「testing, testing」に関連した英語例文の一覧と使い方(273ページ目) - Weblio英語例文検索

The testing machine comprises a support section 1 for fixing and supporting at least one end of a specimen, and a vibration generator 5 that is fixed only to the specimen 2 and vibrates the specimen 2 in the direction orthogonal to a predetermined axis based on inertia force generated by rotation about the predetermined axis.例文帳に追加

試験体の少なくとも一端を固定支持する支持部１と、試験体２のみに固定され、所定軸回りに回転することにより発生する慣性力に基づき試験体２を所定軸に直交する方向に振動させる振動発生器５とを備える。 - 特許庁

To provide a redundancy relieving circuit and a method therefor, and semiconductor device in which the test time for testing a defective memory cell is shortened, the test device is made inexpensive by dispensing with fail memories having extensive capacity accumulating defective bits, and the device can easily cope with the increase and decrease of the number of IO.例文帳に追加

不良メモリセルをテストするテスト時間を短縮し、不良ビットを蓄積する膨大な容量を有するフェイルメモリを不要としてテスト装置を安価とし、ＩＯ数の増減に対しても容易に対応することができる冗長救済回路、方法および半導体装置を提供する。 - 特許庁

The monitor/method has: a storage part for storing reflected light intensities from the plurality of terminal devices to light signals emitted from the terminal devices under the condition where the trouble is not generated in the optical path; and a control part for emitting the light signal applied with the first condition from the testing device.例文帳に追加

光線路に障害が発生していない状態において試験装置が出射する光信号に対する複数の終端装置からの反射光強度を記憶する記憶部と、第１の条件を適用した光信号を試験装置から出射する制御部を有する。 - 特許庁

A heat generation speed by internal short-circuiting and/or thermal decomposition is converted into a function, based on a test result using a device for testing, a coefficient value contributing to a heat transfer speed is specified, and a heat balance expression is solved by using the heat generation speed converted into a function and the coefficient value, thus obtaining the temperature distribution.例文帳に追加

内部短絡及び／又は熱分解による発熱速度を試験用デバイスを用いた試験結果に基づいて関数化し、熱移動速度に寄与する係数値を特定し、関数化した発熱速度及び係数値を用いて熱収支式を解いて温度分布を求める。 - 特許庁

Stress testing should include a rigorous and up to date assessment of their exposure to potential losses and of their future viability, including their capacity to continue lending and absorb potential losses in order to avoid international distortions. 例文帳に追加

ストレステストは潜在的な損失へのエクスポージャーと将来の存続可能性に関する厳格かつ最新の評価を含むべきである。その際、国際的な歪みを回避するため、貸出の継続能力や潜在的な損失を吸収する能力に対する評価も含むべきである。 - 財務省

The functions or characteristics of the claimed inventions are found to be convertible to other functions or characteristics specified by other definitions or processes for testing or measuring, and it is found that the products of the cited inventions are considered to be grounds to deny the inventive step of the claimed inventions from the results of the conversion. 例文帳に追加

請求項に係る発明の機能・特性等が他の定義又は試験・測定方法によるものに換算可能であって、その換算結果からみて請求項に係る発明の進歩性否定の根拠になると認められる引用発明の物が発見された場合 - 特許庁

A third party who privately or in an academic environment and without gainful intent, conducts scientific or technological research activities for purely experimental, testing or teaching purposes, and to that end manufactures or uses a product or applies a process identical to the one patented. 例文帳に追加

第三者であって，私的又は学術的環境において営利を目的とせず，純粋に実験的，試験的又は教育目的で，科学技術研究活動を行い，その目的のために，特許を受けたものと同一の製品を製造し，使用し，又は同一の方法を利用する者。 - 特許庁

To provide a nucleic acid probe collectively detecting bacterial strains of the same species irrespective of the strains, differentially detecting the bacterial strains from other bacterial species and immobilized on a carrier for the purpose of classifying pathogenic bacteria by the species and to provide a method for testing a DNA using the same.例文帳に追加

病原性細菌の種による分類を目的に、株を問わず同じ種の菌であれば一括検出が可能で、かつ、他の菌種の細菌は区別して検出できるような、担体に固定された核酸プローブ及びこれを用いたＤＮＡ検査方法を提供する。 - 特許庁

