「Test data」に関連した英語例文の一覧と使い方(64ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a method and apparatus for processing image data where when a picture image recorded by a digital camera is reproduced, a high quality picture image is immediately reproduced without repetitive test prints for enhancing a picture quality or repetitive minor adjustments based on a confirmation via a monitor.例文帳に追加

デジタルカメラにより撮影された写真画像を再生する際に、画質を高めるためのテストプリントあるいはモニタの確認による微調整を繰り返すことなく、直ちに高画質な写真画像を再生する。 - 特許庁

If a user looks at and understands the coarseness of an image quality of the test-reproduced and displayed video, and when an instruction to execute dubbing is given dubbing of the compressed video data of a dubbing object is started.例文帳に追加

そして、ユーザが前記試し再生され表示された映像の画質の粗さを見て了解した場合に、ダビングを実行する指示が与えられると、ダビング対象の前記圧縮された映像データがダビング開始される。 - 特許庁

The perfusion image-generating section (35) calculates the myocardial perfusion data of the heart of the test subject in the second contrast radiography using the corrected contrast medium densities in the arterial blood and myocardial tissue in the second medical images.例文帳に追加

灌流画像生成部３５は、補正された第２の医用画像群における動脈血及び心筋組織の造影剤濃度を用いて、第２の造影検査における被検体の心筋灌流データを算出する。 - 特許庁

In a semiconductor memory, a DQ (data input/out-put) buffer switching circuit 8 connects either DQ, buffer out of DQ buffers 9a-9d to a DQ, pad P1 for an IO degeneration mode test conforming to signals T1-T4.例文帳に追加

半導体メモリ１において、ＤＱバッファ切換回路８は、信号Ｔ１〜Ｔ４に従って、ＤＱバッファ９ａ〜９ｄのうちのいずれかのＤＱバッファをＩＯ縮退モードテスト用のＤＱパッドＰ１に接続する。 - 特許庁

To reduce the labor setting a proof printing mode (test copy mode) by a user and to prevent the forgetting to set in an image forming apparatus enabling a plurality of printing outputs with respect to inputted image data.例文帳に追加

入力した画像データに対して複数部のプリント出力が可能な画像形成装置において、ユーザーによるプルーフプリントモード（お試しコピーモード）を設定する手間を軽減するとともに設定し忘れを防ぐ。 - 特許庁

Since trimming is executed in a self-contained manner by controlling the comparison circuit and the data register by the built-in CPU, parallel trimming to the plurality of semiconductor integrated circuits is facilitated, and the whole test time can be reduced.例文帳に追加

上記の比較回路やデータレジスタを内蔵ＣＰＵで制御し、トリミングを自己完結で行うため、複数の半導体集積回路に対する並列的なトリミングが容易であり、全体としてのテスト時間を短縮できる。 - 特許庁

To confirm whether a response from a viewer is reflected normally on a program at preparation time or test-reproducing broadcast data at a broadcasting station side, before broadcasting in broadcasting using a bi-directional service.例文帳に追加

双方向サービスを利用した放送において、放送前に放送局側で放送データを作成、または、テスト再生する場合、視聴者からの応答が、正常に番組に反映されるかどうかの確認を行う。 - 特許庁

To reduce the area of a substrate, and to freely rewrite nonvolatile memories of different kinds by sharing a hardware for data rewriting and for boundary scan test.例文帳に追加

データ書き換えとバウンダリスキャンテストのハードウェアを共用することで、基板面積の縮小を実現でき、異なる種類の不揮発性メモリの書き換えを自由に対応できる半導体装置およびそのデータ書き換え方法を実現する。 - 特許庁

To measure an error rate by performing a loopback test by LSI itself when testing high-speed serial transmission LSI that cannot be coped with a data speed in terms of throughput, and to determine the quality of the LSI.例文帳に追加

