「testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(277ページ目) - Weblio英語例文検索

This bearing testing device 1 comprises the rotating shaft 2, a pair of test bearings 4, 5 for supporting rotatably the middle part 3 in the axial direction S of the rotating shaft 2, and first and second support bearings 8, 9 for supporting rotatably first and second parts 6, 7 in the axial direction S of the rotating shaft 2 respectively.例文帳に追加

軸受試験装置１は、回転軸２と、回転軸２の軸方向Ｓの中間部３を回転自在に支持する一対の供試軸受４，５と、回転軸２の軸方向Ｓの第１および第２の部分６，７をそれぞれ回転自在に支持する第１および第２の支持軸受８，９とを備えている。 - 特許庁

The sealability testing device 2 is constituted of a first flange support base 3 for supporting a first flange member F1 on the right-end side of a bonded hard vinyl chloride pipe 1, a second flange support base 4 for supporting a second flange member F2 on the left-end side, and a pipe support base 5 for supporting the bonded hard vinyl chloride pipe 1.例文帳に追加

密封性試験装置２は、接合硬質塩化ビニル配管１の右端側の第１のフランジ部材Ｆ１を支持する第１のフランジ支持台３と、左端側の第２のフランジ部材Ｆ２を支持する第２のフランジ支持台４と、接合硬質塩化ビニル配管１を支持する配管支持台５とから構成されている。 - 特許庁

In a fine leak testing part 1, a test body is heated by a heating furnace 3 of a He bombing device 5, cooled spontaneously in a helium atmosphere pressurized in a pressure chamber 4, and is subjected to He bombing; and then He gas which leaked into a measuring chamber by heating is measured by a He leak detector 6, to thereby detect the fine leak.例文帳に追加

ファインリーク試験部１において、被試験体をＨｅボンビング装置５の加熱炉３で加熱した後、加圧チャンバ４で加圧下のヘリウム雰囲気内で自然冷却してＨｅボンビングした後、Ｈｅリーク検出器６で加熱により測定チャンバに漏出したＨｅガスを測定し、ファインリークを検出する。 - 特許庁

To provide a power generation testing device for a cell of a solid oxide fuel battery capable of surely sealing between an air chamber as well as a fuel chamber and the cell of the solid oxide fuel battery and repetitively using the air chamber and the fuel chamber.例文帳に追加

本発明の目的は、空気用チャンバー及び燃料用チャンバーと固体酸化物形燃料電池用セルとの間のシールをより確実に行うと共に、空気用チャンバー及び燃料用チャンバーの繰り返し使用を可能とする固体酸化物形燃料電池用セルの発電試験装置を提供することにある。 - 特許庁

A semiconductor chip mounts an analog circuit 160 and a voltage generator circuit 610 which is connected to an analog input terminal of the analog circuit 160 and capable of generating a testing input voltage or a voltage measuring circuit which is connected to an analog output terminal capable of measuring the output voltage.例文帳に追加

半導体チップ上に、少なくともアナログ回路（１６０，２６０）と、該アナログ回路のアナログ入力端子に接続され検査用の入力電圧を発生可能な電圧発生回路（６１０）もしくはアナログ出力端子に接続され出力電圧を測定可能な電圧測定回路（６２０）とを搭載するようにした。 - 特許庁

In this alkali/silica reactivity testing method of the aggregate, the reflected light of the light thrown on a sample is detected and the reduction amount of alkali and/or the amount of dissolved silica is estimated from the detection value to judge the alkali/silica reactivity of the aggregate.例文帳に追加

骨材のアルカリシリカ反応性を判定するための試験方法であって、試料に照射された光の反射光を検出し、その検出値からアルカリ減少量または／及び溶解シリカ量を推定し、骨材のアルカリシリカ反応性を判定することを特徴とする骨材のアルカリシリカ反応性試験方法。 - 特許庁

The device and method for testing the integrated circuit comprised of at least two circuit parts operated by at least two different clock signals at normal operation are provided, and the circuit operated by the plurality of clock signals is tested for a minimum time by minimum test vectors.例文帳に追加