To overcome the problem such that, related to a functional test for an A/D converter in a semiconductor integrated circuit, testing of a fast A/D converter at an actual operation speed is difficult because wiring delay in the semiconductor integrated circuit from the output of A/D converter to the input of a tester affects much.例文帳に追加

半導体集積回路内のＡ／Ｄ変換器の機能テストでは、Ａ／Ｄ変換の出力からテスタ入力までの半導体集積回路内の配線遅延が大きく影響を与えるため、高速Ａ／Ｄ変換器の実動作スピードでのテストが困難である。 - 特許庁

A material testing machine includes a pair of columns 2 erected on a base 1, the crosshead 4 vertically movable along the columns 2, an elevation mechanism 11 to 13 for vertically moving the crosshead 4, a load actuator 8 for loading a test piece via the crosshead 4, and gas springs 3 for supporting the crosshead 4.例文帳に追加

基台１上に立設された一対の支柱２と、支柱２に沿って昇降可能なクロスヘッド４と、クロスヘッド４を昇降する昇降機構１１〜１３と、クロスヘッド４を介して供試体を負荷する負荷アクチュエータ８と、クロスヘッド４を支持するガススプリング３とを備える。 - 特許庁

When testing a memory 200 embedded in an information processing system 1, a memory control device 100 sets a second operation condition stricter than a first operation condition for an operating operation, and tests the memory on the second operation condition.例文帳に追加

メモリ制御装置１００は、情報処理システム１に組み込まれたメモリ２００の試験を行う場合に、運用動作時の動作条件である第一動作条件よりも厳しい動作条件である第二動作条件に設定を切り替え、切り替えられた第二動作条件でメモリを試験する。 - 特許庁

To enable a required material testing to be carried out even by a person other than an expert engineer, without the need for understanding the standards, and to reduce the possibility of incorrect execution in the test as reduced as possible, when the material testings are carried out pursunat to various standards.例文帳に追加

各種規格に則った材料試験を行うに当たり、その規格を理解することなく、専門技術者でなくとも所要の試験を行うことができ、また、間違った試験を行う可能性を可及的に少なくすることのできる材料試験機を提供する。 - 特許庁

In this immunity testing device, a horn antenna for radiating a test radio wave toward a test apparatus is equipped with a pyramid horn 22 for 1GHz; and a coaxial waveguide converter 24 mounted directly on the pyramid horn 22, capable of feeding a signal in the 1GHz band.例文帳に追加

妨害排除能力試験装置において、供試機器に向けて試験用電波を放射するホーンアンテナは、１ＧＨｚ用の角錐ホーン２２と、この角錐ホーン２２に直接装着されて１ＧＨｚ帯の信号を給電可能な同軸導波管変換器２４を備える。 - 特許庁

The obtained fiber fabric has ≥2.2 bacteriostatic activity value measured by a method for evaluating and testing antibacterial properties regulated by JIS L1092, and ≤1.5% shrinkage at home laundry regulated by JIS L0217.例文帳に追加

及び得られた繊維布帛のＪＩＳ Ｌ１０９２に規定する抗菌性評価試験方法による静菌活性値が２．２以上であり、かつＪＩＳ Ｌ０２１７に規定する家庭洗濯における収縮率が１．５％以下である上記の獣毛蛋白質系繊維の防縮抗菌防臭加工方法。 - 特許庁

To facilitate the construction of a scan pass to a resistor or memory on an integrated circuit such as FPGA or the like on a user side in a recording medium with scan pass constructing program recorded therein so as to enhance the testing efficiency of a user logic circuit constituted on the integrated circuit and shorten the development period thereof.例文帳に追加

スキャン・パス構築用プログラムを記録した記録媒体において、ユーザ側でＦＰＧＡ等の集積回路上にレジスタやメモリに対するスキャン・パスを容易に構築することができるようにして、集積回路上に構成したユーザ・ロジック回路のテストの効率化と開発期間の短期化を図る。 - 特許庁

To provide a floor sound insulating performance testing device capable of accurately predicting the floor impulsive sound insulating performance of a dry double floor in a short time using a floor board and a support leg used for the dry double floor without actually constructing the dry double floor.例文帳に追加

