「surface analysis」に関連した英語例文の一覧と使い方(13ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a technique capable of analyzing a segregation degree without polishing any cross-section surface of a cast piece sample, and capable of conducting the analysis of the segregation degree over a short period (about 2-4 hours) in which the process to be conducted is shifted from a continuous casting process to a rolling process.例文帳に追加

鋳片サンプル断面を研磨加工することなく偏析度の分析を行うこと可能であって、かつ、連続鋳造工程から圧延工程へ移行するまでの短時間（約２〜４時間）の間に偏析度の分析を可能とする技術の提供。 - 特許庁

The visible light responsive type photocatalyst synthetic method comprises a step of sublimating or burning metal tungsten, and of synthesizing tungsten oxide particles having a crystal structure in which a peak intensity of (200) surface appears most strongly by an XRD analysis.例文帳に追加

金属タングステンを昇華または燃焼させ、ＸＲＤ分析によって（２００）面のピーク強度がもっとも強く出る結晶構造を有する酸化タングステン微粒子を合成することを特徴とする可視光応答型光触媒合成法。 - 特許庁

In the performance evaluation method of the electrode catalyst for the fuel battery with catalyst metal carried by a conductive carrier, oxygen atom absorption energy on the surface of the catalyst metal found from molecular simulation analysis is to be an index for the performance evaluation.例文帳に追加

導電性担体に触媒金属が担持された燃料電池用電極触媒の性能評価方法において、分子シミュレーション解析から得られる触媒金属表面における酸素原子吸着エネルギーを該性能評価の指標とする。 - 特許庁

The biochemical analysis unit 1 has a plurality of adsorptive regions 4, formed by covering a surface of an adsorptive substrate 2 comprising an adsorptive material with a material 3 for attenuating radiation and/or light, while being mutually separated.例文帳に追加

吸着性材料よりなる吸着性基板２の表面に、放射線および／または光を減衰させる材料３が被覆されて、互いに離間した複数の吸着性領域４が形成されたことを特徴とする生化学解析用ユニット１。 - 特許庁

A calibration curve of carbon's fluorescence intensity obtained from the surface of a wood by laser induced plasma emission analysis and wood's air-dried density determined as the ratio of mass and volume is prepared, and then the wood's air-dried density is measured by using the calibration curve.例文帳に追加

レーザ誘起プラズマ発光分析によって木材の表面から得られる炭素の蛍光強度と、質量と体積の比として求められる木材の気乾密度との検量線を作成し、該検量線を使用して、木材の気乾密度を測定する。 - 特許庁

Pressure is ended up with being applied to an area which is different from the area, to which the pressure is originally intent to apply, because the pressure is applied to the area approximated by a voxel method in a structural analysis problem, in which pressure is applied to a curved surface of the structure.例文帳に追加

構造物の曲面に圧力を負荷する構造解析の問題では，ＶＯＸＥＬにより近似した面積に圧力をかけるため，本来の圧力をかけたい面積と異なった面積に圧力をかけてしまうことになる。 - 特許庁

The step S2 for performing the finite-element analysis includes a step S2a for bending the analytical model down to the curvature of a pulley while making the cut surface of the analytical model maintain the plane, and a step S2b for pressing the analytical model against the pulley to produce tension in the truss element while making the cut surface of the model maintain the plane.例文帳に追加

ここで、有限要素法解析を実行するステップＳ２は、解析モデルの切断面が平面を保持した状態で解析モデルをプーリの曲率まで屈曲させるステップＳ２ａと、解析モデルの切断面が平面を保持した状態で解析モデルをプーリに押し付けてトラス要素に張力を発生させるステップＳ２ｂとを含む。 - 特許庁

The interference waveform analysis means 15, together with a means of measuring a temperature from temperature change of a interference peak position of the interference waveform, measures film quality, surface condition, etc. of the object to be measured by cutting out an interference peak corresponding to an intended surface of the object to be measured, from the interference waveform, and obtaining a Fourier transformed spectrum of the cut out waveform.例文帳に追加

干渉波形解析手段１５は、干渉波形の干渉ピーク位置の温度変化から温度を測定する手段と、干渉波形から測定物の所望の面に対応する干渉ピークを切り出し、その切り出した波形をフーリエ変換したスペクトル図を求めることで、測定物の膜質、表面状態などを測定する。 - 特許庁

