「OF test」に関連した英語例文の一覧と使い方(442ページ目) - Weblio英語例文検索

In the solar cell lead in which solder plating is coated on the surface of a belt-shaped conductive material 12, the coated solder plating has a rugged part on its surface and a 0.2% proof stress value measured in a tensile test is not more than 90 MPa.例文帳に追加

帯板状導電材１２の表面にはんだめっきが被覆された太陽電池用リード線において、前記被覆されたはんだめっきがその表面に凹凸部を有し、かつ、引張試験における０．２％耐力値が９０ＭＰａ以下としたものである。 - 特許庁

The number of PCR reactions necessary for detection can be decreased, by using a primer set enabling proper PCR reaction, even in a mixed state for detecting the animal kind from which foreign materials in a test material originate.例文帳に追加

被験物に含まれる異物が由来する動物種の検出の為に、混合した状態でも良好にＰＣＲ反応が行われるようなプライマーセットを作製し用いることで、検出に必要なＰＣＲ反応の回数を減少させることが可能となる。 - 特許庁

By the inside RAS guarantee signal generating circuit 56, the inside RAS guarantee signal RASLOCK is activated until the lapse of specified period to guarantee the restoring operation in a normal operation mode, and the inside RAS guarantee signal RASLOCK is inactivated in the test mode.例文帳に追加

内部ＲＡＳ保証信号発生回路５６は、通常動作モード時、リストア動作を保証する所定期間が経過するまで内部ＲＡＳ保証信号ＲＡＳＬＯＣＫを活性化し、テストモード時は、内部ＲＡＳ保証信号ＲＡＳＬＯＣＫを不活性化する。 - 特許庁

To provide a biological testing device and a biological testing method, efficiently picking a precise ultrasonic image in a short time, and reducing variation in test result depending on the ability of an operator using the device and operator's mental burden.例文帳に追加

的確な超音波画像を短時間に効率的に採取することができ、使用する操作者の習熟度による検査結果のばらつき及び操作者の精神的負担を軽減することが可能な生体検査装置及び生体検査方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a test burn-in device for aging a semiconductor element (DUT) for a middle power (30W-50W up to 70W) and high power (51W up to 71W-150W or more) of ICs (measured devices) or the like to discharge an initial defective.例文帳に追加

ミドルパワー（３０Ｗ〜５０Ｗないしは７０Ｗ）及びハイパワー（５１Ｗないしは７１Ｗ〜１５０Ｗ、ないしはそれ以上）ＩＣ（被測定デバイス）等の半導体素子（ＤＵＴ）をエージングし、初期不良を排出させるテストバーンイン装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a reinforcing fiber base material giving a composite material having excellent thermal cycle durability, especially suppressing the generation of surface cracks after a thermal cycle test and further having excellent impregnation property in molding and to provide a preform and a composite material.例文帳に追加

熱サイクル耐久性に優れた複合材料、とりわけ熱サイクル試験後に表面のき裂発生を抑制することができる複合材料、が得られるだけでなく、成形時の含浸性にも優れる強化繊維基材、プリフォームおよび複合材料を提供すること。 - 特許庁

When the disk 20 is set in the drive, the adjusting disk is discriminated from the identification information 21, respective parts of the drive are automatically adjusted by using the test data and adjustment values set when the drive is shipped from a plant are updated.例文帳に追加

この調整用ディスク２０をドライブにセットすると、識別情報２１から調整用ディスクであることが判別され、調整プログラムに従いテスト用データを用いてドライブ各部の調整が自動的に実行されて、工場出荷時の調整値が更新される。 - 特許庁

Also, the compression test is performed, where the ball and the striking surface of the striking means are brought into contact each other for applying a load in a striking direction, and the synthesized rebounding coefficient between the ball and the striking means is obtained based on the load/ deflection curves when the load is applied and eliminated being obtained.例文帳に追加

また、ボールと打撃手段の打撃面とを当接させて打撃方向の荷重を加える圧縮試験を行い、ここで得られた負荷時並びに除荷時の荷重・たわみ曲線に基づいてボールと打撃手段との合成反発係数を得る。 - 特許庁

