Testingを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 14414件
The testing device includes an input terminal IN, an output terminal OUT, and a control terminal CTRL, and tests a semiconductor device 1 including operation in which the output terminal is in a high impedance state based on a control signal applied on the control terminal CTRL.例文帳に追加
試験装置は、入力端子IN、出力端子OUTおよび制御端子CTRLを含み、制御端子CTRLに印加された制御信号に基づき出力端子がハイインピーダンス状態となる動作を含む半導体装置1を試験する。 - 特許庁
To provide a semiconductor apparatus which is downsized and can perform a test of electric signal between semiconductor apparatuses as a stack structure, in relation to a semiconductor apparatus whose testing terminal is formed on a substrate on which a semiconductor chip is mounted.例文帳に追加
本発明は、半導体チップが実装される基板にテスト用端子が配設された半導体装置に関し、小型化を図ると共に、スタック構造とされた半導体装置間の電気的信号のテストを行うことのできる半導体装置を提供することを課題とする。 - 特許庁
To provide a belt-type tire testing machine of a simple constitution, capable of performing tests even at large steering angles and forming snow and ice surfaces in a short time by a reduced amount of energy for cooling, in tests on snow and ice surfaces.例文帳に追加
本発明は、簡素な構成で、大きな操行角度でも試験が行うことができ、また、氷雪面での試験においても、冷却するためのエネルギーが少なく、且つ短時間で氷雪面を形成できるベルト式タイヤ試験機を提供することを目的とする。 - 特許庁
The semiconductor testing apparatus 1 is provided with a controller 11, a converter 12, and a pin electronics section 13 which functions as an interface to a DUT 40 and tests the DUT 40, on the basis of signals obtained by applying test signals to the DUT 40.例文帳に追加
半導体試験装置1は、制御装置11、変換装置12、及びDUT40に対するインターフェイスとして機能するピンエレクトロニクス部13を備えており、DUT40に試験信号を印加して得られる信号に基づいてDUT40の試験を行う。 - 特許庁
To provide a blood clinical testing device for performing blood coagulation test, biochemical test, or immune serum test capable of speedily heating specimens and reagents housed in reaction containers to a reaction temperature and further efficiently perfuming tests.例文帳に追加
血液の凝固検査、生化学検査あるいは免疫血清検査を行う臨床検査装置であって、反応容器に収容した検体および試薬を反応温度まで迅速に加温でき、一層効率的に検査を実施し得る血液の臨床検査装置を提供する。 - 特許庁
To provide a lubricity test method of a lubricant and a friction testing device, capable of evaluating simply and quantitatively the lubricity of the lubricant by reproducing the lubrication state on a friction face between a tool and a processing material during processing.例文帳に追加
加工中における工具と加工材料との摩擦面における潤滑状態を再現し、潤滑剤の潤滑性能を簡単かつ定量的に評価することができる潤滑剤の潤滑性能試験方法および摩擦試験装置を提供する。 - 特許庁
To provide a method of measurement for a new onset case of venous thrombosis, in which gene mutation becoming a risk of the venous thrombosis as reported so far can not be found, and a new method for testing the easiness of becoming the thrombosis for a subject.例文帳に追加
従来から報告されている静脈血栓症のリスクとなるような遺伝子変異が見つからない静脈血栓症の新規発症例のための測定方法、及び、被検者の血栓症へのかかり易さを試験する新規の方法の提供を課題とする。 - 特許庁
To verify stability of an analogue circuit and to secure quality in the mass-production process, wherein waveform measurement and failure analysis of the analogue circuit, being difficult so far, are automatically performed for quicker and easier testing of the analogue circuit.例文帳に追加
従来は困難であったアナログ回路の波形測定及び不良解析を自動的に実現可能とすることで、アナログ回路の試験が短時間で且つ容易に行うことを可能とし、アナログ回路の安定性の検証及び大量生産工程での品質確保を図る。 - 特許庁
We agreed that supervisors should have strong and unambiguous mandates, sufficient independence to act,appropriate resources, and a full suite of tools and powers to proactively identify and address risks, including regular stress testing and early intervention. 例文帳に追加
我々は,強固で明確なマンデート,行動に当たっての十分な独立性,適切な資源,定期的なストレステスト及び早期介入を含めたリスクを事前に特定し対処するための一揃いの手法と権限を監督当局が持つべきであることに合意した。 - 財務省