In a mesh generating method for generating mesh data for a computer numerical analysis, the shape of the FEM mesh given as input data about a certain member is corrected and so on (steps 1 to 3) and the FEM mesh is moved toward the plate thickness of the member to generate a surface mesh representing a member surface with the mesh (step 4).例文帳に追加

コンピュータ数値解析用のメッシュデータを生成するメッシュ生成方法において、入力データとして与えられた、ある部材に関するＦＥＭメッシュの形状修正等を行った上で（ステップ１〜３）、そのＦＥＭメッシュを部材の板厚方向に移動させることにより、部材の表面をメッシュによって表現した表面メッシュを生成する（ステップ４）。 - 特許庁

To provide an automatic analyzer having little measurement error of a liquid surface caused by an influence of liquid surface fluctuation of a reagent resulting from rotation operation of a reagent disk, even when a large-capacity reagent container is loaded, concerning the automatic analyzer including the reagent disk loaded with a plurality of reagent containers, for performing qualitative and quantitative analysis of a biosample such as blood or urine.例文帳に追加

血液，尿などの生体サンプルの定性・定量分析を行う、複数の試薬容器を搭載する試薬ディスクを備えた自動分析装置において、容量の大きな試薬容器を搭載した場合であっても、試薬ディスクの回転動作に伴う試薬の液面揺れの影響による液面を計測誤差の少ない自動分析装置を提供すること。 - 特許庁

This model generating device for numerical analysis once extracting element constitution nodes constituting a curved-surface coordinate correction area calculates the accurate (z) coordinate values of the respective extracted nodes by substituting the (x) coordinates and (y) coordinates of the nodes in a curved-surface functional expression, corrects the (z) coordinates to the calculated values, and then substitutes them.例文帳に追加

数値解析用モデル作成装置では、曲面座標修正領域を構成する要素構成節点を抽出すると、この抽出された各節点の座標において、それぞれの節点のｘ座標とｙ座標が曲面関数式に入力されて正確なｚ座標値を計算し、ｚ座標をこの計算された値に修正した後に、置換する。 - 特許庁

The anode active material consists of composite oxide containing mainly iron and sodium, and has hexagonal crystal structure, wherein value made by dividing strength of a peak in a surface length of 2.20 Å by strength of a peak in a surface length of 5.36 Å which are measured in X-ray diffraction analysis of the composite oxide is 2 or less.例文帳に追加

主に鉄とナトリウムとを含有する複合酸化物であって、六方晶の結晶構造を有し、かつ該複合酸化物のＸ線回折分析において、２．２０Åのピークの強度を面間隔５．３６Åのピークの強度で除した値が２以下である複合酸化物からなることを特徴とする非水電解質二次電池用正極活物質。 - 特許庁

This biopolymer analysis chip 1 is equipped with a transparent substrate 17, a solid imaging device 3 formed by arraying double gate transistors 20 in a two-dimensional array shape on the transparent substrate 17, a reflection prevention film 35 formed on the light receiving surface of the solid imaging device 3, and spots 60, 60 scattered in a matrix form on the surface of the reflection prevention film 35.例文帳に追加

生体高分子分析チップ１は、透明基板１７と、透明基板１７上においてダブルゲートトランジスタ２０を二次元アレイ状に配列してなる固体撮像デバイス３と、固体撮像デバイス３の受光面上に成膜された反射防止膜３５と、反射防止膜３５の表面上においてマトリクス状に点在したスポット６０，６０，…と、を具備する。 - 特許庁

The stirring apparatus 20 and the automatic analysis apparatus are provided, and the apparatus 20 includes a vessel 5 for retaining a liquid and a vibrator consisting of a plurality of interdigital electrodes that are formed on a piezoelectric substrate 23a, a surface acoustic wave element 23 for generating sound waves while the surface acoustic wave element is in contact with the vessel.例文帳に追加

液体を保持する容器５と、圧電基板２３ａ上に複数の櫛歯状電極からなる振動子が形成され、容器に接触した状態で音波を発生させる表面弾性波素子２３とを備え、表面弾性波素子が発生した音波によって容器に保持された液体を攪拌する攪拌装置２０及び自動分析装置。 - 特許庁

To provide a preparatory reducing furnace capable of certainly removing the oxidation film bonded and formed to the surface of a silicon sample at the time of analysis of a very small amount of oxygen contained in the silicon sample, and to provide a pretreatment method for the silicon sample using the same.例文帳に追加