データ速度の処理能力上、対応不可能な高速シリアル伝送ＬＳＩのテストにおいてＬＳＩ自身によるループバック試験を行うことによりエラーレートを測定し、ＬＳＩの良否を判定することを実現する。 - 特許庁

When the test data of the judgement area 32 are all "1", the failure type of the defective chip coordinates 31 is determined as a system failure, and in the other cases, the failure type of the defective chip coordinates 31 is determined as a random failure.例文帳に追加

この判定領域３２のデータが全て“１”の場合には不良チップ座標３１の不良種別をシステム不良とし、その他の場合には不良チップ座標３１の不良種別をランダム不良とする。 - 特許庁

One nodal point corresponds to the test of one attribute, the slave nodal point of the nodal point corresponds to a value, that the attribute can take, and traffic data for constructing a decision tree with the leaves of predictive values are collected (step 201).例文帳に追加

１つの節点が１つの属性のテストに対応し、前記節点の子節点が前記属性の取り得る値に対応し、葉が予測値である決定木を構築するための交通データを収集する（ステップ２０１）。 - 特許庁

Memory transfer in which the facsimile equipment of the opposite party is designated is set, and if no communication is performed with the set opposite party in the past, test data are transmitted to the opposite facsimile equipment.例文帳に追加

相手先のファクシミリ装置を指定したメモリ転送が設定され、この設定された相手先のファクシミリ装置と過去に通信が行われていない場合、相手先のファクシミリ装置に対してテストデータを送信する。 - 特許庁

The APG 101 is common for all memory-macros, an intrinsic test for the CAM can be performed by switching operation of the inserted data generators 104A, 104B, 104C by a control signal 14.例文帳に追加

ＡＰＧ１０１は全メモリマクロに対して共通であり、ＣＡＭ固有のテストは制御信号１４によって挿入したデータジェネレータ１０４Ａ，１０４Ｂ，１０４Ｃの動作を切り替えることにより行うことができる。 - 特許庁

The display unit 2 is configured of a test module part 22 for transferring operation instructions or change notification data for confirming the response display state with the engine part 12; and a display unit body software part 21.例文帳に追加

上記表示器２は、上記エンジン部１２との間で操作指示又はその応答表示状態を確認するための変更通知データをやり取りする試験モジュール部２２と、表示器本体ソフトウェア部２１とから構成される。 - 特許庁

A memory tester 101 informs size of DUT to an analysis server 104 after the end of test (step S301), and performs buffering of fail bit data stored in a fail memory and extraction of fail information (step S302).例文帳に追加

メモリテスタ１０１は、試験終了後にＤＵＴのサイズを解析サーバ１０４に通知し（ステップＳ３０１）、フェイルメモリに記憶されたフェイルビットデータのバッファリング及びフェイル情報の抽出を行う（ステップＳ３０２）。 - 特許庁

A test section 18 outputs a control signal CNTL to two memory circuits 21, 23, and each memory circuit 21, 23 outputs read-out data RDAT-1, RDAT-2 to comparison discriminating circuits 22, 24 responding to it.例文帳に追加

試験部１８は、２つのメモリ回路２１，２３に制御信号ＣＮＴＬを出力し、各メモリ回路２１，２３はそれに応答して読み出しデータＲＤＡＴ−１，ＲＤＡＴ−２を比較判定回路２２，２４に出力する。 - 特許庁

A run time checker 16 and a coverage checker 18 performing the verification of an application program at execution are provided, a class file 2 (13) is inputted, and the checker 16 performs verification at execution together with appropriate test data 15.例文帳に追加

アプリケーションプログラムの実行時の検証を行うランタイムチェッカ１６とカバレッジチェッカ１８を設け、ｃｌａｓｓファイル２（１３）を入力として、適切なテストデータ１５と共にランタイムチェッカ１６で実行時検証を行う。 - 特許庁

