「testing, testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(272ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide a material testing machine by which the material characteristic of a specimen can be found with good reliability by a method wherein an operating program and a parameter with reference to a measurement controller and an analyzer as well as their measured data can be controlled in a centralized manner and the analytical processing operation of the measured data can be executed accurately.例文帳に追加

計測制御装置および解析装置に対する動作プログラムやパラメータ、更にはその計測データを一元管理することができ、計測データの解析処理を的確に実行して試験体の材料特性を信頼性良く求め得る材料試験機を提供する。 - 特許庁

To provide a weather resistance testing apparatus having an exhaust processor capable of removing ash powder in exhaust in a carbon arc lamp type weather/light resistance test, stably sucking ash powder while preventing damping and variation of capture force of an air filter, and automatically removing ash powder adhering to the air filter.例文帳に追加

カーボンアーク灯式の耐候光試験の排気中の灰粉を除去し、エアフィルタの捕捉力の減衰やバラツキを防ぎながら、灰粉を安定して吸着でき、且つ自動にエアフィルタに付着の灰粉の除去を行うことができる排気処理装置を備えた耐候性試験装置の提供。 - 特許庁

A rate signal is outputted based on a cycle information stored in a rate memory, the rate signal is delayed to output edges based on timing information of an edge memory, and the IC tester for testing a device under test is improved, using the edges.例文帳に追加

本発明は、レートメモリに格納された周期情報に基づいて、レート信号を出力し、このレート信号を、エッジメモリのタイミング情報に基づいて、遅延し、エッジを出力させ、このエッジを用いて、被試験対象の試験を行うＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁

This sequence monitor for semiconductor testing device indicates on a screen a pin group of a plurality of pins as one sequence waveform, as well as variation in each transition position of the pin group obtained through simulation in the same sequence condition, on the screen so that the transition deviation of the pin group is indicated clearly.例文帳に追加

複数ピンのピングループを１つのシーケンス波形として画面上に表示し、且つシミュレーションで得られたピングループの同一シーケンス条件における各遷移位置のばらつきに対して、ピングループの遷移偏差が明示可能に画面表示する、半導体試験装置のシーケンスモニタ。 - 特許庁

The resinous phase has a covalently bonded halogen component based on the total weight of resin solids present in the resinous phase such that when the composition is electrodeposited and cured, the cured film passes burning resistance testing in accordance with IPC-TM-650, and has a dielectric constant of ≤3.50.例文帳に追加

樹脂相は、組成物が電着され、かつ硬化される場合に、硬化フィルムがＩＰＣ−ＴＭ−６５０に従った燃焼耐性試験に合格し、かつ３．５０以下の誘電定数を有するように、樹脂相中に存在する樹脂固体の総量に基いて共有結合性ハロゲン成分を有する。 - 特許庁

A base station test apparatus 3 receives the voice signal for testing the downlink voice channel arrived via a telephone switch network 1 and a radio base station 4, converts the voice signal into PCM data, and transmits the PCM data to a maintenance console apparatus 5 via a PCM communication channel 6.例文帳に追加

基地局試験装置３は電話交換網１と無線基地局４とを経由して到来する下り音声回線試験用の音声信号を受信し、この音声信号をＰＣＭデータに変換し、このＰＣＭデータをＰＣＭ通信回線６経由で、保守卓装置５に送信する。 - 特許庁

A non-volatile memory 10 is constituted of plural flip-flop connected to each other end of each bit line other than a first register 11 consisting of plural flip-flop connected to each one end of each bit line 2 of a memory cell array 1, and is provided with a second register 12 for testing the discontinuity of each bit line 2.例文帳に追加

不揮発性メモリ１０は、メモリセル・アレイ１の各ビット線２の各一端と接続される複数のフリップ・フロップからなる第１レジスタ１１の他に、各ビット線２の各他端と接続される複数のフリップ・フロップからなり、各ビット線２の断線検査用の第２レジスタ１２を備えている。 - 特許庁

In this material testing machine 100, a changing speed of a stress or strain in a specimen is detected by a load cell 105 or an extensometer 106, and a pulse number P is determined based on a value of a deviation ΔV between a set target changing speed and a detected actual changing speed to control a rotating speed of a motor 1.例文帳に追加

