「mark test」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

Then, after making the probe holding substrate 30 capture the test substance, at least the mark substance is induced to the working electrode 51 to be electrochemically detected.例文帳に追加

そして、プローブ保持基板３０に被検物質を捕捉させた後、少なくとも標識物質を作用電極５１に誘引させ、電気化学的に検出する。 - 特許庁

The overlay mark includes at least one test pattern for determining a relative shift between a first and a second layer of a substrate in a first direction.例文帳に追加

重ね合わせマークは第１方向における基板の第１および第２レイヤ間の相対的ズレを決定する少なくとも一つのテストパターンを含む。 - 特許庁

An imaging unit 10 images an area including the contact mark of the probe for an electrode part of a semiconductor device 1 after a continuity test, and acquires its image.例文帳に追加

導通検査後の半導体装置１の電極部分について、撮像部１０がプローブの接触痕を含む領域を撮像し、その画像を取得する。 - 特許庁

To provide a precision gauge mark position creating jig free from breaking a test piece when forming a dent as a gauge mark position at which a rod end of an extensometer is to be fixed, and capable of improving a positional accuracy of the dent.例文帳に追加

伸び計のロッド先端を固定する標点位置としてのくぼみを形成する際に試験片を破損させることがなく、かつ、くぼみの位置の精度の向上を図った精密標点位置の作成治具を提供する。 - 特許庁

To provide an accurate test without being affected by a conditions hereinafter, even when a mark is not slightly perpendicular to a tensile- compression direction, or a test piece is not mounted on the tensile-compression direction.例文帳に追加

多少マ−クが、引張り・圧縮方向に垂直でなかったり、試験片が引張り・圧縮方向に装着されていない場合であってもその影響を受けず正確に試験することのできる非接触ビデオ式試験方法を提供する。 - 特許庁

Tips of the upper and lower pair of lever devices 20U and 20L are attached to a first gauge mark position of the test piece TP, and each of the upper and lower pair of lever devices 20U and 20L has a lever body rotating around a rotation shaft with the extension of the test piece TP.例文帳に追加

上下一対のレバー装置２０Ｕ，２０Ｌはそれぞれ、先端が試験片ＴＰの一の標点位置に取付けられ、試験片ＴＰの伸びに追従して回動軸の周りに回動するレバー本体を有する。 - 特許庁

The semiconductor device includes probe area marks 41a-41d each showing an area to contact the test probe to the electrode pad 4, limits the abutting area of the test probe in the electrode pad with a prob area mark, and elevates the reliability of bonding.例文帳に追加

電極パッド４にテストプローブを接触させるエリア示すプローブエリアマーク４１ａ〜４１ｄを備え、プローブエリアマークにより電極パッドにおけるテストプローブの当接領域を限定し、電極パッドに対するボンディング信頼性を高める。 - 特許庁

At the reference test i.e. wherein a tension is T_0, is performed no-load to the belt 1, a time t_A0 and a time t_B0 are measured, based on the detections by the front reflection mark 3 and the rear reflection mark 4 by the front optical sensor 5 and the rear optical sensor 6.例文帳に追加

張力Ｔ_０に設定して無負荷でベルト１を走行させる基準試験で、前光センサ５と後光センサ６による前反射マーク３と後反射マーク４の検知に基づいて時間ｔ_Ａ０と時間ｔ_Ｂ０を計測する。 - 特許庁

In the case of 3T space/4T mark, the 1st correction amount 4Tdtp is determined by test writing, and the 2nd correction amount T1d_3s4m is calculated by Tld_3s4m=(3Tdtp-4Tdtp) x 4/7.例文帳に追加

３Ｔスペース／４Ｔマークの場合、第１補正量４Ｔdtpは試し書きにより決定され、第２補正量Ｔld_3s4mは、Ｔld_3s4m＝（３Ｔdtp−４Ｔdtp）×４／７により算出される。 - 特許庁

