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measuring processの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 1250件
The method for uniformizing the ion implantation process includes a step of measuring the critical dimension (CD) variation in the semiconductor wafer, a step of moving the semiconductor wafer to the ion implantation process in a secondary mode, and a step of controlling the moving speed of the semiconductor wafer so that an implantation dose quantity to the semiconductor wafer is changed on the basis of the variation of the CD.例文帳に追加
半導体ウエハの限界寸法(CD)の変動を測定するステップ、イオン注入プロセス中に2次元モードで前記半導体ウエハを移動するステップ、及び、前記半導体ウエハへの注入ドーズ量は前記CDの変動に基づいて変化されるように前記半導体ウエハの移動速度を制御するステップを含むイオン注入均一のための方法。 - 特許庁
The measuring method for the valid optical path comprises: (a) a process of using the mask and projecting the light passed through a projection lens on a photosensitive element in a defocus state in the aligner; and (b) a process of detecting at least one of the pupil shape of the aligner and a diffracted light distribution on a pupil surface from an image projected on the photosensitive element.例文帳に追加
有効光路の測定方法は、(a)露光装置において、上述のマスクを用い、投影レンズを通った後の光をデフォーカスの状態で感光素子上に投影する工程と、(b)前記感光素子上に投影された像から露光装置の瞳形状、瞳面上の回折光分布の少なくとも一方を検出する工程と、を含む。 - 特許庁
The recombination life time of the epitaxial layer or the SOI layer is obtained by employing a first recombination life time measured after applying a first surface non-activation process with respect to the wafer, and a second recombination life time measured after applying a second surface non-activation process with respect to the wafer after measuring the first recombination life time.例文帳に追加
エピタキシャル層またはSOI層の再結合ライフタイムを、前記ウェーハに対して第一の表面不活性化処理を行った後に測定される第一の再結合ライフタイムと、前記第一の再結合ライフタイム測定後のウェーハに対して第二の表面不活性化処理を行った後に測定される第二の再結合ライフタイムを用いて求める。 - 特許庁
The printing control method of a dot impact printer which performs printing by impact printing by selectively projecting and withdrawing a plurality of wires provided in the recording head, has a wear measuring process to measure the amount of wear of the recording wires and the impact printing timing correction process to correct the impact printing timing of the recording wires.例文帳に追加
記録ヘッドに設けた複数の記録ワイヤを選択的に出没させて、印打による印刷を行うドットインパクトプリンタの印刷制御方法において、複数の記録ワイヤの磨耗量をそれぞれ測定する磨耗量測定工程と、測定した磨耗量に基づいて、各記録ワイヤの印打タイミングを補正する印打タイミング補正工程と、を備えた。 - 特許庁
The quasi-peak detector 1 includes a digital charge filter 4 simulating a process regarding a charge capacitor, a digital discharge filter 8 simulating a process regarding a discharge capacitor, and a digital attenuation filter 6 connected downstream of the digital charge filter 4 and the digital discharge filter 8 and simulating an attenuation responsiveness of a measuring device.例文帳に追加
この準尖頭値検出器1は、充電コンデンサに関するプロセスをシミュレーションするディジタル充電フィルタ4、放電コンデンサに関するプロセスをシミュレーションするディジタル放電フィルタ8、ディジタル充電フィルタ4及びディジタル放電フィルタ8の下流に接続された、計測装置の減衰応答をシミュレーションするディジタル減衰フィルタ6を含む。 - 特許庁
The method of measuring flatness comprises a depositing process in which the electrooptic panel for measurement, which comprises an electrooptic substance filled between a pair of substrates, on an object to be measured which needs flatness and an evaluating process in which the flatness of the object to be measured is indirectly evaluated by color unevenness of the electrooptic panel.例文帳に追加
平坦性を必要とする測定対象物上に、一対の基板に電気光学物質を封入してなる測定用電気光学パネルを配置する配置工程と、上記測定対象物の平坦度を、上記電気光学パネルの色むらで間接的に評価する評価工程と、を有することを特徴とする平坦度測定方法を提供する。 - 特許庁
The system works with measuring process ST10-ST12 to measure the elapsed time from the start of the stopped condition when operated condition of the automobile is changed into the stopped condition and a prohibiting process ST2 to set the starting motion of the automobile to the prohibited condition by controlling the start control parts 10 and 11 when the elapsed time exceeds the admissible time Tm.例文帳に追加
