「testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(276ページ目) - Weblio英語例文検索

This testing method of rolling-contact fatigue life comprises a step (S10) of preparing a track member that has a raceway surface and is made of steel, a step (S20) of forming an impression in the raceway surface using an indenter, and a step (S30) of causing peeling on a raceway surface by rolling a rolling body made of ceramics on the raceway surface.例文帳に追加

転動疲労寿命の試験方法は、軌道面を有し、鋼からなる軌道部材を準備するステップ（Ｓ１０）と、圧子を用いて軌道面に圧痕を形成するステップ（Ｓ２０）と、軌道面上を、セラミックスからなる転動体を転走させることにより、軌道面に剥離を生じさせるステップ（Ｓ３０）とを備えている。 - 特許庁

To provide a universal coupling in which an eccentric amount caused by the universal coupling used to support a load is actually zero when any one or both from among an axial-direction load and a torsional load are loaded to a member and to provide a tension and torsion testing machine in which a bending moment and a shearing force acting on a face perpendicular to an axial direction are not generated.例文帳に追加

部材に軸方向荷重およびねじり荷重の何れか一方または双方が負荷されるときに荷重を支持する自在継手に起因する偏心量が事実上零である自在継手および曲げモーメントや軸方向に垂直な面に働くせん断力発生のない引張り・ねじり試験機を提供すること。 - 特許庁

To provide maintainability testing method and device/system implementing the method which can be applied to various porous materials including such filter devices as single layer thin film, double layer thin film, etc., providing non-correlated universal standards for characteristic evaluation of porous material.例文帳に追加

単層薄膜装置及び複層薄膜装置等のフィルター装置を含む多様な多孔性材料に対して適用することができ、多孔性材料の特性の評価に対して非相関的で普遍的な標準を与える保全性試験の方法及びその方法を実施する装置及びシステムを提供する。 - 特許庁

This electrode prober 19 is arranged between an tested IC package 4 having a plurality of electrodes 8 and an IC mounting face 3 in an IC test device testing an operation of the IC package for conduction between respective electrodes 2 on the IC mounting face in the IC test device with the respective electrodes 8 in the IC package 4.例文帳に追加

複数の電極８が形成された試験対象のＩＣパッケージ４と、このＩＣパッケージの動作試験を行うＩＣ試験装置のＩＣ取付面３との間に介挿され、ＩＣ試験装置のＩＣ取付面３の各電極２とＩＣパッケージ４の各電極８とを導通させる電極プローバー１９である。 - 特許庁

An associated method includes monitoring the microwave energy through the first circuit including at least one radiation sensitive component capable of failing upon exposure to an excessive amount of microwave energy and testing the radiation sensitive component to determine whether the radiation sensitive component has failed.例文帳に追加

関連する方法は、過剰な量のマイクロ波エネルギーに晒されると故障することができる、少なくとも１つの放射線感受性素子を備える第１の回路を介してマイクロ波エネルギーを監視する段階と、放射線感受性素子をテストしその放射線感受性素子が故障したかどうかを決定する段階とを含む。 - 特許庁

To provide a testing method for evaluating material separation resistance at the fresh time of high fluidity concrete capable of easily performing quantitative evaluation with only simple equipment and a device at both of a working site and a laboratory.例文帳に追加

簡単な器具ないし装置を用いるだけで、試験室及び工事現場のいずれにおいても容易に実施することができ、コンクリートの材料分離抵抗性に関する定量的な特性評価が可能な、高流動コンクリートのフレッシュ時における材料分離抵抗性を評価するための試験方法を提供する。 - 特許庁

The ozone sterilization testing equipment includes a hollow sterilization container 2, an ozone generator 3 for supplying ozone gas into the sterilization container, an ozone gas monitor 22 for measuring the concentration of ozone in the sterilization container and a CT value control means 21 for integrating the product of the concentration of ozone measured by the ozone gas monitor and predetermined time at each predetermined time.例文帳に追加

