「OF test」に関連した英語例文の一覧と使い方(375ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a method and device for an accelerated oxidation test of a fuel or a mineral oil product usable especially for simulation of a change with elapse of time of the fuel or the mineral oil product, a computer program for controlling the device, and a memory media readable by a computer.例文帳に追加

特に燃料または鉱物油製品の経時変化のシミュレーションに使用されることができる、燃料または鉱物油製品の加速酸化試験の方法とその装置、ならびにその装置をコントロールするためのコンピュータ・プログラムおよびコンピュータによる読み取り可能なメモリメディアを提供すること。 - 特許庁

To provide a blood vessel imaging system, program and method capable of greatly reducing a burden of a subject when measuring the rigidity of a physiological blood pressure fluctuation region at rest and measuring and comparing dynamic deformation behavior in a state of high pulsation speed (a loading test).例文帳に追加

安静時の生理的血圧変動領域の剛性の計測や、拍動速度が高い状態（負荷試験）での動的変形挙動を計測し比較する際、被験者の負担を大幅に軽減できる血管画像化システム、血管画像化プログラム及び血管画像化方法を提供する。 - 特許庁

With respect to the semiconductor integrated circuit incorporating a data cache and the at-speed test method thereof, decoding is executed without considering fixed bits to map a plurality of addresses of the data cache to one address of a on-chip memory per prescribed address unit when address decoding of the data cache is performed.例文帳に追加

ここに開示されたデータキャッシュが内蔵した半導体集積回路およびそれの実速度テスト方法は、データキャッシュのアドレスデコーディング時、一定ビットを考慮しなくデコーディングを実行して、データキャッシュの複数個のアドレスを所定のアドレス単位ごとにオンチップメモリの一つのアドレスにマッピングさせる。 - 特許庁

To provide a technique for eliminating a connection failure induced in a cooling test or during use of an element mounted in a vehicle or the like and reducing a dielectric loss or the like in the structure of a lead wire fixed to each of metallikon electrodes formed on both ends of the element included in various electronic components such as a film capacitor.例文帳に追加

フィルムコンデンサ等各種電子部品に於ける素子の両端面に形成したメタリコン電極に接続・固定したリード線の構成に於いて、その冷熱試験や車両等搭載使用時に誘起される接続不良をなくしかつ誘電損失等を少なくした技術を提供する。 - 特許庁

When the tests for different addresses but the same in the value of a specified bit position result in failure determination continuously for a prescribed number of times, the determination results for the whole addresses of the same in the value of the specified bit position are made failure, and then, the test is not performed concerning the addresses.例文帳に追加

特定のビット位置の値が同一でありかつ異なるアドレスのテストで、連続して所定回数フェイルの判定結果が出たときは、その特定のビット位置が同じ値を取る全てのアドレスの判定結果をフェイルとし、そのアドレスについてはテストを行わないようにした。 - 特許庁

To provide fire alarm equipment which facilitates confirmation operation that there is no omission in checking of terminal devices in the fire alarm equipment which is equipped with functions of automatic or manual examinations of the terminal device and accumulates and stores a history of the above test results.例文帳に追加

端末機器の自動試験または手動試験の機能を具備し、上記試験結果の履歴を蓄積保管する火災報知設備において、端末機器の点検漏れの無いことを確認する作業が容易である火災報知設備を提供することを目的とするものである。 - 特許庁

To provide a cable module of the electrical wiring penetration part of a nuclear reactor containment vessel capable of eliminating a pressure-leak test in the electrical wire replacement of the nuclear reactor containment vessel and replacing the electrical wire while maintaining the air-tightness.例文帳に追加

原子炉格納容器電気配線貫通部の電線交換における耐圧漏洩試験を排除することができ、気密性を維持し続けたままで電線を交換することができる原子炉格納容器電気配線貫通部のケーブルモジュールを提供することを目的とする。 - 特許庁

Average resistance values and compression strength values in interpenetration of a drill 22 are separately measured with respect to the test pieces cut from a plurality of woods: from these correlation data, the relational expression of the average resistance values and the compression strength values in interpenetration of the drill 22 into the woods is calculated.例文帳に追加