An image recording apparatus obtains concentration data in a nozzle direction corresponding to a scan image position from non-ejection nozzle data obtained from a test chart for detecting non-ejection, scan image position data obtained from a standard mark 202 of a test chart for concentration correction, and concentration data obtained from a gray level part 201 of the test chart for concentration correction.例文帳に追加

不吐出検出用テストチャートから取得した不吐出ノズルデータ、濃度補正用テストチャートの基準マーク２０２から取得したスキャン画像位置データ、及び濃度補正用テストチャートのグレーレベル部分２０１から取得した濃度データから、スキャン画像位置対応ノズル列方向濃度データを取得する。 - 特許庁

The first invention has a step for recognizing a discrimination mark disposed corresponding to the semiconductor device, a step for determining a test program necessary for inspection of the semiconductor device following correspondence relation set beforehand based on the recognized discrimination mark, and a step for inspecting the semiconductor device based on the determined test program.例文帳に追加

第一の発明では、半導体デバイスに対応して配設されている識別マークを、認識するステップと、当該認識した識別マークに基づいて、予め設定された対応関係に従って、半導体デバイスの検査に必要なテストプログラムを、決定するステップと、当該決定したテストプログラムに基づいて、半導体デバイスを検査するステップとを、備えている。 - 特許庁

A recording pulse condition for the shortest recording mark in a recording pulse standard condition is changed to perform test writing on an optical disk (S2 and S3), the test writing is reproduced (S4), and a recording pulse condition for making reproduced signal quality good is selected (S5).例文帳に追加

記録パルス標準条件における最短の記録マークに対する記録パルス条件を変化させて、光ディスク上に試し書きを行い（Ｓ２、Ｓ３）、試し書きを再生し（Ｓ４）、再生信号品質の良くなる記録パルス条件を選択する（Ｓ５）。 - 特許庁

Test data including a data row having at least one of consecutive multi-valued data forming a recording mark on a recording surface among M kinds of multi-valued data, are written on trial (steps 621-633) on a test writing area while changing stepwise a recording pulse width.例文帳に追加

Ｍ種類の多値化データのうち、記録面に記録マークが形成される少なくとも１つの多値化データが連続したデータ列を含むテストデータを、試し書き領域に記録パルス幅を段階的に変更しつつ試し書きする（ステップ６２１〜６３３）。 - 特許庁

To provide an optical information recording device which is capable of precisely determining the optimum value of an edge position of recording pulse by minimizing the influence of mark distortion caused when a test signal is overwritten on a recording mark already recorded on an optical disk.例文帳に追加

光ディスク上に既に記録されている記録マークにテスト信号がオーバーライトされることによって生じるマーク歪みの影響を小さくして、記録パルスのエッジ位置の最適値を精密に決定することが可能な光学的情報記録装置を提供する。 - 特許庁

Therefore, it is unnecessary to obtain a correction amount by performing test writing on all the combinations of the space length and mark lengths, but the write strategy can be built simply and suitably.例文帳に追加

このため、スペース長／マーク長の全ての組み合わせについて試し書きを行って補正量を求める必要がなく、簡易的且つ適切にライトストラテジを構築することができる。 - 特許庁

When the result of grading indicates a passing mark, the test server 1 associates the user identifier, the declaration skill item and the declaration level and registers them in a user management database in order to manage user's skill.例文帳に追加

採点の結果が合格点を表す場合、テストサーバ１は、ユーザのスキルを管理するために、ユーザ識別子、申告スキル項目、申告レベルを対応付けてユーザ管理データベースに登録する。 - 特許庁

To evaluate lubricity of DME (DiMethyl Ether) by pressurizing the DME to keep it liquid and together rubbing two metallic test pieces in a therein immersed state to observe an abrasion mark.例文帳に追加

ＤＭＥ（ジメチルエーテル）の潤滑性を評価するため、ＤＭＥに圧力をかけて液体に保持し、その中に浸漬した状態で２つの金属試料片を互に擦り合わせ摩耗痕を見る。 - 特許庁