オゾン滅菌試験装置は、中空の滅菌容器２と、滅菌容器内にオゾンガスを供給するオゾン発生器３と、滅菌容器内のオゾン濃度を計測するオゾンガスモニター２２と、所定時間ごとにその間のオゾンガスモニターが計測したオゾン濃度と所定時間との積を積算するＣＴ値管理手段２１と、を有する。 - 特許庁

To provide a phantom liquid agent containing a non-ionic surfactant and water, that is, a human body dielectric constant simulation liquid agent, capable of testing effects of electromagnetic waves in a high frequency range on the human body, while an increase in the viscosity and high temperature dependency are suppressed.例文帳に追加

非イオン性界面活性剤と水とを含むファントム液剤、すなわち人体誘電率模擬液剤であって、粘度上昇や高い温度依存性を抑制した状態で、高周波帯域における電磁波の、人体に対する影響を試験することが可能な人体誘電率模擬液剤を提供する。 - 特許庁

To provide ultrasonic diagnostic equipment for improving diagnostic accuracy and reproducibility using a reference cross-section by allowing even an unskilled person to easily draw the reference cross-section by correct two-dimensional scanning to be required for cardiac testing, and also to provide an ultrasonic image processing apparatus, and an ultrasonic diagnostic equipment control program.例文帳に追加

心臓の検査に必要となる正確な二次元走査による基準断面の描出を熟練者でなくても容易とし、基準断面を用いた診断の精度や再現性を高めることが可能な、超音波診断装置、超音波画像処理装置及び超音波診断装置制御プログラムを提供すること。 - 特許庁

A general memory test program can be used for memory testing, even when the internal memory configuration is different by memory (i.e., when the correspondence relation between a program address specified by the test program and internal physical address are different from each other) by inputting the correspondence relation for each memory from the outside.例文帳に追加

メモリ毎に、その内部構成が異なる場合（試験プログラムで指定するプログラムアドレスとメモリ内の物理アドレスとの対応関係が異なる場合）であっても、メモリ試験プログラムに対して、メモリ毎の対応関係を外部から入力することで、メモリ試験プログラムを汎用的に使用することが可能となる。 - 特許庁

To enable a test signal generating device and a testing method of a video apparatus to detect even an abnormal state at a black level side in a luminance signal processing circuit, a color signal processing circuit or the like when applied to the distortion detection of color signal and the level adjustment of a color signal or the like by visual inspection.例文帳に追加

本発明は、テスト信号発生装置及び映像機器の検査方法に関し、目視による色信号の歪み検出、色信号のレベル調整等に適用して、輝度信号処理回路、色信号処理回路等における黒レベル側の異常についても検出することができるようにする。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device which is provided with a test mode capable of testing a test block selected out of a plurality of circuit blocks, and can test the test block under a condition of voltage distribution nearly equal to its real working condition even when the device is in the test mode.例文帳に追加

複数の回路ブロックから選択された試験ブロックについて試験が行われるテストモードを備える半導体集積回路装置において、テストモード時においても実使用状態に近い電圧分布のもとで、試験ブロックを試験することが可能な半導体集積回路装置を提供することである。 - 特許庁

This method for testing short-circuiting in the battery consisting of a positive electrode, a negative electrode, a separator arranged so as to separate both the electrodes and electrolyte enables to determine short-circuiting by a resistance by making the electrolyte solid state and measuring alternating current impedance between the positive electrode and the negative electrode.例文帳に追加

本発明は、正極と負極とこの両者を隔離するように配したセパレータと電解液からなる電池の短絡の有無の検査方法であって、前記電解液を固体状態とし、前記正極と前記負極の間で交流インピーダンスを測定し、その抵抗値によって短絡の有無を判定することができる。 - 特許庁

The method for avoiding inhibition of nucleic acid amplification reaction with the bile component by using an enriched culture solution containing a cell body obtained by a culture process as a testing sample and removing a bile component in the culture solution by centrifugal concentration and alkali treatment is provided in a method for amplifying a nucleic acid derived from a cell body.例文帳に追加

