「Limit Test」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

An equalizer 96 includes a gain emphasis part 110 which increases a gain in a specific frequency band, and a gain upper limit setting part 112 which determines an upper limit value of the gain according to a distortion amount contained in a reproduced waveform 104 of the longest pattern 30b recorded in a test recording area 42 in the reproduction period of the test recording area.例文帳に追加

イコライザ９６は、特定周波数帯域のゲインを上げるゲイン強調部１１０と、記録テスト領域４２の再生期間において、該記録テスト領域４２に記録されている最長パターン３０ｂの再生波形１０４に含まれる歪量に応じて、ゲインの上限値を決定するゲイン上限設定部１１２とを有する。 - 特許庁

This system provides a personal computer programmed to be operated in a test period to a consumer who wants to use with a time limit, and this system is provided with a means for discounting by returning some rate of the shopping sum to the consumer when the consumer does the shopping through the Internet during the test period.例文帳に追加

試用期間のみ動作するようプログラムされたＰＣを希望消費者に期限付で提供し、その試用期間の間、インターネットショッピングをすると、そのショッピング額の何割かを消費者に還元してディスカウントする手段を設ける。 - 特許庁

A transmission quality measuring device 20 extracts voice data from the payload of a test packet when receives the test packet from a transmission quality measuring device 10, and queues the extracted voice data up to a predetermined limit volume.例文帳に追加

伝送品質測定装置２０は、伝送品質測定装置１０から試験パケットを受信すると、試験パケットのペイロードから音声データを抽出するとともに、抽出した音声データを予め設定された所定の制限量までキューイングする。 - 特許庁

To provide a temperature elevation apparatus which is reduced in size and low-priced, facilitates temperature control and in addition, can be applied to a temperature elevation test at a high temperature exceeding a temperature limit of a semiconductor device comprised of silicon; and a temperature elevation test method employing the temperature elevation apparatus.例文帳に追加

小型且つ安価で温度制御が容易であり、加えて、シリコンからなる半導体デバイスの温度限界を越える高温での昇温試験に適用することが可能な昇温装置、及び該昇温装置を用いた昇温試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide an on-site vane test device mounted with an electrically driven gear which enables a rotation force to be applied from a place adjacent to and above soil under test in the ground without limit of a test depth by mounting an electrically driven gear and a torque measurement section working cooperatively each other inside a shoe to protect a vane.例文帳に追加

本発明は、電動ギア搭載型現場ベーン試験装置に関するものであって、ベーン保護用シューの内部に電動ギアとトルク測定部を連係搭載させることによって、試験深度の制限無しで試験対象深度の隣接上部で回転力を加えられるようになる電動ギア搭載型現場ベーン試験装置を提供するためのものである。 - 特許庁

The three events are an event (1) that the bit error rate is smaller than the required bit error rate limit, an event (2) that the bit error rate is the required bit error rate or more, and an event (3) that the longest test time has elapsed.例文帳に追加

３つの事象とは、１）ビット誤り率が所望のビット誤り率限界よりも小さい、２）ビット誤り率が所望のビット誤り率以上である、３）最長テスト時間を経過した、である。 - 特許庁

To solve the problem that any labor is required for communication between a job site and a sequencer side, and that any communication miss is liable to be caused at the time of operating the simulated test of a delivery valve by operating a tumbler switch instead of a limit switch.例文帳に追加

吐出弁の模擬試験に、そのリミットスイッチに代わるタンブラスイッチを操作して模擬試験を行うには、現場とシーケンサ側との連絡に手間を必要とするし、連絡ミスを起こしやすい。 - 特許庁

In this method for measuring a test substance by adding the test substance and a reactive substance for generating an insoluble high molecular complex by reacting with the test substance in a liquid phase, an adding substance having reactivity equal to the test substance is mixed with the reactive substance in the liquid phase, and is reacted in a jacking-up state covering a detecting limit with every so-called measuring apparatus.例文帳に追加

