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OF testの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 23309件
The tableware integrally formed of a ceramic layer and a resin layer formed on its outer face is such a hybrid tableware that has (1) a thickness of the resin layer in a range of 20-150% of the whole thickness of a molded body made of the pottery and has (2) a value in a chipping test measured according to ASTM C368-77 of at least 0.8 J.例文帳に追加
セラミックス層とその外面に形成された樹脂層が一体となって形成された食器であって、(1)樹脂層の厚さが、陶磁器製成形体の厚さの20〜150%の範囲で形成されており、(2)ASTM C368−77に従って測定したチッピング試験における値が0.8J以上であるハイブリッド食器。 - 特許庁
To provide a load cell correction jig capable of correcting bentness of a load cell so as to be not influenced by bentness of the load cell, without generation of noise due to reflection wave, when, for example, high-speed tension test is performed of low strength of resin and thereby to provide a high-speed tension testing machine capable of implementing easy and correct measurement.例文帳に追加
例えば樹脂などの低強度の高速引張り試験を行う際に、反射波によるノイズを発生させることなく、ロードセルの曲がりによる影響を受けないようにロードセルの曲がりを矯正することが可能なロードセル矯正治具およびこれを用いて、簡易に正確な測定が可能な高速引張り試験機等を提供する。 - 特許庁
(3) The provisions of the preceding two paragraphs shall not apply to a person who serves on board an aircraft specified by Ordinances of the Ministry of Land, Infrastructure, Transport and Tourism to engage in pilotage (including handling airframe systems and engines on board an aircraft) or a person who is engaged in the on-board operations of aircraft for the purpose of test flights etc. under permission of the Minister of Land, Infrastructure, Transport and Tourism. 例文帳に追加
3 前二項の規定は、国土交通省令で定める航空機に乗り組んでその操縦(航空機に乗り組んで行うその機体及び発動機の取扱いを含む。)を行う者及び国土交通大臣の許可を受けて、試験飛行等のため航空機に乗り組んでその運航を行う者については、適用しない。 - 日本法令外国語訳データベースシステム
The concealment test paper used in the toning process of repairing color coating has a gray part and a silver part and the 105° maximum reflectivity of the surface of the gray part at a wavelength of 400-700 nm is 0.8-1.2 times the 105° maximum reflectivity of the surface of the silver part at the wavelength of 400-700 nm.例文帳に追加
補修用着色塗料の調色工程において用いられる隠蔽試験紙であって、グレー部分及びシルバー部分を有し、上記グレー部分の表面の波長400〜700nmにおける105度最高反射率は、上記シルバー部分の表面の波長400〜700nmにおける105度最高反射率の0.8〜1.2倍である隠蔽試験紙。 - 特許庁
The socket for electric test of semiconductor devices has a pair of members in which a plurality of rod-like metal wires bound by binding parts are fixed in each hole of a sheet having a large number of holes in accordance with the arrangement of a semiconductor device, are opposed to each other, and end parts of the rod-like metal wires are fitted in each other.例文帳に追加
および、半導体デバイスの配列に合わせて多数の穴を有するシートの各穴に、結束部により結束された複数本の棒状金属線材が固定されている部材の一対が対向して配置され、該棒状金属線材の先端部同士が嵌合されていることを特徴とする半導体デバイスの電気テスト用ソケット。 - 特許庁
To provide a high precision angle measuring device for planes of several tens of micrometer (corresponding to a domain of micro Vickers test) by measuring angles of minute plane of samples using optical system installing two beam splitters in the middle of an ocular lens and an objective lens of an optical microscope.例文帳に追加
本発明は、試料の微小平面の角度を光学顕微鏡の接眼レンズ及び対物レンズの中間に2個のビームスプリッタを設置した光学系を用いて測定することにより、数十μm程度 (マイクロビッカース試験の領域に対応) の測定面に対し、高い精度で角度測定が行える装置を提供することを目的とする。 - 特許庁