複数の木材から切り出した試験片について、ドリル２２貫入時の平均抵抗値と圧縮強度値とが別々に測定され、これらの相関データから、木材へのドリル２２貫入時の平均抵抗値と圧縮強度値との関係式が求められている。 - 特許庁

The mat information of a semiconductor memory is recorded in an SPD of a memory module in manufacturing a memory module, and the mat information recorded in the SPD is read at the time of the memory test of the device.例文帳に追加

これらの問題は、装置でビット間干渉の摘出試験を行うことで解決できるが、複数の半導体メーカの半導体メモリを混在して搭載する装置では、搭載された半導体メモリのマット種が不明の為に実行すべき試験が不明となる新たな課題が発生する。 - 特許庁

To provide an ultrasonic flaw detection device for performing an ultrasonic flaw detection test without being affected by the surface unevenness of a structure to be inspected and capable of obtaining a precise measuring results, and an inspection device capable of sharply shortening the inspection time when a plurality of welding lines are inspected.例文帳に追加

被検査構造物の表面の凸凹の影響を受けずに超音波探傷試験を実施し、精度の良い測定結果を得ることができる超音波探傷装置、および複数の溶接線を検査するときの検査時間を大幅に短縮することができる検査装置を提供すること。 - 特許庁

A morphemic analyzing part 15a of a classification rule preparing part 15 executes the morphemic analysis of a test data group 21 stored in a data base 3, and a frequency pattern detecting part 15b detects the combination of words repeatedly appearing in a plurality of text data as a frequency pattern from the morphemic analysis results.例文帳に追加

分類ルール作成部１５内の形態素解析部１５ａは、データベース３に格納されたテキストデータ群２１を形態素解析し、頻出パターン検出部１５ｂは形態素解析結果から複数のテキストデータに繰り返し出現する単語の組み合わせを頻出パターンとして検出する。 - 特許庁

The file storage part (9) includes: a net list (21) showing connection information of a circuit to be an object of generation of a test pattern; and a start/end point list (22) showing a terminal to be the start point of a failure detection object area among circuit to be shown on the net list.例文帳に追加

そのファイル格納部（９）は、テストパタンの生成の対象となる回路の接続情報を示すネットリスト（２１）と、ネットリストに示される回路のうち、故障検出の対象となる故障検出対象領域の起点となる端子を示す始終点リスト（２２）とを備えるものとする。 - 特許庁

This method of the pressure resistance test of the AC element applies an AC voltage from an AC power source to the AC element, detects a current supplied from the AC power source to the AC element by a detector, and determines the pressure resistance value of the AC element on the basis of the detected result.例文帳に追加

交流電源から交流素子へ交流電圧を印加し、交流電源から交流素子へ供給される電流を検出器により検出し、その検出結果に基づいて交流素子の耐圧値を判定する交流素子の耐圧テスト方法により上記の課題を解決する。 - 特許庁

To provide an IC socket preventing adhesion of a contact and an external terminal of an IC package, comprising a push-up mechanism having such a shape memory alloy that separates the external terminal of the IC package from the contact part of the contact by pushing up the guiding member by utilizing the heat at a burn-in test.例文帳に追加

コンタクトとＩＣパッケージの外部端子との貼り付きを防止し、バーンイン試験時の熱を利用して案内部材を押上げてコンタクトの接触部からＩＣパッケージの外部端子を引き離すように形状記憶合金部材を有する押上機構が設けられる。 - 特許庁

A dip switch 15 is provided on the control panel of a testing device 1 for testing a telephone switchboard 2, and a speaking time detecting part 11a detects the setting state of the dip switch 15, set by a person in charge of test and obtains 'speaking time' on a telephone line 2a on the basis of the detected result.例文帳に追加

電話交換機２を試験する試験装置１の操作パネルにディップスイッチ１５を設け、通話時間検出部１１ａが、試験担当者により設定されたディップスイッチ１５の設定状態を検出し、検出結果に基づいて、電話回線２ａにおける「通話時間」を求める。 - 特許庁

