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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > Test dataの意味・解説 > Test dataに関連した英語例文

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Test dataの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 3606



例文

The false magnetic plaster is stuck to and indwelled on the skin with the plaster and has a same external appearance, however, it has no magnetism so as to provide control data in the double blind test for providing a clinical evidence for the magnetic therapy.例文帳に追加

また、偽磁気絆創膏によれば、絆創膏により皮膚に貼り付けられて留置された状態で、外観は同じであるが、磁気を持たないので、磁気治療に臨床的エビデンスをもたらす二重盲検試験にてコントロールデータを得ることが可能となる。 - 特許庁

To solve problems that a simultaneous write access to a number of memory cells connected in parallel in a data line direction, i.e. multiplex selection, is inhibited as a memory function, and in a memory array of the above constitution, a write access time is long and test time cannot be shortened.例文帳に追加

データ線方向に並列に多数接続されたメモリセルへの同時書込みアクセス、すなわち、セル多重選択は、メモリ機能的に禁止であり、前記のような構成のメモリアレイでは、書込みアクセスが長く、テスト時間の短縮が図れない。 - 特許庁

After the test is completed, the frame of the OAM echo request/response stored in a data buffer is read out and "time of transmission request" and "response receiving time" added to the frames are extracted to calculate the delay time between the stations.例文帳に追加

試験終了後、任意の時間に、データバッファに格納されている前記OAMエコー要求/応答フレームを読み出し、該フレームに付加された前記「要求送信時刻」および「応答受信時刻」を抽出して、ステーション間の遅延時間を計算する。 - 特許庁

Then LUT data for converting density characteristics so that the density of an original image coincides with that of an output image are set up on the basis of the read picture signal and gradation characteristic information stored as the prescribed test pattern.例文帳に追加

次に、読み取った画像信号と当該所定のテストパターンとして記憶している階調特性情報とに基づいて、原画像の濃度と出力画像の濃度とが一致するように濃度特性を変換するLUTのデータを設定する(S4-S5)。 - 特許庁

例文

The method of measuring the vibration of electronic equipment includes previously measuring the vibration of the installation place, performing a vibration test on the electronic equipment installed by using the data, measuring and evaluating the vibration of the electronic equipment generated by the applied vibration, and carrying out the vibration removal measure based on the results.例文帳に追加

設置場所の振動を予め測定し、そのデータを用いて設置する電子機器に振動試験を行い、加えられた振動によって生じる電子機器の振動を測定評価し、その結果に基いて除振対策を実施する。 - 特許庁


例文

Height data of each lead terminal of the electronic parts is acquired, and a test is carried out to decide whether the distance between each side and a hypothetical straight line of each lead terminal is within an allowable value, or whether the distance from a hypothetical plane of each lead terminal is within an allowable value.例文帳に追加

電子部品の各リード端子の高さデータを取得し、各辺の各リード端子の仮想直線からの距離が許容値内にあるかどうか、あるいは各リード端子の仮想平面からの距離が許容値内にあるかどうかが検査される。 - 特許庁

A load indicator LM for indicating a load value that is test data to a cross head 5 of a testing machine, a cross yoke 6, or a post 18, and a displacement indicator DM for displaying displacement are installed in the machine frame of the testing machine, namely the cross head 5 or the cross yoke 6.例文帳に追加

試験機のクロスヘッド5もしくはクロスヨーク6もしくは支柱18に試験データである荷重値を示す荷重表示器LMや、変位を表示する変位表示器DMを試験機の機枠すなわちクロスヘッド5あるいはクロスヨーク6に設置する。 - 特許庁

Then, when the space value turns into the value which is not originally present, 15T, for example, the control part 24 decides that the test data are incorrectly recorded, and substitutes the upper limit for the jitter value in the recording power to prevent the incorrect determination of the optimum recording power.例文帳に追加

そこで、制御部24は、スペース値が本来存在しない値、例えば15Tとなった場合には、テストデータが誤記録されたものと判定し、当該記録パワーーにおけるジッタ値を上限値に置き換えて最適記録パワーの誤決定を防止する。 - 特許庁

