「OF test」に関連した英語例文の一覧と使い方(439ページ目) - Weblio英語例文検索

The measuring instrument periodically collects the analog or digital data, saves the data on its storage medium or a storage medium connected to a communication line, determines the state of the respective environment test devices, etc., and displays their information.例文帳に追加

計測機は、定期的に各アナログデータまたはディジタルデータを収集し、自機の記憶媒体または通信回線上に接続された記憶媒体にデータを保存し、収集した情報から各環境試験装置等の状態を判断し、その情報を表示する。 - 特許庁

To provide an analysis method feasible by use of a general-purpose computer software and hardware without depending on a simulation test or requiring any expensive investment for analyzing an internal temperature distribution and a stress distribution to an external pressure in a cell structure.例文帳に追加

模擬の試験によらないで、高額な投資を伴うことなく、汎用のコンピュータソフトウエア及びハードウエアの利用によって、実現することが可能な、セル構造体の内部温度分布乃至外部圧力に対する応力分布の解析手段を提供すること。 - 特許庁

To provide an electronic unit inspection device for accurately positioning a printed wiring board with respect to a test head even if potting is executed for the printed wiring board of an electronic unit.例文帳に追加

収納ケース５内にプリント配線板６を収納し、更にポッティングした電子ユニット４では、各コネクタ６１内の端子にプローブピン２１を上方から当接して電子ユニット４の検査をする際、テストヘッド２に対してコネクタ６１を正確に位置決めしなければならない。 - 特許庁

The serial data TMcodeSD are inputted to a serial-parallel converter circuit 26 adjacent to test code latch circuits 23A,..., 23F distributively arranged on a semiconductor chip via a very long single serial data line 27 extending from the end to the other end of the semiconductor chip.例文帳に追加

シリアルデータＴＭｃｏｄｅＳＤは、半導体チップの端から端まで延びる非常に長い１本のシリアルデータ線２７を経由して、半導体チップ上に分散配置されたテストコードラッチ回路２３Ａ，・・・２３Ｆに近接するシリアル・パラレル変換回路２６に入力される。 - 特許庁

Moreover, the scanning test signal and an input signal to the circuit 21 are input from external terminals 11 to the multiplexer 24 via an I/O block 1 respectively, and the output signal of the output circuit 25 is output to an external terminal 11 via the I/O block 1.例文帳に追加

さらに、回路２１の入力信号およびスキャンテスト信号はそれぞれ外部端子１１からＩ／Ｏブロック１を経由してマルチプレクサ２４に入力され、出力回路２５の出力信号はＩ／Ｏブロック１を経由して外部端子１１に出力される。 - 特許庁

An output current Io can be adjusted by bringing the tips of test probes 11, 12, 13 and 14 into contact with contact pads 61, 62, 63 and 64 and selectively shorting Zener diodes 51, 52 and 53, which are connected to resistors 41, 42 and 43 in parallel.例文帳に追加

抵抗４１，４２，４３にそれぞれ並列に接続されるツェナーダイオード５１，５２，５３を、接触バッド６１，６２，６３，６４にテストプローブ１１，１２，１３，１４の針先を接触させて、選択的に短絡させることによって、出力電流Ｉｏの調整を行うことができる。 - 特許庁

Also, by obtaining the spring rigidity of a coupling shaft by converting the velocity control parameter used for the calculation means to a resonant frequency corresponding to the torsional torque detected by the shaft torque meter, the stable engine test becomes possible even for a non-linear engine bench system.例文帳に追加

また、演算手段に用いる速度制御パラメータを、軸トルクメータで検出した捩れトルクに応じた共振周波数に変換して結合シャフトのばね剛性を求めることで、非線形なエンジンベンチシステムに対しても安定なエンジン試験が可能となる - 特許庁

A mode determination circuit 22 determines the operation mode to the rewrite mode when each level of the operation mode selecting terminal T1 and a test mode transition enable terminal MD0, where a latch circuit L1 is latched when a reset signal becomes inactive, is L and H respectively.例文帳に追加

