| 例文 |
failure processの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 787件
To provide a solid electrolytic capacitor which can suppress a decrease in withstand voltage, an increase in leakage current and an increase in occurrence rate of short-circuit failure during an aging process, even when a separator density is reduced by heat treatment.例文帳に追加
熱処理によってセパレータの密度が小さくなった場合においても、耐電圧の低下、漏れ電流の増大、およびエージング工程におけるショート不良発生率の上昇を抑制し得る固定電解コンデンサを提供する。 - 特許庁
To confirm the operation contents of a plurality of operation processes with a series of pictures for failure analysis, design change, production facility improvement, and process situation monitor or the like even with respect to a product whose producing operation is completed.例文帳に追加
生産作業が完了した製品についても、不良解析、設計変更、生産設備の改善、工程状況の監視等のために、複数にまたがる作業工程の作業内容を一連の画像で確認することを可能にする。 - 特許庁
To provide a negative voltage boosting charge pump circuit for avoiding an activation failure accompanied by an increase in stages of a voltage boosting unit and reduction in current driving capability without complicating a process and increasing a chip size.例文帳に追加
本発明は、プロセスの複雑化やチップサイズの増大を招くことなく、昇圧ユニットの増段に伴う起動不良や電流駆動能力の低減を回避することが可能な負昇圧チャージポンプ回路を提供することを目的とする。 - 特許庁
The invention provides a method of decreasing cycle time of the forming process, while ensuring acceptable product properties and avoiding failures, by modeling the process using finite element analysis to establish a pressure-time history that optimizes the forming operation and applies failure limits to selected variables such as minimum wall thickness or maximum strain rate, and transferring this pressure-time history to a computer 320 controlling the forming process.例文帳に追加
有限要素解析を利用して、成形操作を最適化し最小限壁厚や最大限歪み率などの選択された変数に欠陥限界を適用する圧力時間履歴を確立するプロセスをモデル化し、成形操作を制御するコンピュータ320にこの圧力時間履歴を伝送することによって、受け容れ可能な製品特性を保証して欠陥を回避しつつ、成形プロセスのサイクル時間を減少させる。 - 特許庁
To provide a laminated steel sheet for coating/printing capable of preventing the occurrence of trouble such as transfer failure or the like in a coating/printing process after dry baking and a processing process thereafter caused heretofore by the warpage brought about at the time of dry baking of the laminated steel sheet wherein a thermoplastic resin film comprising polyethylene terephthalate is formed on one side of a steel sheet.例文帳に追加
鋼板の片面にポリエチレンテレフタレートからなる熱可塑性樹脂膜を形成したラミネート鋼板の空焼き時に発生する反りによって生じていた、空焼き後の塗装印刷工程およびその後の加工工程における搬送不良等のトラブルの発生を防止することができる塗装印刷用ラミネート鋼板を提供する。 - 特許庁
To provide an electrophotographic toner that prevents photographic fog due to the failure to charge even if printing is performed at a high printing rate using an ultrahigh speed printer whose process speed exceeds 1,000 mm/s and that reduces the rate of decrease in charge even if used over a long period of time; an electrophotographic developer using the toner; a process cartridge; and an image forming apparatus.例文帳に追加
プロセス速度が1000mm/sを超える超高速機において高印字率で印刷しても未帯電によるかぶり発生がなく、長期にわたる使用においても帯電低下の少ない電子写真用トナー及びそれを用いた電子写真用現像剤、並びに、プロセスカートリッジ及び画像形成装置を提供することである。 - 特許庁
To surely insulate a sample wherein a leakage failure has occurred before wafer burn-in without contaminating a plating tub or a plating liquid with a coating resin, in a semiconductor device subjected to wafer burn-in before a plating process and in a method for manufacturing the semiconductor device, which executes wafer burn-in before the plating process.例文帳に追加
めっき工程前にウエハーバーンインが実施された半導体装置において、また、めっき工程前にウエハーバーンインを実施する半導体装置の製造方法において、被膜樹脂によるめっき槽またはめっき液の汚染を発生させることなくウエハーバーンイン前にリーク不良が発生したサンプルを確実に絶縁させることが可能となる。 - 特許庁