材料試験機１００は、供試体の応力または歪みの変化速度をロードセル１０５や伸び計１０６により検出し、設定された目標変化速度と検出した実変化速度との偏差ΔＶの値によりパルス数Ｐを決定して、モータ１の回転速度を制御する。 - 特許庁

The disintegration testing device includes, a rod 1 (a first loading means) for applying a load to the center of the upper surface of the tablet 4, a hollow cylinder (a second loading means) 2 for applying a load to the periphery part of the tablet, and a supply means for delivering a test solution to the tablet.例文帳に追加

崩壊試験装置は、錠剤４の上面の中央部に荷重を負荷するためのロッド（第１の負荷手段）１と、前記錠剤の周辺部に荷重を負荷するための中空筒体（第２の負荷手段）２と、前記錠剤に試験液を付与するための供給手段とを備えている。 - 特許庁

In the case that the specified information is of an output processing mode for testing, a service man executes trial use in the normal use mode at the maintenance time by using the image information to which the specified information is added without being managed by the managing device such as the copy vender and the key counter.例文帳に追加

特定情報がテスト用出力処理モードの情報である場合は、メンテナンス時にサービスマンは、特定情報の付加された画像情報の使用により、コピーベンダーやキーカウンタ等の管理装置で管理されることなく、通常使用モードでテスト使用を行うことができる。 - 特許庁

To display, at the real time, a scanning electron microscope image of the state of an interface between the side where a load is given and the opposite side or the like, by making inclinable a surface dynamics characteristic test device for testing a surface dynamics characteristic of composite material, and by arranging it in a sample chamber of the scanning microscope.例文帳に追加

複合材料の界面力学特性の試験を行う界面力学特性試験装置を傾斜可能にして走査型顕微鏡の試料室に配置し、荷重をかけた側と反対側の界面などの状態の走査型電子顕微鏡像をリアルタイムに表示する。 - 特許庁

The testing carrier 10A comprises: a base board 21A for supporting a die 90; a cover board 31A stacked on the base board 21A so as to cover the die 90; and a sealing member 24 which is interposed between the base board 21A and the cover board 31A and surrounds the die 90.例文帳に追加

ダイ９０を保持するベース基板２１Ａと、ダイ９０を覆うように、ベース基板２１Ａに重ねられたカバー基板３１Ａと、を備えた試験用キャリア１０Ａは、ベース基板２１Ａとカバー基板３１Ａとの間に介在すると共にダイ９０を取り囲むシール部材２４を備えている。 - 特許庁

The method includes a step (102) of providing a substrate article having a surface; a step (104) of thermally spraying a coating material onto the surface of the substrate article, wherein a surface of contact between the coating material and the substrate article is a bond section; and a step (106) of nondestructively testing the coated article.例文帳に追加

本方法は、表面を有する基体物品を準備する段階（１０２）と、皮膜材料を該皮膜材料と基体物品との間の密着面がボンド部となるように該基体物品の表面上に溶射する段階（１０４）と、被覆物品を非破壊検査する段階（１０６）とを含む。 - 特許庁

Since the testing method sequentially measures test items in a communication test mode and displays the result of measurement, this method can save time and trouble of the person measuring and avoid the occurrence of a defective facsimile measurement device FS, due to misoperations by the person measuring, so as to provide high user-friendliness to the measurer.例文帳に追加

通信テストモードにおける複数のテスト項目の測定が順次行われ、結果が表示されるので、測定者の手間が大幅に軽減されるとともに、測定者の操作ミス等によりファクシミリ測定装置ＦＳが破損するような事態を回避することができ、非常に便利である。 - 特許庁

In the environment testing apparatus 1, work feed pallets 2, on which works are placed, are stacked to form a pallet stack 20 and the pallet stack 20 is fed along the pallet feed passage 4 through the temperature tank 3 in this state to allow the respective works placed on the respective work feed pallets 2 to reach a predetermined temperature.例文帳に追加

環境試験装置１では、ワークを載せたワーク搬送パレット２を積み重ねてパレット積層体２０とし、この状態で温度槽３を経由するパレット搬送路４に沿って搬送し、各ワーク搬送パレット２に載せられている各ワークを所定の温度に到達させる。 - 特許庁