Therefore, the “period during which the patented invention was unable to be worked” means either “the period of time spent conducting the testing necessary to obtain a disposition plus the period between the date on which the disposition was filed for and the date of the disposition”, or “the period between the date of patent registration and the date of the disposition”, whichever is shorter. 例文帳に追加
このため、処分を受けるのに必要な試験に要した期間と処分の申請から処分を受けるまでの期間を合わせた期間のうち、特許権の設定登録の日以降の期間が、「特許発明の実施をすることができなかった期間」となる。 - 特許庁
In this heat degradation testing machine for performing a heat degradation test of a plurality of test pieces S, while circulating heated air in a test vessel 1, a plurality of cells 5 openable at the upper and lower ends and capable of storing the test pieces S respectively in the test vessel 1 are provided.例文帳に追加
試験槽1内で加熱した空気を循環させながら複数の試験片Sの熱老化試験を行うようにした熱老化試験機において、試験槽1内に試験片Sをそれぞれ収容可能な、上下が開口する複数のセル5を設置する。 - 特許庁
A DB retrieving part 9 retrieves a test execution situation stored in the DB 8, and a test place to a test object program module is presented by such a manner that information notified a test place outputting part 10 is supplied to a program module testing device 11.例文帳に追加
DB検索部9によってDB8に記憶された試験実施状況が検索され、試験箇所出力部10に通知された情報がプログラムモジュール試験装置11に供給されることで試験対象プログラムモジュールに対する試験箇所が提示される。 - 特許庁
The testing vessel 5 is arranged with the first and second gas feedback ducts 21, 22 having tip openings 21a, 22a arranged in the vicinity of a front wall 9 inner than horizontal guide rails 12, 13, and having rear end openings connected to the gas suction ports 18, 19.例文帳に追加
試験槽5には先端開口21a、22aが水平案内レール12、13よりも前壁9の近傍に配置され、後端開口が気体吸い込み口18、19に接続されている第1、第2気体還流用ダクト21、22が配置されている。 - 特許庁
When test output data 6 and hash values 7 are returned from the server 3 for testing, the test output data 6 are compared with the contents of test output specifications, which are described in test specifications 1d, by a test result determination means 1c to determine whether the test is acceptable.例文帳に追加
テスト用サーバ3からテスト出力データ6とハッシュ値7とが返されると、テスト結果判定手段1cにより、テスト出力データ6と、テスト仕様書1dに記述されているテスト仕様出力内容とが比較され、テストの合否が判定される。 - 特許庁
The system for generating cryptographic keys includes: a calculation unit for reconstructing a large number of small primes; a sieving unit for checking the divisibility of an integer by small primes; a recoding unit for changing the representation of an integer; and a primality testing unit.例文帳に追加
暗号鍵の生成システムは、多数の小さい素数を再構成するための演算ユニット、小さい素数によって整数が割り切れるかを点検するための篩ユニット、整数の表現を変えるための再符号化ユニット、及び素数性判定テストユニットを備える。 - 特許庁
Then, in the automatic testing devices 11-1m, the operation test of a call processing is executed with the user side systems 31-3n according to the procedure and contents of the test described in the test file and log information obtained in the execution process is stored.例文帳に追加
そして、自動試験装置11〜1mにおいて、上記試験用ファイルに記述された試験の手順と内容に従い、ユーザ側システム31〜3nとの間で呼処理の動作試験を実行し、その実行過程で得られるログ情報を蓄積するようにしたものである。 - 特許庁
A device for testing the thermal fatigue crack development includes a heating furnace capable of covering and heating the whole test body relative to a circular test body, a cooling pipe bonded to the test body, and a coolant sending mechanism for circulating a coolant into the cooling pipe.例文帳に追加
環状の試験体に対して、その試験体の全体を覆って加熱可能な加熱炉と、 前記試験体と結合される冷却用パイプと、 その冷却用パイプのパイプ内に冷媒を流す冷媒送流機構とを備える熱疲労き裂進展試験装置である。 - 特許庁
