「testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(286ページ目) - Weblio英語例文検索

The semiconductor memory test pattern forming method is structured; to make the operation data of the semiconductor memory test pattern described in a format independent of the types of semiconductor testing apparatus and; to output the test specifications of the above semiconductor memory based on the above operation data after verifying the above operation data with an emulation function corresponding to the above format.例文帳に追加

半導体メモリの試験パターンを作成する方法において、半導体試験装置の種類に依存しないフォーマットで記述された半導体メモリ試験パターンの動作データを作成し、上記動作データを上記フォーマットに対応するエミュレート機能により検証した後、上記動作データにもとづいて上記半導体メモリの試験仕様書を出力する構成とする。 - 特許庁

The nonvolatile memory card has a NAND type EEPROM 11 having a cell array of electrically rewritable nonvolatile memory cells arranged repeatedly in row and column directions, test information 18 stored in a predetermined address of the NAND type EEPROM 11, and a controller 12 for testing the NAND type EEPROM 11 according to the test information 18.例文帳に追加

本発明の不揮発性メモリカードは、電気的に書き換え可能な不揮発性メモリセルが行および列方向に繰り返し配置されたセルアレイを有するＮＡＮＤ型ＥＥＰＲＯＭ１１と、ＮＡＮＤ型ＥＥＰＲＯＭ１１の所定のアドレスに格納されたテスト情報１８と、テスト情報１８に基づいて、ＮＡＮＤ型ＥＥＰＲＯＭ１１をテストするコントローラ１２を有する。 - 特許庁

The multifunctional fatigue testing apparatus 1 comprises a test piece holder 3 capable of holding the test piece T in any of a vertical direction and a horizontal direction, and a force applying unit 4 capable of selectively or simultaneously operating a mechanical load of the vertical direction or the horizontal direction to the held test piece T, assembled in a thermostat 2 capable of arbitrarily controlling internal temperature and humidity.例文帳に追加

本発明の疲労試験装置１は、試験体Ｔを垂直方向および水平方向のいずれにも保持しうる試験体保持部３と、保持された前記試験体Ｔに垂直方向または水平方向の力学的負荷を選択的に、または双方同時に作用させうる加力部４とが、内部の温湿度を任意に制御しうる恒温恒湿槽２内に組み込まれて構成される。 - 特許庁

The plurality of support columns 4a, 4b provided on the table 1 is integrated with the crosshead 5 thereon, the total height of the testing machine is changed with the elevation of the crosshead 5, by adopting the structure for making the support columns 4a, 4b move vertically with a vertical moving mechanism 7 provided on the table 1, and the required space is thereby reduced at storage or at transportation.例文帳に追加

テーブル１上に設けた複数の支柱４ａ，４ｂとクロスヘッド５とを一体化し、その各支柱４ａ，４ｂを、テーブル１に設けられた上下動機構７によって上下動させる構造を採用することにより、クロスヘッド５を昇降させることによって試験機の全高が変化し、格納時や輸送時における所要スペースを小さくすることを可能とする。 - 特許庁

The semiconductor testing apparatus which has the test waveform creating part 3 for creating the waveforms for the test to be fed to a semiconductor to be tested 1, is provided with a test log circuit 6 for extracting an internal signal created at a midpoint in a process in which the test waveform creating part 3 creates a final waveform for the test and outputting the internal signal to the outside of the test waveform creating part 3.例文帳に追加

被試験半導体１に送り込むための試験用波形を生成する試験用波形生成部３を有する半導体試験装置に、前記試験用波形生成部３が最終的な試験用波形を生成する過程の途中で生成する内部信号を取り出し、前記試験用波形生成部３の外部へ出力するテストログ回路６を設けた。 - 特許庁

A calculation process circuit 34 generates a plurality of measuring images from the output of the image taking element 13 and measures the profile of the testing object by using a reference image obtained from the pixels in the position crossing the principal ray of the objective lens 11, among the pixels composing the imaging area of the imaging element 13 corresponding to each of a plurality of MLs arranged on the MLA 12, as the correction information.例文帳に追加

