「testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(283ページ目) - Weblio英語例文検索

The tester 100 comprises a power consumption measurement part 132 for measuring power consumption of the device 120 in testing the electrical characteristics, a surface temperature measurement element 106 for measuring surface temperature of the device 120, and a surface temperature controller 140 for controlling the temperature of the device 120 based on the surface temperature and the power consumption.例文帳に追加

試験装置１００は、電気的特性試験を行う際の被試験デバイス１２０の消費電力を測定する消費電力測定部１３２と、被試験デバイス１２０の表面温度を測定する表面温度測定素子１０６と、表面温度と消費電力とに基づき、被試験デバイス１２０の温度を制御する表面温度制御装置１４０と、を含む。 - 特許庁

In the ink jet recording adhesive sheet obtained by laminating an ink jet recording surface base material, an adhesive layer and a mold release sheet, a ratio of an MD direction tensile strength to a CD direction tensile strength measured according to a paper and cardboard tensile characteristic testing method in accordance with JIS P 8113 is 1.00 to 1.60.例文帳に追加

インクジェット記録用表面基材、粘着剤層、および剥離紙を積層してなるインクジェット記録用粘着シートにおいて、ＪＩＳ−Ｐ−８１１３規定の紙および板紙−引張特性の試験方法で測定した、該剥離紙のＣＤ方向引張強さに対するＭＤ方向引張強さの比率が１．００〜１．６０であるインクジェット記録用粘着シート。 - 特許庁

A semiconductor integrated circuit has a memory 41, a BIST main circuit 10 testing the memory 41, and a BIST sub-circuit 20, in the BIST sub-circuit 20, at least either of the row or column address of the memory 41 has a boundary address generating circuit 21 generating alternately the most significant address and the least significant address.例文帳に追加

半導体集積回路は、メモリ４１と、メモリ４１のテストをするＢＩＳＴメイン回路１０、ＢＩＳＴサブ回路２０とを有し、ＢＩＳＴサブ回路２０は、メモリ４１のロウアドレス又はカラムアドレスの少なくとも一方は、当該メモリ４１の最上位アドレスと最下位アドレスを交互に生成する境界アドレス生成回路２１を有する。 - 特許庁

To provide a small-sized measuring apparatus capable of providing accurately a timely measured result by reaction control, detection and computation, to a testing tool having a hemocyte separation part, and capable of measuring a specified component in blood quickly, easily, inexpensively and precisely in a medical field, using the blood as a specimen, and a measuring method using the apparatus.例文帳に追加

血液を検体とし、血球分離可能部を有し、血液中の特定成分について、診療の現場で迅速、簡便、安価に精度良く測定ができる試験用具に対して、反応制御、検出、演算によって正確に適時測定結果を提供可能な小型の測定装置及びそれを用いる測定方法を提供する。 - 特許庁

A test data recording part 15 is provided to store the digital data on electricity quantity of all digitalized plant operating patterns (accident data, normal operation data, plant starting data, plant stopping data, etc.), and the data required by a test data selection signal 16 is selected from these data and is outputted to a relay part 11 for testing.例文帳に追加

ディジタル化されたあらゆるプラント運転パターン（事故データ，通常、運転データプラント起動時データ，プラント停止時データなど）のディジタル電気量データを記憶した試験データ記録部１５を設け、これらのデータの中から試験データ選択信号１６によって必要とするデータを選択し、これをリレー部１１に出力して試験するようにした。 - 特許庁

An apparatus for testing a liquid sample is combined with a quantitative detection system, disposed properly in a conduit so as to determine the quantity of electromagnetic rays internally radiated from a hollow translucent conduit means suitable for a liquid flow in the apparatus and having a substantially uniform cross section dimension and a part of the conduit means.例文帳に追加

液体サンプルを検定するための装置であって、 その中の液体流のために適合された実質的に均一の断面寸法の中空の光透過性導管手段；および 導管手段の一部の内側から放射する電磁線を定量するように、導管に対して適切に配置された定量性検出システムとを、組み合わせて含む上記装置。 - 特許庁

To provide a circuit and a method for testing a semiconductor integrated circuit, which can easily test a limitation of an operation cycle, i.e., a delay characteristic of the semiconductor integrated circuit device at an arbitrary cycle in a function test pattern of the semiconductor integrated circuit, by using the function test pattern and a relatively slow clock signal input from the outside.例文帳に追加

