| 意味 | 例文 |
OF testの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 23309件
Furthermore, a top table arranged with a length measuring mirror 23 using laser and with a test sample holder 6 that are mounted on the uppermost portion of the X stage is supported at three points to prevent shape distortions of the stages from exercising a harmful effect on the top table 8.例文帳に追加
また、最上部のXステージ上に搭載するレーザー測長用のミラー23及び試料ホルダ6を配置したトップテーブルを3箇所で支持し、ステージの形状変形がトップテーブル8に悪影響を及ぼさないようにした。 - 特許庁
To provide a shading correcting device capable of appropriately correcting shading without the need to obtain an image through the use of a test sample and calculate a correction amount in advance, and to provide a shading correcting method.例文帳に追加
あらかじめテスト用試料を用いて画像を取得して補正量を算出しておく必要がなく、かつ、適切にシェーディング補正を行うことが可能なシェーディング補正装置及びシェーディング補正方法を提供することを目的とする。 - 特許庁
A non-volatile storage means 7 generates correction data at the time of an analog test operation or at the time of periodic inspection, stores correction data corresponding to conversion data and reads correction data corresponding to a request from the input/output controller 51.例文帳に追加
非揮発性記憶手段7は、アナログ試運転時や定検時に補正データを作成し、変換データに対応する補正データを記憶し、入出力制御装置51からの要求に応じる補正データの読出しがされる。 - 特許庁
The diffraction conditions of X-rays are related to not only a component r_ijy in the y-direction of a bond vector r_ij, connecting an atom A_i and an atom A_j, but also to a component r_ijx in the x-direction in a test piece which causes diffraction.例文帳に追加
X線の回折条件は、回折を起こす、試験片内の、A_i原子及びA_j原子を結ぶボンドベクトルr_ijのy方向成分r_ijyのみならず、x方向の成分r_ijxとも関係する。 - 特許庁
The capture section 20 variably sets the cycle position of a semiconductor device 11a from which the first data are collected, and gives execution instructions respectively corresponding to a plurality of test conditions set so that the cycle position is set differently.例文帳に追加
キャプチャ部20は、第1のデータを収集する半導体デバイス11aのサイクル位置を可変に設定するとともに、サイクル位置の設定が異なるように設定された複数の試験条件のそれぞれに対応して実行指示を行う。 - 特許庁
When a light fastness test of a sample is performed by irradiating a sample 9 in a desired atmosphere in a tank 2 with specific light, the temperature of the atmosphere issued from the tank 2 is adjusted by a freezing or heating means to circulate the atmosphere.例文帳に追加
槽2内の所望雰囲気中の試料9に対して、特定の光を照射して、該試料の耐光性試験を行うときに、槽2から出た雰囲気を循環させるときに、冷凍手段や加熱手段にて温度調整する。 - 特許庁
To calibrate a channel gain map using only dark image data obtained in a test mode in a digital imaging system, and to automatically calibrate the channel gain map in a non-operation time of the system to cope with an influence of an environment.例文帳に追加
ディジタル・イメージング・システムにおいて、試験モード時に得られる暗画像データのみを用いてチャネル・ゲイン・マップを較正し、また環境の影響に対処するようにシステムの非稼働時間にチャネル・ゲイン・マップを自動的に較正する。 - 特許庁
The control lines provide the maximum prescribed inspection concentration value and the minimum prescribed inspection concentration value to be used as color collation references of a test line, by generating a plurality of color reactions having each different coloring degree with the inspection liquid.例文帳に追加
制御ラインは、前記検査液体と複数の異なる呈色程度である呈色反応を行うことで、最大所定検査濃度値及び最小所定検査濃度値を提供してテストラインの色照合基準にする。 - 特許庁
To solve problems in a characteristic test for the PM motor wherein connection work between a testing machine and a tested machine takes much time, a large number of PM motors is tested with great inconvenience and that a controller for drive of the testing machine is required.例文帳に追加
PMモータの特性試験を実施する場合、試験機と被試験機との接続作業に時間がかかり、多数のPMモータの試験を行うのは大変であると共に、試験機の駆動用制御装置が必要となっている。 - 特許庁
To remove a moisture content mixed in engine oil during test by installing an oil moisture content removing device in a system of an engine oil temperature control device and switching a system during completion of a text, in a low temperature environment testing device for an internal combustion engine.例文帳に追加