All offset parameters of an exposure device, a superposition measuring instrument, etc. are reset to 0, and a test wafer is precedently exposed by using a complementary divided mark, in which a design pattern is divided into M blocks.例文帳に追加

露光装置、重ね合わせ測定器等のオフセットのパラメータを全て０にリセットし、設計パターンがＭ個のブロックに分割された相補分割マークを使って試験ウエハに先行露光する。 - 特許庁

An electrode substrate 20 with a working electrode 51, a counter electrode 53, and a probe holding substrate 30 having a probe for capturing a mark binding substance in which the test substance or a binding substance for capturing the test substance is marked by a mark substance on a substrate body 30a are used, and the electrode substrate 20 and the probe holding substrate 30 are oppositely arranged with a predetermined gap.例文帳に追加

作用電極５１を備えた電極基板２０と、対極５３と、被検物質またはこの被検物質を捕捉する結合物質が標識物質で標識された標識結合物質を捕捉するためのプローブを基板本体３０ａ上に有するプローブ保持基板３０とを用い、電極基板２０とプローブ保持基板３０とを、所定の間隙を介して対向配置させる。 - 特許庁

To provide a wind tunnel model dispensing with mark formation on each model and both calibration tests of a sensor and a magnetic force, by forming a mark to be provided inside the model on another body than a contour body in order to measure the position or the attitude of the model from the outside in a wind tunnel test of a magnetic force support type.例文帳に追加

磁力支持式の風洞試験において、模型の位置や姿勢を外部から測定するため、模型内部に設けられるマークを外形体と別体化することで、模型毎のマークの形成とセンサ及び磁力の両較正試験を不要とする風洞模型を提供する。 - 特許庁

When not only a probe-mark is formed on an electrode pad for electrical conduction in performing the electrical characteristics test but also foreign matters are mixed, the probe-mark and foreign matters are separated by a series of treatments such as a binarization of the electrode pad image, a labeling treatment, a hole filling treatment and a histogram calculation.例文帳に追加

電気的特性検査をおこなった時の通電のために電極パッド上に形成される針痕だけでなくその他異物が混在している場合において、電極パッドの画像を２値化、ラベリング処理、穴埋め処理、ヒストグラム算出という一連の処理により針痕と異物とに分類する。 - 特許庁

Article 29 (1) A verification mark shall, pursuant to the provisions of Ordinance of the Ministry of Land, Infrastructure, Transport and Tourism, be affixed onto any meteorological instruments that have passed a verification test. However, this shall not apply to those meteorological instruments difficult to affix a verification mark to for their structural reasons which are specified by Ordinance of the Ministry of Land, Infrastructure, Transport and Tourism. 例文帳に追加

第二十九条　検定に合格した気象測器には、国土交通省令の定めるところにより、検定証印を付する。ただし、その構造上検定証印を付することが困難な気象測器であつて、国土交通省令で定めるものについては、この限りでない。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

By constituting the mark body 3 separately from the contour body 2, the mark 5 formation on each model and the calibration tests on the sensor and the magnetic force can be omitted, and the wind tunnel model 1 can be manufactured at low cost and the wind tunnel test can be performed efficiently both in time and in cost system 5 of the light receiving element 6.例文帳に追加

マーク体３を外形体２とは別構成とすることで、模型毎のマーク５の形成やセンサ及び磁力についての較正試験を省略して、風洞模型１を低コストで製作し、風洞試験を時間的・コスト的に効率良く実施することができる。 - 特許庁

The overlay precision is calculated using the positional information of first interference fringes and second interference fringes formed by acquiring a first image and a second image from the first mark 110 and the second mark 120, and by overlapping a test image having a third pitch on the first image and the second image.例文帳に追加

オーバーレイ精度は第１マーク１１０及び第２マーク１２０から第１イメージ及び第２イメージを取得し、第１イメージ及び第２イメージ上に第３ピッチを有するテストイメージを重ねることで形成された第１緩衝縞及び第２干渉縞の位置情報を用いて算出される。 - 特許庁