An offset is applied to a focal position on a semiconductor device 28 by changing the diameter of an electron beam irradiated to the semiconductor device 28 by the operation of an objective lens 11 or regulating the height of alternatively the objective lens 11 or a test piece 14 in response to the unevenness generated in the case of processing the semiconductor device.例文帳に追加
半導体装置を加工する際に生じた凹凸に応じて、対物レンズ11の作用により半導体装置28へ照射する電子線の径を変える、あるいは対物レンズ11や試料台14の高さを調整することで半導体装置28上の焦点位置にオフセットをかける。 - 特許庁
To provide a release film wherein high level accuracy in a test by a cross-nicol method of a deflection plate, and increasing production yield by a reduction of roll-cleaning and improvement of qualities by a reduction of foreign materials can be realized in a manufacturing process using a release film.例文帳に追加
偏光板のクロスニコル法による検査において、高度な精度を実現でき、離型フィルムを用いた製造工程において、ロール清掃の低減による製造歩留まりの向上や、異物の低減による品質を向上させることのできる離型フィルムを提供する。 - 特許庁
In a compression test of compressing the polymer fine particles at loading speed of 0.2275 gf/sec, the polymer fine particles exhibit a preliminary breaking behavior in which a part of the polymer fine particles preliminarily breaks, before exhibiting a breaking behavior in which the whole of polymer fine particles breaks.例文帳に追加
本発明の重合体微粒子は、該重合体微粒子を荷重負荷速度0.2275gf/secで圧縮する圧縮試験において、重合体微粒子全体が破壊する本破壊挙動を示す前に、予め重合体微粒子の一部が破壊される予備的破壊挙動を示す。 - 特許庁
At the time of a gradation selection operation, different potentials IN, INb are inputted in each of the input lines 131, 132, different potentials are outputted from the output lines 142, 141 and at the time of the stress test, the same potential is outputted from both of the output lines 142, 141.例文帳に追加
階調選択動作時には、入力ライン131,132のそれぞれに異なる電位IN,INbが入力され、出力ライン142,141から異なる電位が出力され、ストレステスト時には、出力ライン142,141の両方から同じ電位が出力される。 - 特許庁
A collection of data processing algorithm is suitably used instead of a high pass filter stage of the eddy current inspection system, and is simultaneously used for providing required data for an optimized system for inspecting test pieces on whether to be a slender defect of traveling in parallel to the scanning axis.例文帳に追加
渦電流検査システムの高域通過フィルタ段の代わりに用いるのに適し、また、走査軸に平行に走る細長い欠陥がないか試験片を検査するために最適化されたシステムに必要なものを提供する同時に用いられるデータ処理アルゴリズムの集合体。 - 特許庁
A low temperature test device has two CCD cameras 10a, 10b not having a zoom mechanism installed at a different planar position, and a prism mechanism 11 capable of at least a part of the surface of a semiconductor wafer and/or probe needle 52 from any one of the CCD cameras 10a, 10b.例文帳に追加
異なる平面位置に設置したズーム機構を有さない2台のCCDカメラ10a,10bと、いずれのCCDカメラ10a,10bからも半導体ウエハの表面及び/又はプローブ針52の少なくとも一部を撮影させることが可能なプリズム機構11とを有している。 - 特許庁
The scan test circuitry comprises at least one scan chain having a plurality of scan cells, with the scan chain being configured to operate as a serial shift register in a scan shift mode of operation and to capture functional data from at least a portion of the additional circuitry in a functional mode of operation.例文帳に追加
スキャンテスト回路は、複数のスキャンセルを有する少なくとも1つのスキャンチェーンを備え、スキャンチェーンは、スキャンシフト動作モードではシリアル・シフトレジスタとして動作し、機能動作モードでは追加回路の少なくとも一部分からの機能データを捕捉するように構成される。 - 特許庁
To provide a focused ion beam device capable of producing a good cross section for observation having little streak and improving throughput, and a method of processing and observing a test piece which allows production of a good cross section of observation and provide a correct observation image.例文帳に追加
