「data design」に関連した英語例文の一覧と使い方(41ページ目) - Weblio英語例文検索

In the flow of construction of business rules, the function of a scenario designer for "documentation for a flow by a designer" in a development phase corresponding to "combining components into a flow" in an analysis/design phase performs modularization and control of execution order about data processing for the functions constructed.例文帳に追加

ビジネスルール構築の流れにおいて、分析・設計フェーズの「部品を組み合わせ、フロー化」に対応した開発フェーズの「デザイナでフローをドキュメント化」するシナリオデザイナ機能が、構築する機能のデータ処理に関して部品化と実行順序の制御を行なう。 - 特許庁

To promote decision making of purchase of a made-to-order condominium, etc., by smoothing flow from design to a customer contract and to reduce production costs, a period, a labor and manually erroneous input in the case of data transfer by enabling simultaneous suggestion of diversified presentation tools.例文帳に追加

設計から顧客契約までの流れをスムーズにし、オーダーメイドマンション等の購入の意思決定を促進すること、多様なプレゼンテーションツールの同時提案を可能とし、制作コスト、期間、労力、及びデータ転載時の人為的な入力ミスを大幅に削減すること。 - 特許庁

To eliminate the need for preliminary measurement, since measurement and analysis conditions are automatically determined based on design value data, and to greatly relieve the burden on an operator, since the decisions as to the kinds of a figure element or the like is not required in the decision of the analysis conditions.例文帳に追加

設計値データに基づき測定条件や解析条件が自動的に決定されるので、予備測定を行う必要がなく、また、解析条件の決定に際し図形要素の種類を判定等する必要がなく、オペレータの負担が著しく軽減される。 - 特許庁

A wiring width profile is acquired from image data to be measured, and the dimensions of a lower layer, such as, the width and pitch of the activation region are acquired from a design database; and an activation analysis region is set with the width and pitch acqired, and the position from an end of the image is denoted as (x).例文帳に追加

測定対象の画像データから、配線幅プロファイルを取得し、設計データベースから活性化領域の幅やピッチなどの下層レイヤの寸法を取得し、活性上解析領域を幅、およびピッチで設定し、画像の端からの位置をｘとする。 - 特許庁

A priority right to the filing of a design or model exists also in case of an earlier national filing of a utility model and vice versa provided that the six-month term has been respected, the same object is involved and a claim to priority is submitted to O.B.I. containing the data set forth in the above paragraph 3 subsection a. 例文帳に追加

意匠又はひな形の出願の優先権は，先の出願が実用新案についてのものである場合にも存在する。ただし，6月の期間を遵守し，同一の対象物を含み，(3) (a)で記載した情報を含むことを条件とする。 - 特許庁

In this process, a defect is detected by comparing a basic inspection image obtained from the basic pattern formed in the basic pattern region of the mask for inspection of pattern defect detection sensitivity with a defect reference image produced by image processing based on the design data of the defect pattern.例文帳に追加

この際、パターン欠陥検出感度検査用マスクの基本パターン領域に形成された基本パターンから取得した基本検査画像と、欠陥パターンの設計データを基に画像処理により生成した欠陥参照画像とを、比較して欠陥を検出する。 - 特許庁

Thus, in this case (S140:YES), a subsequently displayed image is selected either from an image based on design image data stored in an external memory or from a video obtained from an external video apparatus (S150), and the display is changed to the selected image (S180, S190).例文帳に追加

よって、この場合（Ｓ１４０：ＹＥＳ）、外部メモリに記憶されている意匠画像データに基づく画像、あるいは外部映像機器による映像の中から表示すべき画像を選択し（Ｓ１５０）、この選択した画像へと表示を切り替える（Ｓ１８０，Ｓ１９０）。 - 特許庁

To provide a card reader for reading card data from a non-contact type IC card, ejecting foreign matters inserted from an insertion port for a card and sufficiently suppressing the increase in size of a device main body by sufficiently securing the degree of freedom of design.例文帳に追加

非接触式ＩＣカードからカードデータが読み取れ、カードの挿入口から挿入された異物を排出することができるとともに、設計の自由度が十分に確保され、装置本体の大型化を十分に抑えることができるカードリーダを提供する。 - 特許庁

To materialize a pattern forming method and device thereof which have no need of regulating the etching characteristics in an etching tub, and to enhance the accuracy and production efficiency of a wiring pattern to be formed, and to provide a correction method and a device for design data used in the same.例文帳に追加