演算処理回路３４は、撮像素子１３の出力から複数の測定画像を生成し、MLA１２に配列された複数のＭＬの各々に対応する撮像素子１３の撮像領域を構成する画素のうち、対物レンズ１１の主光線と交わる位置にある画素から得られる基準画像を補正情報として用いて、被検物の形状を測定する。 - 特許庁

The detail testing device 3 carefully and strictly checks whether the transferred information is based on an unauthorized access by comparing the information with the information in the unauthorized access database 6, and when the information is not based on the unauthorized access, transfers the information to the original destination, but when it is based on the unauthorized access, records the information in an information recording device 4 without transferring it to the original destination.例文帳に追加

詳細検査装置３では、転送されてきた情報が不正アクセスかどうかを、不正アクセスのデータベース６と比較し、時間をかけて厳格にその情報が不正アクセスであるか否かをチェックし、不正アクセスでなければ該当情報を本来の宛先に転送するが、不正アクセスであれば該当情報を情報記録装置４に記録し本来の宛先には転送しない。 - 特許庁

To provide a rubber-metal laminated raw material, having excellent LLC resistance and heat resistance without conducting harmful coating type chromate filming to metal in forming the rubber-metal laminated gasket raw material made of a complex of stainless steel plate and rubber, and not causing separation of adhesion, for example, in a LLC resistance testing method taking into consideration the environment for actually using a metal gasket for an engine.例文帳に追加

ステンレス鋼板とゴムとの複合体よりなるゴム-金属積層ガスケット素材を形成するに際し、有害な塗布型クロメート処理などを金属に施さなくとも耐LLC性および耐熱性に優れ、例えばエンジン用メタルガスケットの実使用環境下を考慮した耐LLC試験方法においても、接着剥がれの生じないゴム-金属積層ガスケット素材を提供する。 - 特許庁

To accurately measure the value of a built-in current sensing resistor in a semiconductor integrated circuit for sensing a large current having the built-in current sensing resistor without being influenced by additional resistance owing to terminals and/or a testing probe, and to adjust the threshold value for the current sensing based on the measurement result without requiring large current flow and special additional equipment.例文帳に追加

電流検出用抵抗を内蔵し、大きな電流を検出する半導体集積回路において、電流検出用抵抗の値を端子やテスト用プローブの付加抵抗の影響を受けることなく正確に測定すると共に、大きな電流を流したり特別な付加装置を設けることなく電流検出の閾値を測定結果に基づいて調整すること。 - 特許庁

An energization testing prove is equipped with a probe body having the board end which is attached to the support board via solder, and the tip connected to the board end; and a surface layer which has conductivity and wetting property with respect to the solder both that are higher than that of the probe body, and extends from the board end toward the tip over the surface of the probe body.例文帳に追加

通電試験用プローブは、支持基板にはんだを介して取り付けられる基端および該基端に連らなる先端を有するプローブ本体と、プローブ本体の導電性よりも高い導電性を示しかつはんだに対するプローブ本体の濡れ性よりも高い濡れ性を示しプローブ本体の表面で基端から先端へ向けて伸びる表面層とを備える。 - 特許庁

The reactors are classified into five types: reactors for purpose of power generation, reactors to be installed in ships, reactors for purpose of testing and research, reactors for purpose of power generation and at a stage of research and development, and reactors at a stage of research and development other than those for purpose of power generation.Competent ministers who issue the license have been determined depending on each reactor type.例文帳に追加

原子炉は、発電の用に供する原子炉、船舶に設置する原子炉、試験研究の用に供する原子炉、発電の用に供する原子炉であって研究開発段階にある原子炉、発電の用に供する原子炉以外の研究開発段階にある原子炉の5つに区分されており、それぞれに許可を与えることができる主務大臣が定められている。 - 経済産業省

He adds that in order to reduce the possibility of bubble occurrence and to protect the financial system from the effects of a bubble, micro-level policies are necessary.Some examples he cites are: (i) supervisory action to ensure capital adequacy in the banking system, stress-testing of portfolios; (ii) improvement of transparency in accounting and disclosure practices; and (iii) improvement of financial literacy.12例文帳に追加