A second analytical method includes a process for bringing the test sample, the labeling partner, and another partner immobilized to the solid phase support medium capable of removing the labeling partner into contact with one another and a process for analyzing a signal derived from the labeling substance on the solid phase support medium.例文帳に追加

第２の分析方法は、被検試料と、標識化パートナーと、標識化パートナーを除去可能な固相支持体に固定化された別のパートナーとを接触させる工程；及び固相支持体上の標識物質に由来する信号を分析する工程を含む。 - 特許庁

A signal generator 22, which is disposed at a predetermined distance d2 away from an incoming line 3 and generates a test signal with the same frequency as that of a power line-carried signal and an antenna 11 for measurement, having the know gain output transmission power at a lawful power level.例文帳に追加

引込線３から所定の距離ｄ２を隔てて配置され、電力線搬送信号と同じ周波数の試験信号を発生する信号発生器２２および既知の利得の測定用アンテナ１１は、合法的な電力レベルの送信電力を出力する。 - 特許庁

Though the readjustment is conventionally performed by using a test weight without considering how the characteristics A0 its early stages of installation changes with time, this invention looks upon the present characteristics A1 as one obtained by moving the characteristics A0 in parallel.例文帳に追加

設置初期時点の特性Ａ０が経年変化によりどのように変化するかを考察することなく従来はテストウェイトを用いて再調整作業を行っていたが、本発明では現在時点の特性Ａ１は特性Ａ０を平行移動したものであると見做している。 - 特許庁

A test toner image is formed in a corresponding area between sheets on an intermediate transfer belt every time a prescribed number of prints is performed during a continuous image forming operation, and a toner adhesion amount per the unit area is detected by a toner adhesion amount sensor constituted by a reflection type optical sensor.例文帳に追加

連続画像形成動作中に所定枚数のプリントを行う毎に、中間転写ベルトの紙間対応領域にテストトナー像を形成し、その単位面積あたりのトナー付着量を反射型光学センサからなるトナー付着量センサによって検知する。 - 特許庁

When the user depresses a determination key after the user selects a question number in reverse display R1 and selects a selection branches in the question in reverse display R3 on a test screen W1, marking processing is performed by a CPU and right/wrong of the answer (SY1) is displayed (b).例文帳に追加

テスト画面Ｗ１において、ユーザが反転表示Ｒ１で問題番号を選択し、問題中の選択肢を反転表示Ｒ３で選択した後、決定キーを押下すると、ＣＰＵによって採点処理が行われて、回答の正否ＳＹ１が表示される（ｂ）。 - 特許庁

Thus, information different from the one actually held by the e-fuse element 12 is read, so that the reading propriety test of the e-fuse element 12 in an unprogrammed state is performed in a pseudo term without performing actual writing.例文帳に追加

こうして、ｅ−ｆｕｓｅ素子１２が実際に保持している情報とは異なる情報を読み出すようにすることで、実際に書き込みを行うことなしに、未プログラム状態のｅ−ｆｕｓｅ素子１２の読み出し可否試験を擬似的に行う構成となっている。 - 特許庁

For every frequency, the sample for residual error correction data acquisition is measured with the test tool 26 and the reference tool 16, then the second equation for calculating error included in the estimation value of the measurement value measured by the reference tool 16 calculated by the first equation is obtained.例文帳に追加

周波数ごとに、試験治具２６と基準治具１６とで、残留誤差補正データ取得用試料を測定し、第１の数式を用いて算出した基準治具１６での測定値の推定値に含まれる誤差を算出するための第２の数式を求める。 - 特許庁

To provide an IC card mounted with an IC module having excellent reliability and durability to an ATM (Automatic teller machine) insertion/extraction test by devising a recessed part shape of a card substrate to be mounted with the IC module, and to provide a production method for the IC card.例文帳に追加

ＩＣモジュールを搭載するカード基材の凹部形状に工夫を加えることにより、ＡＴＭ挿抜試験に対して耐久性、信頼性に優れたＩＣモジュールを搭載したＩＣカード及びＩＣカードの製造方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

In a non-compression mode, simple test data output time series compression circuits 2-5 to 2-8 output comparison information for a prescribed period, and in a compression mode, when comparison information is information indicating non-coincidence, they output non-coincidence information until completion of the prescribed period.例文帳に追加