内燃機関の低温環境試験装置において、エンジンオイル温調装置の系内に油内水分除去装置を増設し、試験終了時に系統を切り替えて、試験中にエンジンオイルに混入した水分を除去する。 - 特許庁
Element holders (1), (2), (3) each having a light emitting element/ a light receiving element with a different azimuth angle are placed at front face of a main body of the communication apparatus 20 and the communication apparatus 20 has a test mode to confirm whether or not the relaying device 5 can communicate with a light emitting/light receiving section 2.例文帳に追加
通信装置20の本体前面に相異なる方位角を伴うように発光/受光素子を有する素子ホルダ , , を配置し、中継機5と発光/受光部2が通信可能かを確認するためのテストモードを有する。 - 特許庁
To provide a method for receipt of an order and delivery of a system and a method for ordering the system which enable a user to realize a cost reduction for tests and shorten a development time by providing a dynamic pre-test on a computer prior to the ordering.例文帳に追加
発注前にコンピュータ上で事前動作テストすることができ、テストにかかる費用の節約および開発期間の短縮を実現することが可能なシステム受注納入方法およびシステム発注方法を提供すること。 - 特許庁
In a test stage, the image pickup object 10 is tentatively made to flow to a conveyance direction C, and rotated only at a predetermined angle at a position 10a of the turn table T1, and made to pass through the linear visual field area F of a line sensor 20 so as to be imaged.例文帳に追加
テスト段階では、試験的に撮像対象物10を搬送方向Cに向かって流し、ターンテーブルT1の位置10aで所定角度だけ回転させ、ラインセンサ20の線状視野領域Fを通過させて撮像する。 - 特許庁
A discharge pulse generator 32 is disposed on a test board 31 such that it can approach a position corresponding to the central part of a probe card 33 freely or can recede therefrom freely thus correcting the transmission path length of a discharge pulse generated from the discharge pulse generator 32.例文帳に追加
テストボード31上に放電パルス発生器32をプローブカード33の中心部と対応する位置に対して近接および離間自在に配し、放電パルス発生器32による放電パルスの伝送経路の長さを補正する。 - 特許庁
Since the region where the test terminal 102 are formed is a space where a seal material and the like is formed between the end of the downside TFT substrate 100 and a display region 10, the size of the TFT substrate 100 is not actually increased.例文帳に追加
検査用配線102が形成された領域は、下側のTFT基板100の端部と表示領域10の間のシール材等が形成されたスペースなので、TFT基板100を実質的に大きくすることは無い。 - 特許庁
To provide a laminated ceramic capacitor using CaTiO_3/CaZrO_3 based ceramic hardly causing short-circuit defects or the deterioration of insulation resistance in a high temperature load test even if the content of Ti is increased, and a manufacturing method therefor.例文帳に追加
Tiの含有割合が高められたとしても、高温負荷試験における短絡不良や絶縁抵抗の劣化が生じ難い、CaTiO_3 /CaZrO_3 系セラミックスを用いた積層セラミックコンデンサ及びその製造方法を提供する。 - 特許庁
This magnetizer for magnetic particle test comprises a means structured so that air within a bowl-shaped portion of the inspecting object is exhausted with the inspecting object submerged in magnetic particle liquid, and the means causes the particle liquid to get in to the interior of the bowl-shaped portion.例文帳に追加
検査物を磁粉液中に水没させた状態で、検査物の椀形部分内部の空気を排気するように構成された手段を有し、これにより椀形部分内部にまで磁粉液が入り込むようにする。 - 特許庁
By this stop operation, the system power supply IC and the load are protected, and the investigation of the cause of the abnormality and the reproducing test can be carried out easily by using the power supply, the abnormal condition and the time data stored in the non-volatile memory.例文帳に追加
これにより、システム電源IC及び負荷等を保護するとともに、不揮発性メモリに記憶された電源回路、異常状態、時刻データを利用して異常状態の原因究明や再現実験を容易にする。 - 特許庁
It is specified whether the fatigue destruction is progressed, on the basis of the dissipated energy image while specifying the start point of the fatigue destruction caused accompanied by repeating load by the strain gauge bonded to the test target (a).例文帳に追加
繰返し荷重に伴って生じる疲労破壊の開始点の特定を被試験体aに貼着されたひずみゲージ4によって特定しながら、逸散エネルギー画像によって疲労破壊が進展するか否かを特定するものである。 - 特許庁
When the steel sheet is manufactured, the hot-rolled and annealed plate is controlled to have a transition temperature of 60°C or lower in an impact test, and have such a mean crystal grain size D(μm) and Vickers hardness H as to satisfy the relation of D≤4.5×(225-H), in its cross section.例文帳に追加