To execute operation of machining and testing of an inner surface of joint end parts which are mutually welded by a remote controlling program from inside of the pipe 8, positioning is performed by introducing a means for operation from the components 3, 4 of the primary circulation system 2 to inside the pipe 8.例文帳に追加

配管（８）の内部から、互いに溶接された結合端部の内面の機械加工と検査との作業を遠隔制御のプログラムによって実行するために、一次循環系（２）の構成要素（３，４）から配管（８）の内部へ作業のための手段を導入して位置決めする。 - 特許庁

An intermittent energization testing device 1 comprises heat radiation plates 5 and 6 which contact with a semiconductor package 2 to radiate the heat of the semiconductor package 2; and a bimetal 7 which is provided between the heat radiation plates 5 and 6, and expanded/contracted on the basis of a heat generating state of the semiconductor package 2.例文帳に追加

断続通電試験装置１は、半導体パッケージ２に接触することによって、この半導体パッケージ２の放熱を行う放熱板５，６と、これら放熱板５，６の間に設けられ、半導体パッケージ２の発熱状態に基づいて伸縮変形するバイメタル７とを備えている。 - 特許庁

Each of various glass face materials 3 supposed as the window glass is provided between an artificial light source 1 in a light resistance testing machine and a sample installation part 2, and a plurality of samples 4, 4, etc. installed on the sample installation part 2 are irradiated with light from the artificial light source 1 transmitted through the glass face material 3.例文帳に追加

耐光性試験機における人工光源１とサンプル設置部２との間に、窓ガラスを想定した各種ガラス面材３を設けて、そのガラス面材３を透過した人工光源１からの光を、サンプル設置部２に設置したサンプル４，４…に照射させる。 - 特許庁

A testing device 1 in the fault information tracing device 10 is constituted of an execution format program 11, an execution history collection part 12 for forming history information, a trace memory 13 for storing the history information, and a debugging monitor 14 for making the contents stored in the memory 13 dumped to a device to be tested 2.例文帳に追加

本発明に係る障害情報トレーサ装置１００の試験装置１は、実行形式のプログラム１１、履歴情報を編成する実行履歴収集部１２、履歴情報を記憶させるトレースメモリ１３、その記憶内容を被試験装置２にダンプさせるデバッグモニタ１４から構成した。 - 特許庁

To provide an artificial flame testing apparatus for a polymer insulator preventing a great loss of resources, protecting lives of human bodies and preventing damage to assets beforehand by preventing an accident by predicting the performance and load of the polymer insulator which can be generated in a forest fire and appropriately exchanging or maintaining the polymer insulator.例文帳に追加

山火事時に発生しうるポリマー碍子の性能及び負荷を予測し、ポリマー碍子を適宜取替えまたは保守することによって、事故を未然に防止し、莫大な資源損失と人名及び財産被害を事前に防止することができるポリマー碍子の人工火炎試験装置を提供すること。 - 特許庁

Since the game information output means includes a game information output circuit part 347, a conversion circuit part 341 and a connector 342, a third-party inspection facility, etc., can easily inspect (test) the game machine by simply connecting a signal wire from an outside testing device to the connector, etc.例文帳に追加

この遊技情報出力手段は、遊技情報出力回路部３４７、変換回路部３４１、コネクタ３４２を含むため、第三者検査機関等において、外部試験装置からの信号線をコネクタ等に簡便に接続させて容易に遊技機を検査（試験）することが可能となり得る。 - 特許庁

A test coil 12 for testing the performance of a main coil 11 is mounted near the main coil 11 in advance, a test signal is transmitted to the test coil 12, and a test control part 33A determines the quality by measuring a detection level of the main circuit receiving the test signal.例文帳に追加

主コイル１１の性能を試験するための試験用コイル１２を主コイル１１の近傍に予め配置し、試験用コイル１２に試験用信号を送り、これを受信した主回路の検知レベルを測定することによって試験制御部３３Ａが良否判定を行う。 - 特許庁

This penetration testing machine is provided with the sound detecting means 10 capable of detecting a sound which is propagated via a penetration rod 7 along with the penetration of the penetration rod 7 into ground; and the acoustic signal detected by the means 10 is transmitted to a signal processing part 12.例文帳に追加