乾式二重床に使される床板や支持脚を用い、実際に乾式二重床を施工することなく、乾式二重床の床衝撃音遮音性能を短時間でかつ正確に予測することのできる床遮音性能の試験装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

The method includes steps of: thereafter heating or cooling the probe card to the set temperature; measuring a needle point position of the contact when the probe card is put under the set temperature; determining whether the measured needle point position is within a reference range; and determining a temperature for using the probe card in testing an object to be tested.例文帳に追加

その後プローブカードを設定温度に加熱又は冷却し、プローブカードが設定温度におかれているときの接触子の針先位置を測定し、測定した針先位置が基準範囲内にあるか否かを判定して、プローブカードを被検査体の試験に使用するときの温度を決定する。 - 特許庁

This testing method is carried out for a membrane tank 1, having a tank 3 and a cold-insulation layer 4 isolated from each other by a membrane 5, and comprises the filling of the tank 4 with a pressurized tracer gas, the sampling of a gas filling the layer 4, and the measurement of the concentration of the tracer gas in this gas.例文帳に追加

タンク３と保冷層４とがメンブレン５で隔離されているメンブレンタンク１で実施され、タンク４にトレーサーガスを加圧して充填すること、保冷層４に充填されている気体をサンプリングすること、気体のトレーサーガスの濃度を測定することとを具備する。 - 特許庁

Nondestructively testing includes a step (108) of generating an eddy current in the coated article; a step (110) of measuring the eddy current in the coated article; and a step (112) of evaluating a near-bond section region of the coated article located adjacent to the bond section using the measured eddy current.例文帳に追加

非破壊検査する段階は、被覆物品内に渦電流を発生させる段階（１０８）と、被覆物品内の渦電流を測定する段階（１１０）と、測定渦電流を使用してボンド部に隣接して位置する被覆物品のボンド部近傍領域を評価する段階（１１２）とを含む。 - 特許庁

In the package of a semiconductor device, in which the external wiring terminals 2 of the semiconductor chip are arranged into a lattice form, terminals 7 which do not form solder bump for testing are arranged between the external wiring terminals 2 arranged in a lattice form, and all the conventional terminals forming a solder bump are used for actual operation.例文帳に追加

半導体チップの外部配線端子２を格子状に配列した半導体装置のパッケージにおいて、格子状に配列した外部配線端子２の間に半田バンプを形成しない検査用の端子７を配列し、半田バンプを形成する従来の端子はすべて実動作用に使用する。 - 特許庁

The collision testing device of a claim 1 includes a jig frame on which a cab is placed, a truck on which the jig frame is placed, a projection barrier arranged in front of the cab, and a collision means which moves the truck so that the cab collides with the projection barrier.例文帳に追加

請求項１に係る衝突試験装置は、キャブを載置する治具フレームと、前記治具フレームを載置する台車と、前記キャブの前方に配置される突起バリアと、前記台車を移動して前記突起バリアに前記キャブを衝突させる衝突手段とを有することを特徴とする。 - 特許庁

To provide a method capable of quantitatively measuring concentration of an object to be analyzed in a sample which is difficult to be quantified by using conventional methods, and a kit and a device capable of being used for the method, and to provide a method which controls quality by testing the performances of the kit and the device.例文帳に追加

従来定量化が困難であった試料中の被分析物濃度を定量的に測定する方法及び前記方法に使用し得るキット及び装置を提供し、また、前記キット及び装置の性能を検査することにより品質を管理する方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

A sensitivity testing device (1000) includes a body (1100) enabling ultrasonic propagation, a first gel layer (1010) provided on a first plane (1002) of the body and a second gel layer (1020) provided on a second plane (1004), and the first gel layer is protected by a protective sheet (1030).例文帳に追加

感度試験装置（１０００）は、超音波伝播可能な本体（１１００）と、本体の第１平面（１００２）に設けられた第１ゲル層（１０１０）と、第２平面（１００４）に設けられた第２ゲル層（１０２０）とを備え、第１ゲル層は、保護シート（１０３０）によって保護されている。 - 特許庁

In a fine adjustment process after performing a wafer testing process, either the fuse T13 or the fuse T14 is disconnected, the output terminal 3 is connected to the node N1 or N2, and either or both of the fuses T11, T12 are disconnected to carry out fine adjustment of the voltage of the output terminal 3.例文帳に追加

