「testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(281ページ目) - Weblio英語例文検索

In systems and methods for performing design verification testing, test cases are analyzed to determine the characteristics that will be verified in a module under test, and the identified characteristics are used to selectively enable checker modules 340 needed to verify the characteristics implicated by the test cases while other checker modules are disabled.例文帳に追加

テストケースが分析されて検査対象のモジュール内で検証されるであろう特性を決定し、特定された特性が用いられてテストケースによって実行される特性を検証するのに必要なチェッカーモジュール３４０を選択的に有効にし、他のチェッカーモジュールを無効にする、設計検証検査を実行するためのシステムおよび方法。 - 特許庁

The semiconductor testing device which tests a DUT by using test patterns outputted from a memory storing DUT test patterns is provided with a memory control part which divides the memory into a plurality of areas, moves test patterns stored in undiagnosed areas to diagnosed areas and then diagnoses the undiagnosed areas.例文帳に追加

ＤＵＴの試験パターンが格納されているメモリから出力される試験パターンを用いてＤＵＴの試験を行う半導体試験装置において、メモリを複数のエリアに分割し、このエリアのうち未診断エリアに格納されている試験パターンを診断済みエリアに移動させた後に未診断エリアを診断するメモリ制御部を備える。 - 特許庁

For the ceramic plate for semiconductor manufacturing/testing device having a heating resistor on its surface or inside, a protruded part for fitting a semiconductor wafer is formed at its outer rim part, and many convex bodies, contacting with the semiconductor wafer, are formed inside the protruded part.例文帳に追加

その表面または内部に抵抗発熱体が形成された半導体製造・検査装置用セラミック基板であって、その外縁部には、半導体ウエハを嵌合させるための突部が形成され、上記突部の内側には、上記半導体ウエハと接触する多数の凸状体が形成されていることを特徴とする半導体製造・検査装置用セラミック基板。 - 特許庁

This prober interface device for the semiconductor testing device comprises split GNDs split in DUTs or in preset DUT groups and provided for GND layers on a multi-layered substrate having a prove needle, where a plurality of devices to be tested are tested.例文帳に追加

プローブ針を備える多層基板により、複数個の被試験デバイスを試験する半導体試験装置のプローバインタフェース装置において、多層基板上のＧＮＤ層に対して各ＤＵＴ毎に分割した分割ＧＮＤ、若しくは所定のＤＵＴグループ単位毎に分割した分割ＧＮＤ、を備える半導体試験装置のプローバインタフェース装置。 - 特許庁

As for your question regarding the impact of the slumping stock prices on Japan's financial sector, although we are conducting stress testing in order to study the effects of stock price drops, I would like to refrain from saying what levels of prices would have what effects. 例文帳に追加

こういった株価の水準が、我が国の金融セクターに及ぼす影響についてのお尋ねでございますけれども、これについては、従来より一定のストレスをかけた場合の影響度というものを研究いたしておりますけれども、具体的に特定の水準をおいた場合に、こういう姿である、と逐一申し上げるということは差し控えたいと思います。 - 金融庁

By measuring the electromagnetic noise in the manufacturing/testing process of the magnetic disk unit with the HGA antenna, generation of the electromagnetic noise which may damage the magnetic head can be detected, minimizing damage of the magnetic head caused by the electromagnetic noise and improving the reliability of the magnetic disk unit.例文帳に追加

このＨＧＡアンテナを使用し、磁気ディスク装置の製造・検査工程において、電磁波ノイズ測定することにより、磁気ヘッドを破壊するように電磁ノイズの発生をダイレクトに検出することができ、磁気ヘッドが電磁波ノイズにより破壊されるのを最小限にすることができ、磁気ディスク装置の信頼性を向上させることができる。 - 特許庁

Adaptively adjusting the impulse response of the optical signal output from the laser in this way allows the optical TX to dynamically adapt to and compensate for a wide range of factors that typically cause performance degradation and result in reduced product yields, increased testing times, and increased test complexity, and higher costs.例文帳に追加

このようにレーザから出力される光信号のインパルス応答を適用性良く調整することにより、性能の低下やその結果生じる製品収量の減少、試験時間の増加や試験の複雑性の増加、及びより高いコストを一般にもたらす広範囲の要素に対して、光ＴＸは動的に適応及び補償できるようにされる。 - 特許庁