In a failure inspection after each processing process such as film forming or etching or the like, when wafers of a set consisting of a plurality sheets of wafer are inspected, by changing the inspected wafer every for the set, failures generated in a specified wafer and failures generated irregularly are detected easily and early, and feedback to each processing process is facilitated.例文帳に追加
成膜やエッチングなどの各加工処理工程の後の不良検査において、複数枚でセットのウエハを検査する際に、セット毎に検査するウエハを変更することで、特定のウエハに生じやすい不良および不規則に生じる不良を簡便かつ早期に検出することができ、各加工処理工程へのフィードバックを容易にすることができる。 - 特許庁
To surely collect only a commodity group having the risk of a failure when inferior goods (for example, the deterioration of quality, the intrusion of a foreign matter or the tear of a packaging bag) are found after a packaging process and an extent of the failure is limited in commodities manufactured within a specific time before and after the date and time of manufacture, or to surely avoid shipping to the market.例文帳に追加
不良品(例えば品質低下、異物混入、包装袋の破れ等)が梱包工程後に発見され、不良の波及範囲がその製造日時の前後一定時間内に製造された商品に限定されるような場合にはその不良の虞のある商品群のみを市場から確実に回収し、或いは市場へ出荷されることを確実に回避できること。 - 特許庁
To provide an electrophotographic photoreceptor with good potential stability and where image failure such as black spots are not caused, that is to provide the electrophotographic photoreceptor provided with an intermediate layer where stability of repeated potential is good and not causing the image failure such as the black spots, an image forming apparatus and a process cartridge using the electrophotographic photoreceptor.例文帳に追加
本発明は電位安定性の良好な、かつ黒ポチ等の画像欠陥を発生しない電子写真感光体を提供する事であり、更に詳しくは黒ポチ等の画像欠陥を発生させない、繰り返し電位安定性が良好な中間層を有する電子写真感光体、及び該電子写真感光体を用いた画像形成装置、プロセスカートリッジを提供することにある。 - 特許庁
To provide a defect display label which is pasted near a defect part which is detected with a defect detecting device on a running wave-shaped packing material, without a failure in pasting, and is stably and surely detected in a following process.例文帳に追加
走行するウエブ状包装材を欠点検出装置で検出された不良箇所近傍に貼付される欠点表示ラベルが、貼り損じがなく、次工程での欠点表示ラベルの検知が安定して確実な欠点表示ラベルの提供にある。 - 特許庁
As a result, in the cleaning process of the first frame, foreign objects between the side section and the junction section can be removed, so that deterioration in the high-voltage quality in a color cathode-ray tube can be avoided and the welding failure in the first frame can be prevented.例文帳に追加
これにより、第1フレームの洗浄工程において、側面部と接合部との間の異物を除去することができるので、カラー陰極線管の高圧品質の劣化を抑制することができ、また第1フレームの溶接不良を防止できる。 - 特許庁
Since the organic materials are removed before the forming process of the base dielectric of the rear panel, generation of bubbles in the base dielectric can be prevented, and a failure such as a breakdown voltage defect and a partition wall forming defect can be prevented.例文帳に追加
背面板の下地誘電体形成工程前に有機物を除去することで、下地誘電体中への気泡の発生を防止することができ、絶縁耐圧不良や隔壁形成不良等の欠陥を防止することが可能となる。 - 特許庁
To enable the speedy ad definite discovery of the generation of failure, etc., by allowing the 100% inspection of recording media in the manufacturing process of the recording media and systematically recognizing the manufacturing history of the variations in deposition, etc., of a recording layer.例文帳に追加
記録媒体の製造過程において、記録媒体に対する全数検査を可能とし、記録層の成膜ばらつき等の製造履歴を体系的に把握できるようにして、故障の発生等を迅速に、かつ、的確に発見できるようにする。 - 特許庁
To provide a recording sheet for an inkjet printer which has a photographic printing paper-like gloss, is excellent in both ink absorbing speed and amount of ink absorption, and does not generate failure in film forming caused by cracking during drying in a manufacturing process of an ink receiving layer.例文帳に追加