エッチング槽内におけるエッチング特性の調整が不要であり、かつ、形成される配線パターンの精度および生産効率が向上するパターン形成方法およびその装置、ならびに、これに用いられる設計データの補正方法およびその装置を実現する。 - 特許庁

At the time of read, the reference voltage generator 62 outputs voltage in which voltage of half of resistance variation by data scheduled at the time of design is added to this average value, a discriminator 61 compares this value with a bit line potential read via transistors 58, 59.例文帳に追加

読み出し時には、参照電圧発生器６２はこの平均値に設計時に予定されるデータによる抵抗変化分の半分の電圧を加えた電圧を出力し、判別器61は、この値とトランジスタ58、59を介して読み出されたビット線電位と比較する。 - 特許庁

A cable connection check system within the switchboard using image processing, an identification tag manufacturing method and a device, executes steps of: printing two-dimensionally coded cable number and cable line number to tags attached to all cable end portions within the switchboard; digitally photographing a connection portion of the connected electric apparatus; transmitting a digital image data to a computer through an internet; and matching with a design data after soft processing the image data.例文帳に追加

本発明に係わる画像処理を用いた配電盤内ケーブル結線チェックシステムと識別タグ製作方法及び装置は配電盤内にある全てのケーブル端部に取り付けられたタグにケーブル番号とケーブル線番を２次元コード化して印字し、結線後の電気機器の結線部をデジタル写真撮影し、デジタル画像データーをコンピューターにインターネットを介して送信し、画像データーをソフト処理後、設計データーと突き合わせを行う。 - 特許庁

In the device 1 for checking design, a light source direction-view point direction setting means 21 sets a light source direction and a view point direction relative to a medium surface, and a luminance value calculation means 23 calculates luminance data 31 of all pixels by use of height field data 29 of the medium surface and the light source direction and view point direction set by the setting means 21.例文帳に追加

意匠確認装置１は、光源方向・視点方向設定手段２１により、媒体表面に対する光源方向と視点方向を設定し、媒体表面のハイトフィールドデータ２９、光源方向・視点方向設定手段２１により設定された光源方向、視点方向を用いて、輝度値算出手段２３が全画素の輝度データ３１を算出する。 - 特許庁

Though the surface shape is acquired in a coordinate system of the measuring device, conversion from the coordinate system based on the center positions of the balls acquired beforehand relative to each jig from design data of the measuring object into a coordinate system of the measuring object is performed, and the data of the surface shape are converted into a coordinate system fixed to the measuring object based on the center positions (114).例文帳に追加

その表面形状は測定装置の座標系で得られているところ、前記ジグ毎、及び測定対象物の設計データから予め得られている、前記球の中心位置を基準とする座標系から測定対象物の座標系への変換、および中心位置とを基にして、表面形状のデータを、測定対象物に固定された座標系へと変換する（１１４）。 - 特許庁

A background region is read and if a density region exceeding a range to remove a density of a predetermined background region (background removal density range) is detected as a background, a gain coefficient by which image data are multiplied is adjusted, so that a density difference is prevented from being incurred by a design or size of a document in image data reading the same density portion.例文帳に追加

地肌領域を読み取り、予め定めた地肌領域の濃度を除去する範囲（以下、地肌除去濃度範囲とする）を超えた濃度領域を地肌として検出した場合に、画像データに乗算されるゲイン数を調整することにより、原稿のデザインや大きさによって同じ濃度部分を読み取った画像データにおける濃度差の発生を防止する。 - 特許庁

This construction material design support system is provided with a surface pattern data file for storing an initial display unit DU being initial display region data in a surface pattern repetition unit CU, and configured to display a region expressing the characteristics of the surface pattern in the surface pattern repetition unit CU as the initial display unit DU at first at the time of selecting and displaying each surface pattern.例文帳に追加

表面柄繰返しユニットＣＵの中の初期表示領域データである初期表示ユニットＤＵを記憶する表面柄パターンデータファイルを備え、各表面柄パターンを選択して表示する際に、表面柄繰返しユニットＣＵの中のその表面柄の特徴をよく表す領域を初期表示ユニットＤＵとして最初に表示する建築材設計支援システム。 - 特許庁