筋引きの少ない良好な観察用断面を作製することができるとともに、スループットを向上させることが可能な集束イオンビーム装置、及び、良好な観察用断面を作製して、正確な観察像を得ることができる試料の断面加工・観察方法を提供する。 - 特許庁
A VCAT transmission apparatus 10 copies a test signal of a pseudo-random bit sequence, performs control so as to insert the same PRBS signal to each member of a VCAT signal, and transmits each member of the VCAT signal to which the PRBS signal is inserted to an opposing apparatus via a plurality of transmission paths.例文帳に追加
VCAT伝送装置10は、擬似ランダムビット系列のテスト信号をコピーし、VCAT信号のメンバにそれぞれ同一のPRBS信号を挿入するように制御し、PRBS信号が挿入されたVCAT信号の各メンバを複数の伝送路で対向装置に送信する。 - 特許庁
At least part of the ignition key 1 of the vehicle under test is inserted into an opening 10a of the based cylindrical holding member 10 provided in an actuator 4 of a drive robot, and the ignition key 1 is held in an attachable/detachable manner.例文帳に追加
ドライブロボットのアクチュエータ4に設けられる有底筒状の保持部材10であり、前記保持部材10の開口部10a側から試験対象車両のイグニッションキー1の少なくとも一部が挿入されて、そのイグニッションキー1を装着および取外し自在に保持する。 - 特許庁
When the contact pressure signal is smaller than the preset contact pressure signal level, the height between an air current jet end 51 of the air nozzle 5 and a touch area 110 of the touch pad is lowered or the pressure of the air current is regulated to achieve the purpose of an adaptable inspection test.例文帳に追加
触圧信号が前記予め設定された触圧信号レベルより小さい場合、前記エアノズル5の気流噴出端51とタッチパッドのタッチエリア110の間の高さを降下させるかあるいは前記気流の圧力を調節することで適応可能な検査テストの目的を達成する。 - 特許庁
Also, a hard coat film having a blushing angle of 30° or higher in a bending test using a mandrel of 2 mm diameter is obtained by laminating the hard coat layer having a Martens hardness of 350 N/mm^2 or higher on a resin substrate film having a Martens hardness of 90 N/mm^2 or higher.例文帳に追加
また、マルテンス硬度が90N/mm^2以上である樹脂基材フィルム上に、マルテンス硬度が350N/mm^2以上であるハードコート層を積層し、直径2mmのマンドレルを用いた折り曲げ試験における白化角度が30°以上であるハードコートフィルムとする。 - 特許庁
A control part 30 allows the light source, the deflector, the photoreceptor drums 4 and the developing devices 7 to detect a plurality of test patterns for detecting the displacement of the plurality of toner images in the sub-scanning direction with respect to the intermediate transfer belt 11 during accelerating the rotation of the polygon mirror.例文帳に追加
制御部30は、ポリゴンミラーの回転の加速中において、光源、偏向器、感光体ドラム4及び現像装置7に、中間転写ベルト11に対して副走査方向における複数のトナー画像の位置ずれを検知するための複数のテストパターンを検知させる。 - 特許庁
This facility uses a rotary encoder and a photoelectric sensor as digital sensors for measuring the data of the side slip tester 5 and the brake and speed tester 6 of a vehicle 4, and is equipped with a controller made of a computer for sending the digital data of the digital sensors to a control panel 1 for making judgement as to whether a test result is acceptable or not.例文帳に追加
車両4のサイドスリップテスタ5とブレーキ・スピードテスタ6のデータの測定にディジタルセンサであるロータリーエンコーダと光電センサを使用し、制御盤11内に前記ディジタルセンサのディジタルデータを入力し、前記テストの合否を判断するコンピュータからなるコントローラを備える。 - 特許庁
A plurality of minute dot marks M consisting of upheaved projections whose length along the mark formation surface of which the part upheaves is 1.0-15.0 μm and whose height is 0.01-5.0 μm are formed on the area 9 except the micro array formation area 8 of the chip 7 for the gene test.例文帳に追加
遺伝子試験用チップ(7) のミクロアレイ形成領域(8) 以外の領域(9) に、一部が隆起するマーク形成面に沿った長さが1.0〜15.0μmであり、その高さが0.01〜5.0μmである隆起状突起からなる複数の微小なドットマークMを形成している。 - 特許庁