地中に貫入ロッド７を貫入するのにともなって当該貫入ロッド７を伝播されてくる音を検出可能な音検出手段１０が設けられ、この音検出手段１０によって検出された音響信号は信号処理部１２に送られる。 - 特許庁

Series connection between the first winding 13a and the third winding 13c in diagonal positions, and series connection between the second winding 13b and the fourth winding 13d in diagonal positions are electrified alternately, or electrified with alternating currents different in phases by π/2 to magnetize the testing body.例文帳に追加

対角位置の第１の巻線１３ａと第３の巻線１３ｃとの直列接続と、第２の巻線１３ｂと第４の巻線１３ｄとの直列接続とに、交互に通電したり、π／２位相が異なる交流電流を通電したりして、試験体の磁化を行う。 - 特許庁

In the dispenser wherein the liquid in a reservoir 12 is sucked by a dispensing head to be discharged to a testing plate, a liquid supply part 18 equipped with a liquid supply stage on which only one reservoir 12 can be placed is arranged at a position separated from a reservoir stage on which a plurality of the reservoirs 12 are placed.例文帳に追加

リザーバ１２内の液体を分注ヘッドによって吸引して試験用のプレートに吐出する分注装置において、複数のリザーバ１２を載置するリザーバステージから離れた位置にリザーバ１２を１つだけ載置できる液体供給ステージを備えた液体供給部１８を配置する。 - 特許庁

To prevent damage to semiconductor elements and socket, by pressing leads and balls of the semiconductor elements to the connecting pins of the socket at a fixed depth, without changing carriers, even if the thickness of the semiconductor element is varied, and to provide a socket assembly for a semiconductor element test capable of improving the testing reliability.例文帳に追加

半導体素子の厚さが変わってもキャリア等を交替せず、半導体素子のリード又はボールをソケットの接続ピンに一定の深さで押圧して、半導体素子及びソケットの損傷を防止し、テスト信頼性を向上させる半導体素子テスト用のソケットアセンブリを提供する。 - 特許庁

When the film is loaded by aligning the perforation of the film with the index of the frame 15a, the offset amount of the picture of the film with respect to the window of the stereoscopic slide mount is fixed at the position relatively equal to the offset amount of the picture projected with respect to the focusing screens tested by the testing device.例文帳に追加

べースフレーム５１ａの指標とフィルムのパーフォレーションを位置合わせしてフィルムを装着すれば、ステレオスライドマウントの窓に対するフィルムの画面のオフセット量が、検定装置により検定した焦点板に対する投影画面のオフセット量と相対的に等しい位置に固定される。 - 特許庁

The inspection device for ISPs is provided with a placing unit for placing an ISP on for testing, an inspection portion which performs an electric and image test of the ISP, with a lens and a light source arranged above the ISP, and a controlling and processing unit, having a tester module for performing the electric and image test of the ISP.例文帳に追加

ＩＳＰの検査装置は、ＩＳＰがテストのために載置される載置ユニットと、ＩＳＰの上部にレンズ及び光源を設けて前記ISPを電気及びイメージテストする検査部と、ＩＳＰの電気及びイメージテストを行うテスターモジュールを有する制御及び処理ユニットと、を備える。 - 特許庁

To provide a durability testing apparatus for a vehicle seat and a seat attachment, which can attain automatic durability test of a movable part of the vehicle seat without depending on manual operation of an operator, save energy, shorten test time and obtain appropriate test results.例文帳に追加

車両用のシートにおける可動部の耐久試験を、作業者の手作業によることなく自動的に行うことができて、省力化、試験時間の短縮及び試験結果の適正化を図ることができる車両用シート及びシート取付部の耐久試験装置を提供する。 - 特許庁

When a command (positions of SW1-SW4) acquired at the time of switching on a power source is 1110, a sound source substrate is set in a test mode, and when the switches SW1-SW4 are made ON after commanded to start testing, they start to pronounce a scale corresponding to them.例文帳に追加

電源投入時に取得したコマンド（スイッチＳＷ１〜４のポジション）が１１１０であるとテストモードになり（Ｓ１０１：ＹＥＳ）、テスト開始のコマンド（Ｓ１０２：ＹＥＳ）の後、スイッチＳＷ１〜４がオンにされると（Ｓ１０３：ＹＥＳ）、それに対応する音階の発音を開始する（Ｓ１０４）。 - 特許庁