モード決定回路２２は、リセット信号が非アクティブになったときにラッチ回路Ｌ１がラッチした動作モード選択端子Ｔ１およびテストモード遷移イネーブル端子ＭＤ０の各レベルがそれぞれＬ，Ｈである場合に、動作モードを書換えモードに決定する。 - 特許庁

Based on the recorded information on the color charts, image signals for displaying the test pattern in which the color charts of the respective specifications arranged with a predetermined array on a same screen are generated, and the color charts are displayed on the television receiver 30 by the image signals.例文帳に追加

そして、記録されたカラーチャートの情報に基づいて、各規格のカラーチャートを同一画面上に所定の配列で並べたテストパターンを表示させる映像信号を生成させ、その映像信号によりテレビジョン受像機３０にカラーチャートを表示させる。 - 特許庁

In a circumference 17 of a continuity wiring 7 and a via hole 9 configuring a product circuit, a test wiring 8 for detecting damage is laid near a semiconductor device fixing part at router machined holes 15a, 15b for separating adjacent products.例文帳に追加

製品回路を構成する導通配線７およびビアホール９の外周領域１７において、隣接する製品との分離を行うルーター加工穴１５ａ，１５ｂの半導体装置の固定部分近傍に、ダメージを検出するためのテスト配線８を配置する。 - 特許庁

In this test method for a semiconductor memory, read-data RDT read out from a ROM synchronizing with a clock CLK of the prescribed period is sampled once during double the prescribed period, sampled data is outputted to the outside as sampling data SDT.例文帳に追加

開示される半導体記憶装置のテスト方法は、所定周期のクロックＣＬＫに同期してＲＯＭから読み出されたリードデータＲＤＴを所定周期の２倍の時間の間に１回サンプリングし、サンプリングしたデータをサンプリングデータＳＤＴとして外部に出力する。 - 特許庁

The semiconductor testing apparatus 1 includes a tester controller 10 for controlling the semiconductor testing apparatus 1, a redundancy system 20 for performing redundancy computation using a test result of a semiconductor device, and an instantaneous interruption detection device 30 for detecting the instantaneous interruption which occurs in a bus B.例文帳に追加

半導体試験装置１は、半導体試験装置１を統括制御するテスタコントローラ１０と、半導体デバイスの試験結果を用いてリダンダンシ演算を行うリダンダンシシステム２０と、バスＢで生ずる瞬低を検出する瞬低検出装置３０とを備える。 - 特許庁

The image forming apparatus creates a LUT_2 for correcting a laser output signal value after the correction using a LUT_1 for a γ correction, depending on the density change amount from the reference density value of the density value measured from a test pattern image formed on a photosensitive drum.例文帳に追加

本発明の画像形成装置は、γ補正用のＬＵＴ＿１を用いた補正後のレーザ出力信号値を補正するためのＬＵＴ＿２を、感光ドラムに形成したテストパターン画像から測定した濃度値の、基準濃度値からの濃度変化量に応じて作成する。 - 特許庁

To provide a device for measuring and testing a transformation plasticity coefficient and a method for identifying a transformation plasticity coefficient, which easily detect a deformation quantity of a test piece in a temperature change associated with phase transformation, and can identify a compressed transformation plasticity coefficient based on the deformation quantity.例文帳に追加

相変態をともなう温度変化中の試験片の変形量を容易に検出し、それに基づいて圧縮の変態塑性係数を同定することができる変態塑性係数測定試験装置および変態塑性係数同定方法を提供する。 - 特許庁

To diagnose a service provision status of an image formation system while network connection for operating the image formation system is kept as it is without changing a connection configuration or the like without installing a testing device, and without performing test packet transmission work by a user.例文帳に追加

画像形成システムを運用するネットワーク接続のままの状態で、接続構成等を変更することなく、試験用の装置を設置することなく、ユーザによるテストパケット送信作業もなく、画像形成システムのサービス提供状況を診断すること。 - 特許庁