その上で、バブル発生の可能性を減少させ、バブルの影響から金融システムを保護するためには、ミクロレベルの政策が必要であるとし、その例として、①銀行システム健全化のための自己資本規制とその監視システムや銀行の資産ポートフォリオにおけるストレスチェック、②会計制度と企業の情報開示習慣における透明性の改善、③金融リテラシーの改善、等に言及している12。 - 経済産業省

This system is composed of a process for performing virus elimination by using a porous separation membrane filter, a process for washing the porous separation membrane filter by using washing liquid containing a surfactant and an alkaline substance, and a process for performing the integrity testing (gold colloid method and/or liquid forward flow rate method) for the porous separation membrane filter.例文帳に追加

本発明は、０〜１５度において、多孔性分離膜フィルターを用いてウイルス除去処理を行う工程及び界面活性剤とアルカリ性物質を含む洗浄液を用いて多孔性分離膜フィルターの洗浄を行う工程、多孔性分離膜フィルターの完全性試験（金コロイド法及び金コロイド法あるいはＬｉｑｕｉｄ Ｆｏｒｗａｒｄ Ｆｌｏｗ Ｒａｔｅ法）を行う工程からなるシステムに関するものである。 - 特許庁

To provide a voltage detecting device which is used for checking or evaluating a property in a process of charging or discharging a sample such as a battery, a capacitor or the like, and measures a terminal voltage of the sample, and also to provide a testing apparatus equipped with the two or more voltage detecting devices, so that terminal voltages of all samples are detected precisely and inexpensively in charging and discharging processes.例文帳に追加

本発明は、電池、コンデンサ等の試料の充電または放電の過程における特性の確認あるいは評価のために、その試料の端子電圧を計測する電圧検出装置と、その電圧検出装置が複数個備えられて構成された試験装置とに関し、充放電の過程における全ての試料の端子電圧を安価に精度よく検出できることを目的とする。 - 特許庁

The method of testing an optical-electric converter that receives an optical input signal and provides an electric output signal comprises the steps of: applying an input signal having a parameter out of a specific application range defined by the limits of normal operation characteristics of the converter; and evaluating the electric output signal of the converter by responding to the input signal applied in order to determine the result of the test procedure.例文帳に追加

光入力信号を受信して電気出力信号を提供する光電気変換器を試験する方法は、変換器の正常な動作特性の限界によって規定された特定の適用範囲の外のパラメータを有する入力信号を印加するステップと、試験手順の結果を判定するために、印加された入力信号に応答して、変換器の電気出力信号を評価するステップとを包含する。 - 特許庁

The present invention relates to a method for discrimination of p16^INK4a overexpressing dysplasias from neoplastic or preneoplastic p16^INK4a overexpressing lesions by determination of the level of high risk HPV-encoded gene-products such as e.g. HPV E2 molecules and/or HPV E7 molecules in biological samples in the course of cytological testing procedures.例文帳に追加

本発明は、ｐ１６^ＩＮＫ４ａを過剰発現する異形成とｐ１６^ＩＮＫ４ａを過剰発現する新生物病巣または前新生物病巣とを、細胞学的試験手順の過程において、生物学的サンプル中の、例えば、ＨＰＶ Ｅ２分子および／またはＨＰＶ Ｅ７分子のようなハイリスクのＨＰＶがコードする遺伝子産物のレベルの測定により区別するための方法に関連する。 - 特許庁

A frequency temperature drift of the VCO is compensated by a frequency compensation voltage, and an FM operation is carried out, by using a modulation voltage having a constant DC component independent of temperature, thereby reducing fluctuation in modulation sensitivity due to the temperature, significantly simplifying the temperature data of the modulation compensation voltage for obtaining modulation linearity in the output signal, and significantly shortening the testing and adjustment period of time.例文帳に追加

周波数補償電圧によりＶＣＯの周波数温度ドリフトを補償し、温度に依存しない一定のＤＣ成分を持つ変調電圧によりＦＭ動作させることにより、温度による変調感度の変動を低減し、出力信号の変調直線性を得るための変調補正電圧の温度データを大幅に簡素化し、試験、調整時間を大幅に削減することができる。 - 特許庁