菌体由来の核酸を増幅する方法において、培養法によって得られた菌体を含む増菌培養液を被検試料とし、遠心濃縮およびアルカリ処理により前記培養液中の胆汁成分を除去することによって、胆汁成分による核酸の増幅反応阻害を回避する方法。 - 特許庁

To provide a test-facilitating design apparatus and its method for verifying and adjusting consistency between adjoining components when constructing a system including a plurality of components including hardware or software, and performing design to estimate appropriate test man-hours by suppressing an abrupt increase of the number of test cases in testing the system.例文帳に追加

ハードウエアまたはソフトウエアを含む複数の部品から成るシステムを構築する場合において、隣接する部品同士間の整合性を検証および調整し、システムのテストにおいてテストケースの数の爆発を抑制し適切なテスト工数を見込む設計を行うためのテスト容易化設計装置ならびにその方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for rapidly and simply carrying out quantitative measurements related to the proliferation and activities of various microorganisms without breaking the microorganisms, and to provide a susceptibility-testing method which employs the measurement method and can rapidly and simply evaluate the sterilizing powers of various antibacterial agents against various bacteria.例文帳に追加

多様な微生物の増殖や活性に関する定量的測定を微生物を破壊せずかつ迅速簡便に行える方法、及びこの測定方法を用いて、種々の細菌に対する各種抗菌剤の抗菌力を迅速簡便に評価することができる感受性試験方法を提供すること。 - 特許庁

In a test head 18A provided for a test part 12 for testing semiconductor devices D in a state held at a prescribed temperature, semiconductor devices D in even-numbered rows and odd-number1ed columns among the semiconductor devices D mounted to a test board 1 are tested, and the semiconductor devices D in even-numbered rows and even-numbered columns are tested.例文帳に追加

半導体装置Ｄを所定温度に保持した状態で試験を行う試験部１２設けられるテストヘッド１８Ａにおいて、テストボード１に搭載されている半導体装置Ｄのうち偶数列奇数行の半導体装置Ｄの試験をした後に、偶数列偶数行の半導体装置Ｄの試験を行う。 - 特許庁

The control device 20 of the IC testing device 1 performs a test time shortening processing by reading a test program 50 stored in an auxiliary storage device 10 and inputting the test program 50 to a time shortening device 22 in the control device 20 and stores it in a main storage device 21 in the control device 20.例文帳に追加

ＩＣ試験装置１の制御装置２０は、補助記憶装置１０に記憶されている試験プログラム５０を読み出した後、試験プログラム５０を制御装置２０内の時間短縮装置２２に入力することにより、試験時間短縮処理を行って、制御装置２０内の主記憶装置２１に格納する。 - 特許庁

To provide an Ethernet (R) transmission apparatus which can accurately decide the normality of a line quality monitoring function so that the number of pseudo line error codes inserted for a test coincides with an error count value during error count period of the function, and also to provide a method for testing the function of the apparatus.例文帳に追加

イーサネット（登録商標）伝送装置及びその回線品質監視機能の試験方法に関し、試験用に挿入した擬似回線エラーコードの個数と、回線品質監視機能におけるエラーカウント期間のエラーカウント値とが一致するようにし、回線品質監視機能の正常性の正確な判定を可能にする。 - 特許庁

To provide a testing and evaluating method of an electronic part capable of shortening the period required in a heat shock test, capable of simply performing work for confirming the deteriorated state of the jointing part of an electronic component, after the heat shock test in a short time and is capable of simply and precisely evaluating the deteriorated state.例文帳に追加

熱衝撃試験に要する期間を短縮することができ、また、熱衝撃試験後の電子部品の接合部の劣化状態を確認する作業を短時間でかつ簡単に行うことができ、しかも劣化状態を簡易に、精度良く評価することのできる電子部品の試験評価方法を提供すること。 - 特許庁