The durability testing device 1 is provided with a light source 3 emitting light, a dichroic mirror 9 disposed so as to cut light having ≥500 nm wavelength of light emitted from the light source 3 and a cut filter 5 cutting light having ≤380 nm wavelength of light emitted from the dichroic mirror 9.例文帳に追加

本発明の耐久性試験装置１は、光を出射する光源３と、光源３から出射された光のうち、５００ｎｍ以上の波長の光をカットするよう配置されたダイクロイックミラー９と、ダイクロイックミラー９から出射された光のうち、３８０ｎｍ以下の波長の光をカットするカットフィルタ５とを備えている点に特徴を有する。 - 特許庁

In the method of testing the separator for the storage device, the degree of deterioration of a test piece of the separator can be confirmed by dipping the test piece in a negative electrode-side electrolytic solution obtained by electrolyzing an electrolyte for storage device driving and a positive electrode-side electrolytic solution obtained by electrolyzing the electrolyte for storage device driving.例文帳に追加

本発明の蓄電デバイス用セパレータの試験方法によれば、蓄電デバイス駆動用電解液を電気分解して得られた負極側電気分解溶液および蓄電デバイス駆動用電解液を電気分解して得られた正極側電気分解溶液に、セパレータの試験片を浸漬することにより、該試験片の劣化度合いを確認できる。 - 特許庁

To provide a method and device for testing fire resistance of a lining segment and a method of designing the lining segment capable of improving reliability to a fire of the lining segment by performing a test in a state more similar to the actual state, and performing economical design based on a result acquired from such a test.例文帳に追加

より現実に近い状態で試験を行なうことにより、覆工セグメントの火災に対する信頼性を向上させることが可能で、且つこのような試験で得られた結果に基づき経済的な設計を可能にした覆工セグメントの耐火性試験方法及び耐火性試験装置並びに覆工セグメントの設計方法を提供する。 - 特許庁

The polyelectrolyte fuel cell testing method comprises a step of supplying fuel gas and oxidant gas to the fuel cell and running it at a current density lower than that during a rated operation, and a step of detecting the amount of decomposition products of a polyelectrolyte membrane in an emitted off-gas while the cell is driven at low current densities.例文帳に追加

燃料電池に燃料ガスと酸化剤ガスを供給し、定格運転時よりも低い電流密度で運転するステップと、低い電流密度で運転する際に、排出されるオフガスに含まれる高分子電解質膜の分解生成物の量を検出するステップとを備えた、高分子電解質型燃料電池の試験方法を用いる。 - 特許庁

In this method of screening the substance having the action to improve the insulin resistance, the CHO cell into which the DNA encoding an insulin receptor and the DNA encoding the type 4 sugar transporter are transferred and shows insulin resistance is pre-cultured in the presence of glucose and a testing material, then the insulin response of the pre-cultured cell is measured.例文帳に追加

インスリン受容体をコードするＤＮＡおよび４型糖輸送担体をコードするＤＮＡを導入したＣＨＯ細胞であって、インスリン抵抗性を示す細胞、ならびにグルコースおよび試験物質の存在下で前培養した該細胞のインスリン応答性を測定することにより、インスリン抵抗性を改善する作用を有する物質をスクリーニングする方法。 - 特許庁

To provide a part transport device capable of transfer-loading parts at high speed from a part feed passage to a rotor without a complicated transfer loading mechanism and easily testing the part in the course of transporting the part by the rotor.例文帳に追加

複雑な移載機構を用いることなく、部品供給路から回転体に対して高速に部品を移載することができるとともに回転体によって部品を搬送している途中でも容易に部品の検査を行うことができる部品搬送装置を提供し、また、このような搬送装置を簡単に且つ低コストで製造することができる構造を実現する。 - 特許庁

An invention related to a claim 2 includes a buffer means which, relating to the collision testing device described in the claim 1, is arranged in front of the truck and at the projection barrier and, when the collision means operates, deforms by such amount as the frame of a vehicle where the cab is mounted deforms, to cause the cab to collide with the projection barrier.例文帳に追加