通常動作において、少なくとも２つの異なるクロック信号によって動作する少なくとも２つの回路部分からなる集積回路をテストするための装置および方法を提供し、さらに、複数のクロック信号によって動作する回路を、最小限の時間で、かつ、最小限のテストベクトルによってテストする。 - 特許庁

The ceramic substrate for semiconductor manufacturing/testing which has a conductive layer on its surface or inside is comprised of a nitride ceramic containing oxygen and its thickness is 50 mm or less.例文帳に追加

セラミック基板の内部または表面に導体層を有する半導体製造・検査用セラミック基板において、前記セラミック基板は、窒化物セラミックからなり、その窒化物セラミック中には、酸素が含有されているとともに、前記セラミック基板の厚さは、５０ｍｍ以下であることを特徴とする半導体製造・検査用セラミック基板。 - 特許庁

To evaluate reliability in a semiconductor light-emitting element for an external resonator-type laser with higher precision than that by a conventional method for testing reliability without composing an external resonator-type semiconductor laser by incorporating the semiconductor light-emitting element.例文帳に追加

半導体発光素子を組み込んで外部共振器型半導体レーザを構成することなく、従来の信頼性試験方法よりも高い精度で外部共振器型レーザ用半導体発光素子の信頼性を評価することができる外部共振器型レーザ用半導体発光素子の信頼性試験方法を提供すること。 - 特許庁

(ix) Digital video magnetic tape recorders, digital instrumentation magnetic tape data recorders or equipment designed to convert digital video magnetic tape recorders for use as digital instrumentation magnetic tape data recorders, that fall under any of the following (excluding those designed for use in other goods), or magnetic tapes used for the testing of these recorders and equipment 例文帳に追加

九　デジタル方式のビデオ磁気テープ記録装置、計測用の磁気テープ記録装置若しくはデジタル方式のビデオ磁気テープ記録装置を計測用の磁気テープ記録装置として使用するための装置であって、次のいずれかに該当するもの（他の貨物に使用するように設計したものを除く。）又はこれらの試験用の磁気テープ - 日本法令外国語訳データベースシステム

(vii) In addition to what is listed in the preceding item, equipment for the design, manufacture, measurement, test, or repair of goods (excluding optical fiber testing equipment and measuring equipment) that fall under any of item (i), item (ii), item (iv), item (v),or item (v)-2, or components or accessories thereof 例文帳に追加

七　前号に掲げるもののほか、第一号、第二号、第四号、第五号若しくは第五号の二のいずれかに該当する貨物の設計用の装置、製造用の装置、測定装置、試験装置若しくは修理用の装置（光ファイバーの試験装置及び測定装置を除く。）又はこれらの部分品若しくは附属品 - 日本法令外国語訳データベースシステム

Article 17 (1) The State shall endeavor to increase the scientific knowledge on the properties of chemical substances and develop testing methods and other technical methods concerning safety assessment of chemical substances, while giving sufficient consideration to international trends of safety assessment of chemical substances. 例文帳に追加

第十七条　国は、化学物質の安全性の評価に関する国際的動向に十分配慮しつつ、化学物質の性状に関する科学的知見の充実に努めるとともに、化学物質の安全性の評価に関する試験方法の開発その他の技術的手法の開発に努めるものとする。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

The IDE integrates tools for JMUnit 1.1.0 testing, MIDlet signing, certificate management, automatic code obfuscation with ProGuard 4.2,integrated over-the-air (OTA) emulation, push registry emulation, WMA emulation for SMS and CBS messages, new deployment methods, and Wireless Messaging and Multimedia APIs.You have complete control over these tool using standard Apache Ant scripts.例文帳に追加

IDE には、JMUnit 1.1.0 のテスト、MIDlet の署名、証明書の管理、コードの自動難読化 (ProGuard 4.2)、統合された OTA (無線) エミュレーション、転送レジストリエミュレーション、SMS メッセージと CBS メッセージ向けの WMA エミュレーション、新しい配備方法、および Wireless Messaging API と Multimedia API のツールが統合されています。 これらのツールは標準の Apache Ant スクリプトを使用して完全に制御できます。 - NetBeans