シリコン試料中に含まれる微量酸素の分析に際して、前記シリコン試料の表面に付着形成されている酸化膜を確実に除去することができる予備還元炉およびこれを用いるシリコン試料の前処理方法を提供すること。 - 特許庁

The release layer has an amount of silicone that transfers to a single-sided adhesive tape of 10 kcps or less per unit surface area equivalent to a circle having a diameter of 30 mm when determined as X-ray intensity of silicone by X-ray fluorescence analysis.例文帳に追加

前記剥離層は、日東電工株式会社製片面粘着テープ品番「Ｎｏ．３１Ｂ」に対するシリコーン移行量が、蛍光Ｘ線分析によるシリコンのＸ線強度として、直径３０ｍｍの円に相当する面積当たり１０ｋｃｐｓ以下である。 - 特許庁

To provide an analysis method which enables the reflection of actual conditions such as the shape, surface conditions and physical characteristics of a stone material, without depending on an evaluator's subjectivity and experience, and which enables the relatively accurate evaluation of stability of a dry-masonry stone fence.例文帳に追加

評価者の主観や経験によらず、しかも、石材の形状、表面状況及び物理特性等といった実際の条件を反映させることが可能であり、比較的正確に空積み石垣の安定性を評価することができる解析方法を提供する。 - 特許庁

The tire performance analysis system numerically analyzing the performance of a pneumatic tire having a tread portion, comprises a center processing device (CPU) 10, a main memory device 11, a tire model memory device 12, a road surface model memory device 13, an input device 14, and an output device 15.例文帳に追加

トレッド部を有する空気入りタイヤの性能を数値解析するタイヤ性能解析システムであって、中央処理装置（ＣＰＵ）１０、主記憶装置１１、タイヤモデル記憶装置１２、路面モデル記憶装置１３、入力装置１４、及び出力装置１５を備える。 - 特許庁

The moisture-permeable water-proof fabric has the polyurethane resin film obtained by subjecting a thermoplastic polyurethane resin composition to thermoforming without a solvent, and has a softening point of ≥160°C measured by thermomechanical analysis, at least on one surface of a fiber fabric.例文帳に追加

繊維布帛の少なくとも片面に、熱可塑性ウレタン樹脂組成物を無溶剤で熱形成して得られたウレタン樹脂膜を有し、前記ウレタン樹脂膜の熱機械分析により測定した軟化点が１６０℃以上であることを特徴とする透湿性防水布帛。 - 特許庁

To provide a platinum electrode, capable of obtaining an enzyme electrode stable with respect to changes in passage of time and superior in analysis accuracy and reproducibility in which platinum is high close contact and the smoothness of a surface is high, and a method capable of inexpensively manufacturing the platinum electrode with proper productivity.例文帳に追加

白金の密着性が高く、経時的に安定であり、且つ表面の平滑性も高く、分析精度及び再現性に優れた酵素電極が得られる白金電極、並びに前記白金電極を安価に、生産性良く製造し得る方法を提供する。 - 特許庁

Time series data of deflection amounts generated at a plurality of hit points D when the golf ball model 2A is hit at the plurality of hit points D set on a face surface 12 of the golf club head model 10A are obtained through simulation of collision analysis by a finite element method.例文帳に追加

ゴルフクラブヘッドモデル１０Ａのフェース面１２に設定した複数の打点Ｄでゴルフボールモデル２Ａを打撃したときに複数の打点Ｄのそれぞれにおいて生じるたわみ量の時系列データを有限要素法による衝突解析のシミュレーションによって求める。 - 特許庁

To provide a method and a device for evaluating a semiconductor wafer, which highly accurately evaluate the BMD (Bulk Micro Defect) density distribution by obtaining the BMD density over the entire surface of the semiconductor wafer in a short time period for impurity analysis of a silicon substrate.例文帳に追加

シリコン基板の不純物分析をするために、半導体ウェーハ全面のＢＭＤ密度を短時間で取得し、ＢＭＤ密度分布を高精度に評価することができる半導体ウェーハの評価方法及び半導体ウェーハの評価装置を提供する。 - 特許庁

The mass analysis-use measurement sample is prepared from a matrix and a sample containing the measurement object molecule, and is characterized by having a wavelike structure whose average period is 1 to 300 nm on at least one portion of its surface.例文帳に追加

