「Test In」に関連した英語例文の一覧と使い方(282ページ目) - Weblio英語例文検索

Then, the voltage is applied to the voltage application position arranged identically to Process S2 to make flow current into the test piece, and potential difference actual measurement data is obtained by measuring the difference in potentials for the plurality of combinations with the cracks of the potential difference measurement position placed therebetween for the potential difference measurement position arranged identically to Process S2 (Process S4).例文帳に追加

その後、工程Ｓ２と同一に配置された電圧印加位置に電圧を印加して試験体に電流を流し、工程Ｓ２と同一に配置された電位差測定位置に対して、その電位差測定位置のき裂を挟んだ複数の組み合わせについての電位の差を測定して電位差実測データを求める（工程Ｓ４）。 - 特許庁

Thus, in the case of inspecting the electric characteristics, the inspection workability and the inspection efficiency are enhanced because no hindrance to a visual recognition work exists around the monitor pads 21a, 21a for the visual confirmation of a contact state between contact pins of an electric characteristics test unit and the monitor pads 21a, 21a.例文帳に追加

これにより、電気的特性の検査に際し、電気特性試験器のコンタクトピンとモニター用パッド２１ａ，２１ａとの接触状態を視認するにあたってモニター用パッド２１ａ，２１ａの周囲に視認作業の障害となるものは何ら存在せず、検査の作業性及び検査効率が向上する。 - 特許庁

The semiconductor memory device is equipped with: a memory block including a plurality of word lines, a plurality of bit lines and a plurality of memory cells; an oscillation circuit with a delay speed adjustment circuit to be controlled based on a test signal added thereto; and an access control circuit for sequentially accessing the plurality of memory cells based on an output of the oscillation circuit in refresh mode.例文帳に追加

半導体記憶装置は、複数のワード線と、複数のビット線と、複数のメモリセルとを含むメモリブロックと、テスト信号に基づいて制御される遅延速度調整回路が付加された発振回路と、リフレッシュモード時、発振回路の出力に基づいて複数のメモリセルを順次アクセスするアクセス制御回路と、を備える。 - 特許庁

That is, a first temporary correction value corresponding to a first portion of a test pattern is determined based on a density measurement value of each row region in the first portion, and then, a first correction value corresponding to a first printing mode is set by each row region based on a value obtained by multiplying an attenuation coefficient to the first temporary correction value.例文帳に追加

すなわち、テストパターンの第１部分における列領域毎の濃度測定値に基づいて、第１部分に対応する第１仮補正値を列領域毎に定め、第１仮補正値に減衰係数を乗じた値に基づいて、第１印刷方式に対応する第１補正値を前記列領域毎に設定する。 - 特許庁

Subsequently, a plurality of cell strains are subjected to sequencing according to the height of sensitivity (step S12), the sequenced cell strains are classified into high sensitivity strain group and low sensitivity strain group (step S13), and marker ID significantly different in DNA copy number between both groups is calculated by t-test (step S14).例文帳に追加

次に、複数の細胞株を薬剤への感受性の高さに応じて順位付けし（ステップＳ１２）、順位付けされた細胞株を高感受性株群と低感受性株群とに分類して（ステップＳ１３）、両群間でＤＮＡコピー数が有意に異なるマーカＩＤをｔ−検定により算出する（ステップＳ１４）。 - 特許庁

In blocking the test light, the plurality of projecting parts 9 are butted on the optical fiber 7 so that the predetermined direction matches with the longitudinal direction of the optical fiber 3, and stress is applied to at least one of the stress applying section 8 and the optical fiber 7, thereby forming long cycle grating to the optical fiber 7.例文帳に追加

上記試験光の遮断の際には、上記所定の方向が光ファイバ３の長手方向と一致するように複数の凸部９を光ファイバ７に当接させて、応力付与部８および光ファイバ７の少なくとも一方に応力を加えることにより、光ファイバ７に対して長周期グレーティングを形成する。 - 特許庁

When the fluid is made to flow along a measured object to measure shearing stress acting on the measured object and a direction thereof by the fluid, two hue values are detected based on an image of the shearing stress liquid crystal for measurement photographed by the two color cameras, and the two hue values are compared with the test value stored in the memory.例文帳に追加

被測定物に沿って流体を流し、流体により被測定物に作用する剪断応力とその方向を測定するには、２つのカラーカメラによって撮影された測定用の剪断応力液晶の画像に基づいて２つの色相値を検出し、メモリに格納された検定値と２つの色相値とを比較する。 - 特許庁