Using the soft-decision values reduces fluctuations in a ratio of the statistical measures compared to a ratio formed from statistical measures that are not based on soft-decision values, resulting in a more reliable test for detecting defect regions.例文帳に追加

これらのソフト決定値を使用することは、ソフト決定値に基づかない統計的測度から形成される比率と比較して、それらの統計的測度の比率内の変動を減らし、結果として、欠陥領域を検出するためのより確実なテストをもたらす。 - 特許庁

To provide a pH test glove bearing a reporter substance indicating the possible presence of vaginal affections, such as infections, in particular bacterial vaginosis, or vaginitis, the glove being easy to use, accurate and safe for a woman using it.例文帳に追加

膣の疾患、例えば、感染症、具体的には、細菌性膣疾患、または膣炎の存在の可能性を示すレポーター物質を担持するpH試験グローブであって、使用が簡便であり、正確であり、かつそれを使用する女性にとって安全であるグローブの提供。 - 特許庁

The connection pad part includes a first metal wiring layer 12 formed on an insulating layer 11 and a second metal wiring layer 14 formed on the above metal wiring layer, and is used for contact of the test probe and connection to the connection electrode.例文帳に追加

絶縁層１１上に形成された第１のメタル配線層１２と、このメタル配線層の上に形成される第２のメタル配線層１４とを備え、試験用プローブとの接触及び接続電極との接続に使用される接続パッド部を構成する。 - 特許庁

To provide a grooved ridge structure type optical waveguide which has high reliability not to vary birefringence even in a high-temperature high-humidity test (85°C 85%) and not to vary a polarization dependent frequency difference (PDf) for a long period of time.例文帳に追加

本発明の目的は、溝を形成したリッジ構造型光導波路において、高温高湿試験（８５℃８５％）でも、複屈折が変動せず、偏波依存周波数差（ＰＤｆ）が長期間で変動しない、信頼性の高い光導波路を提供する。 - 特許庁

This penetration test machine is provided with a sound detecting means 10 capable of detecting the sound (acoustic signal) propagating through the penetration rod 7 when penetrating the penetration rod 7 into the ground, and the sound detecting means 10 detects the sound propagating through the penetration rod 7.例文帳に追加

地中に貫入ロッド７を貫入するのにともなって当該貫入ロッド７を伝播されてくる音（音響信号）を検出可能な音検出手段１０を設け、この音検出手段１０によりにより貫入ロッド７を伝わる音を検出する。 - 特許庁

For example, the control computer 40 controls the power source supply/ disconnection of the information processor 10 by outputting power source supply/ disconnection control data P, and starts a test program in the information processor 10 by outputting key data K.例文帳に追加

一例としては、制御コンピュータ４０は、電源投入／切断制御データＰを出力することで、情報処理装置１０の電源投入／切断を制御し、またキーデータＫを出力することで情報処理装置１０におけるテストプログラムを起動させる。 - 特許庁

A Pos type F/F 100 has: a master latch (Low level latch) 110 which is synchronized with a rising edge of a clock and in which data or scan test data is selectively input; and a slave latch (Hi level latch) 111 in which the data from the master latch 110 is input.例文帳に追加

ＰｏｓタイプＦ／Ｆ１００は、クロックの立ち上りエッジ同期し、データ又はスキャンテストデータが選択的に入力されるマスタラッチ（Ｌｏｗレベルラッチ）１１０と、マスタラッチ１１０からのデータが入力されるスレーブラッチ（Ｈｉレベルラッチ）１１１とを有する。 - 特許庁

A continuity inspection display unit 33 is arranged and a person in charge confirms that the prize winning sensor is connected by displaying the number of prize winning balls (1, 2, etc.), which enter prize winning ports in the unit 33 for testing in a test mode.例文帳に追加