From the inputted test result data D, the case classification of the relation between the undamaged time though in which there are different interpretations and the number of undamaged pieces or the number of damaged pieces are performed following to the established standard.例文帳に追加

入力された試験結果データＤから、未破損時間を何時間とするかの解釈で種々異なる、未破損時間と、未破損個数または破損個数との関係の場合分けを設定基準に従って行う。 - 特許庁

When a field test function 71 is operated, the control unit 7 sets the switch 22 to the side of the attenuator 21, measures the error rate while decreasing attenuation levels step by step for each channel, and records data in a recording unit 4.例文帳に追加

制御部７は、フィールドテスト機能７１を動作させたときに、スイッチ２２をアッテネータ２１側に設定して、チャンネルごとに、減衰レベルを段階的に下げながら、エラーレートを測定し、データを記録部４に記録させる。 - 特許庁

First of all, test working is performed while using a device (grinding device) becoming an object and data are collected concerning the setting value (grinding pressure/speed) of the device, the state value (temperature) of the device and the evaluation value (working accuracy) of the worked result.例文帳に追加

先ず、対象となる装置（研磨装置）を用いて試験加工を行い、装置の設定値（研磨圧力・速度）、装置の状態値（温度）及び加工結果の評価値（加工精度）についてデータを収集する。 - 特許庁

The system controller 32 sets up the optimum recording power by carrying out OPC in the test area of an optical disk 10 and interrupts recording at a predetermined timing while recording data to adjust the optimal recording power by increasing or decreasing it.例文帳に追加

システムコントローラ３２は、光ディスク１０のテストエリアにおいてＯＰＣを実行して最適記録パワーを設定するとともに、データ記録中に所定のタイミングでデータ記録を中断し、最適記録パワーを増減調整する。 - 特許庁

An image pattern 600 is image data for a piece of paper which has been transmitted from the reading section, and a grid pattern 601 is the test pattern which has been formed in the first IC 510 of the circuit 502.例文帳に追加

画像パターン６００は、読取部から転送されてきた用紙１枚分の画像データであり、格子パターン６０１は、ＬＥＤ書込部制御回路５０２の第１ＩＣ５１０にて生成されたテストパターンである。 - 特許庁

The controller for testing 50 delivers operation commands to a device for driving load 60 acting as a tested device during an operating test, and receives predetermined data, indicating the status of the device for driving load 60 from the loads 60, as well.例文帳に追加

試験用コントローラ５０は、動作試験時、被試験装置である負荷駆動装置６０へ動作指令を出力するとともに、負荷駆動装置６０の状態を示す所定のデータを負荷駆動装置６０から受ける。 - 特許庁

To provide a electromagnetic wave condition measuring system which automatically collect a test data to implement check the quality of a electromagnetic wave over long-haul at a planned place where a floor type information terminal will be installed which utilizes a public radio circuit network.例文帳に追加

公衆無線回線網を利用する据置型情報端末が設置される予定場所における電波状況の良否判定を行うためのテストデータを長時間にわたって自動的に収集すること。 - 特許庁

To reduce data quantity to be analyzed without giving any influence to the operation of a program at all in measuring the degree of progress of test of a software code (program) in an electronic computer for performing main storage management of a virtual storage system.例文帳に追加

仮想記憶方式の主記憶管理をする電子計算機において、ソフトウェアコード（プログラム）のテストの進捗度を測るにあたって、プログラムの動作に全く影響を与えず、また、解析すべきデータ量を低減する。 - 特許庁

To provide an information recording method which prevents a failure in recording/updating specific information caused by the shortage of an area used for a specific purpose (test recording, drive control information or the like) other in recording user data.例文帳に追加

ユーザデータの記録以外の特定用途（試し記録、ドライブ制御情報等）のための領域が不足することで、特定情報の記録／更新が不能となることを防ぐ情報記録方法を提供する。 - 特許庁