The test pattern generating circuit controls the alignment transition in the optional pattern for temporarily stopping based on existence, position, and value of the care bit in the k bit specified by the data and the periodicity of the optional pattern with respect to the PRPG 2.例文帳に追加

テストパターン発生回路は、PRPG2に対し、データにより特定されるkビット内におけるケアビットの有無、位置および値と、任意パターンの周期性とに基づいて、任意パターンにおける配列遷移を一時的に停止可能に制御する。 - 特許庁

例文

To provide a technology for converging the difference between a measured value obtained from a test print and a target value to an allowable value a less number of correction times in a gradation conversion correcting process for determining the correction quantity used for converting the gradation of image data.例文帳に追加

画像データを階調変換する際に用いる補正量を決定する階調変換較正処理において、テストプリントで得られた測定値と目標値との差が少ない較正回数で許容値に収束する技術を提供する。 - 特許庁

例文

In the inside of the casing, there is a turnable rotation table 130, and the reader/writer 146 performs the wireless data communication with an RFID tag 11 of the test specimen 10 held by a holding pipe of the rotating rotation table 130.例文帳に追加

筐体内部には、旋回可能な回転テーブル130が配置されており、リーダライタ146は、旋回中の回転テーブル130の保持管が保持している試験体10のRFIDタグ11との間で無線を用いたデータ通信を行う。 - 特許庁

The method achieved in the printer analyzes image data of a dash in the test pattern irregularly distributed in a process direction in a region of the image receiving member and locates the print head in the printer to detect a missing inkjet in the printer.例文帳に追加

プリンタ内で実現される方法が、受像部材の領域の中のプロセス方向に不規則に分布したテストパターン内の長点の画像データを分析し、プリンタ内のプリントヘッドの位置を識別してプリントヘッド内の行方不明のインクジェットを検出する。 - 特許庁

In Figure 1(a), the data (graph a) on the depth and the phase of the flaw of the flaw signal is acquired, which is obtained by performing flaw detection of an object for inspection of the artificial flaw by a test frequency by which saturated depth becomes shallower than that of the actual flaw for correction to be used as a reference.例文帳に追加

図1(a)において、基準として使用する補正用実キズよりも飽和深さが浅くなる試験周波数により人工キズの被検査体を探傷して得られたキズ信号のキズの深さ・位相のデータ(グラフa)を取得する。 - 特許庁

To achieve the quantitative evaluation of problem analysis in a product test process, and to reflect the intention of a user on each element for quantitative evaluation, and to automate such operations as the storage, classification and update of a plurality of event data and visualization of the problem.例文帳に追加

製品試験工程等において、問題分析の定量的な評価が行え、定量的評価のための各要素にユーザの意思を反映させるとともに、多数の事象データの蓄積、分類、更新等の作業と問題の可視化を自動化する。 - 特許庁

When the signal 22 is inputted to the uppermost stream I/O device 31 outputting a bus use request signal 21, a try state buffer 303 sends an output from the test part 301 to the processor 1 as a data bus signal 2.例文帳に追加

バス使用要求信号21を出力した入出力装置のうちの最上流では、バス使用許可信号22が入力されると、トライステートバッファ303が試験部301の出力をデータ・バス信号2としてプロセッサ1に送出する。 - 特許庁

To allow an interface tester having plural signal lines for transferring data to surely generate the abnormality, etc., at the desired timing and quickly test an SCSI interface, etc., with a simple configuration.例文帳に追加

本発明は、データの授受を行う複数の信号線を持つインタフェースの試験を行うインタフェース試験機に関し、目的とするタイミングで確実に異常などを発生させ、簡易な構成でSCSIインターフェースなどの試験を迅速に行うことを目的とする。 - 特許庁

In a method for inspecting reliability of distance data computed based on a stereo image, a pair of pickup images are obtained by photographing a test chart 21 disposed in an image pickup direction and having a luminance pattern drawn on it by a stereo camera.例文帳に追加