液相中において被験物質とその被験物質に反応して不溶性の高分子複合体を生じる反応性物質とを添加することにより被験物質を測定する方法であって、液相中には、反応性物質に対して被験物質と同等の反応性を有する添加物質を混合させておき、いわゆる測定器毎の検出限界をカバーするゲタを履かせた状態として反応させることを特徴とする。 - 特許庁

If the blind via hole 4 is formed within the allowable limit (shown in Fig. 1 (c)), since above conductive state is not realized, the presence of the conductive state can be checked by the wiring test to inspect the existence of the misregistration of the blind via hole 4, which exceeds the allowable limit.例文帳に追加

ブラインドビアホール４が許容限界内の位置ずれをもって形成された場合（図１の（ｃ）に示した場合）には上記の導通状態は実現しないから、上記の導通状態の有無を布線検査によって検査することによって、ブラインドビアホール４の許容限界を超える位置ずれの有無を検査することができる。 - 特許庁

In this semiconductor testing device 100, each limit value is set, corresponding to various states of cards to which each power source section 11, 12, etc., is connected beforehand before a test, and set in each memory 11b, 12b, etc..例文帳に追加

半導体試験装置１００では、試験前に予め電源部１１、１２，・・・が接続されたカードでの様々な状況に対応したリミット値を設定してメモリ１１ｂ、１２ｂ，・・・のそれぞれ毎に設定しておく。 - 特許庁

To solve the problem that the number of flip flops included per scan chain from the limit of the number of terminals is increased when a circuit scale is large and a test time increases in a semiconductor integrated circuit designed in a shift scan system.例文帳に追加

シフトスキャン方式で設計された半導体集積回路において、回路規模が大きくなると端子数の制限からスキャンチェーン１本あたりに含まれるフリップフロップの数が増加し、テスト時間が増大する。 - 特許庁

Therefore, as compared with a conventional case in which a separate limit switch is independently provided for putting OFF the test circuit, switching members can be decreased, so that downsizing and thinning of the circuit breaker 1 can be achieved.例文帳に追加

したがって、テスト回路をＯＦＦするためのリミットスイッチを別途独立に設けていた従来の構成と比較すると、スイッチ部材を削減することができるため、回路遮断器１の小型化・薄型化を図ることができる。 - 特許庁

To limit detailed design conditions more and to shorten a development period by avoiding the repetition of designing and an actual machine test by roughly designing hardware and software and simulating them before they are designed in detail.例文帳に追加

ハードウエア及びソフトウエアを詳細設計する前にこれらを概略設計しそのシミュレーションを行うことにより、詳細設計条件をより限定して、設計と実試験の繰り返しを避け開発期間を短縮する。 - 特許庁

To provide an evaluation test method for obtaining the flange shape design guideline of actual parts for automobile having a hat-shaped section or the result of stretch flange formability which is directly utilized for establishing the design limit.例文帳に追加

ハット型断面を有する自動車用実部品の伸びフランジ形状設計指針もしくは設計限界を策定するのに直接利用可能な伸びフランジ性評価結果を得るための評価試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide the pattern generating device and method capable of easily generating a pattern such as an address complement pattern without a limit in a maximum value of a line address and a row address, and to provide a semiconductor integrated circuit test device.例文帳に追加

行アドレス及び列アドレスの最大値に制限無く、容易にアドレスコンプリメントパターン等のパターンを発生することができるパターン発生装置及び方法並びに半導体集積回路試験装置を提供する。 - 特許庁

After the adhesive material 3 is bonded to a block 2 which is obtained by molding the ceramic member into a rectangular parallelepiped shape, the adhesive material 3 is molded into a lens-like shape being axial symmetry and a test piece 1 is put in a thermostatic tank to perform a temperature test to measure the limit temperature Tc from the established distribution of the number of destructions thereof.例文帳に追加