The coil 12 or the applied electric power generating part 2 is controlled, and then the resonance condition is automatically tracked to be satisfactorily maintained by a resonance controlling part 3, while making the testing conditions during the test period about the test electric power applied to the resonance circuit not to be fixed, when the capacitor 11 is tested.例文帳に追加

さらに、コンデンサ１１の試験時に共振回路に印加される試験電力などについての試験条件を試験時間中で一定とせず、共振制御部３によってコイル１２または印加電力生成部２を制御して自動的に共振状態を追尾し、その共振状態を良好に保持する。 - 特許庁

The test system for testing the radio base station apparatus is equipped with: the pseudo MSes simulating cellular phones; a pseudo RNC simulating a base station controller; a means for controlling the pseudo MSes, the pseudo RNC and the radio base station apparatus and acquiring a prescribed measurement result; and a means for analyzing the measurement result.例文帳に追加

無線基地局装置を試験する試験システムにおいて、携帯電話機を模擬した擬似ＭＳと、基地局制御装置を模擬した擬似ＲＮＣと、前記擬似ＭＳ、前記擬似ＲＮＣ、及び前記無線基地局装置を制御し、所定の測定結果を取得する手段と、前記測定結果を解析する手段とを備えた。 - 特許庁

When the semiconductor testing apparatus 1 is powered on, the tester controller 10 directly transfers a compressed OS 12, i.e., a compressed OS for use at the redundancy controller 30 and the redundancy operating devices 40a-40n, to the redundancy controller 30 and the redundancy operating devices 40a-40n via a bus B.例文帳に追加

テスタコントローラ１０は、半導体試験装置１の電源投入時に、リダンダンシ制御装置３０及びリダンダンシ演算装置４０ａ〜４０ｎで用いられるＯＳを圧縮したＯＳである圧縮ＯＳ１２を、バスＢを介してリダンダンシ制御装置３０及びリダンダンシ演算装置４０ａ〜４０ｎに直接転送する。 - 特許庁

A start condition comprising a day Y of the week, an hour T and a diagnostic item S is set, an IC testing device 30 is controlled to execute a self-diagnostic program 34 about the prescribed diagnostic item S when reach to the prescribed day Y of the week and the prescribed hour T is detected, and the self-diagnosis is thereby conducted automatically.例文帳に追加

曜日Ｙと時刻Ｔと診断項目Ｓから成る起動条件を設定し、所定の曜日Ｙと時刻Ｔに到達したことを検出した場合に、ＩＣ試験装置３０を制御し所定の診断項目Ｓについての自己診断プログラム３４を実行させることにより、自動的に自己診断を行う。 - 特許庁

In the twist angle adjusting means 7 provided to the twist-testing machine 10, the detected twist angle and the load torque value are collected, and the histeresis of the twist angle and the load torque value at the time of reversible rotation of a servomotor 1 is calculated to find the base point of the reversible rotation of a motor rotary shaft on the basis of the histeresis.例文帳に追加

ねじり試験装置１０が備えたねじり角度調整手段７において、検出されたねじり角度および負荷トルク値を収集し、サーボモータ１が正逆回転する際のねじり角度と負荷トルクのヒステリシスを演算し、ヒステリシスに基づいてモータ回転軸の正逆回転の基点を求めることができる。 - 特許庁

In the testing device, when the designated operation mode is a parallel test mode for performing the same test simultaneously in parallel by the plurality of test modules, the central processing unit controls the test operation of the plurality of test modules by executing one test process determined beforehand.例文帳に追加

この試験装置において、中央処理装置は、指定された動作モードが、複数の試験モジュールにより同一の試験を同時に並行して行わせる並行試験モードである場合には、予め定められた一の試験用プロセスを実行することより複数の試験モジュールにおける試験動作を制御する。 - 特許庁