自動車が運転状態から停止状態に変化すると、停止状態の開始からの経過時間を計測する計測処理ST10〜ST12と、経過時間が許容時間Tmを超えると、始動制御部10,11を制御して自動車の始動動作を禁止状態に設定する禁止処理ST2とを設けた。 - 特許庁
When a bias setting process is executed, a CPU of the laser printer confirms the value of a printing number of pieces measuring counter (S110), reads each value for the developing bias, the transfer current and the brush voltage corresponding to the count value (S120) and executes printing process by that developing bias, transfer current and the brush voltage (S160).例文帳に追加
レーザプリンタのCPUは、バイアス設定処理を実行すると、印刷枚数計測カウンタの値(現在までの印刷枚数)を確認し(S110)、制御テーブルから、カウント値に対応する現像バイアス、転写電流、及びブラシ電圧の各値を読み出し(S120)、その現像バイアス、転写電流、及びブラシ電圧にて、印刷処理を実行する(S160)。 - 特許庁
To provide a biosensor, a measuring method by the biosensor, and a biosensor device dispensing with a process for manifestation/refining of the whole membrane protein receptor, and furthermore a process for reformation into a lipid membrane, dispensing with providing a label on a ligand molecule, and resultantly capable of omitting many operation processes for measurement, and performing measurement with a small quantity of sample.例文帳に追加
膜タンパク質レセプター全体の発現・精製の過程、更には、脂質膜への再構成の過程が不要で、リガンド分子にラベルを設けることも不要となり、結果として、測定のために多くの操作工程を省略でき、少量の試料での測定が可能なバイオセンサー、バイオセンサーによる測定方法及びバイオセンサー装置を提供する。 - 特許庁
This method for monitoring a plasma chamber includes steps of: measuring an optical characteristic of plasma generated in the plasma chamber including a window in a predetermined measurement wavelength band (S10); extracting a process status index from the measured optical characteristic (S30); and thereafter determining a state of the plasma chamber by analyzing the extracted process status index (S50).例文帳に追加
ウィンドウを有するプラズマチャンバ内に生成されるプラズマの光学的特性を所定の測定波長帯域で測定(S10)し、前記測定された光学的特性から工程状態指数を抽出(S30)した後、前記抽出された工程状態指数を分析(S50)して、前記プラズマチャンバの状態を判断するステップを含む。 - 特許庁
To provide a method of manufacturing a highly precise elastic roller having a small surface defect by measuring an electric resistance of the roller during a molding process and controlling a molding device by the measured value to possess small irregularity and a uniform resistance value in the elastic roller used for an image forming apparatus using an electrophotographic process.例文帳に追加
本発明は電子写真プロセスを利用した画像形成装置に用いる弾性ローラにおいて、成形工程時にローラの電気抵抗を測定し、その測定値で成形装置を制御することによってばらつきが少なく均一な抵抗値をもち、さらに表面欠陥の少ない高精度な弾性ローラを製造する方法を提供することにある。 - 特許庁
To provide a method and a device used for accurately measuring dynamic deformation, vibration, distortion or the like of an observing object by using an electronic speckle interferometry, and capable of facilitating a phase unlapping process to an extent allowing detection of a connection point of a phase change curve to be automated in executing the phase unlapping process of the phase change curve in a time domain.例文帳に追加
電子的スペックル干渉法を用いて、観察物体の動的な変形、振動、歪等を高精度に計測する方法および装置において、時間領域における位相変化曲線の位相アンラッピング処理を行う際に、該位相変化曲線における位相の接続点の検出を自動化する程度まで容易なものとする。 - 特許庁
This manufacturing method of the imprinting mold for transferring a pattern to the sol-gel material includes a process for measuring the deformation quantity due to the curing shrinkage of the sol-gel material, a process for performing the simulation of the pattern shape of the material transferred from the mold using the measured deformation quantity and a process for forming the pattern shape of the mold calculated by simulation.例文帳に追加
本発明は、パターンをゾルゲル材料へ転写するためのインプリント用モールド製造方法であって、ゾルゲル材料の硬化収縮による変形量を測定する工程と、前記測定した変形量より、モールドから転写される材料のパターン形状のシミュレーションを行う工程と、前記シミュレーションより算出されたモールドのパターン形状を形成する工程とを行うことを特徴とするインプリント用モールド製造方法である。 - 特許庁