To provide a transmission/reception circuit with a data delaying function realizing the reduction of testing cost and testing time by dispensing with a dedicated measuring instrument in a test to a skew belonging to a received signal or a differential signal.例文帳に追加

受信信号または差動信号が有するスキューに対するテストにおいて、専用の測定器が不要となり、テストコストの低減化、テスト時間の短縮化を図るようにしたデータ遅延機能付き送受信回路の提供。 - 特許庁

It can be therefore determined that which part of the bank of the eFuse is already programmed by the previous test stage, and that where operation for programming next data set to the bank of the eFuse is to be started.例文帳に追加

従って、eFuse のバンクのどの部分が前のテスト・ステージによって既にプログラムされていたか、および次のデータ・セットをeFuse のバンクにプログラムする動作をどこで開始すべきかを容易に決定することが可能である。 - 特許庁

To conduct an accurate measurement by interpolating discrete waveform data and to eliminate the necessity of changing hardware including circuit design by conducting the interpolation processes by software even though test items and measurement parameters are changed.例文帳に追加

離散的な波形データの補間により、正確な計測を行い、また、補間処理をソフトウェアにより行い試験項目や測定パラメータが変更されても回路設計を含むハードウェアの変更の必要をなくすること。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device capable of shortening the required time of a data retention test by using the coupling effect of a memory cell capacitor to rapidly lower the H level of a storage node.例文帳に追加

メモリセルのキャパシタのカップリング効果を利用して記憶ノードのＨレベルを急激に低下させることにより、データリテンションテストの所要時間を短縮することのできる半導体集積回路装置を提供する。 - 特許庁

A component support device 12 proposes software components which satisfy a request from the developer based on category information and information for a threshold of result matching rate with test data or coverage rate transmitted from a developer terminal 11.例文帳に追加

部品支援装置１２では、開発者端末１１から送信されたカテゴリ情報とテストデータと結果一致率やカバレージ率の閾値の情報に基づいて、開発者からの要求を満足するソフトウェア部品を提案する。 - 特許庁

To provide a rewritable memory readout control device capable of positively inhibiting readout and rewriting of data written in a rewritable memory, from the outside while allowing an operation confirmation test to be easily performed from the outside.例文帳に追加

書き換え可能メモリに書き込まれたデータの外部からの読出および書き換えを確実に禁止することができ、かつ、外部から動作確テストを容易に行うことができる書き換え可能メモリ読出制御装置を提供する。 - 特許庁

The test module 117 sends constant voltage to all data lines in the display panel 113, fixes the scanning signal period of the display panel 113 and the switching ratio of a frame and measures the kickback voltage of the display panel 113.例文帳に追加

テストモジュール１１７は、表示パネル１１３内の全てのデータ線へ定電圧を送り、表示パネル１１３の走査信号期間及びフレームの切換比を固定し、表示パネル１１３のキックバック電圧を測定する。 - 特許庁

A standard microphone 201 of a measuring device 2 picks up a sound of test sound data emitted from a loudspeaker 112 of a mobile phone terminal 1 and a spectrum analyzer 202 measures its frequency characteristic.例文帳に追加

携帯電話端末１のスピーカ１１２から放音されるテスト音声データの放音音声を、測定装置２の標準マイクロホン２０１により収音し、スペクトラムアナライザ２０２によってその周波数特性を測定する。 - 特許庁

In a programmable device or a device for changing dynamically a logic constitution of data processing, a route delay test capable of corresponding to connection between processor elements changed according to the logic constitution is mounted beforehand on the device.例文帳に追加

プログラマブルデバイスあるいは動的にデータ処理の論理構成を変更するデバイスにおいて、論理構成に従って変更されるプロセサエレメント間の接続に対応可能な経路遅延テストをデバイスにあらかじめ実装しておく。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit testing apparatus and a method, capable of acquiring digital waveform data wherein the position on the time base is accurate, when testing a test object device for outputting analog signal.例文帳に追加