In the era of Japan National Railways, there were plans to operate trains through both Shinkansen lines (experimental 961-type Shinkansen train-cars were manufactured for testing the through operations, and platforms 14 and 15 for the Tokaido Shinkansen in Tokyo Station are curved towards the Tohoku Shinkansen line side, because they were made assuming that trains were to be operated through both Shinkansen lines). 例文帳に追加

国鉄時代には、当初両線の直通運転を前提として建設の計画がなされていた（直通運転の実験用に試験車両新幹線961形電車が製造された、また、東京駅の東海道新幹線14・15番ホームは直通を想定して作られたため、ホームが東北新幹線側にカーブしている）。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

On December 12th of each year, the Japan Kanji Aptitude Testing Foundation calls upon people across the country to submit a Chinese character that symbolizes the year throughout Japan and announces the Chinese character with the most submissions as the Kanji representing the social conditions of the year at the Kiyomizu-dera Temple in Higashiyama Ward, Kyoto City, Kyoto Prefecture on the "Kanji's day." 例文帳に追加

財団法人日本漢字能力検定協会が、その年をイメージする漢字一字の公募を日本全国より行い、その中で最も応募数の多かった漢字一字を、その年の世相を表す漢字として、毎年12月12日の「漢字の日」に京都府京都市東山区の清水寺で発表する。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

This performance board 10 of a semiconductor testing device (image sensor tester) 1a includes the buffers 11-1 to 11-n for cable driving, and switches 12-1 to 12-n for conducting switching between an input of a measured signal output from a measured device and an input of a reference signal output from a reference signal generator 40.例文帳に追加

半導体試験装置（イメージセンサテスタ）１ａのパフォーマンスボード１０は、ケーブル駆動用のバッファ１１−１〜１１−ｎと、被測定デバイスから出力された計測信号又は基準信号発生器４０から出力された基準信号の入力の切り替えを行う切替器１２−１〜１２−ｎとを備えている。 - 特許庁

In this testing device, the bias voltage B to be applied to the test object 2 is adjusted in the state where a constant voltage (signal level) A_0 is inputted to the object 2 from a signal generation part 3 to control the output voltage D of the subject to a prescribed intended range, and the test to the object 2 is then executed.例文帳に追加

信号発生部３から一定電圧（信号レベル）Ａ_Oを試験対象２へ入力した状態で、この試験対象２に印加するバイアス電圧Ｂを調整してこの試験対象の出力電圧Ｄを所定の目標範囲に制御したのち、試験対象２に対する試験を実施する試験装置１１である。 - 特許庁

One point or several points on the curve are pointed by a finger, a mouse or other pointing device to display not only the testing force of the points on a display part 30b but also a displacement value on a display part 30d and these numerical values are stored in a measuring control unit 20 by pushing an OK button 30e.例文帳に追加

そして、この曲線上の１点あるいは数点を指あるいはマウスその他のポインティングデバイスでポイントすることにより、その点の試験力が表示部３０ｂに、変位値が表示部３０ｄに表示され、ＯＫボタン３０ｅを押すことによりこれらの数値が計測制御装置２０に記憶される。 - 特許庁

The defect testing method comprises the following steps for preparing a design data set for forming the photomask, searching the sub-ground rule features out of the design data set, removing the sub-ground rule features out of the design data set to form a check data set, and checking the photomask formed according to the design data set by using the check data set.例文帳に追加

本発明の方法は、フォトマスク作製用のデザインデータセットを作製し、デザインデータセット中のサブ・グラウンドルールフィーチャを検索し、デザインデータセットからサブ・グラウンドルールフィーチャを除去して検査データセットを作成し、デザインデータセットに従って作製されたフォトマスクを検査データセットを使用して検査するステップを有する。 - 特許庁