To reduce an increase of unnecessary measured data and design value data and to improve photometric precision when the output of one photosensor the light collected from a wide region has linearity and the output of the other photosensor receiving the light collected from a narrow region has no linearity on the low luminance side of ambient luminance.例文帳に追加

周囲輝度の低輝度側において、広い領域から集められた光を受光する一方の光センサの出力がリニアリティを有しており狭い領域から集められた光を受光する他方の光センサの出力がリニアリティを有していない場合に、不要な実測データおよび設計値データの増加を低減させつつ測光精度の向上を図ることが可能にする。 - 特許庁

The evaluation device for a peripheral device of a personal computer with a universal serial bus temporarily stores a test pattern sent to the USB function and retransmits the token or discard it in response to the reply data from the USB function so as to attain programming without notifying a time until preparation of return of the DATA packet is finished and the design efficiency of the test pattern can be enhanced.例文帳に追加

ユニバーサルシリアルバスを持つパソコンの周辺機器の評価装置は、ＵＳＢファンクションに対し送出したテストパタンを一時的に保持して、ＵＳＢファンクションからの返信データに応じて再送、又は、破棄することにより、ＤＡＴＡパケットの返信の用意が完了するまでの時間を意識せずにプログラミングを行うことができ、テストパタンの設計効率を向上することができる。 - 特許庁

While the measuring unit is often design to transmit the measurement data to a single device and is not good at complicated control of switching start/stop of transmission of the measurement at independent timing for each of the plurality of devices, in the manner, the measurement data is transmitted to the device requesting the transmission by return without such complicated control.例文帳に追加

計測装置は、単一の機器に計測データを送信するよう設計されていることが多く、複数の機器の各々に独立したタイミングで計測データの送信の開始／停止を切り換えるという複雑な制御を苦手とするが、上記のようにすれば、このような複雑な制御なしに、送信要求している機器に対して計測データを送信することができる。 - 特許庁

Since whether the card side communication coil 33 of the IC card 30 can receive the data signal from the communication coil 13 at the processor side can be detected on the basis of the carrier frequency of the data signal from the communication coil 13 at the processor side, the IC card 30 does not have to be formed with a hole or the like, and constraint on design is not applied to the IC card 30.例文帳に追加

また、処理装置側通信コイル１３からのデータ信号をＩＣカード３０のカード側通信コイル３３が受信可能であるか否かを、処理装置側通信コイル１３からのデータ信号の搬送波周波数に基づいて検知できるので、ＩＣカード３０に孔等を設ける必要がなく、ＩＣカード３０にデザイン上の制約を加えることがない。 - 特許庁

A fabric stock managing terminal 33 and a cutting data managing terminal 34 in a sewing factory D receive production information containing cutting information and sewing information for computer aided design/production support system in made-to-order selling corresponding to the physical dimensions of a client from a fabric stock managing server 22 and a cutting data managing server 23 in the production headquarter B through a communication network T.例文帳に追加

注文者の体型寸法に対応した注文販売における計算機援用設計／製造支援システム用の裁断情報及び縫製情報を含む製造情報を生産本部Ｂの生地在庫管理サーバ２２及び裁断データ管理サーバ２３から通信ネットワークＴを通じて縫製工場Ｄの生地在庫管理端末３３、裁断データ管理端末３４が受け取る。 - 特許庁

When the mount model name actually mounted is written in addition to the common model name in this way, since the correspondence between the processing board and the model name of the electronic device actually mounted can be taken in the case of recycling the processing board and collecting fault data, the fault data or the like can be stored, analyzed, and then utilized for succeeding design or the like.例文帳に追加

このように共通機種名の他に、実際に搭載されている実装機種名を書き込むことで、処理基板を回収して故障データを蓄積するに当たり、その処理基板と現に実装された電子機器の機種名との対応関係がとれるようになるから、故障データなどを蓄積してこれを解析することで爾後の設計などに生かすことができる。 - 特許庁

The ship design support system 1 includes: a storage unit 20 for storing an overall layout model data 23 that describes an overall layout model including a 3D ship-hull structure model and a 3D apparatus model; and a model drafting and changing unit 13 for changing the overall layout model based on a final lines plan data 30 showing the shape of the ship to be manufactured.例文帳に追加

船舶設計支援システム１は、船殻構造の３Ｄモデルとしての船殻構造モデルと機器装置の３Ｄモデルとしての機器装置モデルとを含む全体配置モデルを記述する全体配置モデルデータ２３を記憶する記憶手段２０と、建造すべき船舶の船型を表す最終線図データ３０に基づいて全体配置モデルを変更するモデル作成・変更手段１３とを具備する。 - 特許庁