To solve the problem that it is further necessary to secure an area for a transfer part and an addition part and to process wiring for driving when a distance measuring area and an imaging area are enlarged, and therefor chip size is increased and the degree of freedom of sensor layout is decreased.例文帳に追加
測距エリアや撮像エリアの拡大を行う場合、転送部や加算部の面積の確保や駆動のための配線処理などが更に必要になるため、チップサイズの増加や、センサレイアウトの自由度が狭められるという問題を解決する。 - 特許庁
To prepare a toner for providing a high image quality excellent in dot reproducibility and to allow stable manufacturing thereof, by using a powder evaluation device of high flowability precision free from dispersion of a data by a measuring person, and to provide a developing method, a developing device, a process cartridge and an image forming device using the toner.例文帳に追加
流動性の精度の高い、測定者によるデータのバラツキが生じない粉体評価装置を用いることにより、ドット再現性の良い高画質が得られるトナーを作製し、安定して生産できるようにすることを課題とする。 - 特許庁
The device tip position controller obtains information, such as the position of the device tip from a camera 148 and execute process, including initial measurement region split step, image processing step, verification step, redivision step, coordinate administration step and another reference measuring point selection step.例文帳に追加
デバイスチップ位置制御装置は、デバイスチップの位置等の情報をカメラ148から取得して、初期測定領域分割ステップ、画像処理ステップ、検定ステップ、再分割ステップ、座標管理ステップ及び別基準測定点選定ステップを含む処理を実行する。 - 特許庁
The aluminum alloy material in which no generation peak at ≤550°C can be practically seen in the cooling curve from melt obtained by measuring thermal change in the solidification process of the aluminum alloy material to be welded by means of differential thermal analysis can be provided.例文帳に追加
溶接されるアルミニウム合金材の凝固過程における熱的変化を示差熱分析により測定して得られた融液からの冷却曲線において、550 ℃以下における発熱ピークが実質的に認められないアルミニウム合金材とすることである。 - 特許庁
A user of the pedometer for running wears a pedometer body 201 on the back of the left wrist by the strap, starts a step measuring process using an input means 109, starts to run, and starts to measure steps.例文帳に追加
走行用歩数計の使用者は、ベルトによって自身の左手首甲側に歩数計本体201を装着して、入力手段109により歩数計測処理を開始させると共に、走行を開始することにより歩数の計測を開始する。 - 特許庁
A process changing signal or a measured value of a VOC concentration measuring apparatus 13 in the manufacturing and treatment processes of various products generating VOC containing exhaust gas is inputted, and a set gas temperature for controlling a furnace is outputted by a controller 10.例文帳に追加
VOC含有排ガスを発生させる各種製品の製造・処理工程における工程変更信号又はVOC濃度計測器13の計測値を入力し、制御装置10により火炉制御用設定ガス温度を出力する。 - 特許庁
In this control process, the control unit 20 controls so as to compensate for a measurement error in the air flow meter 33, with respect to a supply amount of the cathode gas which is obtained based on the amount of the moisture trapped in the cathode exhaust gas by the trapped-moisture-amount measuring unit 42.例文帳に追加
この制御処理において、制御部20は、捕水量計測部42がカソード排ガスからトラップした水分量から得られるカソードガスの供給量に対するエアフロメータ33の計測誤差が補償されるように制御する。 - 特許庁
The exposure resistance evaluation method of the soybean oil includes: a step of measuring a 2,3-octanedion concentration in the exposed soybean oil; and a step of evaluating the exposure resistance of the soybean oil based on the 2,3-octanedion concentration measured in the process.例文帳に追加
曝光させた大豆油中の2,3−オクタンジオン濃度を測定する工程と、前記工程で測定された2,3−オクタンジオン濃度に基づいて大豆油の曝光耐性を評価する工程とを含むことを特徴とする大豆油の曝光耐性評価方法。 - 特許庁
A measuring DSP 29 automatically changes a cut-off frequency of a low pass filter process conducted for acquired configuration data according to a sampling frequency calculated based on a scanning velocity and a sampling interval inputted from a keyboard 19.例文帳に追加
測長用DSP29が、得られた形状データに対して施すローパスフィルタ処理のカットオフ周波数を、キーボード19から入力された走査速度およびサンプリング間隔に基づいて算出されるサンプリング周波数に応じて自動的に変更する。 - 特許庁