This semiconductor integrated circuit incorporates a test circuit testing operation of a non-volatile memory, while the device has an output terminal outputting a test result and an operation terminal indicating operation control of the test circuit, and the device can indicate the number of write-in of the non-volatile memory, a write region, and write data from the operation terminal.例文帳に追加

不揮発性メモリの動作を試験する試験回路を内蔵すると共に、試験結果を出力する出力端子と、試験回路の動作制御を指示する操作端子を有し、その操作端子から不揮発性メモリの書き込み回数、買い込み領域及び書き込みデータを指示できる半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

Therefore, it is possible to determine whether the four memory cells are correct or not and four output buffers 4 corresponding to the data input/output terminals DQ0 to DQ3 are correct or not, only by connecting the data input/output terminal DQ0 to a tester, thereby reducing the testing cost.例文帳に追加

したがって、データ入出力端子ＤＱ０のみをテスタに接続した状態で、４つのメモリセルが正常か否かを判定するとともに、データ入出力端子ＤＱ０〜ＤＱ３に対応する４つの出力バッファ４が正常か否かを判定することができ、テストコストの低減化を図ることができる。 - 特許庁

Also provided is a method for testing an agent for its ability to inhibit binding between fibroblast growth factor (FGF) and heparanase substrate, comprising the steps of: interacting in solution immobilized FGF on a solid support with the agent and labeled heparanase substrate, and detecting the presence or absence of label in the solution remote from the solid support.例文帳に追加

線維芽細胞成長因子（FGF）とへパラナーゼ基質との結合を阻害する能力に関しては、固体支持体上に固定化したFGFを物質および標識基質と溶液中で相互作用させる段階、および固体支持体から離れた溶液中の標識の有無を検出する段階を含む。 - 特許庁

To provide a diffusion testing device, enabling casting surely even with 1 mm or less of sample diameter, reduced in the possibility of contamination in a sample by an impurity in a gas, not affected by Marangoni convection caused by a free surface, and precluded from the possibility that the gas infiltrates into a capillary even in a gravity-free or very low gravity environment.例文帳に追加

試料径が１ｍｍ程度以下でも確実に鋳込むことができ、ガス中の不純物による試料の汚染のおそれが少なく、自由表面によるマランゴニ対流の影響がなく、無重力又は微小重力環境下でも、ガスがキャピラリー内に入り込むおそれがない拡散試験装置を提供する。 - 特許庁

The burn-in test is performed using a memory BIST circuit 202, designed so as to preliminarily perform all tests necessary for confirming the operation of a memory device 201 for not only enhancing the toggle ratio in the burn-in test of the memory device, but also to suppress the developing time of the burn-in testing.例文帳に追加

あらかじめメモリ装置２０１の動作確認のために必要な全ての試験を実施するように設計されたメモリＢＩＳＴ回路２０２を用いてバーインテストを行うことにより、メモリ装置のバーインテストにおけるトグル率を向上させると共に、バーインテストの開発時間を抑制することができる。 - 特許庁

The cosmetic composition is obtained by containing at least one aqueous dispersion of insoluble particles of a fixing polymer in a cosmetically acceptable aqueous or aqueous-alcoholic medium and, in an adhesion testing, results in <200 microjoule mean adhesion energy of fixing material/keratinous fiber after drying.例文帳に追加

化粧用に許容できる水性もしくは水性アルコール性媒体中に、少なくとも一つの、固定用ポリマーの不溶性粒子の水性分散液を含む化粧用組成物であって、粘着テストにおいて、乾燥後の固定物質／ケラチン繊維の平均粘着エネルギーが２００マイクロジュール未満となることを特徴とする化粧用組成物。 - 特許庁

When testing the chip, the performance measuring circuit so measures such performances of the circuit function module as its operational speed and consuming power as to store the performance data in the corresponding storage-table circuit, and the storage-table circuit so measures the data amount fed to the circuit function module as to select its optimal clock frequency, power-supply voltage, and board bias.例文帳に追加