To provide an image sensor adjusting method and apparatus, capable of adjusting optical characteristics of the image sensor efficiently and stably, without affecting the adjustment of the optical characteristics of the image sensor, even while any contamination is deposited on a test chart, and to provide an image sensor.例文帳に追加

テストチャート上に異物が付着した状態であっても、イメージセンサの光学特性の調整に影響を与えず、効率よく安定的にイメージセンサの光学特性を調整できるイメージセンサ調整方法、イメージセンサ調整装置およびイメージセンサを提供することを目的としている。 - 特許庁

To provide a method for fabricating a semiconductor device in which a short circuit caused by fragments of a test pattern is prevented at the time of mounting the semiconductor device by improving the dicing process of a semiconductor wafer, and the yield of an electrooptic device mounting the semiconductor device can be enhanced.例文帳に追加

半導体ウエハの分割工程を改善することによって、半導体装置を実装する場合のテストパターンの破片に起因する短絡不良を防止し、さらに、半導体装置を実装した電気光学装置の歩留まりを向上させることのできる製造方法を提供する。 - 特許庁

The impact absorbing floor comprises an elastic urethane coated floor material having breaking elongation of 200 to 400% and EVA foam interposed therebetween with thickness of 5 to 20 mm and spring hardness of 30 to 45 and satisfies a maximum acceleration of 100G or less in JIS A6519 floor hardness test.例文帳に追加

スプリング硬さ３０〜４５のＥＶＡ発泡体を５ｍｍ〜２０ｍｍ厚さで介して、切断伸び２００〜４００％の弾性ウレタン塗り床材を設けるた衝撃緩衝床とし、これが、ＪＩＳ Ａ６５１９床の硬さ試験において、最大加速度が１００Ｇ以下であること。 - 特許庁

The final-stage selector inputs a bit output one stage before, the final-stage corresponding bit signal of parallel data from a serial output buffer resistor 4, and the first-stage bit output of a serial input shift resistor 2, and selects the output of the first-stage bit output of the serial input shift resistor 2 in conformation to a test signal.例文帳に追加

終段セレクタは、１段前のビット出力と、シリアル出力バッファレジスタ４からのパラレルデータの終段対応ビット信号と、シリアル入力シフトレジスタ２の初段のビット出力とを入力し、テスト信号に対応してシリアル入力シフトレジスタ２の初段ビットの出力を選択する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device, in which a semiconductor chip is flip-chip connected to a mounting substrate, the amount of warpage of the mounting substrate is reduced, and there is no break of a solder bump, etc. connecting the semiconductor chip with the mounting substrate or cracks, etc. of the mounting substrate at a temperature cycle test.例文帳に追加

搭載用基板に半導体チップをフリップチップ接続した半導体装置で、搭載用基板の反り量が低減され、且つ温度サイクル試験で半導体チップと搭載用基板とを接続する半田バンプ等の破壊や、搭載用基板のクラック等の発生がない半導体装置を提供する。 - 特許庁

This device test data display displays a plurality of data measured by an IC tester as a plurality of waveforms, computes the plurality of displayed waveforms to be displayed as another waveforms, and includes a computation expression display area for function-computing the plurality of waveforms.例文帳に追加

ＩＣテスタで測定した複数のデータを複数の波形として表示し、表示した複数の波形を演算して別の波形として表示するデバイステストデータ表示装置において、この表示装置に前記複数の波形の関数演算を行うための演算式表示エリアを設けた。 - 特許庁

The screening method contacts ADAMTS-1 protein or its modified body and an aggrecan in the presence or absence of a test compound and compares the difference of changes of the decomposition reaction of the aggrecane under the prescribed conditions.例文帳に追加

前記スクリーニング方法は、試験化合物不在下及び試験化合物存在下の各条件下において、ＡＤＡＭＴＳ−１タンパク質又はその機能的等価改変体とアグリカンとを接触させ、前記各条件下におけるアグリカン分解反応による変化の差異を比較する。 - 特許庁

By default x11perf automatically calibrates the number of repetitions of each test, so that each should take approximately the same length of time to run across servers of widely differing speeds.例文帳に追加