ステレオ画像に基づき算出された距離データの信頼性を検査する方法において、ステレオカメラの撮像方向に配置されていると共に輝度パターンが描かれたテストチャート21を、ステレオカメラで撮影することによって一対の撮像画像を得る。 - 特許庁

In a connection test, data held in registers 241-1 and 241-2 are transferred to registers 211-1 and 211-2 in an interface circuit 210, further transferred to registers 312-1 and 312-2 at a side of the second chip 200-2 and held therein.例文帳に追加

接続試験においては、レジスタ241−1および2において保持されているデータを、インターフェース回路210内のレジスタ211−1および2に転送し、さらに第2チップ200−2側のレジスタ312−1および2に対して転送して保持させる。 - 特許庁

According to test pattern data, an identical and uniform colored image is recorded in a reference region 930 and comparison regions 931-934, and uniform clear images of different dot density are recorded on the uniform colored image in the comparison regions 931-934.例文帳に追加

テストパターンデータに従って、基準領域930および比較領域931〜934に同一の均一有色画像が記録され、比較領域931〜934の均一有色画像上に、ドット密度が異なる均一クリア画像が記録される。 - 特許庁

The vehicle information such as speed signal, motor current, and brake cylinder pressure acquired from a railroad vehicle is taken into a personal computer, so that a time-series waveform is displayed on a display of a personal computer, for confirming the test data and for recording it on a hard disc.例文帳に追加

鉄道車両より得られる速度信号,モータ電流,ブレーキシリンダ圧力等の車両情報をパソコンに取り込んで、パソコンのディスプレイ画面上に時刻歴波形を表示させ試験データの確認を行うと同時に、ハードディスクに記録する。 - 特許庁

A guarantee information storage part 12 of a guarantee information management server 11 stores guarantee information showing a test result of operation confirmation for whether image data to each CD-R is properly writable or not for every kind of CD-R.例文帳に追加

保証情報管理サーバ11の保証情報記憶部12には、各CD−Rに対する画像データの書き込みが適正に行われるか否かの動作確認のテスト結果を示す保証情報が、CD−Rの各種類毎に記憶されている。 - 特許庁

The semiconductor random access memory having a complex shape is provided with a ROM device storing an all latent row data pattern to be input to a memory cell array during test procedure, a variable step address generator, a comparing device, and a control device.例文帳に追加

複雑な形状を持つ半導体ランダムアクセス・メモリが、試験手順の間に記憶セル・アレイに入力すべき悉くの潜在的な行データ・パターンを記憶するROM装置、可変ステップ・アドレス発生器、比較装置及び制御装置を備えている。 - 特許庁

Wiring 105 to be measured is placed at the center, and wiring width W, wiring interval S, wiring formation region X/Y, and data ratio D of wiring to be actually wired in the wiring formation regionY are variably changed so that the test pattern of wiring can be prepared.例文帳に追加

被測定配線105を中心に置き、配線幅W、配線間隔S、配線の形成領域X、Y、配線形成領域X×Yに実際に配線される配線のデータ率Dを種々変えた配線のテストパターンを作成する。 - 特許庁

To provide an imaging device that can eliminate the need for outputting a concealed pattern, in the case of forming an image such as a test pattern processed in terms of software and surely attach the concealed pattern to the image, in the case of forming usual image data supplied in terms of hardware onto a medium.例文帳に追加

ソフトウェア的に処理されるテストパターン等の画像の形成時には隠しパターンを出力することがなく、ハードウェア的に供給される通常の画像データを媒体上に形成する場合には確実に隠しパターンを画像に付加できる。 - 特許庁

The semiconductor memory device includes: memory blocks MB1 and MB2; a redundancy determining circuit 100 for entering in a parallel test mode in which both the memory blocks MB1 and MB2 are simultaneously accessed; and a verifying circuit 22 for verifying data read from the memory blocks MB1 and MB2.例文帳に追加