チップテスト時に、性能測定回路が回路機能モジュールの動作速度、消費電力などの性能を測定し該当する記憶テーブル回路に性能データを記憶させ、記憶テーブル回路は該当する回路機能モジュールに供給されるデータ量を計測して最適なクロック周波数、電源電圧、基板バイアスを選択する。 - 特許庁

The problem to be solved is solved by the staining evaluation device of the present invention having the optical waveguide substrate 1 installed to contact closely with the testing object 3, a light source for making the light 2 get incident into the one end side of the optical waveguide substrate 1, and a detector for detecting the light 2 emitted from the other end side of the optical waveguide substrate 1.例文帳に追加

また、試験体３を密着して設置する光導波路基板１と、光導波路基板１の一端側に光２を入射する光源と、光導波路基板１の他端側から出射される光２を検出する検出器と、を有する汚染性評価装置により上記課題を解決する。 - 特許庁

When at least one out of a sensor holding portion and a load portion is moved with means of movement of the load testing device, a speed up to a separated upper side portion and a load sensor approaching is made faster than a speed up to the upper side portion having approached and the load sensor coming in touch and the load portion being supported by the load sensor.例文帳に追加

荷重試験装置の移動手段によってセンサ保持部と負荷部との少なくとも一方を移動させる際に、離間した上側部と荷重センサとが近接するまでの速度が、近接した上側部と荷重センサが当接し負荷部が荷重センサに支持されるまでの速度よりも大きくなるようにする。 - 特許庁

A DRAM chip 1 includes an input/output terminal 1c for testing which has a measure circuit for electrostatic discharge breakdown; an input/output terminal 1b for connecting a support substrate, which has a measure circuit for electrostatic discharge breakdown; and an input/output terminal 1a without having the measure circuit for electrostatic discharge breakdown other than the input/output terminals 1b and 1c.例文帳に追加

ＤＲＡＭチップ１は、静電破壊対策用回路を有する試験用の入出力端子１ｃと、静電破壊対策用回路を有する支持基板接続用の入出力端子１ｂと、入出力端子１ｂおよび１ｃ以外の静電破壊対策用回路を有しない入出力端子１ａとを含む。 - 特許庁

This modified device for equilibrium dialytic treatment is of such a construction that it uses a dialytic membrane which is present in all of an arbitrary number of test wells included in dialytic blocks and also inserted into at least a gap for dividing the wells to the donating side and the receiving side which be accessed and operated from the top the device during testing.例文帳に追加

透析ブロックに含まれる任意の数の試験ウェルの全ての中にあり、それらウェルを試験中いつでも装置の上部からアクセス及び操作できる授与側と受領側に少なくとも分離する間隙内に挿入された透析膜を利用する平衡透析処置用改良型装置。 - 特許庁

This testing method for ammonia leakage is carried out on a membrane tank 10 having a tank 2 isolated from a cold-insulation layer 3 by the membrane 4, and comprises the filling of the layer 3 with a pressurized gas, the measuring of displacement 25 of the membrane 4, and the controlling of the filling amount of gas based on the displacement 25.例文帳に追加

タンク２と保冷層３とがメンブレン４で隔離されているメンブレンタンク１０に実施されるアンモニアリーク試験方法であり、保冷層３にガスを加圧して充填すること、メンブレン４の変位２５を測定すること、変位２５に基づいてガスの充填する量を制御することとを具備している。 - 特許庁

The ultraviolet-curable pressure-sensitive adhesives comprise 50 mass % to less than 100 mass %, based on the entire composition, acrylic photopolymerizable monomer which does not foam in the foaming test according to a specific foaming testing method and, simultaneously, has a viscosity of the entire composition of ≤50 mPa.s (25°C).例文帳に追加

特定の発泡性試験法で発泡性試験を行っても発泡しないアクリル系光重合性モノマーを組成物全体に対して５０質量％以上１００質量％未満含有するとともに、組成物全体の粘度が５０ｍＰａ・ｓ（２５℃）以下であるＵＶ硬化型感圧接着剤により課題を解決できる。 - 特許庁