ウエハテスト工程を行なった後、微調整工程においてヒューズＴ１３，Ｔ１４のいずれか一方を切断して出力端子３を端子Ｎ１又はＮ２に接続し、さらにヒューズＴ１１，Ｔ１２のいずれか一方又は両方を切断して出力端子３の電圧を微調整する。 - 特許庁

That is, the collision testing device 1 enables the vehicle structural members to collide against the dummy DM not only by simply moving the vehicle structural members (for example as shown in Figure 10) but also by moving the vehicle structural members in a state that the vehicle structural member at different position has the different driving speed.例文帳に追加

すなわち、衝突試験装置１は、単に車両構造部材を移動させてダミーに衝突させる（例えば、図１０参照）のみならず、位置によって異なる速度で移動させた状態にて車両構造部材をダミーＤＭに衝突させることが可能となる。 - 特許庁

To provide a piezoelectric transformer drive circuit for protecting a piezoelectric transformer from a short-circuitted state caused between a load and ground potential for some reason or a state of low load impedance during time-division light control and preventing incorrect judgement even if load impedance is high at the time of start, load opening, and high load impedance while limiting current testing specification is satisfied.例文帳に追加

時分割調光時に負荷が何らか理由でグランド電位と短絡された状態や負荷インピーダンスが低い状態に圧電トランスを保護し、限流試験規格を満足し、起動時、負荷オープン時、負荷インピーダンスが高い場合に誤判定をしない圧電トランス駆動回路を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit and its test method for preventing the deterioration of reliability due to any pad crack, by changing a test method for testing a wafer and the layers of pads to be connected at the time of test and the layers of pads to be used at the time of completing all processes in the middle of a metal diffusion process.例文帳に追加

メタル拡散工程の途中段階で、ウェハを試験するテスト手法及びテスト時に接続するパッドと全ての工程完了時に使用するパッドの層を変更し、パッドクラックによる信頼性劣化を防ぐ半導体集積回路およびそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

To provide a test method not causing a security hole for a random number generating circuit in the case of testing/verifying the circuit with a constant initial value in a specific mode where the circuit using an initial value has not a constant value at application of power and after reset for the encryption and authentication processing.例文帳に追加

暗号、認証処理を行うため、電源投入やリセット後の初期値が一定でない値を使った乱数発生の回路において、特別なモードを設けて、初期値を一定にして回路のテスト/検証を行う際に、セキュリティホールにならないようなテスト方法を実現する。 - 特許庁

To provide a simple assay method capable of simply and rapidly specifying a substance to be detected showing positive reaction by testing a plurality of substances to be detected by one assay device in an examination method of a specimen using a flow-through type membrane enzyme immunoassay method and having good user's convenience and high reliability.例文帳に追加

フロースルー式メンブランエンザイムイムノアッセイ法を用いた検体の検査方法において、一つのアッセイ装置で複数の被検出物質種を同時に試験して陽性反応を示す被検出物質を簡便・迅速に特定でき、使い勝手のよい信頼性の高いアッセイ方法の提供。 - 特許庁

A special-purpose water sprinkler for spraying water to a vehicle body of an automobile is provided to a car washing machine body 1 so as to execute a water-spray testing action for spraying water from a water sprinkler to test leakage of water of an automobile separately from car washing operation with a car washing processing unit.例文帳に追加

洗車機本体１に自動車の車体に向けて水を吹き付ける専用の散水装置を備え、洗車処理装置による洗車動作とは別に、散水装置から散水して自動車の水漏れ検査を行う散水検査動作を実行可能にしたものである。 - 特許庁

In a temperature range lower than a combustion temperature of an actual machine, CO_2 having a change in a ratio of specific heat proximate to a change in a ratio of specific heat of steam as working fluid of a rocket motor is used as a testing gas, and is passed to a nozzle model 1 at a temperature lower than the combustion temperature of the actual machine.例文帳に追加

実機の燃焼温度よりも低い温度範囲において、ロケットモータの作動流体である水蒸気の比熱比変化と近似する比熱比変化を持つＣＯ_２を試験用気体として使用し、実機の燃焼温度よりも低い温度でノズルモデル１に通過させる。 - 特許庁