写真印画紙調の光沢を有し、インク吸収速度及びインク吸収量に優れ、なおかつインク受容層製造工程において乾燥時のひび割れによる成膜不良を生じることのないインクジェットプリンター用記録シートを提供する。 - 特許庁
To provide a charging roll cleaner that effectively removes unnecessary matters adhering to a charging roll, a charging device that suppresses charging failure, a process cartridge that has the charging device, and an image forming apparatus that suppresses the occurrence of image defects.例文帳に追加
帯電ロールに付着する不要物を効果的に除去する帯電ロールクリーナ、帯電不良の発生が抑制された帯電装置、この帯電装置を備えたプロセスカートリッジ、および、画像欠陥の発生が抑制された画像形成装置を提供する。 - 特許庁
To provide an image forming apparatus, along with a process cartridge, capable of suppressing chipping of an elastic layer of a developing roller with an inexpensive constitution to thereby suppress the occurrence of a failure due to a cleaning blade, concerning the image forming apparatus employing a contact developing system.例文帳に追加
接触現像方式を採用する画像形成装置において、安価な構成によって現像ローラの弾性層の削れを抑え、クリーニングブレードによる不具合の発生を抑制することが可能な画像形成装置及びプロセスカートリッジを提供する。 - 特許庁
To solve the following problem: in a reflow process in component mounting, a board is partially lifted from a reception tool by being thermally deformed, or the suction force of a suction device in mounting the board is so strong that the board is distorted, whereby a mounting failure of the component occurs.例文帳に追加
部品実装時のリフロー工程において、基板が熱変形することにより部分的に受け治具から浮いてしまったり、基板載置時に吸引装置の吸引力が強すぎて基板が歪んでしまい部品の実装不良の原因となっている。 - 特許庁
To provide a method of manufacturing a laminated electronic component which can prevent failure due to a bonding process between electronic components, in manufacturing a laminate type electronic component by laminating a plurality of electronic components such as semiconductor elements.例文帳に追加
複数の半導体素子等の電子部品を積層して積層型電子部品を製造するにあたって、電子部品同士の接着工程に起因する不良発生を抑制する事を可能にした積層型電子部品の製造方法を提供する。 - 特許庁
If a failure occurs in the output device in a printing process, the output part 506 outputs data in the data format matching another output device excepting the failing output device to the output device serving as a new destination.例文帳に追加
プリント処理中の出力装置に障害が発生すると、出力部506は、その障害が発生した出力装置を除く別の出力装置に対応するデータ形式のデータを新たな出力先となる出力装置へ出力する。 - 特許庁
To provide an acrylic adhesive composition which enables to form an adhesive layer exhibiting excellent adhesion to a coating film, which is likely to cause adhesion failure due to bleeding of a surface modifying agent or the like, without requiring a cleaning process or the like.例文帳に追加
表面調整剤等のブリードにより接着不良を生じやすい塗膜に対しても、洗浄処理等を行うことなく、優れた接着性を発揮できる粘着剤層を形成しうるアクリル系粘着剤組成物を提供する。 - 特許庁
To provide a photomask and a method for manufacturing the photomask capable of suppressing reading failure of a mark pattern when a fine pattern figure is formed on a process object by using a transfer pattern composed of a semi-transmitting part and a light-transmitting part.例文帳に追加
半透光部と透光部で形成される転写パターンを用いて、被加工体に微細なパターン形状を形成する場合に、マークパターンの読み取り不良を抑制できるフォトマスク及びその製造方法を提供することを目的の一とする。 - 特許庁
To provide a grain drier capable of preventing a risk of ignition failure when a burner is reignited in a replenishing circulation operation during a drying operation to perform a drying process while efficiently suppressing uneven moisture with respect to grain in a high moisture zone.例文帳に追加
高水分域の穀粒について効率よく水分ムラを抑えて乾燥処理するために、乾燥運転の途中における補充循環運転の際のバーナ再着火時の着火不良リスクを回避することができる穀粒乾燥機を提供する。 - 特許庁
Even if the main control board is replaced with a fraudulent board during the power failure, this constitution can detect the fraud in the initialization process when applying the power so as to prevent a game parlor from sustaining disadvantage by the fraud.例文帳に追加
よって、電源断中に主制御基板が不正な基板に交換されても電源入時の初期化処理の中でその不正行為を検出することができ、不正行為によって遊技場が不利益を被ることを防止することができる。 - 特許庁