アナログ信号を出力する被試験対象デバイスを試験する場合において、時間軸上の位置が正確なデジタル波形データを得ることのできる半導体集積回路試験装置及び方法を提供する。 - 特許庁

As such, since timing control is internally made to make the decision signal output timing delayed from the read data output timing, the decision signal in the test mode is output correctly.例文帳に追加

このように、リードデータの出力タイミングよりも判定信号の出力タイミングが遅くなるよう、内部でタイミング制御していることから、テストモード時における判定信号の出力を正しく行うことが可能となる。 - 特許庁

Also, according to the experiments conducted by Institute for Traffic Accident Research and Data Analysis, a driving test that was performed at 20 minutes after having 50 grams of narazuke showed breath alcohol content of 0 (zero) and caused no influence on the driving. 例文帳に追加

また、財団法人交通事故総合分析センターの実験によると、奈良漬け50gを食べた20分後に行なった走行実験では呼気中のアルコール濃度はゼロであり、走行にも影響を与えていない。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

To provide a voice output method in a testing device for enabling an operator to relatively easily change the data and the presence or absence of generated voice, the testing device, and a record medium storing a test control program.例文帳に追加

操作者が音声発声の内容や有無を比較的簡単に変更することができる試験装置における音声出力方法、試験装置および試験制御プログラムが記録された記録媒体を提供する。 - 特許庁

A selector 123 selects the output of the output (a frame data) from a transmission-side upper circuit 121 in the case of normal communication, and selects the output (the pattern body) from a pattern-body generating circuit 122 in the case of the jitter test.例文帳に追加

セレクタ１２３は、通常通信のときに送信側上位回路１２１の出力（フレームデータ）の出力を選択し、ジッタテストのときにはパターン本体生成回路１２２の出力（パターン本体）を選択する。 - 特許庁

To provide a system and method saving the data storage capacity required for a tester (for example, an automatic tester) and minimizing the on-chip circuit quantity required for such a test.例文帳に追加

テスタ（例えば、自動試験装置（ＡＴＥ））に要求されるデータ記憶容量を節約し、更にできればこのような試験ソリューションに要求されるオンチップ回路量をできるだけ少なくする試験ソリューションを提供する。 - 特許庁

To provide an updating method of a plant monitoring system with which a test time after updating can be remarkably shortened while maintaining a process data input function and a monitoring function even when updating the plant monitoring system, and an updating system.例文帳に追加

プラント監視システムの更新中でもプロセスデータ入力機能と監視機能を維持しつつ、更新後の試験時間を大幅に短縮することができるプラント監視システムの更新方法及び更新システムを提供する。 - 特許庁

The laser beam of a light emission output set to equivalent to a reproducing output is emitted toward the recording medium, from an optical head 1, and the magnetic field according to the test data is applied to the recording medium by the magnetic head 23.例文帳に追加

光学ヘッド１から再生出力相当に設定された発光出力のレーザー光を記録媒体に照射すると共に、磁気ヘッド２３により記録媒体にテストデータに応じた磁界を印加する。 - 特許庁

After one to two test prints are obtained by using prepared image data, the film pack 14 is taken out of the pack loading chamber 16 in a darkroom and loaded in the pack loading chamber 16 of another camera with a printer.例文帳に追加

予め用意した画像データを用いて１〜２枚のテストプリントを行った後、暗室でフイルムパック１４をパック装填室１６から取り出し、このフイルムパック１４を別のプリンタ付きカメラのパック装填室１６に装填する。 - 特許庁

A walking test is performed by allowing a worker to move within the monitored space, thereby obtaining measurement data obtained by associating the position of a human image within the image and the signal level of a detection signal of a sensor part at a measurement timing with each other.例文帳に追加

監視空間内での作業員が移動してウォークテストを行い、測定タイミングにおける画像内での人像の位置とセンサ部の検知信号の信号レベルとを対応付けた測定データを取得する。 - 特許庁