A second measuring process is performed, in which, with the outer ring 3 fixed and an inner ring 7 is pressed in the axial direction, the inner ring 7 is rotated and vibration in a rolling surface 2 on the other end 3b side in the axial direction of the outer ring 3 is measured during the rotation.例文帳に追加
外輪3を固定して、内輪7をアキシャル方向に加圧した状態で、内輪7を回転させて、回転中に外輪3の軸方向他端部3b側の転走面2における振動を測定する第2測定工程を行う。 - 特許庁
That is, a beam space diversity process is carried out, and in a region where multi-paths in directions of sea surface or the like are easily accepted, a plurality of beams to be received having different directional elevation angles are formed for one target, and angle measuring processes are performed respectively.例文帳に追加
すなわちビームスペースダイバーシティ処理により、海面などの方向のマルチパスを受けやすい領域に対して、1つの目標に対して指向仰角の異なる複数の受信ビームを形成し、その各々について測角処理を行う。 - 特許庁
In an etching process for forming a diaphragm and the like, the film thickness D of the diaphragm 2 is detected by performing irradiation with a laser beam from a laser beam source 3 while varying its wavelength and performing frequency analysis of the intensity of its reflected light for measuring an etching quantity.例文帳に追加
ダイヤフラムなどを形成するためのエッチング処理で、そのエッチング量を測定する方法として、レーザ光源3から波長を変化させて照射してその反射光の強度を周波数解析してダイヤフラム2の膜厚Dを検出する。 - 特許庁
To provide a silicone foaming agent having an excellent foaming property equal to or more than AIBN, requiring no long term post-curing process, and also easy in measuring without fear of dust generation.例文帳に追加
本発明は、AIBNと同等程度又はそれ以上の優れた発泡性能を有すると共に、長時間のポストキュアー工程を必要とせず、しかも計量が容易で粉塵発生の虞のないシリコーン用発泡剤を提供することを課題とする。 - 特許庁
When the same slice is redundantly imaged, obtaining a sensitivity distribution by measuring echo data for the sensitivity distribution only once and sharing it on the slice to be redundantly imaged can omit a process of obtaining the same sensitivity distribution more than once.例文帳に追加
また、同一スライスを重複して撮像を行う場合には、一回のみ感度分布用エコーデータを計測して感度分布を求め、重複して撮像されるスライスに対して共用することによって、複数回同じ感度分布を求める処理を省く。 - 特許庁
To establish an on-the-spot measuring technology of purity of tritium released from a tritium storage bed, which is important for purity control of tritium supplied to the core of a nuclear fusion reactor vacuum vessel or for tritium metering control of the whole tritium process system.例文帳に追加
トリチウム貯蔵ベッドから放出されるトリチウムの純度のその場測定技術の確立は、核融合炉真空容器の炉心に供給するトリチウムの純度管理やトリチウムプロセスシステム全体のトリチウム計量管理にとって重要である。 - 特許庁
This invention concerns the detection of the funning speed of the thread without physical contact with the thread itself. Applying the specified process on false-twisting machine and measuring the running speed of the thread in false-twisting stage, enables estimation of the number of false-twists in the running thread Y. 例文帳に追加
本発明は、走行中の糸条の糸速度を非接触で測定する方法に関し、更には、該方法によって仮撚機上で加撚域の糸条の糸速度を測定することにより、仮撚機上の仮撚数を推定する方法に関する。 - 特許庁
To provide optical characteristics measuring equipment and method in which precision of measurement can be enhanced, and to provide an aligner capable of producing a substrate having an extremely fine pattern precisely, and a process for fabricating a device.例文帳に追加
光学特性の測定精度を向上を図ることのできる光学特性測定装置及び光学特性測定方法、極めて微細なパターンを有する基板を精度よく、歩留まりよく製造可能な露光装置及びデバイスの製造方法を提供する。 - 特許庁
To provide a high-sensitivity oxygen sensor chip manufacturable even in a single-step coating process, a manufacturing method of the sensor chip, and an optical oxygen sensor for simply and accurately measuring the concentration of oxygen in a gaseous or liquid atmosphere by using the sensor chip.例文帳に追加
塗布プロセスがシングルステップでも作製可能な高感度酸素センサーチップと、前記センサーチップの製造方法と、前記センサーチップを用いて、気体や液体雰囲気中の酸素濃度を簡単、正確に測定できる光学式酸素センサーとを提供すること - 特許庁
To provide a pre-load measuring method of a double-row roller bearing unit which can measure the pre-load of the double-row roller bearing unit without being subjected to a complicated process and without applying special processing to a bearing by utilizing a thermoelastic effect.例文帳に追加