This method for testing the pollen adhesion-preventing performance comprises stirring pollens or false pollens with a fiber fabric in a hard container to attach the pollens or false pollens to the fiber fabric and then distinguishing the fabric as an easily pollen-attaching fabric or a slightly pollen-attaching fabric from the number of the pollens or false pollens attached to the fabric per unit area and the change in the color of the fiber fabric.例文帳に追加

本発明の花粉付着防止性能および脱落性能の試験方法は、花粉または疑似花粉と繊維布帛とを硬質の容器の中へ入れて攪拌して繊維布帛に花粉または疑似花粉を付着させ、単位面積当たりに付着した花粉または疑似花粉の数や繊維布帛の色の変化から、付着しやすい布帛と付着しにくい布帛を見分ける花粉付着防止性能の試験方法である。 - 特許庁

SIALON having insulating properties, high strength and high tenacity or partial stabilized zirconia is used as a support pin, which connects the testpiece and jig of hydrogen embrittlement evaluation and testing device for filling an electrolytic cell with an electrolytic solution and loading the thin steel sheet testpiece with stress while charging hydrogen in the testpiece, in order to prevent the occurrence of different metal catalytic corrosion and the breakdown of the testpiece by the loading with stress.例文帳に追加

電解槽中に電解溶液を満たし、薄鋼板試験片に水素チャージを行いながら、応力を負荷する水素脆化評価試験装置の試験片と治具を連結する支持ピンとして、異種金属接触腐食の発生及び高い応力の負荷による破壊を防止するため、絶縁性であり、高強度及び高靭性を有するサイアロン又は部分安定化ジルコニアを用いる。 - 特許庁

When the gradation voltage test of the semiconductor device having the liquid crystal driving circuit is performed, a gradation voltage (Vx) generated by the gradation voltage generation circuit 16 of the semiconductor device is compared with a comparison voltage (for example, Vx+ΔV) generated for testing the gradation voltage, and a test result is outputted as a binary voltage from the external terminal of the semiconductor device.例文帳に追加

液晶駆動回路を有する半導体装置であって、半導体装置の階調電圧試験時に、半導体装置の階調電圧生成回路１６で生成された階調電圧（Ｖｘ）と階調電圧を試験するために生成された比較電圧（例えばＶｘ＋ΔＶ）とを比較し、試験結果を２値電圧として半導体装置の外部端子から出力することを特徴とする。 - 特許庁

When a start signal for the simulation test in input, testing state keeping means outputs an instruction to input-switching means to switch an input signal to an intermediate value selecting circuit to a simulation sensor signal from a simulator, and an instruction to output switching means to output a control signal of control unit to the simulator so as to feed back an output signal to a triplicated composite circuit.例文帳に追加

試験状態保持手段は、シミュレーション試験の開始信号を入力すると、入力切替手段に指令を出力して中間値選択回路への入力信号をシミュレータからの模擬センサ信号に切り替えると共に、出力切換手段に指令を出力して制御部の制御信号をシミュレータに出力し３重化合成回路への出力信号をフィードバックして入力する。 - 特許庁

The monitoring apparatus 101 includes: a receiving traffic counter 51 for counting testing frames received from the upstream apparatus by an object apparatus, which is the house side apparatus 202 or station side apparatus 201; and a reporting frame transmission section 59 for, when the object apparatus receives a reporting frame from the upstream apparatus, transmitting the reporting frame together with the count value of the receiving traffic counter 51 to the downstream apparatus.例文帳に追加

モニタ装置１０１は、宅側装置２０２または局側装置２０１である対象装置が前段の装置から受信した試験用フレームの数をカウントするための受信トラフィックカウンタ５１と、対象装置が前段の装置から報告用フレームを受信した場合には、受信トラフィックカウンタ５１のカウント値を報告用フレームに含めて後段の装置へ送信するための報告用フレーム送信部５９とを備える。 - 特許庁

A server computer 110 is provided with a receiving means receiving information produced in the testing institution 3 from the terminal computer 110, a storage means registering the received information from the client 2 of the test in a perusal incapable state, and a disclosure means storing the information in a perusal capable state from the client 2 of the test based on a disclosure instruction of the terminal computer 31 specifying the information.例文帳に追加