The regulations must indicate the person authorized to use the mark, the characteristics to be certified by the mark, how the certifying body is to test those characteristics and to supervise the use of the mark, the fees (if any) to be paid in connection with the operation of the mark and the procedures for resolving disputes. Further requirements with which the regulations have to comply may be imposed by rules. 例文帳に追加

当該規定には，当該標章の使用を許可された者，当該標章が証明されるべき特徴，認証機関が当該特徴を試験する方法及び，当該標章の使用を管理する方法，当該標章の運用に関係して納付すべき手数料(ある場合)及び紛争解決の手続を明示しなければならない。当該規定が満たされなければならない更なる要件を規則により課すことができる。 - 特許庁

Confirmation test problems for confirming comprehension of the contents of a unit are previously registered in a test database 27, and a completion date and a completion mark filled in for each of the learner's ID, learning course, and unit according to the progress of learning are registered in a learning history database 24.例文帳に追加

単元の内容の理解を確認するための確認テスト問題を予めテストデータベース２７に登録しておき、学習の進行に従って学習者のＩＤ毎，学習コース毎および単元毎に記入されていく履修日付と履修マークを学習履歴データベース２４に登録する。 - 特許庁

To provide a mark setting method for easily setting a plurality of marks on a surface of a specimen when the marks are used for measuring the quantity of a deformation in the specimen during a tensile test.例文帳に追加

引張試験等において試験片の変形量を測定する際に用いられる複数の標点を、試験片の表面に容易に設定することができる標点設定方法を提供する。 - 特許庁

When roll paper 220 for issuing detailed slip is set, a detailed slip issuing device prints a test pattern TP on roll paper 220 by a print head 218, and decides the suitability of print by a mark detecting sensor 212.例文帳に追加

明細票発行装置は、明細書発行用のロール紙２２０がセットされると、印字ヘッド２１８によって、ロール紙２２０にテストパターンＴＰを印刷し、マーク検知センサ２１２で印字の適否を判定する。 - 特許庁

This resin film used as the end mark of the adhesive tape is characterized by applying a corona treatment to the surface of a resin film to give a wetting degree of ≥40 mN/m by a specific wetting degree test.例文帳に追加

接着テープのエンドマークとして用いられる樹脂フィルムであって、その表面はコロナ処理を施されて、特定のぬれ性試験によるぬれ性が４０ｍＮ／ｍ以上であるエンドマーク用樹脂フィルム。 - 特許庁

(3) A verification mark to be affixed to the measuring instruments specified by the Cabinet Order set forth in Article 19, paragraph 1 or Article 106, paragraph 1 shall indicate the year and the month in which the verification test was conducted. 例文帳に追加

３　第十九条第一項又は第百十六条第一項の政令で定める特定計量器の検定証印には、その検定を行った年月を表示するものとする。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

The semiconductor device comprises an electrode pad 4 with which a test probe 21 is brought into contact for carrying out probe inspection, a bonding area mark 7a for defining the bonding area wherein wire bonding is performed to the electrode pad 4, and a probe area mark 7b for defining a probe repair area wherein the test probe 21 is repaired or exchanged to the electrode pad 4.例文帳に追加

本発明の一態様にかかる半導体装置は、プローブ検査を行うためのテストプローブ２１が当接される電極パッド４を備える半導体装置であって、電極パッド４に対してワイヤボンディングを行うボンディングエリアを定義するためのボンディングエリアマーク７ａと、電極パッド４に対してテストプローブ２１を修理又は交換するためのプローブ修理エリアを定義するためのプローブエリアマーク７ｂとを備えるものである。 - 特許庁

A test bench mark converting means 6 converts an instruction description which executes a bus access sequence having no dependency on a bus in a bus access sequence file 1 into a test bench mark 7 corresponding to a bus specified by a bus specification file 2 according to a bus protocol library selected by a bus protocol library selecting means 5 in a bus protocol library 3 wherein bus protocol information depending upon buses is described.例文帳に追加