熱弾性効果を利用することにより、複雑な工程を踏むことなく、かつ軸受に特別な加工を施すことなく、複列の転がり軸受ユニットの予圧を測定し得る複列の転がり軸受ユニットの予圧測定方法を提供する。 - 特許庁
In a first measuring process, a communication line of a storage position C in a crosstalk simulation line 4 is connected to a pseudo line 3, a pseudo random signal is transmitted from a transmission device A1 to a transmission device A'2, and a code error rate α is measured.例文帳に追加
第一の測定工程では、漏話模擬線路4内の収容位置Cの通信線と擬似線路3を接続してA伝送装置1からA’伝送装置2へ向けて擬似ランダム信号を伝送し、符号誤り率αを測定する。 - 特許庁
While the one end or the contact part of the probe shaft part is brought into contact with the outline of a true circle through a plurality of points with the direction of the contact part fixed, the probe is moved along the circumference of the true circle (a true circle measuring process ST100).例文帳に追加
接触部の向きを固定した状態でプローブ軸部の一端または接触部を真円の輪郭に複数点で当接させながら真円の一周分にわたって前記プローブを移動させる(真円測定工程ST100)。 - 特許庁
The measuring instrument 111 comprises an I/O control part 117 to which a traffic gathering part 112, a filtering process part 113, a quality measurement part 114, a CPU 115, a memory 116, a monitor (display unit) 118, and a keyboard 119 are connected.例文帳に追加
計測装置111は、トラヒック収集部112,フィルタリング処理部113,品質測定部114,CPU115,メモリ116,およびモニタ(表示装置)118およびキーボード119を接続するI/O制御部117から構成される。 - 特許庁
In the chamber (104), a wall (118) of the gas measurement chamber (104) is heated to a temperature higher than the dew point of the test gas (110) so as to reduce adverse effects due to the condensation in the gas measurement chamber (104), before a measuring process.例文帳に追加
ガス計測室(104)内で凝縮する結露の悪影響を低減するために、本発明のガス計測室(104)は、計測工程前にガス計測室(104)の壁(118)が試験ガス(110)の露点を超えるように加熱される。 - 特許庁
The polishing liquid for CMP process containing polishing materials and an aqueous solvent has a characteristic presented by a relation between polishing speed (R), which is measured by a polishing-speed measuring method explained below, and the pressure of a polishing head (P) in equation (1) which is represented by a line (T).例文帳に追加
研磨材と水系溶媒とを含有してなり、下記の研磨速度測定法により測定した研磨速度(R)と研磨ヘッド圧力(P)とを直線(T)が式(1)で表されることを特徴とするCMPプロセス用研磨液を用いる。 - 特許庁
In a memory 53, there are memorized sequentially state informations for indicating the apparatus states of an exposure apparatus, apparatus information for indicating the miscellaneous setting values and the apparatus performances of the exposure apparatus, process information relating to the exposure processing performed in the exposure apparatus, and miscellaneous measuring information.例文帳に追加
記憶部53には、露光装置の装置状態を示す状態情報、露光装置の各種設定値及び装置性能を示す装置情報、露光装置で行う露光処理に関するプロセス情報、及び各種計測情報が逐次記憶される。 - 特許庁
A first measuring process is performed, in which, with an outer ring 3 fixed and an inner ring 6 pressed in the axial direction, the inner ring 6 is rotated and vibration in a rolling surface 1 on one end 3a side in the axial direction of the outer ring 3 is measured during the rotation.例文帳に追加
外輪3を固定して、内輪6をアキシャル方向に加圧した状態で、内輪6を回転させて、回転中に外輪3の軸方向一端部3a側の転走面1における振動を測定する第1測定工程を行う。 - 特許庁
To provide a method and apparatus for adjusting assembly of a product, performing adjustment in a short period of time without measuring temperature characteristics of each product in the process of obtaining an optimum adjustment value considering the temperature characteristics of the product.例文帳に追加
製品の温度特性まで考慮した最適な調整値を得る工程において、製品個々の温度特性を計測することなく、短時間に調整を実施する製品の組立調整方法および組立調整装置を提供する。 - 特許庁
To prevent a print defect by detecting all high-voltage part operation states of an electrophotographic process part of an image forming apparatus or to accurately calculate the life of an ozone filter by measuring ozone density before and behind an ozone filter and calculating the difference.例文帳に追加