To prevent position failure of a negative electrode tab by minimizing deformation generating in a negative electrode plain part in a process winding a negative plate together with a positive plate and a separator in a jelly roll type electrode assembly and a secondary battery adopting this.例文帳に追加
ジェリーロール型の電極組立体とこれを採用した二次電池において、負極板が正極板及びセパレータと共に巻取られる過程で負極無地部に発生する変形を最小化して、負極タブの位置不良を防止する。 - 特許庁
To provide a method for inspecting a semiconductor device for easily managing the manufacturing process of a semiconductor device by electrically inspecting the film thickness of an insulating film, and for quickly and easily specifying the factor of failure.例文帳に追加
絶縁膜の膜厚を電気的に検査することによって、半導体装置の製造プロセスの管理を容易に行うことができ、さらに、不良原因の特定を速やかに、かつ簡易に行うことができる半導体装置の検査方法を提供する。 - 特許庁
To provide a developing device and a developing method for preventing failure caused by development and inexpensively providing a product by decreasing a contamination degree of a developing solution used in a developing process of a color filter to the limit.例文帳に追加
本発明は、カラーフィルタ現像工程において、使用する現像液の汚染度を極限まで下げることによって現像起因の不良を無くし、かつ、製品を安価に提供するための現像装置及び現像方法を提供することを課題とする。 - 特許庁
The effect on product production is avoided when a communication failure occurs by making a working machine arranged for each process read information and making a production line fluidize on the basis of a barcode printed on the work instruction label 1.例文帳に追加
そして、この作業指示ラベル1に印刷されたバーコードに基づき、工程毎に配置された加工機械に情報を読み取らせ生産ラインを流動させることにより、通信障害が発生した場合の製品の生産に対する影響を回避する。 - 特許庁
To provide a developing device capable of restraining cyclic density irregularity caused on an output image by the rotation of the carrying member of the developing device without making failure such as quickening the deterioration of developer, and to provide an image forming apparatus, a process cartridge and a device unit.例文帳に追加
現像剤の劣化を早める等の不具合なく、現像装置の搬送部材の回転によって出力画像に生じる周期的な濃度ムラが抑止される現像装置、画像形成装置、プロセスカートリッジ、及び、装置ユニットを提供する。 - 特許庁
The characteristic impedance inspection apparatus inspects an object to be inspected while winding off the object, winds up to a reel form after the inspection, and provides the manufacturing process for the feedback of the identification of failure causes or the information to adjust the manufacturing conditions based on the obtained product information.例文帳に追加
被検査物を巻き出しながら検査し、検査後にリール形態に巻き取り、検査によって得た製品情報をもとにして、不良原因の特定、或いは製造条件を調整する情報を製造工程へフィードバックすること。 - 特許庁
To obtain a color filter substrate which facilitates correction of a defect in a color filter portion, which does not require a plurality of times of inspection steps in the manufacturing process and which shows no display failure even when used for a liquid crystal display device after correcting a defect.例文帳に追加
カラーフィルタ部分の欠陥修正を容易に実現できるとともに、製造過程で複数回の検査工程を必要とせず、欠陥修正後に液晶表示装置に用いても表示が不良とならないカラーフィルタ基板の実現を課題とする。 - 特許庁
The ID of a product is used as a key, the process characteristic quantity data, a test data and a failure data are combined, and data for analysis that are generated by deleting invalid data in a data filter 10c is analyzed through data mining by an analysis part 10d to create a model.例文帳に追加
製品のIDをキーに、プロセス特徴量データと検査データ並びに故障データを結合し、データフィルター部10cにて不正データを削除して生成した解析用データを、解析部10dにてデータマイニングにより解析しモデルを作成する。 - 特許庁
The displacement amount of the lower block 11A, namely, the vertical deformation amount of the ram 112, is detected through the output of the position detector 100 by the crimping failure detector B and the detected displacement amount is defined as the specific value in a crimping process.例文帳に追加