テストベンチ変換手段６により、バスアクセスシーケンスファイル１におけるバスに依存しないバスアクセスシーケンスを実行する命令記述を、バス指定ファイル２により指定されたバスに対応して、バスに依存するバスプロトコル情報を記述したバスプロトコルライブラリ３のうちからバスプロトコルライブラリ選択手段５により選択されたバスプロトコルライブラリに基いて、指定されたバスに対応するテストベンチ７に変換する。 - 特許庁

To improve junction reliability for a bonding wire or a bump by shifting the bonding position from a probe mark, with test pads provided in a surplus gap between bonding pads formed by making the bonding pads in a staggered arrangement.例文帳に追加

ボンディング用パッドを千鳥状に配列することによって生じたボンディング用パッド間の余剰な間隙にテスト用パッドを設け、ボンディング位置とプローブ痕をずらすことにより、ボンディングワイヤまたはバンプの接合信頼性の向上を図ること。 - 特許庁

To decide optimum recording power which forms a good mark and a good space in test recording under the limited condition for an optical information recording medium in which manufacturer recommended recording power and also recording power of the previous time are recorded.例文帳に追加

メーカー推奨記録パワーが記録され、かつ、前回の記録パワーが記録されている光情報記録媒体に対して、限られた条件でのテスト記録で、良好なマーク及びスペースを形成する最適記録パワーを決定する。 - 特許庁

In a printing control part, a test printing mode is provided whereby a solid image is printed as a test image to one side surface of the recording paper (process in step 4 is carried out), and a predetermined mark is printed to a specific position which passes a printing position at the time of the switching operation of the one side surface (processes in step 8 and step S9 are carried out).例文帳に追加

プリント制御部において、記録紙の一側面にテスト画像としてベタ画像を印刷する（ステップ４の処理を実行する）とともに、該一側面のうち踏換え動作時に印刷位置を通過する特定位置に所定マークを印刷する（ステップ８及びステップＳ９の処理を実行する）テスト印刷モードを備えるようにした。 - 特許庁

The optical disk drive includes: an optical part for emitting a main beam, the preceding beam and the following beam to form a recording mark and receiving reflected light from an optical disk; a means for playback test information recorded by the main beam with the following beam; and a means for extracting a prescribed portion of the test information from a playback signal of the following beam.例文帳に追加

メインビームと先行サブビームと後行サブビームを照射し光ディスクに記録マークを形成し、光ディスクからの反射光を受光する光学部と、前記メインビームで記録したテスト情報を後行サブビームで再生する手段と、後行サブビームの再生信号からテスト情報の所定の部分を抽出する手段とを具備する光ディスク装置。 - 特許庁

When positional relation between the mark electrodes 24m, 25m and 26m and the rectangular hole 43 is checked after the piezoelectric actuator is laid fixedly onto the cavity plate, positional shift can be detected directly and easily without printing a test pattern.例文帳に追加

このため、圧電アクチュエータをキャビティープレートに積層固定した後、マーク電極２４ｍ，２５ｍ，２６ｍと角孔４３との位置関係を調べれば、テストパターンを印刷しなくても、上記位置ずれ量を容易にかつ直接正確に検出することができる。 - 特許庁

To further improve accuracy of a test write power and to secure an optimum power margin by producing an optimum recording mark in a whole zone area of a disk, without being affected to the utmost by the thermal interference due to a linear velocity for every zone while unnecessitating a complicated algorithm or special constitution.例文帳に追加

複雑なアルゴリズムや特別な構成を要せずに、ゾーン毎の線速度による熱的干渉を極力受けず、テストライトパワーのさらなる精度向上およびディスクのゾーン全域で最適な記録マークを生成し最適なパワーマージンを確保する。 - 特許庁