そして、請求項２に係る発明は、請求項１に記載の衝突試験装置に於て、前記台車の前方と前記突起バリアとに配置され、前記衝突手段の作動時に、前記キャブが搭載される車両のフレームの変形量だけ変形して前記突起バリアに前記キャブを衝突させる緩衝手段を有することを特徴とする。 - 特許庁

In this testing device using the test plate 10 where many storage recessed parts 11 for storing the sample liquid 1 are provided, the pair of electrodes 12, 13 extending to the inside in the storage recessed part on the test plate are provided, and a pair of lead parts 14, 15 corresponding to the test plate are provided to be connected to the pair of electrodes provided in the storage recessed part.例文帳に追加

サンプル液１を収容させる収容凹部11が多数設けられた試験用プレート10を用いた試験用装置において、この試験用プレートにおける収容凹部にその内部に伸びた一対の電極12，13を設けると共に、この収容凹部に設けられた一対の電極に接続させるようにして、試験用プレートに対応する一対のリード部14，15を設けた。 - 特許庁

The LSI tester and the test system for testing respective LSIs formed on a wafer is characterized by that the LSI tester is structured so as to forecast and calculate an ending time of measurement of all of the LSIs in real time every time the respective LSI tests are ended, and that the plurality of the LSI testers are connected by a network.例文帳に追加

ウェハ上に形成されている個々のＬＳＩのテストを行うＬＳＩテスタおよびテストシステムであって、全てのＬＳＩの測定が終了する時刻を個々のＬＳＩのテストが終了するごとにリアルタイムに予測算出するように構成されたＬＳＩテスタおよびこれら複数のＬＳＩテスタをネットワークで接続したことを特徴とするもの。 - 特許庁

A system for testing the active matrix array including a plurality of transistors includes: an injecting element operative to apply a driving voltage to the selected transistors of the array; a readout circuit having amplifiers operative to selectively detect output signals; and a control circuit operative to control the injecting element and the readout circuit.例文帳に追加

複数のトランジスタを含むアクティブマトリクスアレイをテストするシステムであり、アレイの選択されたトランジスタに駆動電圧を印加する働きをする注入素子と、出力信号を選択的に検出する働きをする増幅器を有する読み出し回路と、前記注入素子及び前記読み出し回路を制御する働きをする制御回路と、を含む。 - 特許庁

In the case of the display test, a testing operator makes a voltage to be outputted to a terminal of the remote monitoring controller TC using the voltage output device 2, and confirms the voltage state of the terminal of the remote monitoring controller TC displayed on the master station simulator TCT as the voice output and display by the voltage output device 2 being a trigger.例文帳に追加

表示試験の際に、試験作業員は、電圧出力装置２を用いて遠隔監視制御装置ＴＣの端子に電圧を出力し、電圧出力装置２による音声出力及び表示をトリガとして、親局模擬装置ＴＣＴに表示された、遠隔監視制御装置ＴＣの当該端子の電圧状態を確認する。 - 特許庁

To provide a test method of anti-allergenic performance of an anti-allergen-processed product capable of testing anti-allergenic performance of a thick anti-allergen-processed product or a hard anti-allergen-processed product easily in a short time by using a test liquid including allergen of a quantity similar to an actual using condition, and capable of performing a test having high reproducibility and high measurement sensitivity.例文帳に追加

厚みのある抗アレルゲン加工製品や硬質の抗アレルゲン加工製品の抗アレルゲン性能を、実際の使用条件に近い量のアレルゲンを含有する試験液を用いて簡易かつ短時間に試験することができ、さらに再現性と測定感度の高い試験が可能な抗アレルゲン加工製品の抗アレルゲン性能の試験方法を提供する。 - 特許庁

To supply a gas coping with every testing condition, by adjusting the gas to a stable humidity and adjusting the flow rate to a constant state and enlarging a conditional range of dilution and mixed gas formation before discharging gas of unfavorable conditions with an unstable and narrow conditional range injected to a union of a code 20 by a union of a code 21, converting to a stable gas.例文帳に追加