半導体集積回路の機能試験パタンと、外部からの比較的遅いクロック信号とを用いて、機能試験パタンの任意のサイクルでの動作周期の限界、つまり本半導体集積回路装置の遅延性能を容易に試験することができる半導体集積回路の試験回路およびその試験方法を提供する。 - 特許庁

The semiconductor testing apparatus 100 measures a matching time for each block and for each of a plurality of DUTs 90 that output test signals and calculates an optimal maximum match time for matching is obtained in a predetermined amount of blocks for each of the DUTs 90 in a predetermined number-th function test out of a plurality of number of times of tests.例文帳に追加

半導体試験装置１００では、複数回実行されるうちの所定回目のファンクションテストにおいて、試験信号を出力した複数の各ＤＵＴ９０毎、各ブロック毎のマッチ時間を計測し、所定量のブロックでマッチがとれるまでの最適マッチタイムアウト時間を各ＤＵＴ９０毎に算出する処理を行う。 - 特許庁

The vehicle wheel suspension testing arrangement 1 which rotates wheels, includes: a crawler 10 which has strip-like crawler beams 40 arranged side by side in a circulating direction to form a caterpillar; a crawler support table 11 for circularly supporting the crawler 10; and a crawler driving mechanism 20 for circulating the crawler 10 which touches and rolls the wheels.例文帳に追加

車輪を回転させる車両ホイールサスペンション試験装置１であって、帯板状のクローラビーム４０が循環方向に並んで無限軌道を形成するクローラ１０と、クローラ１０を循環可能に支持するクローラ支持台１１と、車輪を転接させるクローラ１０を循環させるクローラ駆動機構２０とを備える構成とした。 - 特許庁

A spoon body 11, which is formed out of plural materials to produce a base, subjected to machining to have a fine unevenness on a recessed inside surface 11a, and finished to be slippery on a protruded outside surface 11b, is provided with plural sets of tongue sense testing plates y1-y4 being the same in shape on which a gripping portion 12 is integrally provided.例文帳に追加

床を製作するための複数の材料で製作され、凹状の内側表面１１ａを細かい凹凸を有するように加工を施すとともに、凸状の外側表面１１ｂをツルツルに仕上げ加工したスプーン本体１１に、把持部１２を一体に設けた複数組の同一形状の舌感テストプレートｙ１〜ｙ４を備えている。 - 特許庁

In a test mode for testing whether output voltage OUT at a predetermined output current is within a standard or not, operation of an internal circuit 1 is stopped, and switches 15 and 17 are set to off-state and on-state, and only current carried to PMOS transistors 13_1, 13_2 and 13_3 of a current supply circuit 13 is supplied to a resistance element 16.例文帳に追加

所定の出力電流時における出力電圧_ＯＵＴが規格内にあるか否かのテストを行なうテストモードにおいて、内部回路１の動作を停止するとともにスイッチ１５，１７をオフ状態，オン状態に設定し、電流供給回路１３のＰＭＯＳトランジスタ１３＿１，１３＿２，１３＿３に流れる電流のみ抵抗素子１６に供給する。 - 特許庁

The semiconductor testing apparatus 1 has auxiliary pattern generating sections 12a-12d for temporarily storing the test pattern P1 generated by the pattern generation section 11, reading the stored test pattern according to individual test states of the devices to be tested 20a-20d, and outputting it as a test pattern used for the test of the devices to be tested 20a-20d.例文帳に追加

この半導体試験装置１は、パターン発生部１１で発生した試験パターンＰ１を一時的に記憶し、被試験デバイス２０ａ〜２０ｄの個別の試験状況に応じて、記憶した試験パターンを読み出して被試験デバイス２０ａ〜２０ｄの試験に用いる試験パターンとして出力する補助パターン発生部１２ａ〜１２ｄを備えている。 - 特許庁

The microbiological testing chip 10 has a substrate and a microorganism detection part 18 attached to the substrate and containing a microorganism detection flow channel 181, the microorganism detection part 18 is formed of a light-transmitting material, and at least 90° of the circumference of the microorganism detection part is exposed in the chip 10.例文帳に追加