A utilization recommending part 107 selects the translation support function to be recommended to the user out of the plurality of the translation support functions provided in the system 100 on the basis of a mark result of the test, and transmits a utilizing function display screen by which the selected translation support function becomes available to the user terminal 300-1.例文帳に追加
利用推奨部107は、テストの採点結果に基づいて、自システム100が備えている複数の翻訳支援機能の中からユーザに推奨する翻訳支援機能を選択し、選択した翻訳支援機能の利用を可能にする利用機能表示画面を利用者端末300-1へ送信する。 - 特許庁
A PCR is carried out by using four kinds of forward side primers having a disclosed sequence and four kinds of reverse side primers having a similarly disclosed sequence, and making the gene of an avian coccidial protozoan to be assayed in a test sample as a template and the amount of an amplified fragment is assayed in a real time.例文帳に追加
開示される配列を有するフォワード側プライマー4種と、同じく開示される配列を有するリバース側プライマー4種を用い、被検試料中の測定すべき鶏コクシジウム原虫遺伝子を鋳型としてPCRを行うとともに、増幅断片の量をリアルタイムに測定する。 - 特許庁
To provide a system, a method and a program capable of easily selecting and executing a test scenario to be reused, and simplifying a retesting work even at the time of executing program correction such as enhance or failure correction including the change of the relation of a module.例文帳に追加
エンハンスや不良修正などのプログラム修正に対して、モジュールの関係が変更になるようなプログラムの修正であっても、再利用したいテストシナリオを簡単に選択して実行でき、再テスト作業を簡略化することができるシステム、方法、およびプログラムを提供することを目的とする。 - 特許庁
An interface test circuit 20 is bus-connected to the CPU 13, and includes a selection circuit 22 for selecting one of the interface circuits 11a-11d and selecting whether input or output of data is performed to each of the one set of external terminals related to the selected interface circuit.例文帳に追加
インタフェーステスト回路20は、CPU13にバス接続され、インタフェース回路11a〜11dの一つを選択し、選択されたインタフェース回路に係る1組の外部端子のそれぞれに対してデータの入力あるいは出力を行うかを選択する選択回路22を備える。 - 特許庁
In addition, on the other hand, the import and export of slip data from and to various kinds of devices and the other sales management applications can be made easily and accurately when the kinds and arranging order of data items are made to be set arbitrarily by handling the data items in the form of test files 2A, 2B, 2C, and 2D.例文帳に追加
また一方、テキストファイル2_A 、_B 、_C 、_D の形態で取り扱い、データ項目の種類、配置順序の任意設定を可能とすることで各種デバイスおよびその他の販売管理アプリケーションとの伝票データのインポート、エキスポートを容易かつ正確に行うことが可能となる。 - 特許庁
The circuits in such a configuration are connected in parallel as many as the number of capacitors to be tested, the terminal of each circuit connecting the anode of the diode 4 and a terminal connecting the cathode side of the capacitor 2 while sandwiching each measuring terminal 3b are used as power supply terminals, and a test voltage is impressed by a power source 5.例文帳に追加
この構成の回路を、被試験コンデンサ個数分並列に接続し、各回路におけるダイオード4のアノードを接続した端子と、コンデンサ2の陰極側を各測定端子3bを挟んで接続した端子とを電源端子とし、電源5により試験電圧を印加する。 - 特許庁
The apparatus for inspecting the surfaces of the disks is provided at least with a mounting substrate 1 for mounting a disk 2 for test; a steam supplying means 4 for supplying a gas 5 containing steam for the surface of the disk 2; and a dew formation observing means 8 for observing droplets caused by the dew formation of the steam over the surface of the disk 2.例文帳に追加
試験用のディスク2を装着する装着基板1、前記ディスク2の表面に蒸気を含んだガス5を供給する蒸気供給手段4、前記ディスク2の表面に前記蒸気が結露した液滴を観察する結露観察手段8を少なくとも備える。 - 特許庁
A fit-in recess 4Aa of a lower rod 2 is formed so that the upper end of the lower rod is fitted in the lower surface of the pedestal member 4 mounted on the lower rod 2, and on the upper surface of which the test piece 5 is arranged, and the pedestal member 4 is mounted concentrically to the lower rod 2.例文帳に追加