符号２０ユニオンへ注入される不安定で条件範囲の狭い悪条件のガスを符号２１ユニオンで排出するまでに、安定した湿度に調整し流量を一定に調整して、また希釈や混合ガス作成など条件範囲を拡大し、安定したものに変換させ、あらゆる試験条件に対応可能なガスを供給する。 - 特許庁

The testing system includes: a summation circuit to sum voltage signals and to output a summation signal indicating the sum of the received analog voltage signals; and an analyzer circuit to digitize the summation signal and to detect to compare the digitized summation signal with an error tolerance range to detect whether at least one of the DAC/amplification circuits is experiencing an operating error.例文帳に追加

このテスト・システムは、電圧信号を加算し、受け取ったアナログ電圧信号の加算を示す加算信号を出力する加算回路及び前記加算信号をディジタル化し、このディジタル化加算信号をエラー許容値範囲と比較して少なくとも１つの前記ディジタル・アナログ変換／アンプ回路が動作エラーにあるかを検出するアナライザー回路を含んでいる。 - 特許庁

The invention relates to: a method for sterilizing the envelope made of film for holding articles, foods, cosmetics, medical implants, medical plasters, medical auxiliaries, microbiological tools or a pharmaceutical active substance formulation; a method for testing the leaktightness of the envelope made of film sterilized by electron radiation or gamma radiation; and the envelope made of film for use in the methods.例文帳に追加

物品、食品、化粧品、医療移植片、医療用石膏、医療用補助器具、微生物学的道具又は医薬活性物質製剤を保持するためのフィルム容器を滅菌する方法、電子放射線或いはガンマ放射線によって滅菌されたフィルム容器の耐漏えい性を試験する方法、及びこれらの方法に用いられるフィルム容器を用いる。 - 特許庁

The biological testing apparatus includes: a plurality of laser sources; and a control means for outputting an excitation start signal that instructs the laser light sources to start excitation and outputting an oscillation start signal to instruct the laser light sources to start oscillation after a prescribed time has elapsed from the output of the excitation start signal so as to generate pulsed light from the laser light sources.例文帳に追加

生体検査装置は、複数のレーザ光源と、レーザ光源に対して励起の開始を指示する励起開始信号を出力するとともに、励起開始信号から所定の時間の経過後にレーザ光源に対して発振の開始を指示する発振開始信号を出力することで、レーザ光源からパルス光を発生させる制御手段とを備える。 - 特許庁

To provide an electrostatic capacitance-type input device, a method of testing the electrostatic capacitance-type input device capable of reliably detecting whether or not a short circuit is formed in the electrodes used for detecting an input position without using a large-scale test device, and a driving device for an electrostatic-type input device capable of implementing such a test method.例文帳に追加

大掛かりな検査装置を用いなくても、入力位置検出用の電極が断線しているか否かを確実に検出することのできる静電容量型入力装置、該静電容量型入力装置の検査方法、およびかかる検査方法を実現可能な静電容量型入力装置用駆動装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a structure for adjusting a pressure loss of a model, a fluid testing model, and a method for adjusting the pressure loss of the model, which maintain a mechanical strength and realizing desired resistance characteristics by disposing only resistance adjusting members on the upstream and downstream sides of a fluid flow without using supporting members.例文帳に追加

支持部材を用いずに、抵抗調整部材のみで、流体の流れの上流側と下流側に抵抗調整部材を配置して、機械的強度を維持しつつ、所望の抵抗特性を実現することができる、模型の圧力損失調整用構造体、流体試験用模型及び模型の圧力損失調整方法を提供する。 - 特許庁

Besides, this testing method performs steps of: mounting, on the shaft, a base material to which deposition substances are applied, immersing a film coated base material in a solution housed inside a container, utilizing the drive system for rotating the shaft and the film coated base material at a given rotating speed, and determining an amount of the deposition substances removed from the base material.例文帳に追加

この試験方法はさらに、堆積物質が塗布されている基材をシャフトに載置するステップと、その塗膜基材を容器に収容された溶液内に沈浸するステップと、シャフトと塗膜基材とを所定回転速度で回転させるために駆動システムを利用するステップと、基材から除去された堆積物量を決定するステップとを含んでいる。 - 特許庁