The CPU 1 finds an electric power source current waveform, by a simulation operation based on a design data of the analysis-object semiconductor chip input from a data take-in part 3, estimates an internal impedance of the semiconductor chip 80, based on the power source current waveform, and analyzes electromagnetic noise emission including the substrate 7 mounted with the semiconductor chip 80, based on the internal impedance.例文帳に追加

このＣＰＵ１は、データ取込部３から入力された解析対象の半導体チップの設計データに基づく模擬動作によって電源電流波形を求め、この電源電流波形から半導体チップ８０の内部インピーダンスを推定し、この内部インピーダンスに基づいて半導体チップ８０が実装される基板７を含む電磁ノイズ放射の解析を行う。 - 特許庁

The kinds of data are tele-direction correction values and wide-direction correction values in which difference of an actual focus position at the time the object distance is infinite and a focus position on design is obtained every a plurality of zoom positions from a wide end to a tele end and also every moving direction of the zoom lens to these zoom positions.例文帳に追加

データの種類は、被写体距離が無限遠であるときの実際のフォーカス位置と設計上のフォーカス位置との差を、ワイド端からテレ端までの複数のズーム位置毎に、かつそのズーム位置へのズームレンズの移動方向別に取得したテレ方向補正値及びワイド方向補正値とする。 - 特許庁

To provide a magnetic disk drive having a differential line where a desired response is acquired by dynamically changing characteristic impedance in the differential line from a preamp to a head element, and a magnetic disk drive which can efficiently take and analyze much data and accelerate a product design speed.例文帳に追加

プリアンプからヘッド素子に至る差動線路において、特性インピーダンスを動的に変化させて所望の応答が得られる差動線路を有する磁気ディスク装置、また数多くのデータを効率良く取り、分析し、製品設計スピードを加速することができる磁気ディスク装置を提供する。 - 特許庁

This CAD system is provided with a floor plan design means 31 for arranging parts on the plan of a building through the use of parts data concerning the parts to be arranged in the building the designing the plan of the building and a wall line setting means 32 for setting a wall line in a force resisting wall among the walls of the building.例文帳に追加

建物に配置される部品に関する部品データを用い建物の平面に部品を配置して建物の平面図を設計する平面図設計手段３１と、建物の壁のうちの耐力壁に壁線を設定する壁線設定手段３２とを備える。 - 特許庁

To provide a net list version verification device, in which the version of a net list, the versions of an operation description and an operation composition limiting condition which are original design data, and an RTL description generated by operation composition can be easily confirmed to enhance the efficiency of searching a trouble cause.例文帳に追加

ネットリストのバージョンと、元の設計データである動作記述及び動作合成制約条件のバージョン、動作合成により生成されるＲＴＬ記述を容易に確認することができ、不具合原因追求の効率化が図れるネットリストバージョン検証装置を提供する。 - 特許庁

The pattern for the inspection in an arrangement position of the pattern for the inspection is found by a ray tracing computation to be prepared, so as to bring a reflection image of the pattern for the inspection imaged in the imaging position into a linear or a truly round pattern having no distortion, based on a design data for the inspection-objective curved surface mirror.例文帳に追加

検査対象曲面鏡の設計データを基に、撮像位置で撮像される検査用パターンの反射像がゆがみのない直線状または真円状のパターンとなるように、検査用パターン配置位置での該検査用パターンを光線追跡演算で求めて作成する。 - 特許庁

Based on the displacement quantity of both patterns to be obtained by measuring an alignment mark for a light shielding pattern and an alignment mark for the phase shift pattern, displacement quantity of pieces of design data of both patterns is compensated and pattern defect inspection of a pattern to be inspected is performed on the basis of a reference pattern obtained by compensation of the displacement quantity.例文帳に追加

遮光パターン用のアライメントマークと位相シフトパターン用のアライメントマークを計測して得られる両パターンの位置ずれ量に基づき、両パターンの設計データの位置ずれ量を補正し、それにより得られた参照パターンを基準として披検査パターンのパターン欠陥検査を行う。 - 特許庁

A design support device 800 detects a combination of target wiring and adjacent wiring by a wiring detection part 801 from among wiring included in layout data and detects a combination of a target via on the target wiring and an adjacent via on the adjacent wiring by a via detection part 802.例文帳に追加