その製造方法としては、熱延板焼鈍板の衝撃試験における遷移温度が60℃以下であり、熱延板焼鈍板における断面の平均結晶粒径D(μm)とビッカース硬度Hについて、D≦4.5×(225-H)を満足する。 - 特許庁
To easily and highly precisely conduct an electric test of a device in an electrode substrate for an active matrix type liquid crystal display device without deteriorating the function of protecting the device from static electricity.例文帳に追加
アクティブマトリクス型液晶表示装置に用いられる表示装置用電極基板において、静電気からデバイスを保護する機能を損なうことなく、デバイスの電気的テストを容易且つ高精度で行うことができるようにする。 - 特許庁
To reduce the consumption of recording media in an image forming apparatus by enabling selective image formation on both reversible and irreversible recording media and forming an image on a reversible recording medium in the case of a test print or the like.例文帳に追加
画像形成装置において、可逆記録媒体と不可逆記録媒体の双方に選択的に画像形成できるようにし、試しプリントなどは可逆記録媒体に画像を形成するようにして記録媒体の消費の低減を図る。 - 特許庁
To provide a liquid volume measuring device for simultaneously satisfying miniaturization of the device, a low cost and high precision by having a resistor hardly directly receiving influence of polarization effect due to a liquid, and to provide an urine test instrument using it.例文帳に追加
液体による分極効果の影響を直接受けにくい抵抗体を有し、装置の小型化、低コスト化、高精度化を同時に満たすことができる液量測定装置及びこれを用いた尿検査装置を提供すること。 - 特許庁
An objective lens 51 of an erecting-type vertical-light fluorescent microscope 42 is arranged over the cone 61, and the state of the cells seeded on the test material, under liquid flow generated by a cone, is observed in real time by a monitor 60.例文帳に追加
コーン16の上方に正立型落射蛍光顕微鏡42の対物レンズ51を配置し、試験材料上に播種した細胞のコーンによって生起された液体の流動下での状態をリアルタイムでモニタ60により観察する。 - 特許庁
To provide a system and apparatus for making a noninvasive test, assessment, or determination of a substance which is commonly a part of a human being or other biological entity, for example, a glucose level in blood, namely a blood sugar level.例文帳に追加
本発明は、一般に人体又は他の生物学的実体の一部である物質、例えば、血液中のグルコース・レベル、すなわち、血糖値、の非侵入的なテスト、評価、又は決定を行なうためのシステム及び装置を提供する。 - 特許庁
To provide a computer simulation method capable of precisely simulating dynamic phenomenon such as a collision against a structure using concrete as a constituent object and dispensing with an expensive dynamic test for obtaining various material constants of concrete.例文帳に追加
コンクリートを構成物とする構造物に対する衝突のような動的現象を精度よくシミュレーションでき、且つコンクリートの各種材料定数を得るために高価な動的試験が不要なコンピュータシユレーション方法を提供する。 - 特許庁
In cases where leakage occurs between the tube part 16a and a lip R or in a gap between an outer tube part 6a for test of the inspection tool 6 and a boss part B, a change in the flow of the leakage is used for adequacy determination.例文帳に追加
テスト用内筒部16aとリップRとの間あるいは内側検査治具6のテスト用外筒部6aとボス部Bとの隙間から漏れが発生した場合に、その漏れ流量の変化をもって適否判定を行う。 - 特許庁
To provide a stress-testing circuit and a stress-testing method for quickly and easily executing the stress test of a transistor switch in a semiconductor integrated circuit for selecting a multiple-value analog gradation voltage by a plurality of transistor switches for outputting.例文帳に追加
多値のアナログ階調電圧を複数のトランジスタスイッチで選択して出力する半導体集積回路において、トランジスタスイッチのストレス試験を短時間且つ容易に実施できるストレス試験回路及び方法を提供する。 - 特許庁
To improve the yield of and reduce the test cost of a multi-chip type semiconductor device in which chips are connected in a package by providing a fuse in a first semiconductor chip, providing no fuse in a second semiconductor chip being a rewritable memory.例文帳に追加
第一の半導体チップにヒューズを設け、書き換え可能なメモリである第二の半導体チップにヒューズを設けず、それらチップをパッケージ内で接続したマルチチップ型半導体装置の歩留まりを向上し、検査コストを低減する。 - 特許庁
To carry on improvement of a lithium ion secondary battery for higher capacity, higher output and a longer life, with safety further improved, especially in a nailing test, and to surely prevent generation of thermal runaway by restraining heat generation due to internal short circuit.例文帳に追加