簡易テストデータ出力時系列圧縮回路２−５〜２−８は、圧縮モードでないときは、所定期間、比較情報を出力し、圧縮モードでは、比較情報が不一致を示す情報であれば不一致情報を所定期間終了まで出力する。 - 特許庁

After detaching the outer holding plate 108, the inner holding plate 110 and the outer form 104, a bolt is inserted in a bolt hole 116 for form detachment to push out the restrictive plate 106, and a ring-like test piece with the material to be tested placed on the outer side of the restrictive plate is taken out.例文帳に追加

外側押え板１０８、内側押え板１１０、外型枠１０４を外した後、脱枠用ボルト穴１１６からボルトを差し込んで拘束板１０６を押し出すようにして、拘束板の外側に被試験材料が打設されたリング状供試体を取り出す。 - 特許庁

That is, a state in which a predetermined input signal is inputted from an element corresponding to the input part in the GPIIN setting 32 defined by the test button 34 is virtually created to inputs an input signal similar to that of a case where a phenomenon occurs.例文帳に追加

すなわち、テストボタン３４で規定されるＧＰＩＩＮ設定３２の入力部に対応する要素から所定の入力信号が入力された状態が仮想的に創られ、現象が起こった場合と同様の入力信号が入力部に入力される。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory device with which such a first problem that a test time for detecting a deteriorated capacitor of a semiconductor memory device using the conventional ferroelectric capacitor becomes long or such a second problem that inprint endurance is inferior is solved.例文帳に追加

従来の強誘電体キャパシタを用いた半導体記憶装置の劣化したキャパシタを検出する為の試験時間が長くなるという第１の課題、或いは、インプリント耐性が劣るという第２の課題を解決した半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To issue a work permit in Germany, public job placement offices86 conduct a four-week labor market test to ensure that the job vacancies cannot be filled by Germans or people from other EU member countries and that the employment conditions of the German people will not be adversely affected.例文帳に追加

ドイツの労働許可では、労働市場テストとして、公共職業安定所86が4週間、ドイツ人やEU加盟国出身者で求人が充足できないことや、ドイツ人の雇用条件等を悪化させるおそれがないこと等について審査している。 - 経済産業省

The temperature and stress current of wiring for test on a wafer 10 are individually controlled, by causing the wiring to generate Joule heat by making an electric current generated by superposing an alternating current and a direct current upon another to flow to the wiring, and individually changing the alternating and direct currents.例文帳に追加

ウェハ１０上の試験用配線に、交流電流と直流電流とが重畳された電流を流してジュール発熱させ、交流電流及び直流電流を個別に変化させて、配線の温度及びストレス電流を個別に制御する。 - 特許庁

In the estimation document, only the LC50 value is described, and the test conditions such as temperature are often not described. If accurate conversion cannot be made, conversion shall be done using the formula: ppm ≒ mg/L × 1000 × 24.45/molecular weight (in the case of converting at 1 atmospheric pressure, 25°C)例文帳に追加

評価文書においては、ＬＣ５０値のみが記載され、通常、温度等の試験条件が記載されていない場合が多く、正確な換算はできない場合は、下記の式により換算を行うこと。 ppm ≒ mg/L × 1000×24.45／分子量 （１気圧、25℃で換算した場合） - 経済産業省

A pad pv for measuring voltage is arranged for externally measuring potential of the current lines LI1-LIm, separately from current supply pads p1-pm, for externally supplying test current to the transistors M1-Mm through the current lines LI1-LIm.例文帳に追加

電圧測定用パッドｐｖは、電流線ＬＩ１〜ＬＩｍを介してトランジスタＭ１〜Ｍｍに外部からテスト用電流を供給するための電流供給用パッドｐ１〜ｐｍと別に設けられ、電流線ＬＩ１〜ＬＩｍの電位を外部から測定するために設けられる。 - 特許庁

Before the parade started, Ferguson thanked the fans for their support and said, "We have a young squad with a lot of good young players. They are going to get better. The big test is to win the title three times in a row. I hope the boys can do it."例文帳に追加