Provided is the charged particle beam lithographic system where stage acceleration conditions are decided to draw a mark for a test substrate on a scan or the test substrate, and decision as to whether the substrate displacement has occurred is carried out, if the cumulative frequency data of the difference between the scanned result and reference coordinate or the drawing reproducibility is worse than the prestored cumulative frequency data or the reproducibility index data.例文帳に追加

ステージの加速条件を設定し、テスト用基板のマークをスキャンまたはテスト用基板に描画し、スキャン結果と基準となる座標の差分の累積度数データまたは描画の再現性が、予め記憶されている累積度数データまたは再現性の指標データよりも悪ければ、基板ずれが生じている判断することが可能な荷電粒子ビーム描画装置を提供する。 - 特許庁

To provide a contact for electric test of a semiconductor device which is not give a contact mark and damage in a solder ball, corresponding to variation in the dimensions which occurs by the solder ball, such as, in BGA and CSP package of the semiconductor, and also having a proper electrical contact.例文帳に追加

半導体のＢＧＡやＣＳＰパッケージなどの半田ボールで起きている寸法のバラツキに対応して、電気的接触が良好な、且つ、半田ボールに接触痕やダメージを与えることの少ない半導体装置の電気テスト用接触子を提供すること。 - 特許庁

And semiconductor chips 11-1, 11-2 are formed by making a semiconductor wafer divide into individual pieces in such a way that at least one side between a positioning mark of the dicing line and the test pads is mechanically diced at a width narrower than an exposure area 18 of the laser.例文帳に追加

そして、ダイシングラインの位置合わせマーク及びテストパッドの少なくとも一方上に対してレーザの照射領域１８よりも狭く機械的なダイシングを行うことにより、半導体ウェーハを個片化し、半導体チップ１１−１，１１−２を形成する。 - 特許庁

The making needle 22 puts a distinguishable mark on the specific region SA of the chip region CHIP according to the test results when the probe touches the semiconductor wafer WF and only when the circuit board 12 (probe card 124) is brought near to the wafer WF (chip region CHIP).例文帳に追加

このマーキング針２２は、探針２１の接触時その試験結果に応じてさらに回路基材１２（プローブカード１２４）とウェハＷＦ（チップ領域ＣＨＩＰ）を接近させた時にのみチップ領域ＣＨＩＰの特定領域ＳＡに識別可能な傷跡を付ける。 - 特許庁

To provide a 300 mm test wafer, in which the evaluation of a performance data for a semiconductor manufacturing apparatus, and an evaluation apparatus, etc. is ensured, and the design specification inhibits layer peeling within a laser mark, and the damage to the surface is not produced after a CMP processing.例文帳に追加

半導体製造装置、評価装置などの性能データ評価を確実にするための３００ｍｍテストウエハであり、レーザマーク内で膜剥離が生じない設計仕様とし、ＣＭＰ処理後に表面の傷が生じない３００ｍｍテストウエハを提供する。 - 特許庁

When a test sheet is set in a print cutter (Yes in S1), the origin point of the cutter is detected (S2 to S3) by cutting a crop mark by the cutter and, when a sheet for cutting is set (Yes in S4), the origin point of the printing part is detected (S5 to S6).例文帳に追加

印刷切断装置で、試験用シートがセットされると（Ｓ１でＹｅｓ）、カッタにクロップマークをカットさせることによりカッタの原点位置を検出し（Ｓ２〜Ｓ３）、カッティング用シートがセットされると（Ｓ４でＹｅｓ）、プリント部の原点位置を検出する（Ｓ５〜Ｓ６）。 - 特許庁

In an electrical test device of a wafer, a light source 46 is incorporated in a laminate of a ceramic substrate 36 and a sheet-like substrate 38 facing an inspection stage, and a mark member 44 for making a portion of light of the light source 46 pass therethrough is installed on the facing surface of the laminate.例文帳に追加

ウエーハの電気的試験装置において検査ステージに対向しているセラミック基板３６とシート状基板３８との積層体中に光源４６を内蔵させ、前記対向面にはこの光源４６の光の一部を通過させるマーク部材４４を設置する。 - 特許庁