測定対象分子を含む試料とマトリックスから調製される質量分析法用測定試料であって、表面の少なくとも一部に平均周期１ｎｍ〜３００ｎｍの波状構造を有することを特徴とする質量分析法用測定試料。 - 特許庁

The bond magnet 1 has at least one position where a phosphorus atom and a metal atom originating in a phosphoric acid metal salt is detected down to a depth of 40 μm or more from the surface of the protective layer by line analysis using an X-ray microanalyzer.例文帳に追加

そして、このボンド磁石１は、リン酸金属塩に由来するリン原子及び金属原子が、Ｘ線マイクロアナライザーを用いた線分析により、保護層の表面から４０μｍ以上の深さ位置まで検出される検出箇所を少なくとも一箇所有している。 - 特許庁

The release layer has an amount of silicone that transfers to a single-sided adhesive tape of 10 kcps or less per unit surface area equivalent to a circle having a diameter of 30 mm when determined as X-ray intensity of silicon by X-ray fluorescence analysis.例文帳に追加

上記剥離層は、日東電工株式会社製片面粘着テープ品番「Ｎｏ．３１Ｂ」に対するシリコーン移行量が、蛍光Ｘ線分析によるケイ素のＸ線強度として、直径３０ｍｍの円に相当する面積当たり１０ｋｃｐｓ以下である。 - 特許庁

The method for inspection includes a step of irradiating an observation object of a rear surface of a sample 7 with an infrared laser beam 12 emitted from a laser beam source 1 and incident upon a diffraction lens 4 as a Bessel beam 13, detecting its reflected light 14 by a photodetector 11, and performing analysis.例文帳に追加

レーザ光源１から発せられた赤外レーザ光１２は、回折レンズ４に入射してベッセルビーム１３となり試料７の裏面の観察対象に照射され、その反射光１４は光検出器１１により検出されて、解析が行われる。 - 特許庁

To provide a method for forming a semiconductor substrate for analysis that can prevent the segregation of a metal element, can accurately and uniformly connect the metal element with a specific density onto a surface, and can improve the control property of the density of the metal element.例文帳に追加

金属元素の偏析を防止することができ、高い精度で所定密度の金属元素を表面に均一に結合させることができ、金属元素の密度の制御性を向上させることができる分析用半導体基板の形成方法を提供する。 - 特許庁

To provide a probe coupling substrate and its manufacturing method, capable of easily analyzing probes, as well as minimizing loss in sampling inspection, to enable quick and inexpensively detection and quantitative analysis of a target matter, when using various surface analyses, and to provide a method for quantitatively analyzing the target matter in a specimen quickly and inexpensively.例文帳に追加

各種表面分析法を用いた場合に、プローブの分析を問題なく行なえ、抜き取り検査でのロスが最小限であり、標的物質の検出や定量を迅速かつ安価に行なえるプローブ結合基板及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

On the above-mentioned surface of the solder resist layer 408, X-ray photoelectron spectroscopic analysis spectrum has a value y/x not smaller than 0.4, where x is the detection intensity at bound energy of 284.5 eV, and y is the detection intensity at bound energy of 286 eV.例文帳に追加

ソルダーレジスト層４０８の上記面において、Ｘ線光電子分光分析スペクトルが、束縛エネルギー２８４．５ｅＶにおける検出強度をｘ、束縛エネルギー２８６ｅＶにおける検出強度をｙとしたときに、ｙ／ｘの値が０．４以上となるようにする。 - 特許庁

In the display method for two-dimensional physical analysis results, a physical quantity defined on the boundary is displayed with a three-dimensional graphics on the boundary surface prepared by expanding the boundary line discontinuously changing its material in a three-dimensional direction.例文帳に追加

２次元物理解析結果の表示方法において、材質が不連続に変化する境界線を３次元方向に引き伸ばして作成した境界面上に、該境界線上で定義される物理量を３次元グラフィックスで表示することを特徴とする表示方法。 - 特許庁

A plurality of electrodes of an electromyogram for detecting the muscular activity and an angular velocity sensor are installed on the surface of the body, and these electronic data are wire-transmitted or radio-transmitted through an amplifier in the form to a receiving part, and in the receiving part, wavelet frequency analysis is made on the obtained data.例文帳に追加

身体表面に筋活動を検知するための複数の筋電計の電極と角速度センサーを設置しこれらの電子データを増幅器を通じて有線又は無線の形で、受信部に伝え、受信部において、得られたデータをwavelet周波数解析を行う。 - 特許庁