パレードが始まる前，ファーガソン監督はファンの応援に感謝し，「我々には若くて良い選手がたくさんいる若いチームがあります。彼らはもっと良くなるでしょう。大きな試練は３連覇することです。選手たちはやってくれるでしょう。」と述べた。 - 浜島書店 Catch a Wave

A pattern element showing an operation summary to be executed in a pseudo program performing multi-task communication with a test object program is disposed on a scenario chart editing screen by use of a scenario chart editing means 101, and details of an operation shown by the pattern element is input to form a scenario chart.例文帳に追加

シナリオチャート編集手段１０１を用いて、シナリオチャート編集画面上に、試験対象プログラムとマルチタスク通信を行う擬似プログラムにおいて実行されるべき動作概要を表す図形要素を配置するとともに、前記図形要素が表す動作の詳細を入力し、シナリオチャートを作成する。 - 特許庁

To provide a resin composition having the excellent coating operativity and a sufficient low stress property and a highly reliable semiconductor device without generation of exfoliation even in a high temperature reflow treatment and a heat cycle test by use of the resin composition as a semiconductor die attach paste or a heat releasing member bonding material.例文帳に追加

塗布作業性に優れかつ十分な低応力性を有する樹脂組成物および該樹脂組成物を半導体用ダイアタッチペーストまたは放熱部材接着用材料として使用することで、高温リフロー処理、温度サイクル試験でも剥離の生じない高信頼性の半導体装置を提供することである。 - 特許庁

According to the above manner, reducing the temperature of the semiconductor device increases a change in a drain current with respect to a gate voltage in a sub-threshold region, and thus makes it possible to reduce the stand-by current and to surely conduct the leak current test of the MISFET having a low threshold.例文帳に追加

上述した手段によれば、選別を行なう半導体装置を低温化することによって、サブスレッショルド領域にてゲート電圧に対するドレイン電流の変化が大きくなるため、スタンバイ電流を低減することが可能となり、低しきい値のＭＩＳＦＥＴのリーク電流試験を確実に行なうことができる。 - 特許庁

To provide a device for forming an image capable of setting a gamma correction curve so as to reduce gradation jumpings in both a low gradation region and a high gradation region when the same density is detected by a plurality of test-patch images in both the low gradation region and the high gradation region.例文帳に追加

低階調領域及び高階調領域の両方において複数のテストパッチ画像で同一濃度が検出された場合に，該低階調領域及び高階調領域の両方において階調飛びを減らすようにガンマ補正曲線を設定することのできる画像形成装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory and its test method in which a temperature characteristic at the time of read-out of a bit line can be sufficiently guaranteed, over-erasion bits can be detected efficiently, and an over- erasion state for the bits can be stably prevented efficiently and in the best state.例文帳に追加

ビット線の読み出し時の温度特性を十分保証することができ、さらに過消去ビットを効率的に検出することができるとともに、それらのビットに対する過消去状態の回避を、効率的にかつ最良の状態で安定して行うことができる半導体記憶装置およびその検査方法を提供する。 - 特許庁

The arithmetic unit 16 selects the optical conditions of a focusing lens 8, variable multi-aperture 10, beam deflecting electrode 11, and objective lens 12 based on data inputted in the input unit 17, and calculates automatically processing scanning conditions of the focusing ion beam 4 on the test piece 2 corresponding to the optical conditions selected.例文帳に追加

演算装置１６は、入力装置１７に入力されたデータに基づいて、集束レンズ８、可変マルチアパーチャ１０、ビーム偏向電極１１及び対物レンズ１２の光学条件を選択し、かつ選択された光学条件に応じた集束イオンビーム４の試料２上での加工走査条件を自動的に算出する。 - 特許庁

An multi-function peripheral (MFP) 1 performs print-output in accordance with a printing condition that an image to be printed is designated at a printer part 3, and during performing the print-output of the image to be printed by a main body controlling part 11, to confirm the image condition, the print-output of the test image is executed by the printer part 3.例文帳に追加

ＭＦＰ１ではプリンタ部３においてプリントすべき画像を指定されたプリント条件に従ってプリント出力し、本体制御部１１により前記プリントすべき画像のプリント出力中に、その画像状態を確認するため、テスト用の画像のプリント出力を前記プリンタ部３により実行させる。 - 特許庁