下部ロッド2上に載置され且つ試験体5が上面に配置される台座部材4の下面に、前記下部ロッド2の上端部が嵌入され且つ下部ロッド2に対し同芯状に前記台座部材4を載置可能とするための下部ロッド嵌入凹部4Aaを形成する。 - 特許庁
"Time of transmission request" being a time of request for transmitting OAM echo from a measuring station and "time of response receiving" being a time that the measuring station receives the OAM echo response from the station to be measured are added to a payload portion in the frame of the OAM echo request/response for use in an OAM echo test.例文帳に追加
OAMエコー試験に用いられるOAMエコー要求/応答フレームのぺイロード部に、測定ステーションからのOAMエコー要求送信時刻である「要求送信時刻」と、測定ステーションが被測定ステーションからOAMエコー応答を受信した時刻である「応答受信時刻」を付加する。 - 特許庁
As to the changeover processes (1), (3), time is considerably shortened in the case of adopting light switches 30a, 30b compared to the case of adopting a system of replacing a conventional optical connector, and time can be alotted to the connection test (2) by that portion, so that the total number of working days can be considerably shortened.例文帳に追加
上記 、 の切替工程につき、従来の光コネクタを差し替える方式を採用した場合に比べて、光スイッチ30a、30bを採用した場合には、大幅に時間が短縮化され、その分、上記 の接続試験に割り当てることができ、延べ作業日数が大幅に短縮された。 - 特許庁
Out of these pads (No. 1 to No. 103), beside a pad 3 which carries out a bonding at the time of a package assembly but is not used in the times of a packaging stage for evaluation and a probe test, there is adjacently arranged an evaluation pad 4 for a power supply monitor in which no bonding is carried out at the time of the package assembly.例文帳に追加
これらのパッド(No.1~103)のうち、パッケージ組み立て時にはボンディングはするが評価用パッケージ段階やプローブテスト時では使用しないパッド3の横に、パッケージ組み立て時にボンディングは実施されない電源モニタ用評価パッド4が近接して配置されている。 - 特許庁
Thereby, after the master chip 1 and a subordinate chip 2 are jointed, the operation confirmation of only the master chip 1 or the subordinate chip 2 and the connection confirmation of the master chip 1 and the subordinate chip 2 are enabled, by pressing test probes P against the parts of the extending part 14 which is drawn out to the outside of the junction region 12.例文帳に追加
これにより、親チップ1と子チップ2とが接合された後であっても、延設部14の接合領域12の外方に引き出された部分にテストプローブPを押し当てて、親チップ1または子チップ2のみの動作確認や親チップ1と子チップ2との接続確認を行うことができる。 - 特許庁
To provide a leakage inspection device using air-tight chamber forming structure capable of forming an air-tight chamber in a part to be inspected of a pipe directly from a side face of the pipe, in which the air-tight chamber can attain air-tightness enough to carry out an air-tightness test of high detection sensitivity.例文帳に追加
管の側面から直接に管の被検査部に気密室を形成できる気密室形成構造であって、かつ該気密室は高い検出感度の気密性試験を行うのに十分な気密性を実現できる気密室形成構造を用いた漏洩検査装置を提供する。 - 特許庁
To provide a non-volatile semiconductor memory in which time for verifying write-in is omitted by suppressing the increment of a write-in time caused by the increment of the parallel number of write-in by multiple-write-in and outputting the test result of write-in to the outside as it is in the same way as in automatic write-in.例文帳に追加
マルチ書込みによる書込み並列数の増加による書込み時間の増加を抑制し、かつ自動書込みと同様に書込みの検査結果をそのまま外部出力することにより、書込みベリファイの時間を省略するようにした不揮発性半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁
One aspect of the invention provides a method for identifying and/or obtaining a compound for the treatment of a condition associated with decreased endogenous apo E activity in an individual comprising: determining the ingestion of apoptotic cells by a macrophage in the presence of a test compound.例文帳に追加