リチウムイオン二次電池の高容量化、高出力化および長寿命化を進めるとともに、安全性を一層向上させ、特に釘刺し試験において、内部短絡による発熱を抑制し、熱暴走の発生を確実に防止する。 - 特許庁
At least one circuit component can be tested independently of other circuit components, and data are not outputted into a bus during a test and/or other data are outputted into the bus instead of data outputted into the bus in usual operation.例文帳に追加
少なくとも1つの回路コンポーネントは他の回路コンポーネントとは独立にテスト可能であり、テスト中はデータはバスへは出力されず、および/または通常動作中バスへ出力されるデータに代えて別のデータがバスへ出力される。 - 特許庁
To provide a specific gene capable of being detected simply and in a high sensitivity without requiring pre-treatments such as the separation-purification, etc. of nucleic acids in a test specimen, and more concretely, a method for detecting a specific virus or specific microorganism.例文帳に追加
被検試料における核酸の分離・精製等の前処理を必要とせず、簡易に高感度で検出し得る特定遺伝子、具体的には、特定ウイルスまたは特定微生物の検出方法を提供することである。 - 特許庁
To provide a device for image formation in which the amount of toner deposition can be accurately detected and no undesirable influences are given to the image density and gradation control (AIDC control) even when the total length of a gradation test pattern is decreased.例文帳に追加
階調テストパターンの全長を短くしても正確にトナー付着量を検出することができ、画像濃度および階調性の制御(AIDC制御)に悪影響を及ぼさない画像形成装置を提供すること。 - 特許庁
To provide an inexpensive and durable electronic part testing device for accurately controlling the temperature of an electronic part even when the electronic part self-heats at the time of test, and for testing the electronic part at a desired testing temperature.例文帳に追加
試験時に電子部品が自己発熱しても、電子部品の温度を正確に制御し、所望の試験温度にて電子部品を試験することができ、しかも安価で耐久性に優れた電子部品試験装置を提供すること。 - 特許庁
A test graphic image is combined with the ultrasonic image and the vertical and horizontal position deviations of the graphic image are detected from the positions of a first marker and a second marker in the combined image obtained therefrom.例文帳に追加
超音波画像に対してテスト用グラフィック画像が合成され、それにより得られた合成画像における第1マーカー及び第2マーカーの位置からグラフィック画像の垂直方向及び水平方向の位置ずれ量が検出される。 - 特許庁
To improve working efficiency by information that automatic set-up operation for calculating the processing conditions of various image processing is going to fail before the execution of an operator's image test.例文帳に追加
本発明は、上述を考慮してオペレータが画像検定を行う前に、各種の画像処理の処理条件を演算するオートセットアップ演算が失敗しそうなことを知らせることにより、作業効率を向上させることが目的である。 - 特許庁
To enable turn back at the subscriber side end of an ATM terminating apparatus by using a loop detection cell as a separation test as the responsibility division point of interface to the ATM subscriber side.例文帳に追加
本発明の課題は、ATM加入者側とのインターフェースの責任分解点としての切り分け試験として、ループ検出用セルを用いることにより、ATM終端装置の加入者側末端での折り返しを可能にすることである。 - 特許庁
To provide an inspection system capable of highly accurately determining correlation between the distribution pattern of defects in a semiconductor wafer found in a defect inspection, and the distribution pattern in a defective semiconductor chip found in an electric test, in a short time.例文帳に追加
欠陥検査で発見された半導体ウエハの欠陥の分布パターンと、電気的試験で発見された不良半導体チップの分布パターンとの間の相関関係を、極めて高い確度をもって、より高精度に短時間に行う。 - 特許庁
An outgassing evaluation system 1 performs an environment test by environmental testing equipment 4 on an evaluation sample 2, in which a closed space surrounded with a plurality of transparent plates and an adhesive for pasting the plurality of transparent plates is formed.例文帳に追加
アウトガス評価システム1は、複数の透明板を接着する接着剤と前記複数の透明板とによって囲まれる閉空間が形成された評価サンプル2に対して、環境試験機4による環境試験を行う。 - 特許庁
To provide an optical fiber cable having sufficient flame retarding characteristics, capable of passing a vertical tray combustion test, while having a jacket which is hardly pierced by the ovipositor of Cryptotympana facialis and can sufficiently protect an optical fiber core wire.例文帳に追加
クマゼミの産卵管が刺さり難く光ファイバ心線を十分に保護することができる外被を有しながら、垂直トレイ燃焼試験に合格することができる十分な難燃特性を有する光ファイバケーブルを提供する。 - 特許庁