This semiconductor testing apparatus is provided with a plurality of holding implements 11 for respectively holding a plurality of semiconductor packages 10, a test board 12 where the plurality of holding implements 11 are arranged, and a fluid feed portion 13 for feeding fluid F for heating or cooling the semiconductor packages 10.例文帳に追加
複数の半導体パッケージ10をそれぞれ保持する複数の保持治具11と、複数の保持治具11が配置されるテストボード12と、半導体パッケージ10を加熱又は冷却するための流体Fを供給する流体供給部13とを備える。 - 特許庁
To provide a link layer device with testing circuit for eliminating usual inconvenience by enabling to measure the AC timing by a link layer device single body and enabling to measure by changing measuring conditions such as temperature and source voltage by using a general purpose board.例文帳に追加
リンク層デバイス単体でACタイミング測定ができるようにし、これにより従来の不都合を解消でき、かつ、汎用ボードを使用して温度、電源電圧等の測定条件を変えてその測定できるようにしたテスト回路付きリンク層デバイスを提供すること。 - 特許庁
Based on a potential detected at one GND terminal by the GND sense line 6 during inspection of the device 12 to be measured, a potential correction circuit 8 corrects a potential level of a testing signal input for the inspection from the semiconductor sensor 10 into the device 12 to be measured.例文帳に追加
被測定デバイス12の検査中にGNDセンスライン6で検知した1つのGND端子における電位に基づいて、電位補正回路8が検査のために半導体テスタ10から被測定デバイス12に入力されるテスト信号の電位レベルを補正する。 - 特許庁
Then, an image quality degradation notification controlling section 107 orders the image forming section 102 to print out a record medium on which a pattern image for testing is formed when the comparison determination section 106 determines that the toner cartridge 40 is the one filled with non-genuine toner.例文帳に追加
そして、画質劣化通知制御部107は、比較判定部106による判定結果が、非純正品トナーが充填されたトナーカートリッジ40である場合に、テスト用のパターン画像が形成された記録媒体を、画像形成部102に印字出力させる。 - 特許庁
To provide a gear testing apparatus dispensing with re-adjustment after the revolution of either one of a drive shaft or a follower shaft is adjusted, capable of continuously changing a parameter, enabling the reduction of trouble and the shortening of time in a test and capable of performing a test nearer to mounting.例文帳に追加
駆動軸と従動軸とのいずれかを回動調整した後の再調整を不要で、連続的にパラメータを変化させることができ、かつ試験の手数、時間を短縮することが可能で、より実裝に近い試験が出来る歯車試験装置を提供する。 - 特許庁
When the testing device 100 transmits the signal to be measured, a mobile terminal RLC control part 109 notifies an RLC part 152 of the transmission stop of a signaling signal, and on the basis of the notice, the RLC part 152 stops transmitting the signaling signal and transmits only the signal to be measured.例文帳に追加
被測定用信号の伝送の際、移動端末RLC制御部109は、RLC部152にシグナリング信号の送信停止を通知し、RLC部152は、この通知に基づいてシグナリング信号の送信を停止し、被測定用信号のみを送信する。 - 特許庁
The start testing apparatus is constituted in such a way that a starter model part which simulates a starter characteristic in advance is installed at a controller used to control the dynamometer and that the engine is started by the output signal of the starter model part until the detected shaft torque characteristic of the engine is inverted and finishes the start.例文帳に追加
ダイナモメータを制御する制御装置に予めスタータ特性を模擬したスタータモデル部を設け、検出されたエンジンの軸トルク極性が反転し、始動完了までスタータモデル部の出力信号によって始動するように構成したものである。 - 特許庁
In the case of starting IP connection service from a service provider to a user home via an ATM network 100, an ATM line simple IP connection testing device 10 is directly connected to an ATM line connected to the user home to execute an IP connection test.例文帳に追加
サービスプロバイダから、ユーザ宅へATM回線網100を介してIP接続サービスを開始するとき、ユーザ宅に導入されているATM回線にATM回線簡易IP接続試験装置10を直接接続し、IP接続試験を実施する。 - 特許庁
The charge and discharge control terminal and a testing fuse are used to select one of voltage levels "L", "H", and "M" input to the charge and discharge control terminal so as to switch among the normal application state, charge and discharge inhibiting state and the test state.例文帳に追加