セラミックス部材を直方体に成形したブロック２に対し、接着材３を接着した後、接着材３を軸対称であるレンズ状の形状に成形して、試験片１を恒温槽に入れて温度試験を行うことにより、その破壊個数の確立分布から限界温度Ｔcを測定する。 - 特許庁

To provide method and program for predicting software reliability, a computer readable recording medium recording the predicting program, and a software reliability predicting device allowing accurate planning of a test process by estimating an upper limit of an estimated value of the number of potential bugs existing in software just after starting the test and thus estimating the test period somewhat long.例文帳に追加

試験開始後間もない時点で、ソフトウェア内に存在する潜在バグ数の推定値の上限を見積もり、それに伴い試験期間を多少長めに見積もることで、試験工程の正確な計画を立てることを可能にするソフトウェア信頼性予測方法、ソフトウェア信頼性予測プログラム及び当該予測プログラムを記録したコンピュータ読み取り可能な記録媒体、並びにソフトウェア信頼性予測装置を提供する。 - 特許庁

At the user side terminal 2, the question displayed on the monitor screen of a display part 25 is answered, a test is forcibly ended when the limit time of the entire question collection elapses and the answers are transmitted altogether to the center side terminal 1.例文帳に追加

ユーザ側端末２は、表示部２５のモニタ画面に表示された設問に回答し、設問集全体の制限時間が経過した時にテストを強制的に終了して、回答を一括してセンター側端末１に送信する。 - 特許庁

To provide a method of inspecting an electronic apparatus by which a functional test of a plurality of heater elements under a high temperature environment can be carried out in the vicinity of the upper limit allowable operating temperature of the heater element, and an optimum temperature load can be given to each heater element.例文帳に追加

複数の発熱素子の高温環境下での機能試験がその発熱素子の上限許容動作温度付近で実行でき、各発熱素子に最適な温度負荷を与えることができる電子装置の検査方法の提供。 - 特許庁

To actualize the verifying device which eliminates the need to prepare a virtual response value file from the start of a virtual test by setting as defaults virtual response value data having a value between the upper-limit and lower-limit value of response values.例文帳に追加

仮想試験の最初から仮想応答値ファイルを用意する必要がなく、簡単な操作により任意のテスト項目をフェイルの仮想応答値に設定でき、各テスト項目の仮想応答値データを容易に把握でき、実機に存在しないモジュールに対して仮想試験でアクセスを行うことを防止できるＩＣテスタ用プログラムの検証装置を実現する。 - 特許庁

However, even if the measured value was lower than the targeted value but exceeded the acceptable exposure concentration limit of 3×10－４mg/m3 that is a limit value calculated from the outcome of the test in long-term carcinogenicity studies in animals in this country, it is recommendable to take further actions as required continually to improve work environment and reduce the concentration of indium in air as much as possible.例文帳に追加

なお、目標濃度以下となった作業場についても、我が国における動物を用いた長期がん原性試験結果により算定したばく露が許容される濃度3×10－４mg/m3を超える場合にあっては、作業環境を改善するため必要な措置を継続的に講じ、できる限り空気中のインジウムの濃度を低減させることが望ましい。 - 厚生労働省

In the power level adjusting device for adjusting an output power level of a DUT 10 (device under test) whose power can be adjusted from the outside, a power source circuit 11 supplies power to the DUT 10 via a current limit circuit 12, and the current limit circuit 12 limits applies limitation so that a current exceeding a predetermined current value may not be applied to the DUT 10.例文帳に追加

外部からパワー調整可能なＤＵＴ１０の出力パワーレベルを調整するパワーレベル調整装置において、電源回路１１からＤＵＴ１０に対して電流制限回路１２を介して電源を供給すると共に電流制限回路１２によってＤＵＴ１０に所定電流値を超える電流が流れないように制限する。 - 特許庁

A test script is generated from the log data, and a computer storing the test script is connected mutually to a specific storage apparatus; then the rising coefficient, based on the temporal change of an erasure count value is computed, and the usage limit prediction time of the specific storage apparatus is computed from the rise coefficient and the maximum value of erasure count displayed on the specific storage apparatus.例文帳に追加