基板と、該基板に装着され内部に微生物検出用流路１８１を有する微生物検出部１８とを有する微生物検査チップ１０であって、前記微生物検出部１８は、光透過性の材料によって形成され、前記微生物検出部の周囲の少なくとも９０度の範囲は露出されているチップ１０。 - 特許庁

In a semiconductor device having a test mode for testing, the device is provided with a circuit generating a first signal based on a dummy command signal inputted plural times and generating a second signal indicating entry for a corresponding test mode or exit from a corresponding test mode based on an address signal and the first signal.例文帳に追加

試験を行うためのテストモードを有する半導体装置において、複数回入力されるダミーコマンド信号に基づいて、第１の信号を生成し、アドレス信号及び第１の信号に基づいて、対応するテストモードへのエントリ又は対応するテストモードからのエクジットを指示する第２の信号を生成する回路とを備えるように構成する。 - 特許庁

To provide manufacturing equipment for a semiconductor device which causes no damages on the semiconductor device during the characteristics testing of the device or the subsequent conveyance thereof even when the device has a reduced size such as a milli-size leadless semiconductor element, and which facilitates reversion of the entire semiconductor device when tape packaging.例文帳に追加

ミリサイズのリードレス半導体素子のような小型化された半導体装置を対象とする場合であっても、その特性テスト時にやその後の搬送時において半導体装置を損傷することがなく、しかも、テープ梱包時において半導体装置全体を容易に反転させることのできる半導体装置の製造装置を提供する。 - 特許庁

To provide a high pressure gas fatigue testing method and an apparatus which have the advantages of preventing hydrogen gas from leaking from a gasket between a pressure vessel as a specimen and a pull rod, implementing fatigue test of a material in a short cycle time, evaluating the fatigue characteristics and easily controlling the temperature of the specimen, etc.例文帳に追加

被試験体の圧力容器とプルロッド間のパッキン部分からの水素ガスの漏洩を生じることなく、更に短いサイクルタイムで材料の疲労試験を行なって疲労特性を評価することが可能であり、また更に被試験体の温度制御が容易である、等の利点を有する高圧気体疲労試験方法及び装置の提供を目的とする。 - 特許庁

The method, system, and computer program product pertain directly to the enhancement of existing home blood glucose monitoring devices, by introducing an intellectual data interpretation component predicting and alerting the user to periods of increased risk for hyperglycemia, hypoglycemia, increased glucose variability, and ineffective testing, and to the enhancement of emerging self-monitoring blood glucose devices by the same features.例文帳に追加

本方法、システム、コンピュータプログラム製品は直接的には、使用者に、高血糖、低血糖、グルコース変動の増大、無効な検査の期間を予測して警告することができるデータ知的解釈部を導入することによる既存の家庭用血中グルコース監視装置を改善、及び同機能を導入することによる血中グルコース自己監視装置の改善に関する。 - 特許庁

The compressor testing device contains a test chamber 10; a gas supply means 20 for supplying nitrogen gas having specified temperature and specified pressure to the test chamber 10; a driving means 30 for driving a specimen T put in the test chamber 10 through a reduction means 40; and a load adjusting means 50 for adjusting a load of the driving means 30.例文帳に追加

テストチャンバー１０と、前記テストチャンバー１０に所定温度および所定圧力の窒素ガスを供給するガス供給手段２０と、前記テストチャンバー１０内に配設された供試体Ｔを、減速手段４０を介して駆動する駆動手段３０と、前記駆動手段３０の負荷を調整する負荷調整手段５０とを備えてなるものである。 - 特許庁

This remote operation system is provided with the radio station controllers 102 and 104 for controlling the radio channel of a first radio channel communication system, a mobile station 108 for a test for testing the radio channel controlled by the radio station controllers, and a remote operation device 110 for operating the radio station controllers, on the basis of test results outputted by the mobile station for a test.例文帳に追加

第１の無線回線通信システムの無線回線を制御する無線局制御装置１０２，１０４と、その無線局制御装置が制御する無線回線を試験する試験用移動局１０８と、試験用移動局が出力する試験結果に基づいて無線局制御装置を操作する遠隔操作装置１１０とを備える。 - 特許庁