サーバコンピュータ１１０は、端末コンピュータ３１から、試験機関３で発生する情報を受信する受信手段と、受信した情報を試験の依頼者２から閲覧不可能な状態で登録する記憶手段と、情報を指定した端末コンピュータ３１からの開示指令に基き、この情報を試験の依頼者２から閲覧可能な状態で記憶手段に格納する開示手段を備える。 - 特許庁

To provide a small-sized automatic repeating one surface-shearing testing apparatus measuring the friction force between shearing box-test piece shearing surfaces or caused by the leakage of a sample by the small-sized high rigidity load cell arranged between upper and lower shearing boxes and subtracting the measured friction force from the whole shearing force measured by a horizontal load cell to completely remove the effect of the friction force being a measurement error.例文帳に追加

上下せん断箱間に配置した小型高剛性ロードセルによって、せん断箱−供試体せん断面間あるいは試料漏れによる摩擦力を測定し、水平ロードセルにより測定された全体のせん断力から測定された摩擦力を差し引き、これにより測定誤差である摩擦力の影響を完全に取り除くことができる小型自動繰り返し一面せん断試験装置を提供する。 - 特許庁

The device includes two or more logic blocks (core 30, 50 and UDL 40) provided with a multitude of SCAN cells for testing and applied by different SCAN style, and a SCAN signal conversion circuit 100, which is connected to the logic block, for converting input SCAN signal corresponding to either one of the logic blocks to a variety of SCAN signals for controlling the shift and normal functioning of the logic blocks.例文帳に追加

テストするための多数個のＳＣＡＮセルを具備した異なるＳＣＡＮスタイルが適用された２個以上のロジックブロック（コア３０，５０、ＵＤＬ４０）と、このロジックブロックに接続され、ロジックブロックのシフト及び正規動作を制御するために、前記ロジックブロックのうちいずれか一つに対応する入力ＳＣＡＮ信号を多様なＳＣＡＮ信号に変換するためのＳＣＡＮ信号変換回路１００とを含む。 - 特許庁

The testing method comprises the means of outputting a 1st test control signal from a tester to the IC chip; conducting test by each IC chip using an asynchronized method; outputting a 2nd result request signal from the voltmeter to the IC chip, after outputting the 1st control signal and following a prescribed time interval; and making all the chips to respond synchronously when the 2nd control signals are received.例文帳に追加

その方法は、集積回路チップに対してテスタ側で第１の試験制御信号を送出し、各集積回路チップによって試験を非同期化された方法で実行させ、前記第１の制御信号の送出に続く所定の時間間隔の後、集積回路チップへ第２の結果要求制御信号をテスタ側で送出し、前記第２の制御信号を受信すると、すべてのチップを同期して応答させる手段を含む。 - 特許庁

In a technique for testing a semiconductor device 1 provided with a memory circuit block 28, the self-diagnosis circuit 34, and other circuit blocks (a logic circuit block 20, an analogue circuit block 24 and the like), at least supply of a power source voltage and an electric signal to the memory circuit block 28 and the self-diagnosis circuit 34 is controlled independently of supply of them to other circuit blocks.例文帳に追加

メモリ回路ブロック２８と自己診断回路３４、及びその他の回路ブロック（ロジック回路ブロック２０、アナログ回路ブロック２４等）を備えた半導体装置１をテストする手法において、各回路ブロックへの電源電圧及び電気信号の供給に関し、少なくともメモリ回路ブロック２８と自己診断回路３４に対する供給と、その他の回路ブロックに対する供給とを個別に制御する。 - 特許庁

To provide a disconnector built-in transformer which is improved in economical efficiency and reliability for easily and surely executing the unit testing of a transformer body and an electric cable after site installation, and for quickly and efficiently executing a maintenance check operation by easily separating the transformer body from the electric cable without making it necessary to put in/out an insulating medium sealed in an electric cable connection box.例文帳に追加

電力ケーブル接続箱に封入した絶縁媒体の出し入れを行うことなく、変圧器本体と電力ケーブルとを簡単に切り離すことにより、現地据付け後の変圧器本体と電力ケーブルの単体試験を簡単且つ確実に行い、短期間で効率よく保守点検作業を実施でき、経済性及び信頼性の向上を果たした断路器内蔵形変圧器を提供する。 - 特許庁