An explanation variable for maximizing a degree of freedom double regulated contribution rate is determined among the candidate parameters dominating the lifetime, a second lifetime estimation formula is determined by performing multiple regression analysis again using that explanation variable and then the life time of life time test using bearing steel is estimated according to the second lifetime estimation formula.例文帳に追加

前記寿命支配パラメータ候補の中から自由度２重調整済み寄与率が最大になる説明変数を求めるとともに、この説明変数を用いて再度重回帰分析を行って第２の寿命推定式を求め、第２の寿命推定式により軸受用鋼を用いた寿命試験の寿命を推定する。 - 特許庁

To provide a sound field measuring apparatus and a sound field measuring method, where in the case of driving a speaker by a test signal and measuring the propagation time of a speaker output by applying the sound field measuring apparatus to a car audio apparatus e.g., the propagation time can be surely measured by simple constitution even under a much-noise environment.例文帳に追加

本発明は、音場計測装置及び音場計測方法に関し、例えばカーオーディオ装置に適用して、テスト信号によりスピーカを駆動してスピーカ出力の伝搬時間を計測する場合に、ノイズの多い環境下でも、簡易な構成により確実に伝搬時間を計測することができるようにする。 - 特許庁

To provide a quality measurement system, a transmitter, a receiver, a quality measuring method and a program, capable of measuring communication quality with a few test packets and measuring one way communication quality even though times of a transmitter and a receiver do not synchronize with each other completely in a network including a radio section.例文帳に追加

無線区間を含むネットワークにおいて、少ないテストパケットで通信品質を計測でき、かつ、送信装置と受信装置の時刻が完全に同期していなくても片方向の通信品質を測定可能である品質計測システム、送信装置、受信装置、品質計測方法及びプログラムを提供する。 - 特許庁

The image forming apparatus provides test patterns 410, 400 and 420 comprising two band-like patterns formed to use two developing devices corresponding to toner colors (magenta and yellow) in which a toner residual amount out of the four developing devices is a prescribed value or less (end state) on a center, a right end, and a left end of the status sheet SS2.例文帳に追加

ステータスシートＳＳ２の中央部、左端部、右端部には、４つの現像器のうち、トナー残量が所定値以下（エンド状態）となっているトナー色（マゼンタ、イエローに対応する２つの現像器を使用して形成された２本の帯状パターンからなるテストパターン４１０，４００，４２０が設けられる。 - 特許庁

To provide a map information generation device, a map information generation method, a map information generation program, and a recording medium for recording the map information generation program capable of organizing a GIS having the optimum response performance even if a test using a geographic information database of an actually-used actual scale level can not be performed.例文帳に追加

実際に使われている実規模レベルの地理情報データベースを用いてテストを実施することができなくても、応答パフォーマンスが最適なＧＩＳを構築し得る地図情報作成装置、地図情報作成方法、地図情報作成プログラム、地図情報作成プログラムを記録する記録媒体を提供する。 - 特許庁

The IC tester gives a test pattern signal to a device to be measured, judges good or bad of the device by comparing the output data obtained from the device to be measured and the pattern signal of expected value, and makes an expected value pattern generation circuit 36 constituted with a hardware generate the expected value pattern signal.例文帳に追加

被測定デバイスに対してテストパターン信号を与え、該被測定デバイスから得られる出力データと期待値パターン信号との比較によって、当該被測定デバイスの良否を判定するＩＣテスタであって、前記期待値パターン信号をハードウエアで構成された期待値パターン発生回路３６から発生するＩＣテスタ。 - 特許庁

The sample surface 1a of a test piece 1 is irradiated with a measuring light from a light source 2 through a slit 3 and the first lens 4, and reflected light thereof is condensed onto the light-receiving surface of a CCD camera 6 by the second lens 5, and a light quantity distribution on a spot 6a which is a slit image is measured by the CCD camera 6.例文帳に追加

光源２からスリット３および第１のレンズ４を経て試験片１のサンプル面１ａに測定光を照射し、その反射光を第２のレンズ５によってＣＣＤカメラ６の受光面に集光し、スリット像であるスポット６ａの光量分布をＣＣＤカメラ６によって計測する。 - 特許庁