位置検出装置100の出力により圧着不良検出装置Bで下ブロック11Aの上下方向の変位量(すなわちラム11の変形量)を検出し、検出された変位量を圧着過程での特性値とする。 - 特許庁
To prevent abnormal growth that occurs during second epitaxial growth by removing failure when substrate cleaning before the second epitaxial growth, during a manufacturing process of a compound dual wavelength laser product including two laser structures within a single chip.例文帳に追加
1チップ内に二つのレーザ構造を有する化合物二波長レーザ製品の製造過程における二回目のエピタキシャル成長前の基板洗浄における不具合を除去し、二回目のエピタキシャル成長時に発生する異常成長を防止する。 - 特許庁
In this way, an insufficient solder quantity due to the warpage deformation of a substrate in a reflow process can be filled, thereby preventing junction failure in mounting an electronic component on a substrate easily causing warpage deformation by solder junction.例文帳に追加
これにより、基板反り変形に起因してリフロー過程に生じる半田量の不足を補うことができ、反り変形を生じやすい基板に電子部品を半田接合によって実装する場合における接合不良を防止することができる。 - 特許庁
To enable the omission of a substantially unnecessary retry process when a C2 correction code of a product code system is processed, and also to attain the reduction of the data reproducing time and the minimization of a possibility of failure in the reproduction demand from an information processor.例文帳に追加
積符号形式のC2訂正符号を処理する場合に、実質的に不要なリトライ処理を省略できるようにすると共に、データ再生時間の短縮化及び、情報処理装置からの再生要求の失敗確率を最小化できるようにする。 - 特許庁
To provide an electronic component with bump electrode and a method for manufacturing it in which occurrence of open failure is appropriately reduced in a manufacturing process while a surface protecting insulating film having a sufficient film thickness and a bump part having a sufficient height are provided.例文帳に追加
充分な膜厚の表面保護用絶縁膜および充分な高さのバンプ部を具備しつつ、製造過程においてオープン不良の発生が適切に低減される、バンプ電極付き電子部品の製造方法とバンプ電極付き電子部品を提供する。 - 特許庁
To provide a liquid application method by which a process for applying a liquid such as flux to a substrate is simplified and the failure attributed to liquid application is eliminated and the uniform coating of even a warped substrate is achieved without necessitating the precision of a jig to be used for coating and processing accuracy.例文帳に追加
フラックス等の液体の基板への塗布工程を簡素化し、液体塗布が原因の不良をなくし、塗布に使用する治具の部品精度、加工精度を必要とせず、反りのある基板に対しても均一に塗布が可能な液体塗布方法を提供する。 - 特許庁
To provide a nonaqueous secondary battery superior in productivity and market reliability, regardless of existence of magnetism of impure materials mixed in a manufacturing process of a positive electrode, so that these impure materials will not cause internal short circuit failure in the battery.例文帳に追加
正極製造工程にて混入する不純物の磁性の有無に関わらず、電池内においてこれら不純物が内部短絡不良を引き起こさないよう根本的に対処し、生産性と市場信頼性に優れた非水系二次電池を提供する。 - 特許庁
With this method, since the communication clearance 61 can be stably formed, a rise of the internal pressure to be generated by thermal expansion of the air inside of the noise absorbing space 25 during a heat treatment process can be relaxed, and a formation failure due to a rise of the internal pressure can be restricted.例文帳に追加
この方法では、連通空隙61を安定して形成できるため、熱処理工程の際に吸音空域25内の空気が熱膨張することにより生ずる内圧上昇を緩和でき、該内圧上昇による成形不良を抑制できる。 - 特許庁
To provide a molding device of a bale of rubber capable of being easily maintained, preventing a metal component from being included into the bale of rubber, and preventing a failure of the molding device in a molding process of the bale of rubber, and a manufacturing method of the same.例文帳に追加
ゴムベールの成形工程において、メンテナンスが容易で、ゴムベールへ金属成分が混入することを防止することができると共に、成形装置の故障を防止することができるゴムベールの成形装置、およびゴムベールの製造方法を提供すること。 - 特許庁
To provide an image forming apparatus capable of reducing damage of an apparatus resulting from excessive application of a transfer current while reducing transfer failure resulting from the deficiency of application of the transfer current and a process cartridge which is to be mounted in the image forming apparatus.例文帳に追加