To allow easy eddy current examination of high senstivity as to the presence of a defect generated on a surface of a testing body having a circular cross section, in a hot condition, and reduce the possibility of damage of a flaw detection coil in the eddy current examination to a small extent.例文帳に追加

円形断面を有する試験体の表面に発生した欠陥の有無を、熱間において、高感度かつ簡便に渦流探傷することができ、しかも、渦流探傷の際に探傷コイルが破損するおそれの少ない熱間渦流探傷プローブを提供すること。 - 特許庁

The ink-jet recording method includes the image recording process for recording an image by giving a pigment-containing ink to a recording medium and the fixing process in which a pressure-sticking giving means is pressure-contacted with the image part to fix the image part when the tackiness of the image part by a ball tack testing method is at least 20 mm.例文帳に追加

記録媒体に顔料を含むインクを付与して画像を記録する画像記録工程と、画像部のタック性がボールタック試験法にて２０ｍｍ以上となったときに、圧着付与手段を前記画像部に圧接して画像部を固定化する固定化工程と、を有している。 - 特許庁

To provide an apparatus for determining an optimal operating condition in order that focused operation related values can satisfy predetermined conditions while focusing on the operation related values such as Power saving and Low noise in an electro-dynamic vibration testing apparatus, and considering the operation limit of a vibration generator.例文帳に追加

動電式振動試験装置における省電力、静音などの運転関連値に注目し、振動発生機の動作限界を考慮しつつ、注目した運転関連値が所定の条件を満足するために最適な運転条件を決定する装置を提供する。 - 特許庁

This device surely can perform endurance testing for any crack initiation on face material or inner filler of a side section 3 even if an occupant forcedly gets into a car from a door opening only a little to take a seat, because a loader 11 shifts lengthwise while pressing the top of the side section 3.例文帳に追加

負荷子１１がサイド部３の頂部を押しながら長手方向に移動するため、乗員が少ししか開かないドアから無理に乗り込んでシートに腰を下ろす場合においても、サイド部３の表皮材や内部充填材の亀裂発生に関する耐久試験を確実に行うことができる。 - 特許庁

To provide a means by which wiring channel regions relating to signal distribution, quantity of buffers, FF, or the like, and the number of LSI pins can be reduced, and mounting to a chip can be facilitated, in a built-in type self test circuit (BIST) for testing a CAM-macro.例文帳に追加

ＣＡＭマクロをテストするための組み込み型自己テスト回路（ＢＩＳＴ）回路において、信号分配にかかわる配線チャネル領域、バッファ、ＦＦなどの物量およびＬＳＩピン数の削減を可能とし、チップへの実装を容易化する手段を提供するものである。 - 特許庁

In the configuration where an input buffer section 111 and an output buffer section 121 of interest are sandwiched by FFs 133, 143 of testing common circuit sections 131, 141 and FFs 103, 104 of the local clock section 101, diagnoses/tests are performed using an RAGR 161 and an MISR 162.例文帳に追加

テスト用共通回路部１３１，１４１のＦＦ１３３，１４３と、ローカルクロック部１０１の内部のＦＦ１０３，１０４とにより、対象となる入力バッファ部１１１や出力バッファ部１２１を挟み込んだ構成において、ＲＡＧＲ１６１及びＭＩＳＲ１６２を用いて、診断・テストを実施する。 - 特許庁

In this counter test circuit for testing counters 3, 4 constituted by connecting two four-bit counters longitudinally, a load pulse generating part 2 generates a load pulse of the counters 3, 4 from a test mode signal for showing a test mode of the counters and a counter load pulse test input signal inputted from an external terminal.例文帳に追加

４ビットのカウンタを２個縦列接続して構成したカウンタ３，４をテストするカウンタテスト回路で、ロードパルス生成部２は、カウンタのテストモードを示すテストモード信号と外部端子により入力されるカウンタロードパルステスト入力信号とからカウンタ３，４のロードパルスを生成する。 - 特許庁