ログデータからテストスクリプトを生成し、このテストスクリプトが記憶されたコンピュータと特定のストレージ機器とを互いに接続して、イレースカウント値の時間的推移に基づく上昇係数を演算するとともに、この上昇係数と特定のストレージ機器に表示されたイレースカウントの最大値とから、該特定のストレージ機器の使用限界予想時間を演算する。 - 特許庁

If the supplied energy or the charge amount using a specific electrode subset 142 as indicated by monitoring test pulse amplitudes suitably compares with a limit value, that specific subset is selected for applying the stimulus signal.例文帳に追加

試験パルス振幅を監視することによって示された、特定の電極サブセット１４２を使用して供給されたエネルギーまたは電荷量が、限度値と適切に比較される場合、その特定のサブセットが、刺激信号を印加するために選択される。 - 特許庁

A testing of yarns to test the accuracy of the description of count or length shall be made, in the first instance, up to the limit of one bundle in every one hundred bales or fractions of one hundred bales in a consignment.例文帳に追加

選択すべき見本の数番手又は長さについての表示の正確性を検査するための糸の試験については，第1試験段階において，託送品の各100梱包又は100梱包未満当たり1束を限度として，これを行わなければならない。 - 特許庁

Then, when the space value turns into the value which is not originally present, 15T, for example, the control part 24 decides that the test data are incorrectly recorded, and substitutes the upper limit for the jitter value in the recording power to prevent the incorrect determination of the optimum recording power.例文帳に追加

そこで、制御部２４は、スペース値が本来存在しない値、例えば１５Ｔとなった場合には、テストデータが誤記録されたものと判定し、当該記録パワーーにおけるジッタ値を上限値に置き換えて最適記録パワーの誤決定を防止する。 - 特許庁

When generating the limit cycle, a low-pass filter is inserted before the relay element to deter influence of disturbance, a limit cycle test is performed to a plurality of low-pass filters having different characteristics, and the dynamic characteristics of the control target are estimated by use of a fundamental wave component of the input/output signal of the controlled object at that time to allow the high-accuracy estimation.例文帳に追加

リミットサイクルを発生させる際に、リレー要素の前にローパスフィルタを挿入することにより外乱の影響を抑止するとともに、特性の異なる複数のローパスフィルタに対してそれぞれリミットサイクルテストを行い、それらの際における制御対象の入出力信号の基本波成分を用いて制御対象の動特性を推定することにより、精度の良い推定を可能にする。 - 特許庁

If the switch device 1 is not in the operation position and the test position, i.e. while the switch device is pushed in and pulled out, the interlock contact S1 is turned off, and the operation position indicating lamps R3, R4 are turned off regardless of an on/off state of the position limit switch LS3.例文帳に追加

開閉機器１が運転位置及び試験位置の何れでもない場合、つまり開閉機器を出し入れしている最中はインターロック接点がオフとなって位置リミットスイッチＬＳ３のオン／オフ状態に係わらず各表示ランプＲ３，Ｒ４が消灯状態となる。 - 特許庁

The elastic member for methanol fuel cell cartridge is constituted by an elastomer having permanent compression set of 1 to 80, hardness (Type A) of 40 to 70, and operation limit period at fuel cell DMFC performance test of 10,000 hours or longer.例文帳に追加

圧縮永久歪みが１〜８０で、硬度（Ｔｙｐｅ Ａ）が４０〜７０であり、かつ燃料電池のＤＭＦＣ性能試験による作動限界時間が１０，０００時間以上となるエラストマーによりメタノール燃料電池カートリッジ用弾性部材を構成する。 - 特許庁

The living body ornament is provided with a metallic part consisting of a Ti-Mo based alloy in which tensile elastic limit strain defined as tensile strain applied when permanent strain reaches 0.2% in a tensile test is ≥1.6%, and specific density is ≤5.5.例文帳に追加