導通検査用表示器３３を配置し、テストモードのときは、導通検査用表示器３３にテストのために入賞口に入れた球の入賞球数を表示（例えば、１、２・・・）することで、係員は該当の入賞センサが導通していることを確認する。 - 特許庁

The semiconductor device is provided with wirings L2, L2 applied with negative voltage, a MOS transistor Tn1 to be connected to the wirings L1, L2, and an external terminal 20 which is arranged for the purpose of carrying out a leak test on the wiring L1 and applying the negative voltage to the wiring L1.例文帳に追加

半導体装置は、負電圧が印加される配線Ｌ１，Ｌ２と、前記配線Ｌ１，Ｌ２に接続されるＭＯＳトランジスタＴｎ１と、配線Ｌ１のリーク試験を行うために設けられ、配線Ｌ１に負電圧を印加するための外部端子２０とを備える。 - 特許庁

To provide a high-reliability IC testing device by using a semiconductor relay, and to provide a semiconductor integrated circuit enabling a high speed test by applying a voltage to terminals to suppress the capacity between output terminals at the off-time of the semiconductor relay.例文帳に追加

半導体リレーを用いることで、信頼性の高いＩＣ試験装置を提供すること及び、半導体リレーがＯＦＦ時に端子に電圧を印加し、出力端子間容量を抑えることで、高速な試験を可能とする半導体集積回路試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a white film for the reflection member of a surface illuminant in which a coating layer is not separated when a protective film is exfoliated and also excellent luminance can be maintained without lowering reflectivity after long-term back light endurance test.例文帳に追加

発明は、保護フィルムを剥離する際に塗布層が剥がれないことはもちろん、長期のバックライト耐久試験後も反射率が低下することなく、優れた輝度を維持することができる面光源反射部材用白色フィルムを提供せんとするものである。 - 特許庁

If the high level indicating the test time is inputted to the TESTMODE terminal, the clock supply circuit 50 imparts the clock signal CK to the CLK input terminal, the DFF circuits 31-3n latch the output signal of the output terminal D0-D31.例文帳に追加

また、ＴＥＳＴＭＯＤＥ端子に、テスト時であることを示すハイレベルが入力される場合には、クロック供給回路５０は、クロック信号ＣＫをＣＬＫ入力端子に与えて、ＤＦＦ回路３１〜３ｎは、出力端子Ｄ０〜Ｄ３１の出力信号をラッチする。 - 特許庁

A semiconductor integrated circuit device DUT 640 is provided with probe light pulse and reference pulse during each repetition cycle of the electric test pattern signal applied repeatedly, for guiding the same optical path as to sample the electric waveform on the DUT.例文帳に追加

半導体集積回路デバイス（ＤＵＴ６４０）に繰り返し印加する電気的テストパターン信号の各反復サイクル期間中に、プローブ光パルスおよび基準光パルスを供給して、ＤＵＴ上の電気的波形をサンプリングするように同一光路を導く。 - 特許庁

To provide an eluted mineral measuring method and a measuring device capable of performing mineral elution quantity measurement in a short time in a mineral-water reaction test, and measuring accurately the change quantity even if a mineral-water composition change is slight.例文帳に追加

鉱物−水反応試験において、鉱物溶出量計測を短時間で行うことができるとともに、鉱物−水の組成変化が僅かであってもその変化量を精度良く計測できる溶出鉱物計測方法及び計測装置を提供する。 - 特許庁

The macrocell 68 operates so as to connect the external terminal 66 and the electrode pad 64 at a normal mode, and operates to disconnect them at a test mode and form a series of shift registers by connecting the macro cell at a rear step.例文帳に追加

マクロセル６８は、通常モード時には、外部端子６６と電極パッド６４とを接続するように動作し、テストモード時には、外部端子６６と電極パッド６４とを非接続状態にし、後段のマクロセル６８と接続して一連のシフトレジスタを形成するように動作する。 - 特許庁