メモリブロックMB1,MB2と、メモリブロックMB1,MB2の両方に同時にアクセスするパラレルテストモードにエントリ可能な冗長判定回路100と、メモリブロックMB1,MB2から読み出されたデータを検証する検証回路22とを備える。 - 特許庁

To provide a measuring method and evaluation method of vibration for specifying a part in which a vibration removal measure is necessary by establishing the evaluation method combining a reproduction test and vibration magnification measurement of the vibration due to measured data of the vibration of an installation place.例文帳に追加

設置場所の振動の測定データによる振動の再現試験と、振動倍率測定を組合せた評価法を確立し、除振対策が必要な部位を特定することができる振動の測定方法及び評価方法を提供する。 - 特許庁

As for serious skin corrosion, there are clear decision criteria in GHS, and classification shall be made in accordance with the flow of decision logic 3.2.1 of GHS, while referring to the technical advice for the decision method according to the existing test data, as described below.例文帳に追加

皮膚腐食性については、GHSに明確な判定基準があり、GHS の判定理論 3.2.1 のフローに従って分類すること。なお、その際、以下に既存の試験データによる判定方法など技術的助言を記載するので参照すること。 - 経済産業省

When head rank information indicating the characteristics of the head is inputted or is acquired from the measurement result of a test pattern or the like, a driver module 206 corrects the LUT of an original data base in accordance with the head rank to generate the LUT corresponding to the head and registers it in a database file 212 as a corrected data base correspondingly to the head ID.例文帳に追加

ヘッドの特性を表すヘッドランク情報を入力されるか、あるいはテストパターンの測定結果等から取得すると、ドライバモジュール206は、そのヘッドランクに応じてオリジナルデータベースのLUTを修正して、そのヘッドに対応したLUTを作成し、修正データベースとしてヘッドIDと対応させてデータベースファイル212登録する。 - 特許庁

On a test mode, each of the word lines WL0, WL1, ... is not selected, both of the dummy word lines DWL0, DWL1 are selected, data is read by mutual access to the reference cell 21 in a state in which one of reference voltages VREF0 and VREF1 is set to a level different from that during normal data reading.例文帳に追加

テストモードでは、ワード線WL0、WL1,…の各々は非選択とされる一方で、ダミーワード線DWL0,DWL1の両方が選択され、さらに、基準電圧VREF0およびVREF1の一方を通常のデータ読出時とは異なるレベルに設定した状態でリファレンスセル21同士へのアクセスによってデータを読出す。 - 特許庁

The work flow automation programming includes request processing programming for processing a user request for the tests which are available to be performed by the specimen processing modules, and includes function control programming which provides function control of a plurality of specimen processing modules for performing the tests, and includes result data management programming that provides processing of test result data of the tests.例文帳に追加

ワークフロー自動化プログラミングは、被検物処理モジュールによって実行される利用可能な試験に対するユーザーリクエストを処理するリクエスト処理プログラミングを含み、試験を実行する複数の被検物処理モジュールの機能制御を提供する機能制御プログラミングを含み、試験の試験結果データの処理を提供する結果データ管理プログラミングを含む。 - 特許庁

A coexistent semiconductor memory in which a memory circuit 1 and a logic circuit 2 are incorporated and having a common terminal 10 for inputting/outputting data and inputting an address in the memory circuit 1, is provided with a test control circuit 9 inputting address data inputted to an input pin 13 for the logic circuit 2 to an address storing register 6 of the memory circuit 1.例文帳に追加

メモリ回路1とロジック回路2を混載し、メモリ回路1にデータ入出力とアドレス入力のための共通端子10を有する混載型半導体メモリにおいて、ロジック回路2への入力ピン13に入力されたアドレスデータをメモリ回路1のアドレス格納レジスタ6に入力するテストコントロール回路9を備えた構成とした。 - 特許庁

The crystal oscillator predicts long-term aging through an acceleration test with temperature taken into account, stores into a memory compensation data corresponding to operation times and temperatures, measures an operation time and an ambient temperature, reads from the memory the compensation data corresponding to the operation time and the temperature, and compensates for output frequency aging and the temperature.例文帳に追加