引張試験で永久歪みが０．２％に達したときに加えられていた引張歪みとして定義される引張弾性限歪みが、１．６％以上であり、比重が５．５以下のＴｉ−Ｍｏ系合金からなる金属部を備える生体装飾品とする。 - 特許庁

A packet generation unit is provided in the repeating device, a packet becoming the limit band of transfer performance of a switch device in the repeating device is generated in the packet generation unit for the standby system periodically or at the time of switching, and then communication test is performed and the matching is checked.例文帳に追加

中継装置内にパケット生成部を持ち、待機系に定期的に、もしくは切替時にパケット生成部で中継装置内のスイッチデバイスの転送性能の限界帯域となるパケットを生成し、疎通テストを実施し、整合性の確認を行なう。 - 特許庁

To overcome such a problem that even if the number of circuit elements to be arranged is increased, all of them cannot be electrically tested because there is a limit of the number of channels for electric application or measurement, that the tester has, when a test element group where circuit elements are arranged is tested by using a parametric tester.例文帳に追加

パラメトリックテスターを用いて回路素子を配置した評価素子群を評価する場合、テスターの有する電気的な印加もしくは測定が可能なチャネル数に制限があり、配置する回路素子の数を増加させてもその全てを電気的に評価することが出来ない。 - 特許庁

A limiter means 20 detects that the sensor output signal outputted at every sampling period ts from the A/D converters 18, 16 continuously exceeds a predetermined limit value by a predetermine number of times and output a stop signal giving a command for stopping the test.例文帳に追加

リミッタ手段２０は、前記Ａ／Ｄ変換器１８、１６から前記サンプリング周期ｔｓ毎に出力されるセンサ出力信号が、予め定めた所定のリミット値を、連続して所定の回数上回ったことを検出して、試験の停止を指示する停止信号を出力する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device, in which an increase of a chip area is restricted, failure of a depression type MOS transistor for output of a step-down circuit is prevented, and is capable of realizing an operation lower limit test of an internal circuit that operates by voltage lower than operating voltage of an external interface circuit, and a method of testing thereof.例文帳に追加

チップ面積の増加を抑え、また降圧回路の出力用デプレッション型ＭＯＳトランジスタの破壊を防ぎ、外部インタフェース回路の動作電圧より低い電圧で動作する内部回路の動作下限テストを実現することができる半導体装置、およびそのテスト方法を提供する。 - 特許庁

A configuration of the whole hose is set so that the elongation (%) of the EVOH layer 12 when a set load pressure is applied becomes below the elongation corresponding to fatigue limit under pulsating tension σu or repeated stress σ in the set fatigue failure repeated number N in a fatigue under pulsating tension test.例文帳に追加

設定負荷圧時におけるＥＶＯＨ層１２の伸び（％）が、片振り引張疲れ限度（σ_U ）、又は、該片振り引張疲れ試験における設定疲れ破壊繰り返し数（Ｎ）における繰り返し応力（σ）に対応する伸び以下となるように、ホース全体構成を設定する。 - 特許庁

To enable a spatial resolution of a display device to be accurately evaluated, even regarding the vicinity of the upper limit of a spatial resolution of a video signal by applying a signal generator, signal generation method and test method to subjective evaluation of a moving image resolution on the display device, for example.例文帳に追加

本発明は、信号発生装置、信号発生方法及び試験方法に関し、例えばディスプレイ装置における動画像解像度の主観評価に適用して、ビデオ信号の空間解像度の上限近傍についても、ディスプレイ装置の空間解像度を正確に評価することができるようにする。 - 特許庁

In the B/I test process, a maximum current limit Ilmt (max) to be supplied from a B/I testing device to a B/I board BIBD is set based on a margin α in which a maximum operation current Icc (max) of a testing object device DUT, the number N of DUTs mounted on the BIBD, and a dispersion are taken into consideration.例文帳に追加