To conduct various kinds of testing for characteristic of optical semiconductor in a state with the wavelength locked, in a wavelength locker module having a function to lock the wavelength and a wavelength variable laser module utilizing the wavelength locking function, by feedback of wavelength of an output light detected by a wavelength monitor and by conroling the temperature of the module.例文帳に追加

波長モニターにより検知した出力光の波長をフィードバックして温度制御をおこなうことにより波長をロックする機能を有する波長ロッカーモジュールや、この波長のロック機能を利用した波長可変レーザモジュールに対して、波長をロックした状態で光半導体としての各種特性の試験をおこなうこと。 - 特許庁

In this semiconductor testing device capable of measuring plural semiconductor devices concurrently, a software executed on a tester CPU executes an IN command for providing an acceptance/rejection determination result after finish of a test during the test to provide the determination result of a DUT unit from a comparator 10.例文帳に追加

複数の半導体デバイスを同時に測定可能な半導体試験装置において、テスタＣＰＵ上で実行されるソフトウェアが、試験終了後に合否判定結果を取得するためのＩＮ命令を、試験中に実行することによってコンパレータ部１０からＤＵＴ単位の合否判定結果を取得する。 - 特許庁

An electrode terminal 12 testing a semiconductor integrated circuit is disposed on a scribe lane 13 provided for dividing the semiconductor integrated circuit, and the electrode terminal 12 on this scribe lane 13 is connected to electrode terminals 11a, 11b of the opposing semiconductor integrated circuit by a front layer wiring 15a.例文帳に追加

半導体集積回路を分割するために設けられているスクライブレーン１３上に、半導体集積回路を検査するための電極端子１２を配置し、このスクライブレーン１３上の電極端子１２に、相対する半導体集積回路の電極端子１１ａ，１１ｂを表層配線１５ａにより接続する。 - 特許庁

To operationally verify whether or not a digital/analog converter built in a semiconductor integrated circuit can execute a normal digital/analog conversion action when using the digital/analog converter as a test signal generator for testing an analog/digital converter built in the semiconductor integrated circuit.例文帳に追加

半導体集積回路に内蔵されたアナログ／デジタル変換器をテストするためのテスト信号発生器として半導体集積回路に内蔵されたデジタル／アナログ変換器を使用する際に、デジタル／アナログ変換器が正常なデジタル／アナログ変換動作を実行可能であるか否か動作検証することを可能とすること。 - 特許庁

To materialize composite cycle testing equipment provided with a solution supplying and recovering mechanism of an atomizing solution capable of preventing not only the variation of the pH and concentration of the atomizing solution used in an atomizing test but also the freezing of the atomizing solution even at a low temperature without bringing about an increase in cost and the leak of the atomizing solution.例文帳に追加

この発明は、コストの上昇や溶液漏れを招くことなく、噴霧試験に使用される噴霧溶液のｐＨ、濃度の変動を防止すること、および低温でも噴霧溶液の凍結を防止することができる噴霧溶液の溶液補給回収機構を設けた複合サイクル試験装置を実現することを目的とする。 - 特許庁

The ultrasonic diagnostic equipment easily and rapidly acquires an MPR image corresponding to an ideal MPR position by setting on volume data, the MPR position corresponding to the desired reference cross-section position of the heart, while referring to a three-dimensional image to be obtained by three-dimensional ultrasonic scanning in cardiac testing.例文帳に追加

心臓検査において、三次元超音波走査によって得られる三次元画像を参照しながら、所望する心臓の基準断面位置に対応するＭＰＲ位置をボリュームデータ上に設定し、理想的なＭＰＲ位置に対応するＭＰＲ画像を容易且つ迅速に取得することができる。 - 特許庁

The TCP handler 2 testing TCPs 50 having test pads 54c formed in the middle of each lead 53, includes: an insulation treatment device 7 for performing insulation treatment of the test pads 54c of the TCPs 50 after being tested; and a surface treatment device 8 provided in the preceding stage to perform insulation surface treatment of the test pads 54c.例文帳に追加