This testing device comprises a timing generation part 3 for generating a timing of outputting a chap signal and a Doppler generation part 4 for changing the frequency on the basis of the Doppler frequency change, so that a signal is imitated as a relative movement is generated between a platform 12 and a target 13.例文帳に追加

チャープ信号を出力するタイミングを生成するタイミング生成部３及びドップラ周波数変化にもとづき周波数を変化させるドップラ生成部４を設けることにより、プラットフォーム１２と目標１３との間に相対運動が生じているように信号を模擬する。 - 特許庁

This tester, used for testing the position indicator 100 for the control rod drive mechanism comprising a plurality of reed switches 201 provided at prescribed spaces, is equipped with a position indicator placing stand 300 for placing thereon the position indicator 100 in an operation checking test for the position indicator 100.例文帳に追加

所定間隔を置いて設けられた複数のリードスイッチ２０１を有する制御棒駆動機構用位置指示装置１００を試験する本発明の試験装置は、位置指示装置１００の動作確認試験時に、位置指示装置１００を設置する位置指示装置設置架台３００を備える。 - 特許庁

To set the test condition of a material strength test reduced in the error of a test time by enabling setting a wide range of a well-balanced test condition without damaging the material characteristics due to an excessive temperature/stress test to perform correction, based on a short-time test result under the testing condition.例文帳に追加

過剰な温度・応力試験による材料特性を損なわないで、かつ広範囲でバランスの良い試験条件設定が可能となり、その試験条件で短時間試験結果により補正することで、試験時間の誤差が少ない材料強度試験の試験条件設定が可能となる。 - 特許庁

The roll of newsprint paper is produced by winding the newsprint paper having a basis weight of 46 to 38 g/m^2 and the hardness (R) of the rolled paper is 40 to 60 according to JAPAN TAPPI paper pulp testing method No. 37.例文帳に追加

米坪が４６〜３８ｇ／ｍ^2の新聞用紙を巻き取ってロール状にした新聞印刷用巻取紙であって、ＪＡＰＡＮ ＴＡＰＰＩ紙パルプ試験方法Ｎｏ．３７に基づいて測定された巻取紙の硬さ（Ｒ）が４０〜６０である新聞印刷用巻取紙により解決される。 - 特許庁

To provide a health management support system and a health management support method, capable of facilitating support of health management and a medical examination at home, exhaustively testing health condition of a person taking a test over a lot of items without exception, and performing it at low cost.例文帳に追加

在宅での健康管理、健康診断の支援を容易ならしめ、テストを受ける者の健康状態を網羅的に多数の項目にわたってもれなくテストし、しかもこれを低廉な費用で行うことのできる健康管理支援システム及び健康管理支援方法を提供する。 - 特許庁

The electrical tester (1) of the invention for testing the electrical test piece (2) preferably a wafer (3) has a contact region (12) in which the electrical test piece (2) directly contacts the contact apparatus (5), and is provided with an electrical connection mechanism (7) associated with a support mechanism (8).例文帳に追加

本発明は、電気試験片(2)と接触可能な接触装置(5)を直接接触させるための接触領域(12)を有しかつ支持機構(8)が関連付けられている電気接続機構(7)を備えた、電気試験片(2)、好ましくはウェハ(3)を試験するための電気試験装置(1)に関する。 - 特許庁

Local magnetic characteristics of a core in the rotary machine are calculated based on material property and design specification of a predetermined core, and the local magnetic characteristics of the core in a testing rotary machine manufactured by the core material and design specification as the material characteristics are measured.例文帳に追加

予め決めた鉄心の材料特性及び設計仕様に基づき回転機における鉄心部の局所的な磁気特性を計算すると共に、上記材料特性とされる鉄心材料及び設計仕様にて作製した試験回転機における鉄心部の局所的な磁気特性を測定する。 - 特許庁

The composite deterioration testing apparatus 1 for performing the deterioration test of a test target is equipped with an expansion and contraction control unit 3 for imparting expansion and contraction force to the test target 2 and a weather factor control unit for imparting the deterioration factor caused by the weather to the test target 2.例文帳に追加

試験対象物の劣化試験を行う複合劣化試験装置において、試験対象物に伸縮力を付与する伸縮制御装置と、試験対象物に天候に起因する劣化因子を付与する天候因子制御装置と、を備えている、複合劣化試験装置 - 特許庁