To provide an environmental testing apparatus in which, even if adhesion between a dew condensation sensor and an object to be tested is slightly deteriorated, a change of a dew condensation amount on the surface of a tested object is hardly caused before and after the deterioration of adhesion, that is, the dew condensation state of the surface of the tested object can be stabilized.例文帳に追加

結露量センサと被試験物との間の密着性がある程度悪化しても、密着性悪化前と悪化後とで被試験物表面の結露量の変化が生じにくい、すなわち被試験物表面の結露状態を安定させることができる環境試験装置を提供する。 - 特許庁

To provide a running testing apparatus for a vehicle to continuously perform running test with fixed accuracy, by surely holding the tester at a lever part of a shape having a curved surface, a spherical surface, etc., while preventing an operating means from loosening with time, being displaced, being disconnected, etc.例文帳に追加

曲面や球面等を有する形状のレバー部に対して、操作手段の経時的な緩み、位置ずれ及び連結のはずれ等を防止して確実に保持し、一定精度で継続して走行試験を行うことができる車両用走行試験装置を提供する。 - 特許庁

In a method for dividing the semiconductor integrated circuit device (corresponding to S1 and S2) into a plurality of groups and testing them simultaneously, in at least one group, the semiconductor integrated circuit device is made to operate by a clock signal (corresponding to CLK1 and CLK2) of a frequency that differs from those of the other groups.例文帳に追加

半導体集積回路装置（Ｓ１とＳ２に対応）を複数のグループに分けて同時に試験する方法であって、少なくとも１つのグループにおいて、他のグループとは異なる周波数のクロック信号（ＣＬＫ１とＣＬＫ２に対応）で半導体集積回路装置を動作させる。 - 特許庁

To provide an operation testing device for a microprocessor accurately judging whether or not the prescribed processing of a test object can be operated within unit time during the operation of a real time processor for the real time processor performing the prescribed processing by a microprogram within the unit time by using the microprocessor.例文帳に追加

マイクロプロセッサを用いて単位時間内にマイクロプログラムによる所定処理を行なう実時間処理装置に対し、実時間処理装置の稼動中に試験対象の所定処理が単位時間内で動作可能かどうか正確に判断するマイクロプロセッサの動作試験装置を提供すること。 - 特許庁

The electronic component mounting apparatus (10) images a reference mark (16) arranged on an electronic component mounting apparatus body for recognizing a component mounting position (31) by a first imaging means (40), and images an electronic component (20) for testing, absorbed by a nozzle (12) by a second imaging means (50).例文帳に追加

本発明にかかる電子部品実装装置（１０）が、部品搭載位置（３１）を認識するため電子部品実装装置本体に配設される基準マーク（１６）を第１撮像手段（４０）により撮像し、ノズル（１２）が吸着したテスト用電子部品（２０）を第２撮像手段（５０）により撮像する。 - 特許庁

When a hold switch is in an on-state, a play key 11 is turned on, a power source Vdd of a microcomputer is turned on by linking, after an initial setting period elapses, as it is confirmed that the play key is turned off by testing the play key 11, after the prescribed period Tw, a control output 1A of the microcomputer is about to be started.例文帳に追加

ホールドスイッチがオンである場合、プレイキー１１がオンになると、連動してマイコン電源Ｖｄｄがオンし、初期設定期間経過後にはプレイキー検査をすると、すでにプレイキー１１はオフとなっているので、所定期間Ｔｗ待って、マイコン制御出力１Ａを立ち上げようとする。 - 特許庁

To provide a fiber/urethane resin laminate which has such excellent durability as to exert sufficient flame-retardancy without halogen type flame retardants and retain the flame-retardancy after washing, accelerated testing, etc., and is good in appearance and touch and a manufacturing method of the laminate.例文帳に追加

ハロゲン系防炎剤を含まなくても充分な防炎性を有し、しかも、洗たく処理後、促進試験後などにおいてもその防炎性が維持される優れた耐久性を有し、かつ外観・触感も良好な繊維・ウレタン樹脂積層物およびその製造方法を提供する。 - 特許庁