本発明の1つの側面は、個体における減少した内因性アポE活性に関連する状態の治療のための化合物を同定及び/又は得るための方法であって、被験化合物の存在下においてマクロファージによるアポトーシス細胞の摂取を測定すること、を含む上記方法である。 - 特許庁
To perform analysis of trace substances for the purpose of learning presence/absence of a reaction and a reaction quantity when analysis of the trace substances in blood by considering blood, blood serum or blood plasma as a sample or a test body and utilizing an antigen-antibody reaction.例文帳に追加
本発明の目的は、血液,血清あるいは血漿を試料あるいは検体とし、抗原抗体反応を利用して、血中微量物質の分析を行うとき、反応の有無および反応量を知る目的で微量物質の分析を高精度かつ高感度で行うことを目的とする。 - 特許庁
To provide a kit for testing humor components for both performing clinical tests on humors such as saliva as a specimen and testing the specimen after the reduction of viscosity of the specimen and the removal of bubbles only by the easy operation of supplying the specimen to the test kit.例文帳に追加
唾液等の体液成分を検体として臨床検査を行う検査具であって、検体を検査具に供給するという簡易な操作のみで、検体の粘性の低減および気泡の除去がなされた後に検体の検査が行われる体液成分検査具を提供する。 - 特許庁
To provide a cup conveying device for a cup-type vending machine capable of avoiding the collision of a cup holder at a side of a vending machine body with a commodity outlet port at a side of a main door and preventing the breakage thereof securely when the main door is closed after performing test marketing.例文帳に追加
テスト販売の実行後、メインドアが閉鎖される際に、販売機本体側のカップホルダと、メインドア側の商品取出口部とが衝突するのを回避でき、それらの破損を確実に防止することができるカップ式自動販売機のカップ搬送装置を提供する。 - 特許庁
To reduce an influence on density information even if there exists a nozzle with poor delivery when conveying error of a roller generated by an eccentricity or the like is detected from the density information of a test pattern with a patch consisting of two patch elements whose density is changed by a condition of overlapping.例文帳に追加
偏心などによって発生するローラの搬送誤差を、重なりの状態によって濃度が変化する2つのパッチ要素からなるパッチを有するテストパターンの濃度情報に基いて検出する際、吐出不良のノズルがあっても、濃度情報への影響が軽減されるようにする。 - 特許庁
When the test object is a semiconductor wafer, generation of the false report because of a brightness unevenness is avoided without decreasing the sensitivity, and moreover, the sensitivity can be adjusted easily by a single threshold by a means for preliminarily reducing a difference of brightnesses of images generated by a film thickness difference in the wafer.例文帳に追加
また、検査対象が半導体ウェハであった場合、ウェハ内の膜厚の違いにより生じる画像間の明るさの違いをあらかじめ合わせ込む手段により、感度を落とさずに明るさむらによる虚報の発生を避け、かつ、唯一のしきい値で容易に感度調整を可能とする。 - 特許庁
A formwork for concrete made of a polyurethane elastomer of which the hardness at 25°C after an immersion test in an aqueous alkali solution with a pH of 13 at 85°C for 10 days is 55-90 and the maintenance factor of tear strength is 80% or higher is provided, and so is a polyurethane elastomer composition used for manufacturing the formwork.例文帳に追加
85℃におけるpH13のアルカリ水溶液浸漬試験で10日経過後の硬度が25℃で55〜90、引裂強度の維持率が80%以上のポリウレタン系エラストマーからなるコンクリート用型枠、及び該型枠の製造に用いられるポリウレタン系エラストマー組成物である。 - 特許庁
To provide a visual examination device of a film, which successively performs reflection and transmission tests by one device, automatically performs an alteration of testing attitude and a change over of a light source, and automatically protrudes a black screen to an underlay part of the reflection test for optimizing the examination environment.例文帳に追加
一台の装置で反射及び透過検査を順次行うことができ、しかも検査姿勢の変更及び光源切換えを自動的に行うと共に、さらに反射検査の下敷き部に黒色スクリーンを自動的に張り出して、検査環境を最適にできるフィルム目視検査装置を提供する。 - 特許庁