In the device, an image processing circuit 4 performs image processing for the detection of certain testing items other than display unevenness based on image data, a judgment circuit 5 determines defects from processing result of the image processing circuit 4, and an image processing circuit 6 performs image processing based on the image data so that display unevenness may become marked to be output to a display unit 6a.例文帳に追加

画像処理回路４は画像データをもとに表示ムラ以外の所定の検査項目検出のための画像処理を行い、判定回路５は画像処理回路４の処理結果から欠陥を判定し、画像処理回路６は、画像データをもとに表示ムラが顕著になるような画像処理を行い表示装置６ａに出力する。 - 特許庁

To solve the problem of a conventional system testing apparatus wherein, when a faulty module has been adjusted, replaced or repaired to remove a fault, the fact that the fault has been removed is not taken into account at all, resulting in low accuracy with which priority is determined next time and a difference with the priority with which faults must be actually dealt with.例文帳に追加

従来のシステム試験装置においては、故障モジュールに対し、調整、交換、修理を施し故障が解消した場合、その故障が解消したことに対して何ら考慮されないため、次に優先順位を決定する場合の精度が低くなり、実際に対処しなければならない優先順位とでは相違が発生する。 - 特許庁

In the test circuit of the device 400 equipped with the nonvolatile memory 402, an external reset control section 410 generates an internal reset signal 414 by masking the external reset signal 222 for a predetermined period, and a CPU 401 controls an execution of a self-testing and a write of this test result to the nonvolatile memory 402 based on the internal reset signal 414.例文帳に追加

不揮発性メモリ４０２を備えたデバイス４００のテスト回路であって、外部リセット制御部４１０は外部リセット信号２２２を所定の期間マスクして内部リセット信号４１４を生成し、ＣＰＵ４０１は内部リセット信号４１４に基づいて、自己試験の実行とその結果の不揮発性メモリ４０２への書き込みとを制御する。 - 特許庁

The device 10 contains a plurality of load generation mechanisms for testing the strength of a material under pressure, in which each mechanism simultaneously operates independently of other mechanisms and each load mechanism applies a load to simulate a pressure condition with at least one method from among deformation, in-plane shear, a cyclic load, gas permeability, layer or film delamination.例文帳に追加

複数の負荷発生機構を含み圧力下での材料の強度をテストする装置１０であって、機構のそれぞれは互いに他の機構から独立して同時に動作し、各負荷発生機構は、変形、面内せん断、周期的負荷、気体透過性、層又はフィルム剥離のうち少なくとも一つの形式で、圧力状態をシミュレートする負荷を加える装置１０。 - 特許庁

The apparatus for testing a liquid crystal panel includes: a test board to transmit light to a liquid crystal panel which is placed thereon; a polarizer plate fixing unit rotatably formed on the test board and having a groove where a polarizer is inserted; and a stopper formed at the test board to fix the polarizer fixing unit at a desired position.例文帳に追加

本発明に係る液晶パネル検査装置は、液晶パネルが置かれて前記液晶パネルに光を出力する検査台と、該検査台に回転可能に形成されて偏光板が挿入される溝を有する偏光板固定部と、前記検査台に形成されて前記偏光板固定部を所望の位置に位置させるストッパーとで構成される。 - 特許庁

In the electron beam type testing device, the deflection control means 2 to control the electrostatic deflector has a deflection waveform forming means 21 to form a deflection control signal, and a deflection signal output means 20 of applying different voltages to respective stages of the electrostatic deflector by amplifying formed control signals and by branching these amplified control signals.例文帳に追加

電子ビーム式検査装置において、静電偏向器を制御する偏向制御手段２は、偏向制御信号を生成する偏向波形生成手段２１と、生成された制御信号を増幅し、この増幅された制御信号を分岐して静電偏向器の各段に違う電圧を印加する偏向信号出力手段２０とを有する。 - 特許庁

The solid pharmaceutical formulation containing ranitidine is characterized in that it has acid-controlling power larger than 200 mL which is determined by the acid-controlling power testing method according to the fifteenth Revision of Japanese Pharmacopoeia and that it contains the ranitidine-supporting particle which supports the ranitidine on an inorganic compound containing magnesium and/or calcium having a magnesium and/or calcium content of 20 mass% or higher.例文帳に追加