A skeleton curve, a shear rigidity ratio/strain relationship and an attenuation curve obtained by a soil test are simulated in all strain areas by using a mixed model (an H-R model) obtained by mixing a hyperbolic curve model and an R-O model, and a parameter of the H-R model is automatically set according to approximation.例文帳に追加

土質試験により得られた骨格曲線、せん断剛性比−ひずみ関係、及び減衰曲線を、双曲線モデルとＲ−Ｏモデルを混合した混合モデル（Ｈ−Ｒモデル）を用いることにより全ひずみ領域において模擬し、前記Ｈ−Ｒモデルのパラメータを近似法により自動的に設定する。 - 特許庁

The operation part 40 corrects the chemiluminescence intensity measurement value E obtained by the measurement part 20 in accordance with a predetermined correction formula based on a normalized chemiluminescence spectrum i_C(λ) and an absorbance spectrum A(λ) of the test material, which are memorized by the memory part 30, to evaluate chemiluminescence intensity E_0 after the correction.例文帳に追加

演算部４０は、記憶部３０により規格化化学発光スペクトルｉ_Ｃ(λ)および被検物質の吸光度スペクトルＡ(λ)に基づいて、測定部２０により取得された化学発光強度測定値Ｅを所定の補正式に従って補正して、当該補正後の化学発光強度Ｅ_０を求める。 - 特許庁

A surface of the skin tissue which includes the mucous tissue such as the periodontal tissue or the like of the test subject, is irradiated with visible light, and an obtained absorption spectrum is analyzed by using a multivariate analysis technique, whereby a specific substance such as the antioxidant or the like which is included in the skin tissue irradiated with the visible light can be quantitatively measured.例文帳に追加

被験者の歯周などの粘膜組織を含む皮膚組織表面に可視光線を照射し、得られた吸収スペクトルから多変量解析手法により分析することにより、可視光線を照射した皮膚組織内に含まれる抗酸化物質などの特定の物質を量的に測定することができる。 - 特許庁

In the test method of the semiconductor element 5 provided with an input/output circuit, when a writing signal conflicts with a read signal, expectation values are corrected according to a level difference between the expectation values of the writing signal and the read signal, and the corrected expectation values are compared with conflicting data for determination.例文帳に追加

入出力回路を備えた半導体素子の試験において、書き込み信号と読み出し信号とが衝突したときには、書き込み信号と読み出し信号の期待値とのレベル差により期待値を補正し、補正した期待値と衝突データとを比較判定する半導体素子の試験方法、及び半導体試験装置が得られる。 - 特許庁

To provide an array ultrasonic flaw detector capable of improving the precision of a flaw detection test by discriminating a disturbance echo caused by an unnecessary reflection source that is present in a contact medium, from a flaw echo even if reflectivities thereof are substantially same despite an incidence angle and a single pulse irradiation is alone permitted.例文帳に追加

入射角に依らず反射率がほぼ同じである場合や、１回だけのパルス照射しか許されない場合でも、接触媒質中にある不要な反射源による妨害エコーときずエコーとを識別することができ、探傷試験の精度を向上させることができるアレイ超音波探傷装置を提供する。 - 特許庁

The electric and electronic component is constituted by forming a resin film at least on a part of a metal base material and the resin film is a polymer resin film having an elongation at break of 20% or above in a tensile test or a polymer resin film with a number average molecular weight of 15,000 or above.例文帳に追加

金属基材上少なくとも一部に樹脂皮膜を形成しており、前記樹脂皮膜が引張り試験において破断するまでの伸び率が２０％以上を有する高分子樹脂皮膜、または、数平均分子量15000以上の高分子樹脂皮膜であることを特徴とする電気電子部品用材料。 - 特許庁

In the torsion testing device 1, since both ends of the circuit board 9 are sandwiched, even a flexible printed board can be held properly, and even if the circuit board 9 is shrunk by torsion, the second gripping part 21b is slid and moved, to thereby enable the torsion fatigue test to be performed without being influenced by shrinkage.例文帳に追加

ねじり試験装置１では、回路基板９の両端部が挟持されるため、フレキシブルプリント基板であっても適切に保持することができ、ねじりにより回路基板９が縮んでも第２把持部２１ｂがスライド移動して縮みの影響を受けることなくねじり疲労試験を行うことができる。 - 特許庁