To provide a sheet-like probe and manufacturing method thereof capable of achieving stable connecting conditions to even circuit devices including minute and fine pitched electrodes and preventing positional deviation between an electrode constructing body and a test electrode caused from temperature variation in burn-in tests.例文帳に追加

微小で微細ピッチな電極を有する回路装置にも安定な接続状態が達成され、バーンイン試験において温度変化による電極構造体と被検査電極との位置ずれが確実に防止されるシート状プローブおよびその製造方法を提供する。 - 特許庁

In the L-shape peeling test, an L-shaped jig made from stainless steel and an acrylic sheet are affixed via the pressure sensitive adhesive double-sided sheet, and it is treated at 50°C and 5 atm for 15 minutes, followed by pulling the jig made from stainless steel in a vertical direction with respect to the face of the acrylic sheet to measure the peel force.例文帳に追加

上記Ｌ字剥離試験では、Ｌ字型ステンレス製治具とアクリル板とを両面粘着シートを介して貼り合わせ、５０℃、５気圧、１５分間処理後、ステンレス製治具を、アクリル板の面と垂直方向に引っ張り、剥離力を測定する。 - 特許庁

To provide an inkjet recording apparatus which can determine whether detection of poor ejecting nozzles taking place at other than poor ejecting nozzles intentionally given on a test pattern is normal, and to provide an inkjet recording system, a printing monitoring device, a printing monitoring method and a program.例文帳に追加

テストパターン上に意図的に与えた不良吐出ノズル以外で生じた不良吐出ノズルの検出が正常どうかを判定することができるインクジェット記録装置、インクジェット記録システム、印刷監視装置、印刷監視方法およびプログラムを提供する。 - 特許庁

When the switching of video reproduced from the two-dimensional video 42 to the three-dimensional video 43 is detected, the reproducing device 1 makes control to reproduce three-dimensional test video 44 for a viewer to check stereoscopic vision before the three-dimensional video 43 is reproduced.例文帳に追加

そして、２次元映像４２から３次元映像４３への再生される映像の切り替わりが検出された場合、３次元映像４３を再生する前に、視聴者が立体視を確認するための３次元テスト映像４４を再生するように制御する。 - 特許庁

To provide a base coat coating composition which can inhibit the crack of a metal thin film, even if a firm top coat layer, which can sufficiently protect the metal thin film, is formed on the metal thin film, and heat test is performed, and to provide a composite coating film and a method for manufacturing the film.例文帳に追加

金属薄膜を十分に保護できる強固なトップコート層を金属薄膜上に形成したり、耐熱試験を行ったりしても、金属薄膜の割れを抑制できるベースコート塗料組成物、および複合塗膜とその製造方法を提供する。 - 特許庁

The post-stage part 20 includes a first individual authentication part 24 for collating the added first individual test value with a first arithmetic value held in advance when receiving the first control command to authenticate the main controller 10 and transmits the result of authentication to the peripheral part 30.例文帳に追加

後段部２０は、第１制御コマンドの受信時は付加された第１個体検査値と、予め保持する第１演算値とを照合し主制御部１０を認証する第１個体認証部２４を備え、認証結果を周辺部３０へ送信する。 - 特許庁

To provide a friction test device capable of correctly analyzing μ-S characteristic between an object to be tested and a road surface having various conditions, and particularly accurately analyzing the relationship between the object to be tested having a high temperature dependence and the road surface on a testing machine.例文帳に追加

被試験体と様々な条件の路面との間のμーＳ特性を正確に解析し、特に温度依存性の高い被試験体と路面との関係を精度良く、試験機上にて解析することができる摩擦試験装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a cover for a vehicle wheel high in practicability hardly causing a state to be peeled by air pressure in a travelling performance test, in standing by for delivery or in transfer and capable of effectively preventing a state damaging the vehicle wheel and staining a disc brake.例文帳に追加

走行性能試験時、出荷待機時、あるいは移送時に、風圧によって剥がれる事態が生じにくく、車両ホイールの損傷や、ディスクブレーキが錆びる事態を効果的に防止することが可能な実用性の高い車両ホイール用カバーを提供する。 - 特許庁