第十五改正日本薬局方の制酸力試験法によって求められる制酸力が２００ｍＬを超え、かつマグネシウム及び／又はカルシウム含有量が２０質量％以上であるマグネシウム及び／又はカルシウム含有無機化合物に、ラニチジンを担持させたラニチジン担持粒子を含有することを特徴とするラニチジン含有医薬固形製剤。 - 特許庁

The testing system 1 is provided with: an acceleration adding part 12 for adding regularly changing acceleration to a device to be tested 2; a voltage measuring part 13 for measuring a voltage value outputted from the device to be tested 2; and an arithmetic processing part 14 for performing arithmetic processing for computing a characteristic value corresponding to the measured voltage.例文帳に追加

本発明の試験装置１は、被試験デバイス２に対して規則的に変化する加速度を付与する加速度付与部１２と、被試験デバイス２から出力される電圧値を測定する電圧測定部１３と、測定した電圧値に対応する特性値を算出するための演算処理を行う演算処理部１４とを備えている。 - 特許庁

To provide a method and device for testing a grounding device for certainly determining abnormal conditions when an apparatus grounding device and a remote control grounding device in a substation are interconnected by erroneous wiring in a switchboard or when a grounding electrode of the grounding device is electrically connected to another grounding electrode in a erroneous wiring state.例文帳に追加

変電所における機器接地装置と遠制接地装置が配電盤内の誤配線で接続状態になっている場合や、接地装置の接地極が他の接地極と電気的に誤接続状態となっている場合に、確実に異常の判定を得ることができる接地装置の試験方法及び装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

The device for automatically testing stored urine 1 is so structured that the patient himself operates to use collected urine for measurement on the basis of an instruction from a device body, and sequentially guides a part in the device body 2 which is necessary to be operated by the patient by a means for appealing to eye such as illumination, lighting, or blinking.例文帳に追加

患者自身がその採取した尿を、装置本体からの指示に基づいて測定に供するための操作を行うように構成された自動蓄尿検査装置１において、前記装置本体２における患者の操作が必要な部位を、照明、点灯または点滅など患者の視覚に訴える手段によって順次案内するようにした。 - 特許庁

Characteristic configuration technique to be constituted by passing a test procedure manual creating means 4 to create a test procedure manual 5 to indicate test procedures about a 'processing function A', a 'processing function B' by inputting function pattern tables 2', 3 to express the 'processing function A', the 'processing function B', etc., described in program specifications 1 of a testing object by standardized patterns is adopted.例文帳に追加

試験対象物のプログラム設計書１に記載された［処理機能Ａ］，［処理機能Ｂ］などを、標準化したパターンで現した機能パターン表２’，３が入力されることで、当該［処理機能Ａ］，［処理機能Ｂ］についての試験手順を示す試験手順書５を作成する試験手順書作成手段４を経てなる特徴的構成手法の採用。 - 特許庁

To provide a TEG pattern, and a testing method of a semiconductor element using the pattern capable of confirming a leakage current level generated by erroneously aligned landing to an active region of M1C through silicon substrate data in a viewpoint of an active extension design rule to the M1C in a manufacturing method of a semiconductor device of 90 nm class or below.例文帳に追加

９０ｎｍ級以下の半導体素子の製造において、Ｍ１Ｃのアクティブ領域に対するミスアラインされたランディングによって発生する漏洩電流水準をＭ１Ｃに対するアクティブエクステンションデザインルールの観点でシリコン基板データを通じて確認可能にすることができるテグパターン及びそのパターンを利用した半導体素子検査方法を提供する。 - 特許庁

There is disclosed method of measuring gear errors where two small gears 1, 3 are engaged with a testing gear 2, a rotational transmission error obtained by measuring the rotational angle of one small gear 3, on the basis of the rotation of the other small gear is subjected to frequency analysis, and then errors including an eccentricity error can be calculated.例文帳に追加

試験歯車２に二つの小歯車１、３をかみ合わせ、一方の小歯車１の回転を基準として他方の小歯車３の回転角度を測定して得られた回転伝達誤差を周波数解析することにより、試験歯車の偏心誤差を含む誤差を演算可能とすることを特徴とする歯車誤差測定方法。 - 特許庁