画像形成装置において、電子写真プロセス部のすべての高電圧部動作状態を検出し印刷不良を防止する、または、オゾンフィルタ前後のオゾン濃度を測定し、差分を計測する事によりオゾンフィルタの寿命を正確に算出する。 - 特許庁
To exactly process an object to be processed with a laser by easily and precisely measuring the generating position or strength of ultrasonic waves generated in irradiating the object to be laser-processed with laser beams.例文帳に追加
レーザ加工対象にレーザ光を照射したときに発生する超音波の発生位置や強度を簡便かつ精度よく測定することによって加工対象を正確にレーザ加工することができるレーザ加工装置および方法を提供する。 - 特許庁
There is also provided a method for measuring an ethanolamine ether type phospholipids in a sample including a process of decomposing an ethanolamine lysoether type phospholipid in a sample into an ethanolamine and the lysoether type phosphatidic acid by using an enzyme B'.例文帳に追加
また、試料中のエタノールアミン型のエーテル型リン脂質類の測定方法であって、酵素B’を用いて、試料中のエタノールアミン型リゾエーテル型リン脂質を、エタノールアミンとリゾエーテル型ホスファチジン酸に分解する工程を含む前記方法を提供する。 - 特許庁
The method for measuring protease activity includes a process for contacting the sample comprising at least one species of protease substrate, a hard membrane agent and two or more species of protease inhibitors with a membrane formed on the surface of a support.例文帳に追加
プロテアーゼ活性の測定方法であって、少なくとも1種のプロテアーゼ基質、硬膜剤、及び2種以上のプロテアーゼ・インヒビターを含み支持体表面に形成された薄膜に対して、プロテアーゼを含む試料を接触させる工程を含む方法。 - 特許庁
Consequently, process measuring intake pipe pressure can be eliminated and operation for calculating torque can be reduced by the torque calculation device for the internal combustion engine mentioned above when total of torque of all cylinder is calculated.例文帳に追加
したがって、上記した内燃機関のトルク算出装置によれば、全気筒におけるトルクの総和を算出する場合に、吸気管圧を計測する処理を省くことができると共に、トルクを算出する際に行う演算も削減することができる。 - 特許庁
This method for identifying the drug for treating the cancer of the large intestine comprises a process of measuring the potency of interaction of topoisomerase IIα with β-catenin in the presence of a candidate drug within a cell.例文帳に追加
大腸癌の治療のための薬物を同定する方法であって、細胞内において、候補薬物の存在下におけるトポイソメラーゼIIαとβ−カテニンとの相互作用の強度を測定する工程を含んでなる方法が提供される。 - 特許庁
To provide a system and a substrate for detecting the temperature information of a substrate capable of measuring a temperature even if the substrate is in a high-temperature state of ≥145°C, and enabling the extraction of the temperature information from a process treatment chamber without using a cable.例文帳に追加
基板の温度情報を検出するシステム、検出基板であって、基板が145℃以上の高温状態であっても温度測定が可能であり、温度情報をケーブルを用いることなくプロセス処理室から取り出しができるものを提供する。 - 特許庁
To provide method capable of grasping, rapidly and correctly, the state of a setting reaction, and capable of providing friction material having excellent quality, by measuring, stably on a real time, a reaction gas quantity generated during a thermoforming process of the friction material containing a thermosetting resin.例文帳に追加
熱硬化性樹脂を含む摩擦材の熱成形工程中に発生する反応ガス量をリアルタイムに安定的に計測することによって、硬化反応の状態を迅速に正しく把握し、品質の優れた摩擦材を得る方法を提供する。 - 特許庁
A collector necessary to a conventional method using the ion beam for covering the substrate 8 and an electrode becomes unnecessary, whereby its measuring system can be made simple, and a measurement of the secondary electrons can be carried out in the deposition system, and a deposition process can be made stable.例文帳に追加
イオンビームを用いる従来法に必要であった基板8と電極とを覆うコレコタは不要なので、測定系をシンプルにすることができ、成膜装置内での2次電子の測定が可能となり、成膜工程の安定化を実現できる。 - 特許庁
To provide a P&S seismic wave measuring system which enables velocity logging down to large depth according to a boring process, irrespective of the presence or the absence of water inside a hole, by using inexpensive conventional equipment and materials for the velocity logging of a downhole system for shallow layer.例文帳に追加
安価な従来の浅層用ダウンホール方式の速度検層用機材を利用して、孔内水の有無にかかわらず掘削工程に合わせて大深度までの速度検層を可能とするP&S地震波測定システムを提供する。 - 特許庁
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