リード５３の中間にテストパッド５４ｃが形成されたＴＣＰ５０を試験対象とするＴＣＰハンドラ２において、試験後のＴＣＰ５０のテストパッド５４ｃを絶縁処理する絶縁処理装置７と、その前段に、テストパッド５４ｃの絶縁下地処理を行う下地処理装置８とを設ける。 - 特許庁

To provide a method and apparatus for inferring the test time of an integrated circuit device, capable of accurately inferring the test time necessary for testing the quality of the integrated circuit device.例文帳に追加

集積回路装置が良品であるか否かのテストに必要なテスト時間を推定する集積回路装置のテスト時間推定方法及び装置に関し、集積回路装置が良品であるか否かのテストに必要なテスト時間を正確に推定できる集積回路装置のテスト時間推定方法及び装置を提供する。 - 特許庁

An apparatus for testing an array includes a guide member for movably supporting the plurality of supporting plates and a driver for moving the plurality of support plates to adjust an interval between the supporting plates, and includes a plate moving unit for moving at least one of the plurality of support plates.例文帳に追加

複数の支持プレート間の間隔を調節するために、それら支持プレートを移動可能に支持するガイド部材及び複数の上記支持プレートを移動させる駆動装置を備えて、複数の上記支持プレートのうち少なくとも一つの該支持プレートを移動させるプレート移動ユニットを備えて、アレイテスト装置を構成する。 - 特許庁

To provide an elution testing method for measuring an elution amount of a component eluted from a steel making slag with a reduced elution time, and for obtaining a measurement result of the elusion amount sufficient to primary decision for a use of a slag product with respect to correlation with an elution test result by an official method and to reproducibility of the measurement result.例文帳に追加

製鋼スラグから溶出する成分の溶出量を測定する溶出試験方法において、溶出時間を短縮し、かつ、公定法による溶出試験結果との相関及び測定結果の再現性がスラグ製品の用途の一次決定に利用するのに十分な程度である溶出量の測定結果を得る。 - 特許庁

The force line FL and the sense line SL are not connected on the testing board, the sense line SL is connected to the power source terminal BP4 (power source terminal for detecting voltage) through the socket pin 511, and the force line FL is connected to the power source terminals BP1-BP3 (power source terminal for supplying voltage) through the socket pins 511.例文帳に追加

フォースラインＦＬとセンスラインＳＬは試験用ボード上では接続されず、センスラインＳＬは電源端子ＢＰ４（電圧検出用電源端子）へとソケットピン５１１を介して接続され、フォースラインＦＬは電源端子ＢＰ１〜３（電圧供給用電源端子）へとソケットピン５１１を介して接続される。 - 特許庁

To provide a radiation detection apparatus in which a radiation source is stabilized, highly accurate measurement is achieved by correcting the measurement error due to radiation dosage change from the measurement result of a transit dose, the cost of the testing instrument is reduced, the measurement sensitivity is improved and the longer operating life of the radiation source is aimed by lowering the output of the X-ray source.例文帳に追加

線源の安定化をはかり、透過線量の測定結果から線量変動による測定誤差補正することで高精度な測定を実現し、検査装置の低価格化、計測感度向上、Ｘ線源の低出力化を図ることにより線源の長寿命化を図った放射線検出装置を提供する。 - 特許庁

To provide a seal mechanism which makes seal mechanisms at both ends of a fuel cladding tube have wide gaps so as to be remotely controlled when attaching the fuel cladding tube to a testing machine by remote control, and capable of closing the gaps and allows the slide of the fuel cladding tube on a sealing surface at the time of a high-temperature and a high-pressure test.例文帳に追加

燃料被覆管を遠隔操作により試験機に装着する際は、燃料被覆管の両端部のシール機構は遠隔操作が可能なように広い間隙を有し、高温高圧試験時には当該間隙が閉じるとともにシール面での燃料被覆管の摺動を許容するシール機構を提供する。 - 特許庁