充放電制御用端子とテスト用ヒューズを用いて、該制御端子に入力された電圧のレベル「L」、「H」、「M」のいずれかを選択することによって、通常応用状態、充放電禁止状態とテスト状態のいずれかに切り替えを可能になる。 - 特許庁
To provide a method for activating a gas diffusion electrode by which the initial performance is improved, the performance is improved with the operating time, and the service life is stably prolonged and to furnish a testing method by which the quality of the electrode is confirmed in a short time, and the service life is predicted.例文帳に追加
初期性能が優れているとともに、運転時間と共に性能が良くなり、安定した長寿命のガス拡散電極の活性化方法を提供し、また短時間で電極の品質確認と寿命予測を行える試験方法を提供する。 - 特許庁
To provide a durability testing method of coating member and a test device therefor that enable the sufficient simulation of the test condition of a coating member against the working condition of an actual machine, the investigation for more detailed damage mechanism of the coating member, and more accurate life evaluation.例文帳に追加
コーティング部材の試験条件を実機使用条件に十分に模擬することが可能であり、コーティング部材のより詳細な損傷メカニズムの解明と、より高精度な寿命評価とを可能にするコーティング部材の試験方法および試験装置を提供する。 - 特許庁
The NQR testing method which enables the test of a sample having at least one NQR characteristic to be changed together with a given environmental parameter is composed of a method which enables the sample to be excited so as to energize NQR resonance and an NQR response signal to be detected.例文帳に追加
所与の環境パラメータと共に変化する少なくとも1つのNQR特性を有する試料をテストするNQRテスト方法において、試料に励起を与えてNQR共鳴を付勢し、NQR応答信号を検出することからなる方法。 - 特許庁
To provide a method for manufacturing a probe card which has a high probe density, a high contact stability with an electric circuit during testing, which can test a wafer, which can execute a large deformation of the probe, and which can rapidly test in a high frequency and to provide the probe card.例文帳に追加
プローブ密度が高く、ウェーハのテストが可能で、プローブの大幅変形を実施可能で、試験中電気回路の間との接触安定性が高く、プローブで高周波テストおよび高速テストが可能なプローブカードの製造方法およびプローブカードを提供する。 - 特許庁
The marking device is mounted on an apparatus for testing the painted surface of the vehicle, which has a CCD camera 6 for scanning / photographing the outside painted surface of the vehicle and an image processing device 8 automatically detecting a microdefects generated in the painted surface from photographed signals.例文帳に追加
マーキング装置は、車両外面の車両塗面を撮像走査するCCDカメラ6と、その画像信号の変化から車両塗面に生じている微小欠陥を自動的に検知する画像処理装置8とを備えた車両塗面検査装置に付属する。 - 特許庁
To provide a dark fiber supervisory testing method and apparatus capable of preventing disabled optical transmission utilizing a dark fiber in advance due to deterioration in the dark fiber by properly supervising the optical transmission characteristic of the dark fiber and informing a user of the dark fiber about it.例文帳に追加
ダークファイバの光伝送特性を適確に監視して、ダークファイバの利用者に通知することによりダークファイバを利用した光伝送がダークファイバの劣化により不可能になるような事態を未然に防止し得るダークファイバ監視試験方法および装置を提供する。 - 特許庁
A material test is performed using a material testing machine 1 equipped with a load/displacement measuring means for applying load to a test piece 2 to measure the load and displacement of the test piece 2 and a continuity detection means for detecting the presence of continuity and the test piece 2 having a thin film pattern formed thereto.例文帳に追加
試験片2に荷重を加えてその荷重、変位を測定する荷重/変位測定手段と導通の有無を検知する導通検知手段を備えた材料試験装置1と薄膜パターンが形成された試験片2を用いて材料試験を行う。 - 特許庁
The measuring electrode 19d is positioned between the insertion hole on the housing 1 and each of a plurality of clip pieces in the terminal fitting 19, so that end of the core wire 35 in the lead 33 can enter therein, but the measuring electrode 19d is made to contact the end of a continuity testing conductor.例文帳に追加