A wiring structure is formed, a background (temperature, current density) is solved by a finite element method, and a diffusion analysis is carried out by the use of an electron wind power proportional to a current density and diffusion coefficients (lattice, grain boundary, interface, surface) related to crystal structures, to obtain void density.例文帳に追加

配線の構造を作成し、背景場（温度、電流密度）を有限要素法で解き、電流密度に比例した電子風力と各結晶構造に関わる拡散係数（格子、粒界、界面、表面）を用いて拡散解析を行い、空孔濃度を求める。 - 特許庁

A cross section of a thin film layer of which the dimensions are previously known is processed into a mirror finished surface, image data of a scanning electron microscope image is obtained, and thereafter the performance evaluation of the scanning electron microscope is stably and quantitatively executed by using a means such as a frequency analysis or the like.例文帳に追加

予め寸法の分かっている薄膜層の断面を鏡面加工し、走査形電子顕微鏡像の画像データを取得後、周波数解析等の手段を用いて、走査形電子顕微鏡の性能評価を安定かつ定量的に行う。 - 特許庁

The case 11 has tires 8a, 8b on the bottom surface side, and the mileage of the case 11 is determined by rotation of the tire 8b, and the mileage is input into the computer 13 for analysis, to thereby calculate the casing 11 position on the measuring object M.例文帳に追加

筐体１１は、その底面側にタイヤ８ａ、８ｂを有し、タイヤ８ｂの回転によって筐体１１の走行距離が求められ、その走行距離は解析用コンピュータ１３に入力されて被測定物Ｍ上における筐体１１の位置が算出される。 - 特許庁

6) Avoid radioactive surface contamination of the analysis system by the samples or cross-contamination among different samples. Take appropriate measures to prevent contamination of the detection parts, e.g., by covering the detectors with polyethylene bags, preventing the samples from contacting the outside of measurement vessels, etc.例文帳に追加

６）試料による分析系の放射性表面汚染、あるいは試料間の汚染が起こらないように留意する。特に検出部位の汚染を防ぐため、検出器をポリエチレン袋で覆う、測定容器の外側に試料を付着させない等の措置を講じる。 - 厚生労働省

To provide a device allowing efficient hybridization/washing treatment by a simple operation, when executing a large volume of analysis, using a DNA microarray of structure filled with polymer gel immobilized with a probe, in a plurality of hole parts penetrated through from a surface to a reverse face.例文帳に追加

プローブが固定化された高分子ゲルが、表裏を貫通する複数の孔部に充填された構造のＤＮＡマイクロアレイを用いて、大量の分析を実施する際に、操作が簡便で、且つ効率よくハイブリダイゼーション・洗浄処理が可能な装置を提供する。 - 特許庁

On the surface of the solder resist layer 408, X-ray photoelectron spectroscopic analysis spectrum has a value of y/x not smaller than 0.4, where x is detection intensity at 284.5 eV constraint energy and y is detection intensity at 286 eV constraint energy.例文帳に追加

ソルダーレジスト層４０８の上記面において、Ｘ線光電子分光分析スペクトルが、束縛エネルギー２８４．５ｅＶにおける検出強度をｘ、束縛エネルギー２８６ｅＶにおける検出強度をｙとしたときに、ｙ／ｘの値が０．４以上となるようにする。 - 特許庁

The method includes a deformation analysis process (step S14) for analyzing a tire model and a road surface model to analyze tire deformation, a stress history acquiring process (step S16) for acquiring history of stress generated by rotation of a tire based on a result of the deformation analysis process (step S14), and a durability evaluation process (step S18) for evaluating the durability based on the acquired stress history.例文帳に追加

タイヤモデル及び路面モデルを解析し、タイヤの変形解析を実行する変形解析工程（ステップＳ１４）と、変形解析工程（ステップＳ１４）での解析結果に基づいて、タイヤを１回転により生じる応力の履歴を取得する応力履歴取得工程（ステップＳ１６）と、取得した応力の履歴に基づいて耐久性能を評価する耐久性能評価工程（ステップＳ１８）と、を含むことで、上記課題を解決する。 - 特許庁

This polyester monofilament is provided by containing silicone oil and fluorine resin as components other than the polyester from which surface silicon and fluorine are detected by the analysis with an ESCA (Electron Spectroscopy for Chemical Analysis), having ≥0.01 ratio of the number of silicon atoms to that of carbon and ≥0.003 ratio of the number of fluorine atoms to that of carbon based on setting the number of carbon atom detected simultaneously as 1.例文帳に追加