To provide a release film consists of a release layer on at least one surface of a film substrate material, wherein a long period storage stability is excellent under realizing a release property of the release film, a test of deficiency caused by foreign materials is easily conducted, and a design property upon forming a printing layer is excellent.例文帳に追加
フィルム基材の少なくとも片面に剥離層が形成された剥離フィルムにおいて、剥離フィルムの剥離特性を発現しつつ長期保管安定性に優れ、異物欠陥検査が容易で、且つ、印刷層を設けた場合に意匠性にも優れた剥離フィルムを提供することを課題とする。 - 特許庁
To provide a semiconductor device preventing destruction of an input/ output buffer caused by collision of data, even if any one of the control terminal of output control breaks down in a test performed by connecting plural semiconductor devices incorporating plural semiconductor elements where output data terminals are shaved.例文帳に追加
データの出力端子が共通な複数の半導体素子を内蔵する半導体装置を複数接続して行うテストで、いずれかの出力制御の制御端子が故障しても、データの衝突による入出力バッファの破壊を防止する半導体装置を提供する。 - 特許庁
Preferably, the step of inserting the test points includes controlling directly scan flip-flops of the circuit in the second time-frame requiring a number of scan flip-flops to be specified in the first time-frame for reducing the number of specified bits to detect transition faults.例文帳に追加
好ましくは、試験点を挿入するステップは、遷移故障を検出するために指定されるビットの個数を減らすために、複数のスキャンフリップフロップが第1時間フレームで指定されることを必要とする回路のスキャンフリップフロップを第2時間フレームに直接に制御することを含む。 - 特許庁
To provide a software generating device capable of generating software that can correctly verifying an RTL description even in the RTL description of an LSI for sequentially executing processing to each of a plurality of input values by using a test program for verifying an operation description.例文帳に追加
複数の入力値それぞれに対する処理を順次実行するLSIのRTL記述であっても、そのRTL記述を正しく検証することが可能なソフトウェアを、動作記述の検証用のテストプログラムを用いて生成することができるソフトウェア生成装置を実現する。 - 特許庁
To provide a test coupon for measuring characteristic impedance capable of recognizing and managing dispersion of characteristic caused mainly by a finish difference between the maximum and the minimum of distances between adjacent wires, and saving space of a printed board, and to provide a printed board including the same.例文帳に追加
隣接配線間隔の最大および最小による仕上がり差が主要因となって生じる特性インピーダンスのばらつきの把握および管理、ならびにプリント基板の省スペース化が可能な特性インピーダンス測定用テストクーポンおよびそれを有するプリント基板の提供。 - 特許庁
To provide an image forming apparatus capable of reducing irregular image density caused by variation of a developing gap and an error in a circumferential direction of latent image write-in sensitivity of a photoreceptor without forming a test image for detecting the irregular image density even when the photoreceptor or a developing sleeve is exchanged.例文帳に追加
感光体や現像スリーブを交換しても、画像濃度ムラを検知するためのテスト画像を形成することなく、現像ギャップの変動や感光体の潜像書込感度の周方向誤差に起因する画像濃度ムラを低減することができる画像形成装置を提供する。 - 特許庁
To provide an adhesive composition which causes neither cloudiness of an adhesive layer nor lifting and peeling of the adhesive layer from an adherend when durability test is conducted with the use of an oven under environmental conditions at a high temperature and high humidity is conducted and even after taken out of the oven, and also to provide an adhesive film.例文帳に追加
オーブンを使用して高温・高湿度での環境条件下における耐久試験を行った時およびオーブンから取り出した後でも粘着剤層の白濁や被着体からの浮き及び剥がれがない粘着剤組成物及び粘着フィルムを提供する。 - 特許庁
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| ※この記事は「日本法令外国語訳データベースシステム」の2010年9月現在の情報を転載しております。 |
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