To provide an insulation test method for a solar battery module and an insulation test apparatus for testing the insulation of the solar battery module easily even in manufacturing test, construction test or after-construction test and capable of specifying any defective position in insulation for the solar battery having defective insulation at a position thereof.例文帳に追加

製造検査時、施工時、施工後のいずれにおいても、太陽電池モジュールの絶縁不良検査を容易に、確実かつ安全に行うことができ、また任意の場所で絶縁不良が発生している太陽電池モジュールにおいても、絶縁不良場所を特定することが可能な太陽電池モジュールの絶縁試験方法及び絶縁試験装置を提供する。 - 特許庁

In this method, a conductive liquid material 22 is laid in between rotating electrode 21 and fixed electrode 23 fixed on rotor of the fluid bearing motor to accurately achieve surfacing revolution testing of motor, without the occurrence of reduction in motor revolution or motor rotation stoppage due to load onto the rotor from the fixed electrode 23.例文帳に追加

流体軸受モータの回転子に固定された回転電極２１と固定電極２３との間に導電性液状物質２２を介在させることで、固定電極２３からの回転子への負荷による、モータ回転数の減少やモータの回転停止は発生せず、正確にモータの浮上回転数の検査を行うことが可能となる。 - 特許庁

To solve such a problems of a conventional radar testing device that a failure detection time is long because the test item order is determined in the descending order of MTBF(Mean Time Between Failure) values of components at the time of a test object design and therefore the test order reflecting a failure record in actual operation of the test body can not be selected.例文帳に追加

従来のレーダ用試験装置では、被試験体設計時の構成品のＭＴＢＦ（Ｍｅａｎ Ｔｉｍｅ Ｂｅｔｗｅｅｎ Ｆａｉｌｕｒｅ）値の降順にて試験項目順序を決定しており、被試験体の実運用における故障実績を反映させた試験順序を選択することができないため、故障検出時間が長い。 - 特許庁

A detachable test fixture 11 formed with a groove in the peripheral surface thereof is provided to be interposed between a sheave 1 and a rope 8 when testing an emergency stop means 3 of an elevator for holding a guide rail in emergency to hinder elevation of an elevator car 2 to reduce traction ability of the sheave 1 in relation to the rope 8 in comparison with that of the normal operation.例文帳に追加

非常時にガイドレールを把持して乗かご２の昇降を阻止するエレベータの非常止め手段３の試験時に、綱車１とロープ８との間に介在され、その外周面に溝が形成される着脱可能な試験用治具１１を備え、綱車１のロープ８に対するトラクション能力をエレベータ通常運転時よりも小さくする。 - 特許庁

To determine an assembling sequence in a mixed production system, so as to eliminate delay of the start of a test due to the test sequence of a product to be tested and allocation to a testing device, and efficiently execute subsequent tests by increasing spare time of each test time even if any trouble occurs in the set test sequence.例文帳に追加

本発明の課題は、混流生産システムにおいて、試験対象の製品の試験順序、該当試験機への割り当て方による試験開始の遅延を無くし、また、個々の試験時間の空き時間を長くして、設定した試験順序でトラブル等が発生しても以後の試験を効率良く実行できるように設定することである。 - 特許庁

The microprocessor is provided with a plurality of test processing means individually testing the same predetermined processing result, a plurality of branch processing means respectively performing branch processing according to test results by the respective test processing means, and a trap means performing failure handling process when branch processing cannot be carried out by a predetermined branch processing means operated preferentially to other branch processing means.例文帳に追加

同一の所定の処理結果をそれぞれテストする複数のテスト処理手段と、各テスト処理手段によるテスト結果に応じてそれぞれ分岐処理を行う複数の分岐処理手段と、他の分岐処理手段に優先して実行される所定の分岐処理手段にて分岐できなった場合に障害対応処理を実行するトラップ手段と、を備えた。 - 特許庁

In a process of manufacturing a semiconductor device including an adjustment circuit for adjustment according to results of tests, the method includes testing the semiconductor device (at step S3), and forming a wiring pattern or a via pattern by electronic beam lithography with an electronic beam lithography device according to the results of the tests, and finishing the circuit pattern of the adjustment circuit (at step S4).例文帳に追加