ポリエステルモノフィラメントであって、ポリエステル以外の成分として、シリコーンオイルおよびフッ素樹脂を含有し、ＥＳＣＡ（Ｅｌｅｃｔｒｏｎ Ｓｐｅｃｔｒｏｓｃｏｐｙ ｆｏｒ Ｃｈｅｍｉｃａｌ Ａｎａｌｙｓｉｓ）による分析によりモノフィラメント表面からケイ素およびフッ素が検出され、同時に検出される炭素の原子数を１としたときに、炭素に対するケイ素の原子数比が０．０１以上、炭素に対するフッ素の原子数比が０．００３以上であることを特徴とするポリエステルモノフィラメント。 - 特許庁

In the electrophotographic photoreceptor wherein an organic photosensitive layer and a cured surface layer are layered on an electrically-conductive substrate, an antioxidant having a weight reduction start temperature of 200°C or more by thermogravimetric analysis (TGA) in a nitrogen atmosphere is contained in the organic photosensitive layer.例文帳に追加

導電性基体上に有機感光層と硬化型表面層を積層した電子写真感光体において、窒素雰囲気下、熱重量分析（ＴＧＡ）での減量開始温度が２００℃以上である酸化防止剤が、有機感光層中に含まれていることを特徴とする電子写真感光体。 - 特許庁

To uniformly and electrically neutralize the surface of a sample which is charged nonuniformly and positively by the effects of photoelectrons, when the sample made of an insulator or a sample, in which insulators and conductors are arranged in a matrix is irradiated with X-rays in X-ray photoelectron spectroscopic analysis.例文帳に追加

Ｘ線光電子分光分析において、絶縁体からなる試料、または絶縁体と導電体がマトリックスに配列した試料にＸ線を照射した際に光電子効果により表面が不均一にプラス帯電した試料の該表面を均一に電気的に中和する。 - 特許庁

The method of analyzing electrodeposition coating performed by determining the deposited quantity of a coating film on the surface of a material 4 to be coated based on a prediction equation formed by inputting a current density obtained by potential analysis and at least one of a coating material temperature, a coating material characteristics and the characteristics of a material to be coated is provided.例文帳に追加

電位解析によって得られた電流密度と、塗料温度、塗料特性または被塗装物特性の少なくとも一つとを入力とした予測式に基づいて、被塗装物４の表面の塗膜析出量を求める電着塗装解析方法を提供する。 - 特許庁

In this stainless steel member in which a passive film has been deposited on the surface of a base material, in the case the concentration (atomic %) of Fe in the base material is defined as [Fe], and the concentration (atomic %) of Cr in the passive film is defined as [Cr] in the Auger analysis of the passive film, [Cr]/[Fe] is ≥0.25.例文帳に追加

母材表面に不働態皮膜が形成されたステンレス鋼部材であって、この不働態皮膜のオージェ分析による母材のＦｅの濃度（原子％）を[Ｆe]とし、不働態皮膜におけるＣｒの濃度(原子％)を[Ｃr]とした場合に、[Ｃr]／[Ｆe]が０.２５以上であるステンレス鋼部材である。 - 特許庁

To provide a negative ion source, an ion beam analysis device, an etching device, an oxygen radical generation device and an waste gas processor which can attain a large ion current by generating a surface-like negative ions by utilization of diamond semi-conductor device structure, with a diamond serving as a semi-conductor.例文帳に追加

ダイヤモンドを半導体と捉えて、ダイヤモンド半導体デバイス構造を利用して、面的な負イオン生成を実現することにより、大きなイオン電流を実現することができる負イオン源、イオンビーム分析装置、エッチング装置、酸素ラジカル発生装置及び排ガス処理装置を提供する。 - 特許庁

A height measurement function using a laser beam is provided by using a part of components of an optical microscope equipped in the electron beam analyzer, and consequently, the unevenness image of the sample surface can be simultaneously measured in the same visual field as the EPMA analysis image and the SEM observation image.例文帳に追加

レーザーを用いた高さ測定機能を、電子線分析装置が備える光学顕微鏡の構成要素の一部を兼用することによって設け、これによって、試料面の凹凸像をＥＰＭＡ分析像やＳＥＭ観察像と同一視野で同時測定を可能とする。 - 特許庁