If any fault current estimate PDj greater than the absolute value |E| of an allowable error E in the measured values of the static power currents IDDQ or any fault current estimate PDj smaller than -|E| exists among the calculated fault current estimates PDj, the CMOS integrated circuit 50 under test is judged to be defective.例文帳に追加

算出された欠陥電流推定値Ｐ_Djの中に、静止電源電流Ｉ_DDQ の測定値の許容誤差Ｅの絶対値｜Ｅ｜よりも大きい欠陥電流推定値Ｐ_Djがある場合、または−｜Ｅ｜よりも小さい欠陥電流推定値Ｐ_Djがある場合に、試験対象のＣＭＯＳ集積回路５０を不良品として判定する。 - 特許庁

The heat insulating material 2 to be judged in its deterioration is coated with a judging test solution 1 prepared by dissolving a substance 3 discolored according to moisture content in an organic solvent and the moisture content in the heat insulating material 2 is judged from the color shown by the coated substance 3 to judge the degree of deterioration of the heat insulating material 2.例文帳に追加

水分量に従って変色する物質３を有機溶剤に溶かした判断用試液１を、劣化判断対象の断熱材２に塗布し、塗布された前記物質３の呈する色にから、前記断熱材２に含まれる水分量を判断し、前記断熱材２の劣化度を判断する。 - 特許庁

This ceramic sintered compact is useful for a sliding member, comprises silicon nitride, 5-70 vol.% of chromium carbide and 2-10 vol.% of a sintering auxiliary (containing Al, Mg, Zr, rare-earth element, O, N and C) and has 1.0 mm3 abrasion volume by an abrasion test, ≥700 MPa flexural strength and ≥1,500 Vickers hardness.例文帳に追加

摺動部材に使用され、窒化珪素と、５〜７０体積％の炭化クロム、焼結助剤（Ａｌ、Ｍｇ、Ｚｒ、希土類元素、Ｏ、Ｎ及びＣを含む）２〜１０体積％含むセラミック焼結体で、摩耗試験で摩耗体積が１．０ｍｍ^3、曲げ強度が７００ＭＰａ以上、ビッカース硬度が１５００以上である。 - 特許庁

A filament configured from a magnesium alloy comprising, by mass, 0.1-6% Zn and 0.4-4% Ca, with the remainder being Mg and inevitable impurities, wherein, when a creep test is performed on the filament under conditions of 150°C temperature, 75 MPa stress, and 100 hours holding time, the filament has a creep strain of 1.0% or less.例文帳に追加

質量％で、Zn:0.1％〜6％、Ca:0.4％〜4％含有し、残部がMg及び不可避的不純物からなるマグネシウム合金から構成される線状体であり、温度:150℃、応力:75MPa、保持時間:100時間の条件で当該線状体にクリープ試験を行ったとき、この線状体は、クリープひずみが1.0％以下である。 - 特許庁

An analog input signal S26Ai from a simulation analog signal generator and a reference analog signal S26Si are compared, the reference analog signal S26Si and the analog input signal S26Ai are arithmetically processed or a function is provided on the basis of an arithmetic process result, and an input output characteristic test is carried out on the basis of data acquired by the process.例文帳に追加

模擬アナログ信号発生装置からのアナログ入力信号Ｓ２６Ａｉと基準アナログ信号Ｓ２６Ｓｉとを比較し、基準アナログ信号Ｓ２６Ｓｉとアナログ入力信号Ｓ２６Ａｉとを演算処理し、または演算処理結果を関数化し、この処理によって得られたデータを基に入出力特性試験を行う。 - 特許庁

A clutch is omitted from between a motor 4A and a pulley 4D into a regularly connected state, and thereby a backlash portion of a gear 4C is prevented from entering as an error between a motor rotation position and a rotation angle of the pulley is removed, and throttle opening control can be restarted with high accuracy at a power failure occurrence time and at a preceding test time.例文帳に追加

モータ４Ａとプーリー４Ｄの間からクラッチを省いて常時結合状態にすることで、モータ回転位置とプーリーの回動角度との間にギヤ４Ｃのバックラッシュ分が誤差として入り込むことが無くなり、停電発生時および次回の試験時に高い精度でスロットル開度制御を再開可能にする。 - 特許庁