In a system, where an ATM device 1 is connected to an STM device 2 via an STM-ATM conversion device 3 for transferring information, at least a test means 30 for testing inside a CLAD part 20 is provided in the STM-ATM conversion device 3.例文帳に追加

ＡＴＭ装置１とＳＴＭ装置２とをＳＴＭ−ＡＴＭ変換装置３を介して接続し、情報の転送を行なうシステムにおいて、前記ＳＴＭ−ＡＴＭ変換装置３内に少なくともＣＬＡＤ部２０内の試験を行なう試験手段３０を設けて構成する。 - 特許庁

An apparatus 100 for testing the semiconductor makes blank test signals transmit mutually through transmission path T1 to be output simultaneously from drivers DR1, DR2, and measures output timings t1, t2 when the signals are output from the drivers DR1, DR2, and attainment timings t4, t3 when the signals reach the drivers DR1, DR2.例文帳に追加

半導体試験装置１００は、ドライバＤＲ１，ＤＲ２から試験信号を互いに伝送経路Ｔ１を伝送させて同時に出力させ、ドライバＤＲ１，ＤＲ２から出力した出力タイミングｔ１，ｔ２と、ドライバＤＲ１，ＤＲ２に到達した到達タイミングｔ４，ｔ３を測定する。 - 特許庁

The position of the perforation projected image of the film with respect to a pair of focusing screens at the time of obtaining proper perspective is measured by a testing device capable of adjusting the perspective by projecting the picture of the film on a pair of left and right focusing screens and adjusting an interval between the left and the right projected pictures.例文帳に追加

左右一対の焦点板にフィルムの画面を投影し、左右の投影画面の間隔を調節して遠近感を調節できる検定装置により、適切な遠近感となったときの焦点板に対するフィルムのパーフォレーション投影像の位置を測定する。 - 特許庁

The material testing machine photographs the fracture surface 100a of a broken test piece 100, calculates the cross-section area of the fracture surface from the image by using an image processing method, and computes the contraction value of the test piece, based on both the cross-sectional area of the fracture surface and a cross-sectional area of the test piece before applied under loads.例文帳に追加

材料試験機は、破断させた試験片１００の破断面１００ａを撮像し、その画像から画像処理によって破断面の断面積を算出し、破断面の断面積と負荷前の試験片の断面積とに基づいて試験片の絞り値を算出する。 - 特許庁

In the method for testing the surface state of the measuring object, a nib-shaped chip 11 formed of a circular cone or pyramid disposed at the tip of a hammer 12 is collided with the measuring object 16, and the surface state of the measuring object 16 is evaluated based on the repulsion constant of the hammer 12 after the collision.例文帳に追加

測定物の表面状態試験方法は、ハンマ１２の先端部に設けられた円錐又は角錐で構成される尖端形状のチップ１１を、測定物１６に衝突させ、衝突後のハンマ１２の反発定数によって、測定物１６の表面状況を評価する。 - 特許庁

The lead wire 1 for measuring and testing circuit breakers is provided with a cable part 2; a first connector 3 for connecting the cable part 2 to a switch gear 10; a second connector 4 for connecting the cable part 2 to a circuit breaker 20; and a connection means for connecting the cable part 2 to a circuit breaker measuring device 40.例文帳に追加

遮断器測定試験リード線１は、ケーブル部２と、ケーブル部２をスイッチギヤ１０に接続するための第１のコネクタ３と、ケーブル部２を遮断器２０に接続するための第２のコネクタ４と、ケーブル部２を遮断器測定器４０に接続するための接続手段とを具備する。 - 特許庁

In a drive circuit IC3 of an FET3 which becomes an output switch for testing, a voltage is detected by means of a Zener diode ZD and a resistor R1, and when insufficient voltage is detected from the voltage detection by means of a comparison circuit COM, the FET3 is forcibly turned off by dropping the voltage across the gate and source of the FET3 to zero volt.例文帳に追加

試験用出力スイッチとなるＦＥＴ３のドライブ回路ＩＣ３において、ツェナーダイオードＺＤと抵抗Ｒ_1で電圧を検出し、この電圧検出で比較回路ＣＯＭで電圧不足を検出したときにＦＥＴ３のゲートソース間を０ボルトにしてその強制オフを行う。 - 特許庁