To provide a socket assembly for testing an IC chip, capable of improving reliability for electrical characteristics inspection by improving efficiency by selecting one of direct/indirect connection between a test board and the IC chip in accordance with its characteristics, and reducing the load capacity between probe pins through direct contact and terminals, the IC chip which uses the same, and a tester which uses the socket assembly.例文帳に追加

テストボードと集積素子との間の接続を集積素子の特性に従い直間接的方式のうちの一つを選ぶことにより効率性を高め、直接接続を通じたリードと端子との間の負荷容量を減らして電気的特性検査の信頼度を高めることができる集積素子テスタ用ソケット組立体とこれを用いる集積素子、及びこれを用いるテスタを提供するにある。 - 特許庁

Stock prices (as measured by the Nikkei Average) plunged below 9,000 today. Although stock prices appeared to recover after hitting a new post-bubble low last week, they resumed a downturn and dropped below 9,000. How do you view the stock market condition? Also, could you tell me about the impact of the stock price drop below 9,000 on banks' capital adequacy, as assessed through stress testing, for example? 例文帳に追加

株価ですけれども、今日、大幅に下落ということで、9,000円を割り込みました。先週一時バブル後最安値を付けて以来、順調に持ち直していたように見えたのですけれども、ここにきて再び9,000円割れという状況をどのようにご覧になっているのかということと、9,000円割れの状態での銀行の自己資本に与える影響について、ストレステストなどあればご紹介いただきたいのですが。 - 金融庁

Life insurance companies have announced their financial results for the fiscal first half, which showed a rapid deterioration of their financial conditions due to such factors as stock price drops. As stock prices have continued to drop since October, these companies’ conditions have probably deteriorated further. Could you tell me what the FSA (Financial Services Agency) intends to do about its stress testing and what supervisory measures it plans to take? 例文帳に追加

生命保険各社の中間決算が出揃いまして、株価下落などで各社とも財務状況が急激に悪化しているという状況が明らかになったわけですが、10月以降さらに株価が下がっていまして、更に状況が悪化しているのではないかと思われますが、当局としてストレステストや監督上の対応についてどのように取り組んでいくお考えかお聞かせください。 - 金融庁

(2) With respect to any goods for the selection and testing of samples of which provision is not made in any rules for the time being in force under sub-section (1) the Court or officer of customs, as the case may be, having occasion to ascertain the number, quantity, measure, gauge or weight or the goods, shall, by order in writing, determine the number 52 of samples to be selected and tested and the manner in which the samples are to be selected. 例文帳に追加

(2)本条第(1)項に基づきその時点で有効ないずれの規則においても規定が制定されていない、見本の抜き取り検査が必要な商品について、当該商品の個数、数量、度量、ゲージ又は重量を確認する機会がある裁判所又は税関職員(場合に応じ)は、命令書により、抜き取り検査をすべき見本の個数と見本の選択方式を決めるものとする。 - 特許庁

A test device of testing a device under test includes: a plurality of capacitors charged at predetermined respective prescribed voltages; a switching part for performing the switching from which of the capacitors charged at the prescribed voltages the power source voltage is to be supplied to the device under test; and a determination part determining the quality of the device under test on the basis of the operation result of the device under test.例文帳に追加

被試験デバイスを試験する試験装置であって、それぞれ予め定められた所定の電圧で充電される複数のコンデンサと、所定の電圧に充電されたコンデンサのうち、いずれから被試験デバイスに電源電力を供給するかを切り替える切替部と、被試験デバイスの動作結果に基づいて、被試験デバイスの良否を判定する判定部とを備える試験装置を提供する。 - 特許庁

The testing device of the semiconductor integrated circuit includes a first waveform generator 1a for supplying a first test clock generated by masking an optionlal clock pulse of a clock having a first frequency to a first clock domain and a second waveform generator 1b for supplying a second test clock generated by masking an optional clock pulse of a clock having a second frequency to a second clock domain.例文帳に追加