The system for testing hydrogen permeability is equipped with the reference electrode 103 arranged in the hollow structure part 102 of the reinforcing rod 101, the counter electrode 104 arranged in the hollow structure part 102, the electrolyte solution 105 housed in the hollow structure part 102, and an electrolyte solution supply part 106 for supplying the electrolyte solution 105 to the hollow structure part 102.例文帳に追加

鉄筋１０１の中空構造部１０２の内部に配置された参照電極１０３と、中空構造部１０２内に配置された対向電極１０４と、中空構造部１０２に収容された電解質溶液１０５と、中空構造部１０２に電解質溶液１０５を供給する電解質溶液供給部１０６とを備える。 - 特許庁

A reference voltage generating circuit 110 for supplying each driver IC 100 with a reference voltage VREF at LED head mounting is prepared previously in the TEG chip 310 formed on a wafer 300 together with a plurality of the driver ICs 100 for driving an LED array in addition to a circuit for testing each driver IC 100.例文帳に追加

ウェハ３００上に、ＬＥＤアレイを駆動するための複数のドライバＩＣ１００と共に形成したＴＥＧチップ３１０内に、各ドライバＩＣ１００を試験するための回路に加えて、ＬＥＤヘッド実装時に各ドライバＩＣ１００に基準電圧ＶＲＥＦを供給するための基準電圧発生回路１１０を作り込んでおく。 - 特許庁

A changeover circuit 26 of a load control unit 1 detects open and close of a circuit breaker 7, gives a normal power to a multi-functional protection relay device 5 from a main circuit 3 in a closed-circuit state of the circuit breaker 7, and gives a power for testing to the multi-functional protection relay device 5 in an open-circuit state of the circuit breaker 7.例文帳に追加

負荷制御装置１の切換回路２６は、回路遮断器７の開閉を検出し、その回路遮断器７が閉路状態にあるときには多機能型保護リレー装置５に主回路３から常用電源を与え、回路遮断器７が開路状態にあるときには多機能型保護リレー装置５に試験用電源を与えるように切り換える。 - 特許庁

The temperature-sensing resistor washing device (68) for the corrosion testing machine includes: a washing solution supply means (69), having a washing nozzle (70) for jetting a washing solution to the temperature-sensing resistor (57); and a control means (67) for controlling the driving of the washing solution supply means (69) to jet the washing solution from the washing nozzle (70).例文帳に追加

腐食試験機用測温抵抗体洗浄装置（６８）は、測温抵抗体（５７）への洗浄液を噴出する洗浄ノズル（７０）を有する洗浄液供給手段（６９）と、洗浄ノズル（７０）から洗浄液を噴出させるように洗浄液供給手段（６９）を駆動制御する制御手段（６７）とを備えている。 - 特許庁

To provide a member for image display which hardly causes curling or cracking of a polarizing film laminated body in an environmental testing, especially in a demanding high temperature resistance test, even in a structure that aims to impart high functions, that is, in a structure of the polarizing film laminated body having a functional resin layer such as crosslinked coating film and/or a functional sheet laminated/adhered onto a polarizing film.例文帳に追加

高機能付与を目的とする構成、即ち、偏光フィルムに架橋塗膜等の機能樹脂層、及び／又は、機能シートを積層／貼合する偏光フィルム積層体の構成に於いても、環境試験、特に過酷な高温耐熱試験で、偏光フィルム積層体のカール及びクラックが生じることのない画像表示用部材を提供する。 - 特許庁

The load testing machine 100 includes: a test object support rack 2; a weight frame 3 relatively elevating relative to the test object support rack 2; weights 4a-4e where adjacent weights are engaged each other; a load frame 5 including a weight suspension unit 55 for engaging a pressing unit 54 for pressing the test object and the weight 4a; and a suspension tool 6 including a through-hole 69.例文帳に追加

被試験物支持台２と、被試験物支持台２に対し相対的に昇降する分銅枠３と、隣接する分銅同士が互いに係合する分銅４ａ〜分銅４ｅと、被試験物を押圧する押圧部５４と分銅４ａと係合する分銅吊下部５５とを有する負荷枠５と、貫通孔６９を有する吊下具６と、を備える荷重試験機１００。 - 特許庁