設計支援装置８００は、レイアウトデータに含まれる配線の中から、対象配線と隣接配線の組み合わせを配線検出部８０１により検出し、対象配線上の対象ビアと、隣接配線上の近傍ビアとの組み合わせをビア検出部８０２により検出する。 - 特許庁

To provide a robot simulator which performs design of a tool also in consideration of the loci of a robot and a tool when the robot approaches a worksite and departs from a work, and also corrects teaching data, thereby optimizing the work to be performed by the robot from the comprehensive viewpoint.例文帳に追加

ロボットの作業部位へのアプローチやワークからの離脱の際のロボットやツールの軌跡をも考慮した治具の設計が行え、さらにはティーチングデータの修正も可能で、ロボットによる作業を総合的な視点から最適化することができるロボットシミュレータを提供する。 - 特許庁

The resistance value parasitic on the wiring is reduced by expanding the wiring width in the layout to a designated wiring width within the range of a layout criterion by giving information on the maximum wiring width, and processing priority to the wiring in the design drawing of the circuit or the wiring pattern in layout data.例文帳に追加

回路設計図中の配線又はレイアウトデータ中の配線図形に対して最大配線幅及び処理優先度の情報を与えることでレイアウトルール違反を生じない範囲内でレイアウト中の配線幅を指定配線幅まで拡大し、配線に寄生する抵抗値を低減する。 - 特許庁

An inspection condition database 207 is provided which contains inspection positions 202 and inspection items 203 of design data and an inspection condition file wherein photographing conditions 206 of a semiconductor device and inspection positions are related, and inspection conditions 210 are found referencing the inspection condition database 207.例文帳に追加

設計データ上で検査位置２０２と検査項目２０３と、検査対象である半導体装置の撮影条件２０６と検査位置と、を関連付けた検査条件ファイルを格納する検査条件データベース２０７を備え、この検査条件データベース２０７を参照して検査条件２１０を求める。 - 特許庁

In one embodiment, the image forming apparatus for pattern matching reduces or enlarges design data in accordance with a target pattern size on forming a matching image; and the apparatus forms an image for matching, on the basis of the reduced or enlarged pattern.例文帳に追加

上記目的を達成するための一態様として、マッチング用画像を形成するに当たり、設計データを目標パターンサイズに基づいて、縮小、或いは拡大し、当該縮小、或いは拡大が行われたパターンに基づいて、マッチング用の画像を形成するパターンマッチング用画像作成装置を提案する。 - 特許庁

The reference dimensions of the plurality of patterns may be obtained by measuring the plurality of patterns by an Atomic Force Microscope: AFM, or alternatively, may be obtained on the basis of sectional shapes or the like of the patterns obtained by applying simulation to semiconductor pattern design data.例文帳に追加

複数パターンの基準寸法は、原子間力顕微鏡（Atomic Force Microscope：ＡＦＭ）によって、上記複数のパターンを測定することによって得るようにしても良いし、半導体パターンの設計データにシミュレーションを施すことによって得られるパターンの断面形状等に基づいて求めるようにしても良い。 - 特許庁

To provide an information processor which has a plurality of CPUs each connected to a bus via bus bridges, and includes a bus arbiter for arbitrating data transmission/reception of the bus bridges using the bus, while allowing addition and change of CPUs without significantly changing the design.例文帳に追加

複数のＣＰＵがそれぞれバスブリッジを介してバスに接続され、そのバスを用いた上記各バスブリッジのデータ送受信を調停するバスアービタを備えた情報処理装置において、ＣＰＵの追加や変更がなされる場合でも、大幅な設計変更を不要とすること。 - 特許庁

To decrease the number of times of switching gate voltage by decreasing the number of required thresholds, to eliminate the need for pre-charge technology in operation reading multi-level data from a non-volatile memory, and to reduce transient difficulty of design of a non-volatile semiconductor storage device using a multi-level technology.例文帳に追加

不揮発性メモリセルから多値を読み取る動作において、必要な閾値の数を減らしてゲート電圧の切換回数を少なくすること、及び、プリチャージ技術を不要とすること、並びに、多値技術を用いる不揮発性半導体記憶装置の過渡的な設計の難易度を下げること。 - 特許庁