本発明にかかる半導体集積回路の試験装置は、第１の周波数を有するクロックの任意のクロックパルスをマスクすることで生成された第１のテストクロックを第１のクロックドメインに供給する第１の波形生成器１ａと、第２の周波数を有するクロックの任意のクロックパルスをマスクすることで生成された第２のテストクロックを第２のクロックドメインに供給する第２の波形生成器１ｂと、を備える。 - 特許庁

A testing apparatus 1 receives the input of a sample scenario 2, in which a plurality of command blocks 20 each consisting of a command element 21 and a data element 22 and regarding the operation of a device to be tested are described.例文帳に追加

試験装置１は、コマンド要素２１およびデータ要素２２からなる、被試験機の操作に係るコマンドブロック２０が複数記述されたサンプルシナリオ２の入力を受け付け、このサンプルシナリオ２に対して、記述順入替え処理、コマンドブロック挿入処理、コマンドブロック置換処理、コマンド要素入替え処理、およびスルー処理のうちの少なくとも一つを実施して、複数のコマンドブロック２０が試験順に記述された試験シナリオ５を生成する。 - 特許庁

A testing apparatus 10 for a home network has transmission means 30 that are connected to a home network 20 by which an exterior network 108 supplying network services is connected or by which terminal equipments 112 in a room are connected with each other, produce a pseudo stream which is a load equivalent to that to be burdened by the utilized network service to the home network 20, and transmit the pseudo stream to the home network 20.例文帳に追加

本発明のホームネットワークの試験装置１０は、ネットワークサービスを供給する外部ネットワーク１０８と、又は、室内の端末機器１１２同士と、を接続するホームネットワーク２０に接続させて、利用する前記ネットワークサービスが前記ホームネットワーク２０に掛ける負荷と同等の負荷となる擬似ストリームを作成し前記ホームネットワーク２０へ送信する送信手段３０を備えたことを特徴としている。 - 特許庁

The module for testing comprises a test substrate having a bonding pad; the semiconductor device arranged on the test substrate; an anisotropic conductive sheet having conductivity only in the thickness direction in contact with the electrode of the semiconductor device; and a metal wire whose one end is connected to the bonding pad and whose the other end is connected to the anisotropic conductive sheet in a region for covering the electrode.例文帳に追加

ボンディングパッドを有する試験基板と、前記試験基板の上に配置された半導体装置と、前記半導体装置の電極に接触して厚さ方向にのみ導電性を有する異方性導電シートと、前記ボンディングパッドに一端が接続され、前記電極を覆う領域において前記異方性導電シートと他端が接続された金属ワイヤとを有することを特徴とする試験用モジュールによって解決する。 - 特許庁

Specifically, whether the effects of value fluctuations, credit deterioration, natural disasters and other unfavorable situations on group financial institutions or the group as a whole are appropriately evaluated through a process for appropriately identifying risk concentrations of the group, a comprehensive risk measurement system, establishment of ceilings on large exposures and concentrations of other risks, stress testing, scenario analysis and correlation analysis processes. 例文帳に追加

具体的には、グループに集中するようなリスクを適切に特定するプロセス、包括的なリスク計測システム、大口のエクスポージャーとその他のリスクの集中を管理するための限度枠の設定、ストレステストやシナリオ分析、及び相関分析等のプロセスを通じ、市場価値の変動、信用度の低下、自然災害といった不利な事象が、グループ内の金融機関又はグループ全体に対して及ぼす影響を適切に評価しているか。 - 金融庁

Article 66 An importer shall not sell any mineral or industrial product pertaining to its importation by using a certificate pertaining to product testing on which the Accreditation symbol specified in Paragraph 1 of Article 58 or a confusingly similar symbol is affixed, however, this shall not apply to the case where such symbol is affixed in accordance with the provisions of the same paragraph (including the case where it applies mutatis mutandis in Paragraph 2 of Article 65). 例文帳に追加

第六十六条　輸入業者は、第五十八条第一項の標章又はこれと紛らわしい標章の付してある製品試験に係る証明書を用いて、その輸入に係る鉱工業品を販売してはならない。ただし、当該標章が同項（第六十五条第二項において準用する場合を含む。）の規定により付されたものである場合は、この限りでない。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