To provide a curable composition, excellent in storage stability and formulatable into a one-component type and providing an excellent cured film sufficiently satisfying characteristics such as electrical insulating properties, PCT (pressure cooker test) resistance, adhesiveness and heat resistance to soldering, chemical resistance, resistance to electroless gold plating, resistance to hygroscopic property, etc.例文帳に追加

保存安定性に優れ、一液型に組成することができると共に、電気絶縁性、ＰＣＴ（プレッシャークッカーテスト）耐性、密着性、はんだ耐熱性、耐薬品性、無電解金めっき耐性、耐吸湿性等の特性を充分に満足する優れた硬化皮膜が得られる硬化性組成物を提供する。 - 特許庁

To provide a power-supply current measuring method for a semiconductor device capable of detecting the defect generation state of a semiconductor device to be tested by a test system, and measuring stably the change of the power-supply current flowing in the semiconductor device to be tested by another testing device, while maintaining the defect generation state.例文帳に追加

テストシステムにより被試験半導体デバイスの不良発生状態を検出し、その不良発生状態を維持したまま、他の試験装置が被試験半導体デバイスに流れる電源電流の変化を安定に測定することができる半導体デバイスの電源電流測定方法を提案する。 - 特許庁

The image display device 1 displays a test chart at a prescribed position and measures the brightness based on the layout information specifying the display position where a medical image is displayed, and prepares a gradation correcting table (LUT) for correcting the gradation by layout based on the measured brightness in adjusting the brightness of a display part 12.例文帳に追加

画像表示装置１は、表示部１２の輝度調整を行う場合、医用画像が表示される表示位置を定めたレイアウト情報に基づいて、所定の位置にテストチャートを表示させて輝度測定を行い、測定された輝度値に基づいてレイアウト毎に階調を補正するためのＬＵＴを作成する。 - 特許庁

In this device, a sampling path 30 is provided with a first comparator 50 comparing a test signal 20 with a first threshold Vth1 to supply a first comparison signal 50A, and a first sampling device 60 receiving both a first timing signal 70 comprising a plurality of consecutive primary timing marks and the above first comparison signal 50A as input signals.例文帳に追加

サンプリング経路３０は、試験信号２０を第１の閾値Ｖth1と比較し、第１の比較信号５０Ａを供給する第１の比較器５０、複数の連続する第１のタイミングマークからなる第１のタイミング信号７０とともに第１の比較信号５０Ａを入力として受信する第１のサンプリング装置６０を備える。 - 特許庁

In an SIP 102 including a plurality of semiconductor chips, such as ASIC100 and SDRAM 101 mounted on a single package, a test circuit (SDRAMBIST 109) for SDRAM 101 is provided within the ASIC 100, to perform testing the SDRAM 101 from the outside of the SDRAM 101 or from the ASIC 100.例文帳に追加

ＡＳＩＣ１００およびＳＤＲＡＭ１０１など複数の半導体チップが単一パッケージ搭載されたＳＩＰ１０２において、ＳＤＲＡＭ１０１のテスト回路（ＳＤＲＡＭＢＩＳＴ１０９）をＡＳＩＣ１００内に設けて、ＳＤＲＡＭ１０１の外部から、すなわちＡＳＩＣ１００からＳＤＲＡＭ１０１のテストを行うようにする。 - 特許庁

To provide a methacrylic resin showing improved flowability and moldability which are important for processing such as injection molding, extrusion molding, blow molding, vacuum molding and the like while maintaining thermal resistance, appearance of a molded article, a low generation ratio of a crack and distortion of the molded article in an environmental test, and mechanical strength such as solvent resistance.例文帳に追加

耐熱性、成形品の外観、環境試験におけるクラックや成形品のゆがみの低発生率、耐溶剤性等の機械強度を維持しつつ、射出成形、押出し成形、ブロー成形、真空成形、圧空成形、延伸成形等の加工の際に重要な流動性や成形性が向上されたメタクリル樹脂の提供。 - 特許庁

When a difference between stored data and the test data exists, a preserved data generating section 8 preserves the preserved data, which include the data indicating the content of difference, the data indicating which RAMs correspond to the RAM containing the occurred difference, and the data indicating object addresses, to a housing domain of the preserved data prepared in the RAM1.例文帳に追加

記憶データの何れかとテストデータに相違があった場合、保存データ生成部８は、その相違内容を示すデータと相違の生じているＲＡＭが何れのＲＡＭであるかを表すデータと対象アドレスを表すデータとを含む保存データをＲＡＭ１に設けられた保存データ格納領域に保存する。 - 特許庁