To provide a compression test device for stably arranging a pedestal member used as the base of a test piece, obtaining a more reliable test result, easily and surely adjusting the position of the pedestal member in a preliminary test, and reducing the workload of a person in charge of testing.例文帳に追加

試験体の土台として使用される台座部材を下部ロッド上に安定配置し得、より信頼性の高い試験結果が得られると共に、予備試験における台座部材の位置調整を容易且つ確実に行うことができ、試験担当者の負担軽減を図り得る圧縮試験装置を提供する。 - 特許庁

In a simulation testing apparatus 1 of train travel, a train generation function section 12-1 generates existing stations, train names, and existing locations when a train generation command is inputted from a console 2, and reads the prescribed value of each track circuit between stations from a track circuit file 101 for initially setting to a train traveling tracking file 102.例文帳に追加

列車走行の模擬試験装置１は、操作卓２から列車生成指令が入力されると、列車生成機能部１２−１が在線駅、列車名、在線箇所を生成し、軌道回路ファイル１０１から駅間の各軌道回路の規定値を取り込み、列車走行トラッキングファイル１０２に初期設定する。 - 特許庁

In a testing using this method and apparatus for evaluating the strength of a wedge junction, a tensile load is applied to the wedge junction of a semiconductor bonding wire, the bonding wire is pulled, while keeping constant the angle between a tensile direction and a junction sample surface to measure the characteristics of the changes in the wire.例文帳に追加

半導体用ボンディングワイヤのウェッジ接合部に引張荷重を加える試験において、引張り方向と接合試料面との角度を一定に維持しながら、ボンディングワイヤを引張ることにより、ボンディングワイヤの変化特性を測定することを特徴とするウェッジ接合部の強度評価法および評価装置。 - 特許庁

To provide a gasket for a hard disk apparatus, a manufacturing method of the gasket for the hard disk apparatus and a testing method of the gasket for the hard disk apparatus capable of easily checking an application state of an adhesive after application of another material even when the another material is continuously coated on the adhesive after application of the adhesive.例文帳に追加

接着剤の塗布後、その上に連続的に他の材料を塗布形成するような場合にも、その後に接着剤の塗布状態を容易に確認することが可能なハードディスク装置用ガスケット、ハードディスク装置用ガスケットの製造方法及びハードディスク装置用ガスケットの検査方法を提供する。 - 特許庁

The vibration testing device includes piezoelectric actuators 11X, 11Y and 11Z, respectively in X/Y/Z axial directions and is provided on a base 10 to prevent directions of applying vibration (excitation directions) in the different axial directions from intersecting with each another, that is to disperse the excitation directions.例文帳に追加

本発明にかかる振動試験装置は、Ｘ／Ｙ／Ｚ軸方向それぞれに圧電アクチュエータ１１Ｘ・１１Ｙ・１１Ｚが配置されるとともに、これらは異なる軸方向における振動を加える方向（加振方向）同士を互いに交差させないように、すなわち加振方向を発散させるようにベース１０に設けられる。 - 特許庁

The elastomeric casing may also incorporate a static seal or temporary dynamic seal to facilitate in-process testing or dirt exclusion, as well as one or more additional dirt exclusion features to protect the fluoropolymer seal from damage caused by environmental contaminants during the use of the seal.例文帳に追加

エラストマケーシングはさらに、工程間試験または汚れ排除を容易にするために静的シールまたは一時的な動的シール、および、シールの使用中に環境汚染物によって引起される損傷からフッ素共重合体シールを保護するための１つ以上の追加の汚れ排除機構を組込んでもよい。 - 特許庁

The test tape unit for especially testing blood sugar is equipped with an analyzing test tape 12, a storage coil 14 for washing an unused test tape 12, a winding coil 18 for winding the used test tape 12 and a tape guide part 16 for exposing the test tape part 20 at a measuring region 22 for coating body fluids.例文帳に追加