水晶発振器は、温度を考慮した加速試験により長期経時変化を予測し、動作時間および温度に対応した補償データをメモリに記憶し、動作時間および周囲温度を計測し、前記メモリより動作時間および温度に対応した補償データを読み出して、出力周波数の経時変化および温度を補償する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device having a test function capable of testing process operations by use of a various-purpose logic tester when testing the semiconductor integrated circuit device in a semiconductor integrated circuit device for processing a data signal while inputting a data signal in response to a high-speed clock.例文帳に追加

本発明は、高速のクロックに対応したデータ信号が入力されるとともに該データ信号を処理する半導体集積回路装置において、該半導体集積回路装置をテストする際に汎用のロジックテスタを使用してその処理動作のテストを行うことが可能なテスト機能を有する半導体集積回路装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To a semiconductor tester 10 for general use constituted with test signal generation means 52, 53, 54 and 55, a data supply means, a data reading means, judging means and a control means 11, a special control signal generation means 12 and an interface means 13 for testing a semiconductor integrated circuit 16 incorporated BIST circuits 31 to 35 are provided.例文帳に追加

試験信号発生手段52,53,54,55、データ供給手段、データ読出手段、判定手段及び制御手段11から構成される汎用的な半導体試験装置10に対してBIST回路31〜35を内蔵した半導体集積回路16を試験するための専用の制御信号発生手段12及びインターフェイス手段13を別個設けた。 - 特許庁

The equipment is provided with a data processing unit 11 having a net information extracting part 17 extracting information of nets, a moving type test probe controlling unit 12 which controls a inspection probe by using information outputted from the data processing unit 11, and an electric detecting device 13 detecting electric information from the inspection probe and judging electric continuity or discontinuity.例文帳に追加

ネットの情報を抽出するネット情報抽出部17を備えたデータ処理装置11と、データ処理装置11からの出力情報により検査プローブを制御する移動式検査プローブ制御装置12と、検査プローブからの電気情報を検出し導通・非導通を判定する電気検出装置13とを有する。 - 特許庁

On an extension card 1 having a connector (A) 5 selectively connected to a host device or a test device and a connector (B) 6 to which a subscriber circuit to be inspected is connected, a logic circuit 2 that monitors or replaces data on a PCM highway, a switch 3 to set the data for replacement, and a light emitting diode 4 that displays a monitored signal are provided.例文帳に追加

上位装置または試験装置に選択的に接続されるコネクタ(A)5と被検査加入者回路が接続されるコネクタ(B)6とを有する延長カード1上に、PCMハイウェイ上のデータをモニタあるいは入れ替えする論理回路2と、この入れ替えするデータを設定するスイッチ3と、モニタされた信号を表示する発行ダイオード4とを設ける。 - 特許庁

After displaying all testing condition data currently held by the testing system, the tester tests the DUT 4 under an arbitrary testing condition by inputting the testing condition data so that the testing condition may be changed to a fixed condition or a condition having an arbitrary range in accordance with the purpose of the test.例文帳に追加

このとき、試験システムが現在保持している試験条件データを全て表示した上で、試験者は、試験の目的に応じて、固定の条件あるいはある任意の範囲をもつ条件に変更することができるように試験条件データを入力処理することにより、試験対象の多周波符号器を任意の条件のもとで試験する。 - 特許庁

The streaming broadcast transmission/reception system further comprises an arrangement for receiving data from a CM broadcast transmission server and reproducing the CM data when the broadcasting path is crowded, and an arrangement for searching another streaming broadcast transmitter such as a mirror server through which a highest bit rate can be attained based on the test packet transmission result transmitted from a streaming server.例文帳に追加

さらにCM放送送信サーバからのデータを受信し、放送経路が込み合った時にCMデータを再生することができる構成を備えたもので、ストリーミングサーバーから送信されているテストパケット送信結果により最も高いビットレートが得られるミラーサーバーなど別のストリーミング放送送信装置を探索することができる構成を備えたものである。 - 特許庁