To provide a testing device of cable runs in a distribution board which can accurately detect the existence of short-circuit in the cable runs at a low-voltage side, when starting the use of an apparatus, after the end of the construction and inspection thereof in the distribution board equipment (a low-voltage distribution board for feeding a low AC voltage), installed in a substation or a distributing substation.例文帳に追加

変電所や配電所に設置された配電盤設備（低圧の交流電圧を供給する低圧配電盤）において、工事や検査を終えて使用開始する際に、低圧側の電路における短絡の有無を精度よく検知することができる配電盤内電路試験装置を提供する。 - 特許庁

The testing device 101 includes a stage 120 on which the force sensor 113, the object to be tested, can be placed, a driving part 130 capable of moving the force sensor 113 via the stage 120 to 6 directions of each axis rotation of X, Y, Z axes, and a loading part 140 capable of loading the force sensor 113 placed on the stage 120.例文帳に追加

試験装置１０１は、被試験体である力センサ１１３を載置可能なステージ１２０と、ステージ１２０を介して力センサ１１３をＸ・Ｙ・Ｚ軸の各軸回転の６方向に移動可能な駆動部１３０と、ステージ１２０上に載置された力センサ１１３に加重可能な加重部１４０と、を備えている。 - 特許庁

The tire testing device includes a tire motor 18 connected to a rotary shaft of a tire 50, a tire shaft torque meter 15 detecting a torque acting on the rotary shaft of the tire, a roller 2 on to which the tire is pressed to contact with, a roller motor 8 connected to a rotary shaft of the roller 2, and a roller shaft torque meter 5 detecting a torque acting on the rotary shaft of the roller 2.例文帳に追加

タイヤ５０の回転軸に連結したタイヤモータ１８、タイヤの回転軸に加わるトルクを検出するタイヤ軸トルク計１５、タイヤ５０が圧接されるローラ２、ローラ２の回転軸に連結したローラモータ８、ローラ２の回転軸に加わるトルクを検出するローラ軸トルク計５を設ける。 - 特許庁

When a transmission source MAC address of the test frame (a) in each of learning tables T1 to T4 of respective MAC bridging apparatuses is learned by a port which is not a port direction nearest to the testing apparatus 6 logically from a MAC bridging apparatus, the loop generating direction judgment apparatus judges the loop exists in the direction.例文帳に追加

該ループ発生方向判定装置は、各MACブリッジング装置の学習テーブルＴ１〜Ｔ４における試験フレームの送信元MACアドレスが、そのMACブリッジング装置から見て論理的に試験装置６に最も近いポート方向ではないポートに学習されている場合に、その方向にループがあると判定する。 - 特許庁

To provide a high-frequency low-power circuit technique which achieves with low consuming powers the necessary performances for respective circuit modules, and deals with the contractions of their design terms and testing times and the variations of their manufacturing processes, in an integrated circuit apparatus formed out of a plurality of CMOS circuit modules.例文帳に追加

複数のＣＭＯＳ回路モジュールで構成される半導体集積回路装置において、各回路モジュールが必要な性能を低消費電力で達成し、設計期間の短縮、テスト時間の短縮およびプロセス製造ばらつきへの対応を可能とする高性能低電力回路技術を提供する。 - 特許庁

An apparatus has a memory operable with a virtualized RAID controller to determine an optimum I/O configuration by testing performance characteristics of a plurality of I/O operations, wherein the I/O operations include respectively writing a data block in the RAID controller, and the I/O configuration includes data length and data adjustment.例文帳に追加

複数のＩ／Ｏ操作の性能特性をテストすることによって最適なＩ／Ｏ構成を決定する仮想ＲＡＩＤコントローラとともに動作可能なメモリを有する装置であり、Ｉ／Ｏ操作がそれぞれＲＡＩＤコントローラにデータ・ブロックを書き込むことを含み、Ｉ／Ｏ構成がデータ長およびデータ調整を含む。 - 特許庁