測定用電極19dを、ケース1に設けた挿入孔27と端子金具19の複数の挟持片との間に、リード線33の芯線35の端部の進入を許容するが、導通試験用導体の端部と接触するように配置する。 - 特許庁
In the abnormal test for short-circuiting a terminal T1 of a primary coil L1 and a terminal T5 of a secondary coil L2 in a transformer 10, a limiting resistor R1 for limiting a current flowing in a testing resistor R10 is provided between the secondary coil L2 and the terminal T5.例文帳に追加
トランス10の1次側コイルL1の端子T1と2次側コイルL2の端子T5とを短絡させる異常試験において、試験用抵抗R10に流れる電流を制限するための制限抵抗R1を、2次側コイルL2と、端子T5との間に設ける。 - 特許庁
In mod p groups, an even h is chosen of value approximately (9/16)(log_2n)^2, values r and n are determined using sieving and primality testing on r and n, and a value t is found to compute p=tn+1 where p is prime.例文帳に追加
mod p群において、偶数hが約(9/16)(log_2n)^2の値として選択され、値rとnは、rとnに対するふるいと素数性テストを使用して判定され、値tが、pが素数の場合に、p=tn+1を計算するために見出される。 - 特許庁
A test pattern data is input into a data input of the IP core 12, an output data output from a data output of the IP core 12 is compared with an expected value for the test pattern data, and the power source noise resistance is inspected when testing a function of the IP core 12.例文帳に追加
IPコア12のデータ入力にはテストパターンデータが印加され、IPコア12のデータ出力から出力される出力データとテストパターンデータに対する期待値と比較してIPコア12のファンクションテスト時に電源ノイズ耐性の検査を行う。 - 特許庁
A processing crack is intentionally applied onto the coat membrane of the spectacle lens by using at least one method among following methods (1) to (3), and the spectacle lens is inputted into an acceleration testing machine for weather resistance or the like as long as an optional period, and then the coat membrane adhesive performance of the spectacle lens is evaluated.例文帳に追加
下記(1)から(3)の少なくとも一つの方法を用いて眼鏡レンズのコート膜上に意図的に加工クラックを施し、該眼鏡レンズを耐候性等の加速試験機へ任意の期間投入した後、該眼鏡レンズのコート膜密着性能を評価する。 - 特許庁
To provide a forming method and forming device of an elastic-body break surface for rapidly and surely forming a desired broken-out surface suitable for analysis on an elastic body serving as a testing object, without requiring worker skills, and to provide an analysis method of the elastic body.例文帳に追加
作業者の熟練を必要とせずに、試験対象となる弾性体に対して分析に適した所望の破断面を迅速かつ確実に形成することができる、弾性体破断面の形成方法及び形成装置、弾性体の分析方法を提供する。 - 特許庁
To provide a circuit for testing cores for which requires fewer development man-hours the rise of cost is suppressed, and which easily copes with version-up of the core by the updating an instruction set held by an instruction memory inside a core without adding the correction to the inside of a core.例文帳に追加
開発工数が少なくて済み、コストを抑えることができるとともに、コア内部に修正を加える必要がなく、コア内部の命令メモリが保持する命令セットを更新してコアのバージョンアップを行う際の対処が容易であるコアテスト回路を提供する。 - 特許庁
The system is configured such that a stocker controller and a PLC are connected in series with a conveyance controller comprising a main control device, a collected data display device, a data recording device, and a request data display device, and a test program for testing a PLC program is connected thereto.例文帳に追加
主制御装置、収集データ表示装置、データ記録装置及び要求データ表示装置からなる搬送コントローラに、ストッカー制御装置とPLCとを直列的に接続し、これにPLCプログラムのテストを行うテストプログラムを接続して構成する。 - 特許庁
To provide a testing tool requiring a small space for transportation and preservation when carrying out a wipe test of environmental microorganisms, facilitating a test operation such as storage of cotton swabs after collection of specimens and arrangement of the specimens, and reducing the cost required for the test low.例文帳に追加
環境微生物の拭き取り検査を行う場合において、運搬や保管に要するスペースが少なくて済み、検体採取後の綿棒の収納や検体の整理などの検査作業が簡易であり、検査に要するコストも低く抑えられる検査用具を提供する。 - 特許庁