これは、アクセラレータが激しい処理を行っている間には、グラフィックスアクセラレータと通信するサーバは処理が終わったことを通知できないことを意味する。 サーバの速度が様々であってもそれぞれのテストがだいたい同じ時間で行えるように、x11perfはデフォルトで各テストの繰り返し回数の調整を自動的に行う。 - XFree86

Since the current mirror circuit 223 has an output resistor at its output side and a voltage at one end of the resistor 225 is given to a DSP circuit 226 and calculated therein, the fluctuation component of the power supply VBB to discriminate the test result of an insulation resistance of a subscriber line 202 or the like is eliminated.例文帳に追加

カレントミラー回路２２３は、出力側に出力抵抗２２５を接続しており、その一端の電圧がＤＳＰ回路２２６に入力されて演算されるので、電源Ｖ_BBの変動分を除去して加入者線２０２の絶縁抵抗等の試験結果が判定される。 - 特許庁

For preventing the formation of the leachable mercury at waste disposal time of a mercury discharge lamp and improving reliability of a TCLP test, the silver salt, the gold salt or its combination of the effective quantity are incorporated into the lamp structure such as the glass tube inside, a base, and the lamp base inside.例文帳に追加

水銀放電ランプの廃棄処理時の溶出水銀の生成を防止するとともに、ＴＣＬＰ試験の信頼性を向上させるため、ガラス管内部、口金及びランプ口金中等のランプ構造内に有効量の銀塩、金塩又はその組み合わせを組み込む。 - 特許庁

A virtual test device software management means 3 measures an I/O input/output processing time and an execution processing time of a instruction word in execution of simulation of a control program stored in a control program memory 6 by means of a simulation program stored in a simulator system memory 5.例文帳に追加

仮想試験装置用ソフトウェア管理手段３は、シミュレータシステムメモリ５に格納されたシミュレーションプログラムにより、制御プログラムメモリ６に格納された制御プログラムのシミュレーションを実行したときのＩ／Ｏの入出力処理時間や命令語の実行処理時間を計測する。 - 特許庁

When the identification number of the designated storage region is supplied, a test part 17 decide whether or not the effective display information of the identification number of the designated storage region is valid, and supplies a signal to request the output of the data in the designated storage region to the data storage part when the effective display information is effective.例文帳に追加

検査部１７は、指定記憶領域の識別番号を供給され、指定記憶領域の識別番号の有効表示情報が有効か否かを判定し、有効の場合に指定記憶領域内のデータの出力を要求する旨の信号をデータ記憶部に供給する。 - 特許庁

To provide a governor testing device, by which connection of an equipment, the analysis of data and the data reduction of a test result can be conducted easily in a short time, labor and a time can be reduced while an error on the reading of a measured data can be lowered and levelling for input conversion is made unnecessary.例文帳に追加

機器の接続やデータの解析および試験結果の整理が短時間にかつ容易にでき、労力と時間を削減できると共に、測定データの読み取り誤差を低減でき、入力換算のためのレベル調整が不要な調速機試験装置を提供する。 - 特許庁

By varying the condition of cavitation jet, the erosion ratio every condition is measured, a polymer piezoelectric film sensor is stuck on the surface of a test piece, the condition of the cavitation jet is varied, and the threshold (intensity) of the cavitation impact force producing damage every inherent material is specified.例文帳に追加

キャピテーション噴流の条件を変化させて、各条件ごとの壊食率を計測するとともに、当該試験片表面に高分子圧電フィルムセンサを貼り付けてキャピテーション噴流の条件を変化させて固有材料ごとに損傷を生じる「キャビテーション衝撃力のしきい値（つよさ）」を特定する。 - 特許庁

An offset is applied to a focal position on a semiconductor device 28 by changing the diameter of an electron beam irradiated to the semiconductor device 28 by the operation of an objective lens 11, or regulating the height of the objective lens 11 or a test piece 14 in response to the unevenness generated in the case of processing the semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置を加工する際に生じた凹凸に応じて、対物レンズ11の作用により半導体装置28へ照射する電子線の径を変える、あるいは対物レンズ11や試料台14の高さを調整することで半導体装置28上の焦点位置にオフセットをかける。 - 特許庁