Ｂ／Ｉテスト工程の際に、Ｂ／Ｉテスト装置からＢ／ＩボードＢＩＢＤに供給する最大電流リミットＩｌｍｔ（ｍａｘ）を被テストデバイスＤＵＴの最大動作電流Ｉｃｃ（ｍａｘ）とＢＩＢＤ上のＤＵＴの搭載数Ｎとばらつきを加味した余裕度αに基づいて設定する。 - 特許庁

In this configuration, the thickness of the resin layer is set to be ≥40 μm, When a limit peeling temperature obtained by performing a predetermined peeling test is defined as Tr(°C) and the temperature of the fixing roller when fixing processing is executed is defined as Tc (°C), Tr≥Tc+60 or Tr≥Tc+75 is satisfied.例文帳に追加

この構成において、樹脂層の厚みを４０μｍ以上にし、所定のピーリング試験を行うことによって得られる限界剥離温度をＴｒ（℃）、定着処理が実行される時の上記定着ローラの温度をＴｃ（℃）とする場合、Ｔｒ≧Ｔｃ＋６０またはＴｒ≧Ｔｃ＋７５が満たされる。 - 特許庁

To provide an apparatus which pays attention to operation-related values such as power-saving, silence, accuracy improvement, and outputtable speed increase in an electrodynamic vibration test apparatus, takes the operation limit of a vibration generator into consideration, and calculates an optimum operation condition for allowing the operation-related values to which attention has been paid to fulfill predetermined conditions.例文帳に追加

動電式振動試験装置における省電力、静音、精度向上、出力可能速度の増大などの運転関連値に注目し、振動発生機の動作限界を考慮しつつ、注目した運転関連値が所定の条件を満足するために最適な運転条件を算出する装置を提供する。 - 特許庁

(c) limitations on the total number of service operations or on the total quantity of service output expressed in terms of designated numerical units in the form of quotas or the requirement of an economic needs test; - Subparagraph 2(c) does not cover measures of a Member which limit inputs for the supply of services.例文帳に追加

(ｃ) サービスの事業の総数又は指定された数量単位によって表示されたサービスの総産出量の制限(数量割当てによるもの又は経済上の需要を考慮するとの要件によるもの)(注) 注： この(c)の規定には、サービスの提供のための投入を制限する加盟国の措置を含まない。 - 経済産業省

In a disk drive 1 having a cache controller 11 that performs cache control using a buffer memory 20 divided into segments and managed, sequential hit test is executed on each segment in accordance with the requested access range designated by a read or write command coming from a host system 30, and the hit upper-limit LBA set for each segment is updated when a mishit occurs.例文帳に追加

セグメントに分割して管理するバッファメモリ２０を使用したキャッシュ制御を実行するキャッシュコントローラ１１を有するディスクドライブ１において、ホストシステム３０からのリード又はライトのコマンドによる要求アクセス範囲に応じて、セグメント毎にシーケンシャルヒット判定を実行し、ミスヒットの場合にセグメント毎に設定されたヒット上限ＬＢＡを更新する構成である。 - 特許庁

This semiconductor device includes a test target circuit 19 being the object of self-diagnosis, a PLL circuit 18 outputting a clock for self-diagnosis to the target circuit 19, a register 16 for diagnosis storing a clock frequency corresponding to an operating speed limit of the target circuit 19, and a control circuit 14 for setting the frequency of the clock output from the PLL circuit 18 in self-diagnosis based on the clock frequency stored in the register 16.例文帳に追加

本発明に係る半導体装置は、自己診断の対象となるテストターゲット回路１９と、テストターゲット回路１９に対して自己診断用のクロックを出力するＰＬＬ回路１８と、テストターゲット回路１９の動作スピード限界に対応するクロック周波数を記憶する診断用レジスタ１６と、診断用レジスタ１６に記憶されたクロック周波数に基づいて、自己診断時にＰＬＬ回路１８から出力されるクロックの周波数を設定する制御回路１４と、を備えるものである。 - 特許庁