Article 39, paragraph 3 of the TRIPS Agreement states, “Members, when requiring, as a condition of approving the marketing of pharmaceutical or of agricultural chemical products which utilize new chemical entities, the submission of undisclosed test or other data, the origination of which involves a considerable effort, shall protect such data against unfair commercial use.”例文帳に追加

TRIPS 協定第39条第3項は、「新規性のある化学物質を利用する医薬品又は農業用の化学品の販売の承認の条件として、作成のために相当の努力を必要とする開示されていない試験データその他のデータの提出を要求する場合には、不公正な商業的使用から当該データを保護する。」と規定している。 - 経済産業省

If a person skilled in the art is unable, on the basis of the prior art, to predict that the said use or action stated in the invention can be carried out, the qualitative or quantitative data of the laboratory test (including animal test) or clinical test shall be sufficiently provided for the person skilled in the art to be convinced that the technical solution of the invention can solve the technical problem or achieve the technical effect as expected. The description shall describe effective amount, method of application or method of formulation to such an extent that the person skilled in the art can carry it out. 例文帳に追加

当業者が、先行技術に基づいて、当該発明に記載されている用途又は作用を実現できることを推測できない場合、 当該発明の技術的解決策により、技術課題を解決し、又は予測される効果を実現できることを当業者が確認できるように、実験室検査(動物実験等)又は臨床検査による定性的又は定量的データを十分に示さなければならない。明細書には、当業者が実施できる程度まで、有効量、適用方法、又は処方方法を記載しなければならない。 - 特許庁

This device comprises a CPU 10 for controlling the whole operation, a main storage device 11 connected to the CPU 10, a display 12 connected to the CPU 10 and displaying a menu image screen, a menu file 21 and a storage device 20 including a joining tool 25 for joining data inputted or selected from at least one test pattern program and the menu image screen to one of the respective test pattern programs.例文帳に追加

全体の動作を制御するCPU10と、該CPU10と接続される主記憶装置11と、前記CPU10と接続され、メニュー画面を表示するディスプレイ12と、メニューファイル21、少なくとも一つのテストパターンプログラム、及びメニュー画面から入力又は選択されたデータを前記各テストパターンプログラムの一つと結合する結合ツール25を含む記憶装置20と、を含んで構成される。 - 特許庁

After forming one reference test pattern image expressed in a different gradation expression from the gradation expression of images formed in a plurality of printing modes carrying out normal printing process on a specified image carrier and detecting the density of the formed reference test pattern image, the density corrected data corresponding to the plurality of printing modes are produced based on the detected density.例文帳に追加

通常の印字処理を行う複数の印刷モードで形成される画像の階調表現とは異なる階調表現で表された一の基準テストパターン像を上記所定の像担持体上に形成し,この形成された上記一の基準テストパターン像の濃度を検知した後に,この検知された濃度に基づいて上記複数の印刷モードに対応する濃度補正データを生成するよう構成される。 - 特許庁

In a magnetic memory provided with a memory cell array in which memory cells having magnetic resistance elements being writable by changing resistance by making current flow are arranged in a matrix state, the test method of the memory includes a writing step performing writing of test data for the memory cell by using a writing pulse having height of writing pulse height or less during use also having narrower width than width of the writing pulse.例文帳に追加

電流を流して抵抗を変化させることにより書き込みが可能な磁気抵抗素子を有するメモリセルがマトリクス状に配列されたメモリセルアレイを備えた磁気メモリにおいて、使用時の書き込みパルスの高さ以下の高さを有しかつ当該の書き込みパルスの幅よりも狭い幅を有する書き込みパルスを用いて前記メモリセルに試験データの書き込みを行う書き込みステップを備えている。 - 特許庁

A program verifying tool installed in a computer has a program reading function 11 of reading the program for digital data casting stored in an HDD, and an automatic test pattern generation function 12 of interpreting a BML language and an ECMA script language of the program, detecting a branch caused by user operation in the program, and automatically generating a test pattern on the basis of the branch.例文帳に追加