分析用の試験テープ１２と、未使用の試験テープ１２の洗浄用の貯蔵コイル１４ならびに使用した試験テープ１２の巻付用の巻付コイル１８と、体液の塗布用の測定部位２２での試験テープ部分２０の曝露用のテープガイド部１６とを備える特に血糖試験用の試験テープユニットに関する。 - 特許庁

This method for testing the cytotoxicity comprises evaluating toxicity of a test object based on the toxicity to an established cell line derived from a sturgeon, wherein a STIP-1 cell line (FERM P-18909) or a STIP-3 cell line (FERM P-18910) is exemplified as the suitable established cell line derived from the sturgeon.例文帳に追加

本発明は、チョウザメ由来の株化細胞に対する毒性に基づいて被検物質の毒性評価を行う細胞毒性試験方法であり、好適なチョウザメ由来の株化細胞としては、ＳＴＩＰ−１細胞（ＦＥＲＭ Ｐ−１８９０９）とＳＴＩＰ−３細胞（ＦＥＲＭ Ｐ−１８９１０）が挙げられる。 - 特許庁

Article 14 No person shall use a Class I Specified Chemical Substance for any usages other than those specified by a Cabinet Order for each Class I Specified Chemical Substance as being compliant with the following requirements; provided, however, that this shall not apply to the case where a person uses a Class I Specified Chemical Substance for testing and research purposes: 例文帳に追加

第十四条　何人も、次に掲げる要件に適合するものとして第一種特定化学物質ごとに政令で定める用途以外の用途に第一種特定化学物質を使用してはならない。ただし、試験研究のため第一種特定化学物質を使用するときは、この限りでない。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

(3) The competent ministers may, to the extent necessary for enforcing this Act, have their officials enter the offices or any other places of business of a person prescribed in Article 22, inspect the books, documents and any other articles, ask questions of the relevant persons, or sample the smallest quantity of chemical substances necessary for testing. 例文帳に追加

３　主務大臣は、この法律の施行に必要な限度において、その職員に、第二十二条に規定する者の事務所その他の事業所に立ち入り、帳簿、書類その他の物件を検査させ、関係者に質問させ、又は試験のために必要な最小限度の分量に限り化学物質を収去させることができる。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

To provide a nuclear instrumentation design aiding system capable of automatic design of component such as specification determination and automatic formation of testing specification by using CAD(computer aided design) and analyzing tools on the basis of upstream system design specification and improving design efficiency and design quality in process instrumentation design for a reactor power station.例文帳に追加

原子力発電所プロセス計装設計において、上流の系統設計仕様を元に、ＣＡＤ、解析ツールを使用し、仕様決定等の機器の自動設計、試験仕様の自動作成が可能で、設計効率及び設計品質の向上を図ることができる原子力計装設計支援システムを提供する。 - 特許庁

The solderability-testing device for evaluating solderability is provided with a heating member 4 that is capable of controlling temperature being retained with a specific gap to a metal test piece 2, and a means for measuring wetting force while keeping the temperature of the metal test piece 2 at a specific temperature by the heating member 4.例文帳に追加

はんだ濡れ性を評価するはんだ濡れ性試験装置において、金属試料片２と所定の間隔を保ち設けられる温度制御可能な加熱部材４と、加熱部材４により金属試料片２の温度を所望温度に保ちながら濡れ力を測定する手段とを有することを特徴とする。 - 特許庁

To automatically correct the correspondence between XY coordinates on the side of an automatic jig, which is mounted on the test head of an IC testing device and corrects the operation state of a circuit connected to respective pins of an IC socket arranged on the test head by automatically bringing the probe into contact with the respective pins, and a XY position on the test head.例文帳に追加

ＩＣ試験装置のテストヘッドに装着され、テストヘッド上に配置されたＩＣソケットの各ピンにプローブを自動的に接触させ、ＩＣソケットの各ピンに接続された回路の動作状態を校正する自動治具において、自動治具側のＸＹ座標と、テストヘッド上のＸＹ位置との対応を自動的に校正する。 - 特許庁