In a step 109 of calculating the toggle rate, the toggle rate can be calculated by using a code coverage calculating tool with respect to connection data in an RTL design phase which can be obtained in an RTL designing step of the semiconductor integrated circuit in place of a conventional toggle rate calculation with respect to a net list.例文帳に追加

トグル率算出工程１０９で、従来のネットリストに対するトグル率算出に代えて、半導体集積回路のＲＴＬ設計工程で得られるＲＴＬ設計段階の接続データに対してコードカバレッジ算出ツールを用いてトグル率を算出することを可能にする。 - 特許庁

To provide a print with a good-looking scratch hiding layer which prevents the shades of secret information data from being seen from the outside even when illuminated with strong light, does not increase production costs, and makes in-line processing by an offset press excellent in productivity for forming the scratch hiding layer and design free.例文帳に追加

強光でも機密情報データの陰影が透けて見えず、製造コストが嵩まずかつスクラッチ隠蔽層の形成に生産性に優れるオフセット印刷機でのインライン加工を可能にし、デザインに自由度を与え、見栄えのするスクラッチ隠蔽層のスクラッチ隠蔽層付印刷物の提供にある。 - 特許庁

To immediately execute a maintenance job, an operation job and a build-up design job corresponding to an incident fault by reducing an amount of data with respect to a network management device that manages a network having a plurality of areas where path lines are interconnected by a connector.例文帳に追加

パス回線12間を接続装置11で接続したエリア10a〜10cを複数有するネットワーク10を管理するネットワーク管理装置20に関し、データ量の縮小を図ることにより、発生した異常に対応した保守業務、運用業務、及び構築設計業務を即時に実行可能とする。 - 特許庁

To provide a generation method for mask data applied to manufacture of a semiconductor device provided with an inter-layer insulating layer with an excellent embedding property between adjacent wiring layers even for a design rule of 0.13 μm generation or lower for instance, and a mask, a recording medium and a manufacturing method for the semiconductor device.例文帳に追加

例えば０．１３μｍ世代以下のデザインルールであっても、隣接する配線層間の埋め込み性に優れた層間絶縁層を有する半導体装置の製造に適用されるマスクデータの生成方法、マスクおよび記録媒体、ならびに半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

The layout verification apparatus includes: a voltage potential recognition processing section that recognizes the voltage potential of a conductive layer based on graphic data of a layout; and a reference verification section of voltage potential dependence design that verifies the layout of the semiconductor apparatus based on the recognized potential of the conductive layer.例文帳に追加

本発明の一態様は、レイアウトの図形データに基づいて、導電層の電位を認識する電位認識処理部と、認識された前記導電層の電位に基づいて、前記半導体装置のレイアウトを検証する電位依存設計基準検証部とを備えたレイアウト検証装置である。 - 特許庁

A system definition program 5 for the computer 1 generates database definition information to define a plurality of table structures constituting a database and a volume of a storing party of the plurality of table data and volume definition information to define conditions determining the volume structure on the basis of database design information.例文帳に追加

計算機１のシステム定義プログラム５は、データベースを構成する複数の表の構造と当該複数の表のデータの格納先ボリュームとを定義したデータベース定義情報、及び、ボリュームの構成を定める条件を定義したボリューム定義情報を、データベース設計情報に基づき生成する。 - 特許庁

To provide a reflective display device which attains the symmetry of drive voltages with the same width of scan electrodes and data electrodes, thus facilitating the design of drive waveforms, and which enables the same types of drive ICs to be used for the two electrodes, thus facilitating mass-productivity.例文帳に追加

スキャン電極とデータ電極の幅を同一にして駆動電圧の対称性を具現することにより、駆動波形の設計を容易にし、両方の電極に同種の駆動ＩＣを使用することができるようにして、量産性に優れた反射型表示装置を提供する。 - 特許庁

Design data is imported into a recipe extraction system 150, and the recipe extraction system 150 recognizes instances of target structures and configures recipe parameters accordingly, thereby reducing manual instrument setup time, improving inspection/measurement accuracy, and improving fabrication efficiency.例文帳に追加

設計データはレシピ抽出システム１５０に取り込まれ、該レシピ抽出システム１５０は、ターゲット構造のインスタンスを認識し、これに応じてレシピパラメータを構成し、これにより、マニュアルでの機器セットアップ時間を減少させ、検査/測定の精度を向上させ、製造効率を向上させる。 - 特許庁