このコンピュータにインストールされている番組検証ツールは、HDD内に格納されているデジタルデータ放送用の番組を読み取る番組読取機能11と、番組のBML言語およびECMAScriptの言語を解釈し、番組の中でユーザ操作に伴ない発生する分岐を検出しこの分岐に基づいて試験パターンを自動的に作成する試験パターン自動作成機能12を有している。 - 特許庁

A timing deviation is retrained from being generated in a transfer of an FF data between respective output clocks COn, and execution of the test such as a scan test is facilitated, when the LSI operated by the clocks of the plural different frequencies is tested, by generating the output clocks COn of n-pieces in which the selection clocks SC are synchronized with the input clock CI.例文帳に追加

同期化手段103において、選択クロックSCを入力クロックCIにて同期させたn個の出力クロックCOnを生成することにより、複数の異なる周波数のクロックで動作するLSIの試験時において、各出力クロックCOn間でのFFのデータの受け渡しでタイミング違反が発生することを抑制することができ、スキャン試験等の試験の実施を容易にすることができる。 - 特許庁

The processor is made to have a test circuit for detecting a hardware error in one of instruction sequencing logic, execution circuit and data storage during the function operation of the processor in response to an instruction in an instruction stream supplied by the instruction sequencing logic, and the hardware error is detected by comparing a value outputted by a redundant circuit for executing the same function in response to the test instruction.例文帳に追加

プロセッサに、命令シーケンシング・ロジックによって供給される命令ストリーム内の命令に応答して、プロセッサの機能動作中に、命令シーケンシング・ロジック、実行回路、およびデータ・ストレージの1つにおけるハードウェア・エラーを検出する試験回路をもたせて、試験命令に応答して同一の機能を実行する冗長回路によって出力される値を比較することによってハードウェアエラーを検出する。 - 特許庁

A circuit element of a logic circuit which is designed so that a scan pass test can be performed and has shift register constitution in a shift operation mode is utilized for an address register 3, a data input register 4, and a compare-register 5 constituting a semiconductor integrated circuit provided with self-diagnosis.例文帳に追加

診断機能を備えた半導体集積回路を構成するアドレスレジスタ3、データ入力レジスタ4およびコンペアレジスタ5に、スキャンパステストが実行可能に設計されシフト動作モード時にシフトレジスタ構成となる論理回路の回路要素を利用する。 - 特許庁

A coincidence comparing circuit 5 provided on each judging board 10 compares the address and data for a device 20 under test with predetermined values and generates and outputs a trigger allowing the writing on a memory 4 to a read/write control circuit 6 if they coincide.例文帳に追加

各判定ボード10毎に設けられた一致比較回路5は、被試験デバイス20に対するアドレスおよびデータを、あらかじめ設定される値と比較し、一致する場合には、リード/ライト制御回路6に対し、メモリ4に書き込みを可能とするトリガを生成・出力する。 - 特許庁

The ending node 2c discriminates, on the basis of the receiving status of the test light, whether or not the conduction in the downstream direction is normal (S9), switches an SW for data input/output if normal (S10), and notifies the starting node 2a of that effect (S11).例文帳に追加

終点ノード2cは、テスト光の受信状況に基づいて下流方向の導通が正常であるか否かを判別し(S9)、導通が正常である場合にSWをデータ入出力用に切り替え(S10)、その旨を始点ノード2aに通知する(S11)。 - 特許庁

例文

By using data on the coloring nonuniformity of the test plate, the mesh gradation value of the color dissolution plate of the plate so that the coloring nonuniformity is considered locally in advance on the plate or the printing film depending on the generation place during printing.例文帳に追加

テスト版の着色不均等についてのデータを利用して、着色不均等が、印刷時におけるその発生場所に依存して局所的に版ないし印刷フィルムの上で予め考慮されるように、版の色分解版の網目階調値を修正する。 - 特許庁




  
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