転写電流の印加の不足に起因する転写不良を低減しつつ、転写電流の過度の印加に起因する装置の損傷を低減することのできる画像形成装置、および、その画像形成装置に装着されるプロセスカートリッジを提供することにある。 - 特許庁
Accordingly, it is possible to minimize a displacement of a chip when cutting the wafer W in a dicing process, prevent a pickup failure caused by the displacement of each chip when a diced chip is picked up, and thus improve the manufacturing efficiency.例文帳に追加
従って、ダイシング工程でウェハWを切断した際のチップの移動を最小限に抑えることができるとともに、個片化したチップをピックアップする際の各チップの位置ずれに伴うピックアップ不良が防止でき、製造効率を向上させることができる。 - 特許庁
Accordingly, it is possible to minimize a displacement of a chip when cutting the wafer W in a dicing process, prevent a pickup failure caused by the displacement of each chip when a diced chip is picked up, and thus improve the manufacturing efficiency.例文帳に追加
従って、ダイシング工程でウェハWを切断した際のチップの移動を最小限に抑えることができるとともに、個片化したチップををピックアップする際の各チップの位置ずれに伴うピックアップ不良が防止でき、製造効率を向上させることができる。 - 特許庁
To eliminate failure of an unmeasurable state caused by idling of a screw in a measuring process even when molding specific molding materials easily molten at relatively low temperature, facilitate operation, reduce cost and enhance versatility and stability (reliability).例文帳に追加
比較的低い温度で溶融しやすい特定の成形材料を成形する場合でも、計量工程においてスクリュが空回りして計量不能になる不具合を解消し、また、実施の容易化及びコストダウンを図るとともに、汎用性及び安定性(信頼性)を高める。 - 特許庁
To form a transparent conductive film capable of carrying out electroless plating treatment in a short time, and reducing a defect caused by an adhesion failure of an electroless plated layer continuously by a simple process and inexpensively even in the case of a lengthy transparent conductive film.例文帳に追加
短時間で無電解めっき処理を行うことができ、無電解めっき層の付着不良による欠陥を低減することができ、しかも、長尺の透明導電膜であっても、連続的に簡単な工程で、且つ、安価に透明導電膜を作製できるようにする。 - 特許庁
To verify stability of an analogue circuit and to secure quality in the mass-production process, wherein waveform measurement and failure analysis of the analogue circuit, being difficult so far, are automatically performed for quicker and easier testing of the analogue circuit.例文帳に追加
従来は困難であったアナログ回路の波形測定及び不良解析を自動的に実現可能とすることで、アナログ回路の試験が短時間で且つ容易に行うことを可能とし、アナログ回路の安定性の検証及び大量生産工程での品質確保を図る。 - 特許庁
To provide a stable winding method in a long-sized film manufacturing process capable of providing a clear optical film without tarnish by decreasing failure such as abrasion caused by mutual tight adhesion of films wound in a roll form.例文帳に追加
ロールの形態に巻き取られフィルム同士が強く密着することに起因したスリ傷等の故障を減少させ、曇りのないクリアな光学用途のフィルムを得ることの出来る長尺フィルムの製造における安定な巻き取り方法を提供することにある。 - 特許庁
To provide an etching device and its monitoring method that can minimize the loss of an extremely expensive semiconductor element by rapidly finding the film quality change in an object to be etched and the fluctuations of process parameters caused by the failure in the etching device.例文帳に追加
被エッチング対象物の膜質変化やエッチング装置の異常に起因するプロセスパラメータの変動を逸早く発見することにより、非常に高価な半導体素子の損失を最小限に止めることが可能なエッチング装置及びエッチングのモニタリング方法を提供する。 - 特許庁
To reliably braze an insertion plate portion of an end plate and an insertion hole of a header tank while preventing insertion failure, by reducing a resistive force upon inserting the insertion plate portion in the process of inserting the insertion plate portion into the insertion hole to be brazed.例文帳に追加
エンドプレートの差し込み板部をヘッダタンクの差し込み孔に差し込んでろう付けする場合に、差し込み板部の差し込み時の抵抗力を小さくして差し込み不良を防止しながら、差し込み板部と差し込み孔とを確実にろう付けできるようにする。 - 特許庁
| 例文 |
| Copyright © Japan Patent office. All Rights Reserved. |
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|
|
ログイン |
Weblio会員(無料)になると
|