試験結果に応じた調整を行う調整回路を含む半導体装置の製造途中において、当該半導体装置を試験し（ステップＳ３）、その試験結果に応じて電子ビーム描画装置による電子ビーム描画によって、配線パターンやビアパターンなどを形成することにより、調整回路の回路パターンを確定させる（ステップＳ４）。 - 特許庁

In terms of practical training, the companies responded that it would be possible to dispatch lecturers for training on facility design, pump performance testing, as well as water purification technologies (water quality management and operation management), stainless steel processing, and technologies to prevent leakage and water supply stoppage during construction.However, no companies responded that they would be able to provide a lecturer for training on leakage surveys, pipe-laying techniques or water quality inspection.例文帳に追加

実習研修については、施設設計演習、ポンプ性能試験、その他として浄水施設（水質管理・運転管理）、ステンレス鋼の加工について、漏水防止・不断水工事技術について派遣が可能であったが、漏水調査実習、配管技能実習、水質検査実習については対応可能との回答が無かった。 - 厚生労働省

a) All individuals must first understand that it is possible for hepatitis to progress to serious diseases such as cirrhosis and liver cancer, which severely affects their health keeping, if left untreated, and must understand the importance of undergoing hepatitis testing at least once and to be informed regarding their own hepatitis infection status, given the importance of treatment of the disease in the early stages.例文帳に追加

ア 国民一人一人が、肝炎は放置すると肝硬変や肝がんという重篤な病態へと進展する可能性があり、各人の健康保持に重大な影響をもたらし得る疾病であることを理解した上で、少なくとも一回は肝炎ウイルス検査を受検し、自身の肝炎ウイルス感染の有無について、早期に認識を持つよう努めること。 - 厚生労働省

This IC tester for testing a test IC has a high-resolution digitizer digitizing and fetching a settling signal outputted from the test IC; and a digital signal processor adding the data fetched sequentially from the high-resolution digitizer to the preceding data, and scaling the added data by the number of additions to execute the averaging process of the taken-in data.例文帳に追加

被試験ＩＣの試験を行なうＩＣテスタにおいて、被試験ＩＣが出力するセトリング信号をデジタイズして取込むハイレゾルーションデジタイザと、このハイレゾルーションデジタイザから順次取込むデータをその直前のデータに加算すると共に加算されたデータを加算回数でスケーリングし、取込みデータの平均化処理を行なうデジタルシグナルプロセッサを備えた構成とする。 - 特許庁

To provide a circuit board and a manufacturing method of the same circuit board for realizing size reduction and high density of circuit board, accurately testing natural circuit wires for propagating high-frequency signals in the course of the board manufacturing process, assuring higher application efficiency of electronic components to be embedded in the circuit board, removing restrictions on the manufacturing process, and improving the board manufacturing yield.例文帳に追加

回路基板の小型化や高密度化を実現し、基板製造工程途中で高周波信号の伝搬する本来の回路配線を正確に検査でき、回路基板に埋設する電子部品の利用効率が高くでき、製造工程の制限を除くことができ、基板製造歩留を向上できる回路基板およびその製造方法の提供。 - 特許庁

The method of testing further includes: a step of attaching a substrate coated with deposit material to the shaft; a step of immersing the coated substrate in a solution contained in the vessel; a step of using the drive system to rotate the shaft and coated substrate at a predetermined velocity; and a step of determining an amount of deposit material removed from the substrate.例文帳に追加

この試験方法は、さらに、堆積物質が塗布されている基材をシャフトに載置するステップと、その塗膜基材を容器に収容された溶液内に沈浸するステップと、シャフトと塗膜基材とを所定回転速度で回転させるために駆動システムを利用するステップと、基材から除去された堆積物量を決定するステップとを含んでいる。 - 特許庁

Further, this testing method is used to calculate non-elastic strain produced in the maximum strain part of the solder joint structure when a heat cycle within a predetermined temperature range is received to impart the same non-elastic strain to a test piece to obtain the thermal fatigue evaluation method of the solder joint structure substituted for a cold heat environment test.例文帳に追加

さらに、この試験方法を用いて、所定温度範囲での熱サイクルを受けた時に前記はんだ接合構造体の最大歪部に生じる非弾性歪を計算により求めて、これと同じ非弾性ひずみを試験片に付与することで、冷熱環境試験に代替するはんだ接合構造体の熱疲労評価方法を得る。 - 特許庁