To provide a fuel cell having an edge structure with durability improved in a durability test (under severe conditions such as 95°C, 300 kPa (absolute pressure) and 75/50% of relative humidity) in a structure body with catalyst coated on a PEM in a PEM fuel cell.例文帳に追加

ＰＥＭ型燃料電池において、触媒をPEMの上に被覆した構造体において、耐久性試験（９５℃、３００kPa（絶対圧）および７５/５０％相対湿度のような厳しい条件下）にて、耐久性の向上した端部構造を持つ燃料電池を提供する。 - 特許庁

To provide an isolated preparation including a receptor for an underivatized aqueous soluble β(1,3)-glucan, to provide a method for isolating the β(1,3)-glucan, and to provide an assay for quantifying the amount of the β(1,3)-glucan or a β(1,3)-glucan-containing organism in a test sample.例文帳に追加

非誘導化水溶性ベータ-（１，３）-グルカンのレセプターを含有する単離調製物、β（１，３）-グルカンを単離する方法、及び試験試料中のβ（１，３）-グルカンもしくはβ（１，３）-グルカン含有生物の量を定量するためのアッセイを提供する。 - 特許庁

The battery inspection device 10 includes: a battery inspection board 12 equipped with a plurality of inspection parts in order to test a chargeable/dischargeable battery; and a power supply device 11 which is separately installed from the battery inspection board 12, and supplies/recovers electric power to/from the inspection parts.例文帳に追加

電池検査装置１０は、充放電可能な電池を検査するための検査部を複数備える電池検査台１２と、該電池検査台１２とは別体に設けられており検査部への電力の供給及び回収をするための電源装置１１と、を備える。 - 特許庁

When a nondestructive test on an in-reactor structure 1 results in the detection of a stress corrosion cracking 2, a process is performed for applying compressive residual stresses to a compressive residual stress area 3 which is a surface area involving the stress corrosion cracking 2.例文帳に追加

原子炉炉内構造物１に対して非破壊検査を実施した結果、応力腐食割れ２を発見した場合、この応力腐食割れ２を含む表面領域である圧縮残留応力域３に対して圧縮残留応力を付加する処理を行う。 - 特許庁

A characteristic curve 34 of γ-ray sensitivity is measured in an applied voltage range [VR_1, VR_2] shifted from an operating voltage VD for performing a general neutron measurement to high-voltage side by an offset voltage VOFFSET corresponding to the difference between the test dose rate and the standard dose rate.例文帳に追加

そして、通常の中性子測定を行う動作電圧Ｖ_Dから、試験線量率と規準線量率との差に応じたオフセット電圧Ｖ_OFFSETだけ高電圧側にシフトした印加電圧範囲［Ｖ_R1，Ｖ_R2］にてγ線感度の特性曲線３４を計測する。 - 特許庁

Concretely, at the time of a test mode, defective cut off parts left in the fuse elements to be cut off are dissolved by applying higher boosting voltage Vpp than power source voltage Vcc applied normally, and the fuse elements can be cut off completely.例文帳に追加

具体的には、テストモード時には、通常時に印可される電源電圧Ｖｃｃよりも高い昇圧電圧Ｖｐｐを印可することにより、切断されるべきヒューズ素子に残存した切断不良箇所を解消して、当該ヒューズ素子を完全に切断することができる。 - 特許庁

To develop a steel material excellent in corrosion resistance and a crude oil tank excellent in corrosion resistance by providing a corrosion test method for simulating/reproducing a corrosion form of a tank bottom panel and a corrosion prediction method using the result in the crude oil tank.例文帳に追加

本発明は、原油タンクにおいて、タンク底板の腐食形態を模擬・再現する腐食試験方法とその結果を用いた腐食予測法を提供することにより、耐食性に優れた鋼材および耐食性に優れた原油タンクを開発することを目的とする。 - 特許庁