A coil constant calculating circuit 66 calculates the resistance value R and the inductance value L of the motor 6, based on the amplitudes of the detection signal S_CS' output from the filter 64 and the test signal S_TEST and the phase difference between them.例文帳に追加
コイル定数演算回路66は、フィルタ64から出力される検出信号S_CS’と試験信号S_TESTの振幅および位相差にもとづいて、モータ6の抵抗値Rおよびインダクタンス値Lを算出する。 - 特許庁
To provide a mobile communication terminal testing device and a method of displaying a test result, for: simultaneously displaying measurement values of adjacent channels having different communication systems; and displaying measurement results having different measurement conditions in a unified format.例文帳に追加
通信方式が異なる隣接チャネルの測定値を同時に表示し、測定条件の異なる測定結果を統一されたフォーマットで表示可能とする移動体通信端末試験装置及び試験結果表示方法を提供する。 - 特許庁
The second voltage is set higher than the first voltage, and the second current is set smaller than a total current of the first current outputted from the respective switching power supply circuits on the plurality of burn-in test boards.例文帳に追加
上記第2電圧は、上記第1電圧よりも高く設定し、上記第2電流は、上記複数のバーンインテストボードの各スイッチング電源回路から出力される上記第1電流の総合電流よりも小さくする。 - 特許庁
To a plurality of analogue circuit blocks (Anlg_Cir1... Anlg_CirN), a plurality of switching circuits for testing (Tcnt_Sw1... Tcnt_SwN) for switching the signal paths from normal signal path in the test mode to that in the normal operation mode are connected.例文帳に追加
複数のアナログ回路ブロックAnlg_Cir1…には、テストモードでの信号経路と通常動作モードでの信号経路とを切り換える複数のテスト用スイッチ回路Tcnt_Sw1…Tcnt_SwNが接続される。 - 特許庁
To aim to test a fault of a backup power supply system under the condition that the power is fed to electrical apparatuses from a battery using a fault diagnostic method and a fault diagnostic device of the power supply.例文帳に追加
本発明は、電源装置の故障診断方法及び故障診断装置に関し、バッテリから電気機器へ電力が供給されている状況下において、バックアップ電源系の故障の有無を判定することを目的とする。 - 特許庁
When the component registered in a non-performance component storage part 58 by a performance control part 56 since the test has failed exists, the upgrade trial part 53 performs the upgrade of the component with the component as the object of upgrade.例文帳に追加
バージョンアップ試行部53は、テストに失敗したことで実行制御部56により未実行コンポーネント記憶部58に登録されたコンポーネントが存在すれば、当該コンポーネントをバージョンアップ対象のコンポーネントと共にバージョンアップを実行する。 - 特許庁
To provide a wafer inspection device which can achieve high-speed, high-resolution visual test of semiconductor wafer and consistently prepares samples for TEM observation or various analyses with high accuracy of position from the area where any foreign material or defect exists.例文帳に追加
半導体ウエハの高速で高分解能な外観検査と、異物や欠陥の存在部位からTEM観察や各種分析のための試料を高い位置精度で一貫して作製することのできる検査装置を提供すること。 - 特許庁
To provide a method and a device for evaluating a slide characteristic of a foam molded article capable of measuring quantitatively a sound generated by slide between the foam molded article or a test piece mainly composed thereof and a metal plate or a resin plate.例文帳に追加
発泡成形品又はそれを主体とする試験片と金属板又は樹脂板との摺動により発生する音を定量的に測定することができる発泡成形品の摺れ特性評価方法及び装置を提供する。 - 特許庁
A position information correction part 22 recognizes a relative position of the test body to a detector ring 12 when an annihilation γ-ray pair is detected and corrects position information indicating the generation position of the annihilation γ-ray pair.例文帳に追加
位置情報補正部22は、消滅γ線対が検出されたときの検出器リング12に対する被検体の相対位置をプローブホルダ6の位置で認識して消滅γ線対の発生位置を示す位置情報を補正する。 - 特許庁
To provide uneven density correcting technology, capable of making a recovery without re-printing, even if abnormal density value is measured due to disturb factors, such as foreign particles and dust, in the case of measuring the density on a test print in order to correct uneven luminance.例文帳に追加
輝度むら補正のためのテストプリントに対する濃度測定においてゴミやほこりなどの外乱要因で異常な測定濃度値が生じても、再プリントなしでリカバリーすることができる濃度むら補正技術を提供する。 - 特許庁
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