This testing machine is constituted of a tool for holding the test piece, the vibration rod for applying vibration pressure to the held test piece to generate strain, and a ceramic piezoelectric element actuator provided in the vibration rod for imparting the high-frequency vibration to the rest piece.例文帳に追加
試験片の保持具、保持された試験片に振動圧力を加えて歪を発生させるための駆動棒、試験片に高周波振動を付与するための駆動棒に設けられたセラミック圧電素子アクチュエータから構成されるセラミック圧電素子駆動型材料試験機。 - 特許庁
To provide a test selection method and a test selecting apparatus for reducing the number of tests to be made without implementing a statement used for a program only in a testing process without reducing test precision in a regression test that is made after correcting the program.例文帳に追加
プログラムを修正した後に行う回帰試験において、試験精度を落とすことなく、また、プログラムに試験工程でのみ使用する命令文を実装することなく、行う試験の数を減らすことができる試験選択方法および試験選択装置を提供する。 - 特許庁
This pressurization excitation testing machine for applying vibration in the same direction as the pressurizing direction to a specimen 31 in the pressurized state is equipped with a constant pressurization part having a hydraulic pump capable of supplying a pressurized oil to an oil chamber of a pressurizing hydraulic cylinder mechanism 110 through a passage isolation valve.例文帳に追加
加圧状態にある供試体31に加圧方向と同方向の振動を加える加圧加振試験機において、加圧用油圧シリンダ機構110の油室に流路遮断弁を介装し圧油を供給可能とした油圧ポンプを有する定加圧部を備える。 - 特許庁
A data recording section 11, in advance, allows each advance level obtained from the level detection section 7 by switching and emitting a plurality of high-frequency signals to the object to be measured for testing to correspond to each kind of object to be measured and high-frequency signal for storing.例文帳に追加
データ記録部11は、事前に、テスト用被測定物に対して複数の高周波信号を切り換え発射してそのレベル検出部7から得られた個々の事前検出レベルを、被測定物の種類とその高周波信号毎に対応させて格納する。 - 特許庁
An address decoder 12 generates two or more selection signals SEL0-SEL3, so as to simultaneously select first to fourth memory circuits RAM 0-RAM3, on the basis of an address signal ADD for accessing to the memory circuit by a CPU 11 in testing mode.例文帳に追加
アドレスデコーダ12はテストモード時にCPU11が1つのメモリ回路をアクセスするためのアドレス信号ADDに基づいて第1〜第4メモリ回路RAM0〜RAM3を同時に選択するように複数の選択信号SEL0〜SEL3を生成する。 - 特許庁
To provide a terminal board for a nuclear power plant control panel test, a control panel automatic testing device, and a temporary control device, which reduces a time and cost by reducing a work amount during updating, and also reduces an operation risk caused by plant monitoring control function stop.例文帳に追加
更新時の作業量を減らすことで時間とコストを低減し、またプラント監視制御機能停止による運用上のリスクの低減を可能とする原子力発電所制御盤試験用端子台、制御盤自動試験装置、及び仮設制御装置を提供する。 - 特許庁
The location of the defective part of a relay transmission system 100, having plural relay systems Yi(i=1 to n) serially connected through outgoing transmission lines Li(i=0 to n) and incoming transmission lines Ui(i=0 to n) is executed by a maintenance testing device X and a maintenance return device Z.例文帳に追加
下り伝送路L_i (i=0、〜n)と上り伝送路U_i (i=0、〜n)により直列接続された複数の中継装置Y_i (i=1、〜n)を有す中継伝送システム100の障害箇所の特定を、保守試験装置Xと保守折返装置Zとで実行する。 - 特許庁
To provide an inverter-testing device, capable of preventing a DC input capacitor and its peripheral circuit from deterioration or voltage breakdown, due to the application of voltage higher than the break withstand voltage applied to the DC input capacitor, which is likely to occur, when the inverter to be tested has made abnormal stop.例文帳に追加
被試験インバータが異常停止したときに起こり得る、直流入力コンデンサへの耐圧以上の電圧印加による直流入力コンデンサおよびその周辺回路の劣化または耐圧破壊を防止することができるインバータ試験装置を提供する。 - 特許庁
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