To provide a method for evaluating steering stability which enables the precise evaluation of the steering stability of a tire mounted to a vehicle by fluctuating the friction of a damper of the vehicle to which the tire to be tested is mounted, in a tire steering stability test.例文帳に追加

タイヤの操縦安定性能試験において、被検体のタイヤを装着した車両のダンパーのフリクションを変化させて車両に装着されたタイヤの操縦安定性能の評価を精度良く行うことを可能にする操縦安定性能評価方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for determining propagation stop characteristic of high-speed ductile fracture of a steel pipe, for preventing a large-scale accident by high-speed ductile fracture by performing a characteristic evaluation by the use of a test piece suitable to material evaluation of shearing crack propagation resistance which is important in high-speed ductile fracture.例文帳に追加

高速延性破壊で重要な、せん断き裂伝播抵抗の材料評価に適した試験片を用いた特性評価をすることにより、高速延性破壊による大事故を防止するための、鋼管の高速延性破壊の伝播停止特性判定方法を提供する。 - 特許庁

The process cheese having a smooth texture with a hardness of ≤3 kg and a brittleness of ≤2 mm by cheese compression test is produced by adding 0.5-5 wt.% molten salt to a stock cheese having a ripeness (STN/TN value) of ≤15% and emulsifying the mixture under heating at a temp. of ≥110°C.例文帳に追加

熟度（ＳＴＮ／ＴＮ値）が１５％以下である原料チーズに、溶融塩を０．５〜５重量％添加し、１１０℃以上で加熱乳化して、チーズ圧縮試験にて硬さ３ｋｇ以下及び脆さ２ｍｍ以下である滑らかな組織を有するプロセスチーズを製造する。 - 特許庁

To shorten time which is taken for file deletion without increasing the burden of a worker or changing the structure of a controller 3 connected with an IC tester 1 in the case of deleting two or more files in which test procedures and data of the IC tester are stored.例文帳に追加

ＩＣテスタにおける試験手順やデータが記憶された２つ以上のファイルを削除する際に、作業者の負担を増やすことなく、また、ＩＣテスタ１に接続されている制御装置３の構成を変更することなく、ファイル削除にかかる時間を短縮することである。 - 特許庁

To provide a game machine which can prevent disappearance of important information or test signals at some midpoint even if a reset level is generated at a reset signal for a microcomputer of an electrical component thereof due to noise, etc., and can smoothly start control of the microcomputer at the start of power supply.例文帳に追加

ノイズ等に起因して電気部品マイクロコンピュータに対するリセット信号にリセットレベルが生じても、重要な情報が消えてしまったり試験信号が途中で消えてしまったりすることを防止しつつ、電力供給開始時に円滑に制御を開始できるようにする。 - 特許庁

A second circuit of the test circuit is provided to each of the plurality of circuit blocks, receives the clock formed by the first circuit, and forms an internal control signal for switching a selector provided to an input part of a flip-flop circuit constituting a scan chain from the scan change side to the front stage logic side.例文帳に追加

テスト回路の第２回路は、上記複数の各回路ブロックに設けられ、上記第１回路で形成されたクロックを受けて、スキャンチェーンを構成するフリップフロップ回路の入力部に設けられたセレクタをスキャンチェーン側から前段論理側に切り替える内部制御信号を形成する。 - 特許庁

Phase shift reticles Rps having test patterns PA1 to PA4 including a phase shifter for changing a phase of a transmitted illumination light are disposed on a surface of an object of the projection optical system 22 so as to be substantially perpendicular to an optical axis of the light from an illumination optical system 11.例文帳に追加

投影光学系２２の物体面に、透過する照明光の位相を変化させる位相シフト部が設けられたテストパターンＰＡ１〜ＰＡ４を有する位相シフトレチクルＲｐｓを、照明光学系１１からの照明光の光軸に対してほぼ直交するように配置する。 - 特許庁

The correction method includes the steps of recording a predetermined gradation image as a test pattern on an object recording medium for the image to be printed and on a recording medium for correction of the nonuniformities in density respectively; producing data reflecting the correlation from the results of read images on both of the mediums; and producing a correction table for the nonuniformities in density based on the data.例文帳に追加