To obtain an adhesive exhibiting excellent heat resistance after laminating processing especially even when a hardly adhesive resin film such as a polyolefin film is laminated on a steel plate, and keeping the excellent adhesiveness even after a boiling water resistant testing; and to provide a plastic film-laminated steel plate produced by utilizing the adhesive.例文帳に追加

本発明の課題は、特に、ポリオレフィンフィルムなどの難接着性樹脂フィルムを鋼板にラミネートした場合でも、ラミネート加工後に優れた耐熱性を示すと共に、耐沸水性試験後においても優れた接着力が確保される接着剤及びその接着剤を利用して製造するプラスチックフィルムラミネート鋼板を提供することにある。 - 特許庁

In this automatic testing system, since a periodical command execution means 108 periodically executes a debugger command and a fault detection means 110 detects the occurrence of a fault on the basis of the state transition of a real time OS which is received from a debugging monitor 124, surely detect the occurrence of the fault in the exchange application program 121.例文帳に追加

周期コマンド実行手段１０８により、周期的にデバッガのコマンドを実行して、デバッグモニタ１２４から受信したリアルタイムＯＳの状態遷移により、障害検出手段１１０が障害発生を検出するようにしたので、効率よく確実に交換アプリケーションプログラム１２１の障害発生を検出することができる。 - 特許庁

At testing, external input instruction of a plurality of number of times is inputted to a decoder circuit, selected results of each of external input instruction of the plurality of number of times inputted to the decoder circuit are held in a holding circuit, first selection lines to be selected out of a plurality of first selection lines in accordance with holding contents are selected in parallel.例文帳に追加

テスト時において、複数回の外部入力指示をデコーダ回路に入力し、デコーダ回路に対して入力された複数回の外部入力指示それぞれにおける選択結果を保持回路で保持し、保持内容に応じて複数の第１の選択線のうち選択対象とされた第１の選択線を並列に選択する。 - 特許庁

This semiconductor testing device for setting test condition data in a hardware and performing a test includes: a storage part for storing the test condition data; a selection output part for selecting the test condition data stored in the storage part, and outputting the data in each item; and a setting part for setting the test condition data output from the selection output part in the hardware.例文帳に追加

テスト条件データをハードウェアに設定して試験を行う半導体試験装置において、テスト条件データが記憶される記憶部と、記憶部に記憶されたテスト条件データを選択して項目毎に出力する選択出力部と、選択出力部から出力されたテスト条件データをハードウェアに設定する設定部とを備える。 - 特許庁

A control circuit generates a block scan clock signal including a shift clock at the same timing when a control signal shows a scan shift period for inputting and outputting data in the scan chain, and generates a block scan clock signal including pulses at different timing for each of the plurality of circuit blocks when the control signal shows a capture period for testing a logic operation of the combination circuit.例文帳に追加

制御回路は、制御信号がスキャンチェーンにデータを入出力するスキャンシフト期間を示すときに、同じタイミングのシフトクロックを含むブロックスキャンクロック信号を生成し、組み合わせ回路の論理動作をテストするキャプチャ期間を示すときは複数の回路ブロック毎に異なるタイミングのパルスを含むブロックスキャンクロック信号を生成する。 - 特許庁

To provide a device, method and program for testing a branch prediction circuit of an information processor, in which verification of the branch prediction circuit can be easily and efficiently performed without performing processing for specifying a branch point and substituting a branch instruction by the other instruction.例文帳に追加

分岐ポイントを特定して分岐命令を他の命令で置き換える処理を行うことなく、容易に、かつ効率的に分岐予測回路の検証を可能とする情報処理装置の分岐予測回路の試験装置、情報処理装置の分岐予測回路の試験方法及び情報処理装置の分岐予測回路の試験プログラムを提供すること。 - 特許庁

The integrated circuit 11 is prepared preliminarily with voltage-frequency conversion circuits 15-17 for converting voltages of testing objective points in respective analog circuits 12-14 into alternating current signals of corresponding frequencies, and a mixing circuit 18 for mixing outputs from the respective voltage-frequency conversion circuits 15-17 to be output to a terminal 19, in an inside of the circuit 11.例文帳に追加