Further, the invention is a method for treating a test object including neoplastic cells refractory to the chemotherapeutic agent and the method comprises step (a) wherein an effective amount of the reovirus is administered to the testing body under the conditions causing the infection of the neoplastic cells, and step (b) wherein an effective amount of the chemotherapeutic reagent is administered to the test object.例文帳に追加

増殖性障害を有する被験体を処置する方法であって、上記被験体が化学療法薬剤に対して不応性である新生物細胞を含み、上記方法が：（ａ）レオウイルスによる新生物細胞の感染が生じる条件下で、有効量の上記レオウイルスを上記被験体に投与する工程；および、（ｂ）有効量の化学療法薬剤を上記被験体に投与する工程、を含む、方法。 - 特許庁

A method for preventing the mistaking of the cell comprising recording identification information about the cell donor and the form of the microcarrier having the identifiable form in mutual correlation before culturing the cell, charging the cell provided from the cell donor and the microcarrier into the prescribed culture solution stored in the container, carrying out the culture and then testing the form of the microcarrier in the container is provided.例文帳に追加

また、細胞培養前に、細胞提供者の識別情報と識別可能な形態を有するマイクロキャリアの形態とを相互に関連づけて記録しておき、細胞提供者から提供された細胞とマイクロキャリアとを容器内に貯留した所定の培養液内に投入して培養した後に、容器内のマイクロキャリアの形態を検査する細胞の取り違え防止方法を提供する。 - 特許庁

An I/F board provided between the output port and P is equipped with a first latch circuit allowing temporary storage of state signals output from the output port by each kind and a second latch circuit which outputs the state signals stored in the first latch circuit to the testing machine at a prescribed timing to output signals and keeps the level of the state signals until the next timing to output signals.例文帳に追加

出力ポートとＰの間に設けられるＩ／Ｆ基板には、出力ポートから出力される状態信号を種類毎に一時的に記憶する第１ラッチ回路と、その第１ラッチ回路に記憶した状態信号を所定の信号出力タイミングで試験機に向かって出力するとともに、それら状態信号のレベルを次の信号出力タイミングまで保持する第２ラッチ回路が設けられる。 - 特許庁

In this biological fluid remote testing method, the biological fluids to be tested are made to permeate the apparatus or the filter for biological fluid fractionation, and permeated matter or non-permeated matter is transferred to an institution, capable of conducting biochemical tests or medical tests, to analyze and test the biological fluids fractionated by the filter.例文帳に追加

生体液分画用フィルタ１の透過時の下流側に、透過した生体液を吸収する吸収貯蔵層３を設けた生体液分取装置とし、この装置または生体液分画用フィルタに被検査用の生体液を透過させ、次いで透過物または非透過物を生化学検査または医療検査の可能な機関に移送して前記フィルタで分画された生体液を分析および検査する生体液の遠隔検査方法とする。 - 特許庁

The use of these animals as a tool for assessing GLYT1 function and as a model for studying the enhancing effects on synaptic NMDA receptor function and for studying the susceptibility to compounds inducing psychosis behavior is provided, and methods for evaluating the in vivo effects of GLYT1 function and for testing GLYT1 inhibitors as for effects other than GLYT1-specific effects are also provided.例文帳に追加

本発明はまた、GLYT1機能を評価するための手段としての、およびシナプスNMDA受容体機能を増強する効果を研究するためのモデルとしての、および精神病的行動を誘発する化合物に対する感受性を研究するためのモデルとしてのこれらの動物の使用に関し、かつGLYT1機能のインビボ効果を評価するため、および、GLYT1特異的効果以外の効果に関してGLYT1阻害剤を試験するための方法にも関する。 - 特許庁

At that time, conduction is made to the semiconductor device 5 being fitted to the socket 3, the semiconductor device 5 where the abnormality of the conduction has been confirmed is removed from the substrate 4 for testing.例文帳に追加

半導体装置５を高温雰囲気内で通電し所定時間保持するバーンイン試験のために絶縁基板１上に多数のソケット３を配列した試験用基板４へ半導体装置５を供給する際に上記ソケット３に装着された半導体装置５に通電し通電異常が確認された半導体装置５を試験用基板４から取り外すようにしたことを特徴とするバーンイン試験用基板への半導体装置の供給方法。 - 特許庁