tested to determine whether the semiconductor integrated circuit 34 to be tested passes or fails the test.例文帳に追加

期待値生成回路２２で、基準の半導体集積回路３２Ａ、３２Ｂ、３２Ｃの出力パターンに基づいて期待値パターンを生成し、判定回路２４で、期待値生成回路２２で生成された期待値パターンとテスト対象の半導体集積回路３４の出力パターンとを比較することにより、テスト対象の半導体集積回路３４のパス／フェイル判定を行う。 - 特許庁

The wiring board for an electrical test comprises an insulating board, wirings with a predetermined pattern embedded in the insulating board, protruded electrodes provided on the wiring with the predetermined pattern, a surface insulating layer covering the wiring with the predetermined pattern and formed on the parts except those of the protruded electrodes, and terminals embedded in the insulating board and placed being in noncontact with the surface insulating layer.例文帳に追加

絶縁基板と、絶縁基板中に埋め込まれている所定パターンの配線と、所定パターンの配線上に設けられた突起電極と、所定パターンの配線を被覆すると共に突起電極の部分を残して形成された表面絶縁層と、絶縁基板中に埋め込まれると共に表面絶縁層と非接触として配置された端子と、を備えることを特徴とする。 - 特許庁

A test pattern generation part 110 in a debugging support host program 100 generates a status transition pass from a status transition table 1 and supposed events and unexpected events for respective states of the status transition pass as test patterns, and an event issue part 210 in a debugging support target program 200 issues all unexpected events in respective states of the status transition pass before the supposed events by using the test patterns.例文帳に追加

デバッグ支援ホストプログラム１００のテストパターン生成部１１０が状態遷移表１から状態遷移パスならびに状態遷移パスの各状態に対する想定内イベントおよび想定外イベントをテストパターンとして生成し、デバッグ支援ターゲットプログラム２００のイベント発行部２１０がテストパターンを用いて状態遷移パスの各状態の想定外イベントを想定内イベントの前に全て発行するよう構成する。 - 特許庁

The output adjustment value of an image signal in output control is set by the peak value of the image signal when a test pattern 20 is photographed under reference conditions, and is set to 50 to 70 IRE.例文帳に追加

出力制御における映像信号の出力調整値は、基準条件の下でテストパターン２０を撮影したときの映像信号のピーク値によって設定され、５０〜７０ＩＲＥになるように設定されている。 - 特許庁

To obtain a correction value more accurately to correct a deviation by reducing the effect of a satellite when in obtaining the correction value for correcting the tilting deviation causing image defects such as unevenness and streaks from a test pattern.例文帳に追加

ムラやスジなどの画像弊害を起す傾きずれを補正するための補正値をテストパターンから取得するにあたり、サテライトの影響を低減して、ずれを補正するための補正値をより正確に取得すること。 - 特許庁

In the assembling and adjusting operations in a factory, a plural sheets of test prints are formed by a 50% gray image print pattern by raising each of the head temperature and the ambient temperature by one degree by starting from a head temperature T0 and an ambient temperature T1 in a reference temperature condition.例文帳に追加

工場での組み立て調整時に、標準温度条件のヘッド温度Ｔ０，環境温度Ｔ１から１度ずつ上げながら５０％グレイの印画パターンで複数枚のテストプリントを作成する。 - 特許庁

The process is made so that the information of a defective memory cell under previous testing condition is transcribed or transferred to the buffer memory from the fail memory while being in parallel with a write-in to a memory to be tested of a back pattern under the next test condition.例文帳に追加

先の試験条件における不良メモリセル情報を次の試験条件における背面パターンの被試験メモリへの書き込みと並行してフェイルメモリからバッファメモリに転写あるいは転送する。 - 特許庁

The element wiring forming apparatus 50 forms fuse elements 11a-11f in a pattern according to the results of memory cell test on the semiconductor device, and forms elements or wiring in a region above a region where the fuse elements are formed.例文帳に追加

素子配線形成装置５０は、メモリセルテストの結果に応じたパタンのヒューズ素子１１ａ〜１１ｆを半導体装置上に形成し、ヒューズ素子が形成された領域の上方の領域に素子又は配線を形成する。 - 特許庁

The center value or the corner value of the wiring resistance or the capacity, usable for calculating the delay time of the wiring in the timing test, is varied according to the wiring pattern or wiring density in a semiconductor chip.例文帳に追加

半導体チップ内における配線パターンまたは配線密度に応じて、タイミング検証における配線の遅延時間の計算に用いられる、配線抵抗または配線容量の中心値またはコーナ値を変化させる。 - 特許庁

To provide an evaluation/inspection system of a high speed bus capable of performing a test by the worst pattern in consideration of the maximum transfer load and crosstalk by a single device for the high speed bus in the device without requiring an external device.例文帳に追加

装置内の高速バスについて最大転送負荷やクロストークを考慮した最悪パターンでの試験を外部装置を必要とせず装置単体で行うことが可能な高速バス簡易評価／検査システムを提供する。 - 特許庁

The test pattern toner image 19 for sensing the sensing property of the reflection density sensor which is for sensing the sensing property of the reflection density sensor 18 is formed as a multilayer structure by accumulating a plurality of different colored toner images.例文帳に追加

反射濃度センサ１８の検出特性を検出するための反射濃度センサ検出特性検出用テストパターントナー画像１９を複数の異色のトナー画像を積み重ねて形成した複数層構造とする。 - 特許庁

In this case, the alignment of the image forming lens 28 or of the CCD 29 is adjusted so that the output state of the dot pattern of the test chart 30 indicates a well-focused output by the image forming lens 28.例文帳に追加

その時に、テストチャート３０による網点パターン３４の出力状態が、結像レンズ２８にて焦点が合った状態での出力になるように結像レンズ２８、またはＣＣＤ２９の配置位置調整を行う。 - 特許庁

A variable for detecting the limitation of ink-receiving performance of the recording medium in each test pattern and a threshold of the variable corresponding to the type of the detected recording medium are compared by the inkjet recorder.例文帳に追加

また、インクジェット記録装置は、それぞれのテストパターンにおける記録媒体がインクを受容する受容能力の限界を検知するための変数と、検知された記録媒体の種類に対応した変数の閾値とを比較する。 - 特許庁

A third FF circuit 13 outputs third hold data Dm3 of an LL level or H level from its output terminal Q, in accordance with a test pattern input from the scan-in terminal S1 of a first FF circuit 11.例文帳に追加

第３ＦＦ回路１３は、第１ＦＦ回路１１のスキャンイン端子ＳＩから入力されるテストパターンに応じて、Ｌレベル又はＨレベルの第３保持データＤｍ３を出力端子Ｑから出力する。 - 特許庁