予め集積回路１１内に、各アナログ回路１２〜１４の試験対象点の電圧を対応する周波数の交流信号に変換する電圧−周波数変換回路１５〜１７と、各電圧−周波数変換回路１５〜１７の出力を混合して端子１９へ出力する混合回路１８とを作成しておく。 - 特許庁

The testing circuit 4 has an operation set means 5 for setting an operation of the counter 2 divided into a plurality of counter blocks 3 at each counter block, and an initial value set means 6 for setting a predetermined initial value to each counter block 3 at each operation set by the means 5, thereby inspecting based on the counter output after each operation.例文帳に追加

テスト回路４は、複数のカウンタブロック３に分割されたカウンタ２の動作を、各カウンタブロック毎に、設定する動作設定手段５と、この動作設定手段５により設定された各動作毎に、各カウンタブロック３に対し、所定の初期値を設定する初期値設定手段６と、を具備し、各動作後のカウンタ出力に基づいて検査を行う。 - 特許庁

(2) The provisions of Article 69-27, paragraph (2), Article 69-29, and Article 69-30 shall apply mutatis mutandis to a Designated Training Agency. In this case, the terms "Designated Testing Agency" and "Examination Affairs" in these provisions shall be deemed to be replaced with "Designated Training Agency" and "Training Affairs," respectively. 例文帳に追加

２　第六十九条の二十七第二項、第六十九条の二十九及び第六十九条の三十の規定は、指定研修実施機関について準用する。この場合において、これらの規定中「指定試験実施機関」とあるのは「指定研修実施機関」と、「試験事務」とあるのは「研修事務」と読み替えるものとする。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

Article 22 (1) The competent minister may, within the limits necessary to enforce the provisions of this Section, require a Registered Inspection Body to submit reports on its work for Testing of Organisms, or may authorize staff members to enter the office of a Registered Inspection Body, inspect the books, documents or other necessary properties of the Registered Inspection Body, or question relevant persons. 例文帳に追加

第二十二条　主務大臣は、この節の規定の施行に必要な限度において、登録検査機関に対し、その生物検査の業務に関し報告を求め、又はその職員に、登録検査機関の事務所に立ち入り、登録検査機関の帳簿、書類その他必要な物件を検査させ、若しくは関係者に質問させることができる。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

Article 29 (1) The State and prefectures shall set up the necessary facilities for inspections where inspections under Article 25, paragraph (1) or Article 26, paragraphs (1) to (3) (hereinafter referred to as "product inspections") and affairs concerning the testing of food, additives, apparatus or containers and packaging that have been removed pursuant to the provisions of paragraph (1) of the preceding Article are to be carried out. 例文帳に追加

第二十九条　国及び都道府県は、第二十五条第一項又は第二十六条第一項から第三項までの検査（以下「製品検査」という。）及び前条第一項の規定により収去した食品、添加物、器具又は容器包装の試験に関する事務を行わせるために、必要な検査施設を設けなければならない。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

The method for testing the secondary battery of this invention includes a step of discharging and charging that carries out discharging and charging in the secondary battery treated initial discharging and charging treatment under a discharging and charging current larger than that of the initial discharging and charging current of the initial discharging and charging treatment.例文帳に追加

本発明の二次電池の検査方法は、初期充放電処理が施された二次電池に、初期充放電処理の初期充放電電流より大きな電流値を有する充放電電流での充放電を行う充放電工程と、充放電工程が施された二次電池の電池特性の変化を測定する測定工程と、を有することを特徴とする。 - 特許庁

To provide wiring for connecting a semiconductor integrated circuit and an external circuit through a socket, and to provide an inspection device of the semiconductor integrated circuit for inspecting the connected state between the external connection terminals of the semiconductor integrated circuit connected to the external circuit in the inspection device of the semiconductor integrated device for executing the testing of an entire system including the external circuit.例文帳に追加

外部回路を含めたシステム全体のテストを実施する半導体集積回路の検査装置であって、ソケットを通して半導体集積回路と外部回路とを接続する配線と外部回路に接続される半導体集積回路の外部接続端子間の接続状態を検査できる半導体集積回路の検査装置を提供する。 - 特許庁