画像印字対象の記録媒体と、濃度むら補正用の記録媒体の夫々に対して、テストパターンである所定の階調画像を記録し、それぞれを読み取った結果から、相関関係を考慮したデータ類を作成し、これを用いて濃度むら補正用テーブルを作成する。 - 特許庁

To provide a nondestructive X-ray testing apparatus that is light in weight, easy to install, free from X-ray irradiation, and capable of acquiring X-ray transmission images of a linear test object on the spot in multiple directions and in a nondestructive process, thereby enabling the state of deterioration and other aspects of the object to be precisely checked.例文帳に追加

軽量かつ設置が容易で、さらにＸ線被爆なく、直線状の被検査物をその場で非破壊に多方向からのＸ線透過像を取得し、被検査物の劣化状況等を高精度で検査できるＸ線非破壊検査装置を提供する。 - 特許庁

A picture pickup element 35 converts an optical image of secondary beam B2 provided by irradiating beam B1 for lightening on the test 4 to an electric signal for each of picture elements and outputs a signal made by integrating the converted electric signal in the moving direction of the (xy) stage 40 (moving direction of the optical image).例文帳に追加

撮像素子３５は、試料４に照明用ビームＢ１を照射して得られる二次ビームＢ２の光学像を各画素毎に電気信号に変換し、変換した電気信号をｘｙステージ４０の移動方向（光学像の移動方向）に積算した信号を出力する。 - 特許庁

Some of the specific forms of support provided included the introduction of newly developed products and services to trading companies and other enterprises, and assistance with activities ranging from the development of marketing plans by enterprises with new products and services to test marketing targeted at enterprises in likely markets in the Tokyo metropolitan and Kinki regions. 例文帳に追加

具体的な取組として、開発した新商品等を商社・企業等に紹介又は取次ぎを行い、新商品・新サービスを持つ企業のマーケティング企画から、首都圏・近畿圏を舞台に想定市場の企業へのテストマーケティング活動までの支援を行った。 - 経済産業省

As well as measures to support research and development aimed at promoting the development of battery technology, such as lithium-ion batteries, this platform incorporates environmental improvement measures such as the implementation of test demonstrations and the promotion of electrical charging infrastructure installation, and sets the target of putting one million electric vehicles into practical use by 2020.例文帳に追加

同計画には、リチウムイオン電池等の電池技術の開発推進のため、研究開発の支援策のほか、実証実験の実施、充電インフラ設置の促進などの環境整備策が盛り込まれており、2020年までに100万台の電気自動車を実用化することを目標値として掲げている。 - 経済産業省

In a pin electronics part 100 of this semiconductor testing device, when a control part 150 performs OFF-control of the semiconductor relay 130 at a time other than a test time of the DUT 180, ON-control of a relay 140 for direct current measurement is performed simultaneously even when the direct current measurement is not performed.例文帳に追加

半導体試験装置のピンエレクトロニクス部１００では、ＤＵＴ１８０の試験時以外において、制御部１５０が半導体リレー１３０をＯＦＦ制御すると、同時に直流測定を行っていない場合においても直流測定用リレー１４０をＯＮ制御しておく。 - 特許庁

In the rewritable optical disk recording/reproducing device capable of setting a laser output by recording a test signal in a trial writing area provided in a disk, and repeatedly recording in the disk, when recording is performed in the signal recorded area, a laser output is set by recording a test signal in the recorded area while changing the laser output and detecting the recording quality of the test signal.例文帳に追加

ディスクに設けられている試し書き領域へテスト信号を記録するとともに記録されたテスト信号の記録品位を検出することによりレーザー出力を設定し、且つディスクへの記録動作を繰り返し行うことが出来る書き換え可能な光ディスク記録再生装置において、信号が記録されている記録済み領域への記録動作を行うとき、該記録済み領域にテスト信号をレーザー出力を変更しながら記録するともに記録されたテスト信号の記録品位を検出することによってレーザー出力を設定する。 - 特許庁