A part of suction air which is sucked into a cover 2 which is formed in such a way as to surround the test object 1, and whose one side is opened to the atmosphere and the other side is connected to a suction passage line, is branched and led to a detector 4, and the other part is exhausted to the atmosphere by a large-capacity third vacuum pump 5C.例文帳に追加

検査対象物１を囲むように形成され、一方が大気に開放され、他方が吸引流路に接続しているカバー２内に吸引される吸引エアの一部を分岐して検出器４に導くと共に、その他を大容量の第３排気ポンプ５Ｃにより大気に排出するようにしている。 - 特許庁

Each interference fringe is imaged relative to each of a plurality of imaging arrangement positions set so that a relative position relation between a direction of a plane of polarization of measuring light and the test optical element is mutually different, and improper domains A_1, A_2 where the transmission wavefront information is not carried correctly are specified in each imaged interference fringe.例文帳に追加

測定光の偏光面の方向と被検光学素子との相対的な位置関係が互いに異なるように設定された複数の撮像配置位置毎に干渉縞を撮像し、撮像された各々の干渉縞において、透過波面情報が正しく担持されなかった不適正領域Ａ_１，Ａ_２を特定する。 - 特許庁

To provide a safe press type pipe joint achieving O-ring primary water tight function by being caulked to be joined with a connection pipe, capable of discovering missing of tightening in a water pressure test without mistake by surely generating water leak before caulking, and capable of preventing liquid leak accident.例文帳に追加

接続パイプと結合するためにかしめを施すと、Ｏリング本来の水密機能が果たされることはもちろん、かしめ前においては確実に水漏れが生じるために、水圧試験において締め忘れを間違いなく発見でき、液漏れ事故を未然に防止し得る安全性の高いプレス式管継手を提供する。 - 特許庁

In a test control unit 3, a communication route information updating means 21 continuously applies information for updating a route control table 11 of the device to be tested 1 via a port 5A and a communication stop means 25 inputs a command for shield instructions of the port 5A before update processing of the route control table 11 is completed.例文帳に追加

試験制御装置３は、通信経路情報更新手段２１が被試験装置１の経路制御表１１を更新させるための情報をポート５Ａを経由して連続的に印加し，通信停止手段２５が，経路制御表１１の更新処理の完了前にポート５Ａの遮断指示のコマンドを入力する。 - 特許庁

The stamp for dummy fingerprint adhesion used for the antifouling property test of the recording medium is stamp which includes a recess 12 without in contact with the surface of the recording medium with a pressing face 11 pressing thereon since the pressing face 11 of the stamp pressed on the recording medium is unevenly formed.例文帳に追加

記録媒体の防汚性試験に用いられる擬似指紋付着用のスタンプであって、記録媒体に押し当てられるスタンプの押し当て面１１が凹凸形状に形成されていることにより、押し当て面１１を押し当てた状態で記録媒体の表面に接触しない凹部１２を有していることを特徴とするスタンプ。 - 特許庁

A control part 90 forms a test pattern on a sheet of recording paper 3 by performing image forming operation for transferring a toner image on the recording paper 3, and then at least in an area for a portion worth a single period of a photoreceptor drum 62, forms a non-plotting area, on which the toner image is not formed on the recording paper 3.例文帳に追加

制御部９０は、記録用紙３上にトナー像を転写する画像形成動作を行うことにより、記録用紙３上にテストパターンを形成し、次いで、少なくとも感光体ドラム６２の１周分の領域で、記録用紙３上に、トナー像が形成されない非描画領域を形成する。 - 特許庁

In the second selection, a characteristic distribution calculator 3 acquires the electric characteristic distribution from the electric characteristic values of the semiconductor chips passing through the Go/Nogo test, and a second discrimination section 4 particularizes the semiconductor chips whose electric characteristic distributions are not within the distribution above to apply elimination (screening) to the semiconductor chips.例文帳に追加

第２の選別では、特性分布算出部３によりＧｏ／Ｎｏｇｏ試験をクリアーした半導体チップの電気的特性値から電気的特性分布を取得し、第２の判定部４により、この電気的特性分布から規定外分布に該当する半導体チップを特定して、当該半導体チップを除去（スクリーニング）する。 - 特許庁

To solve a problem that, in a four terminal measuring device implementing connection check by loading check current to wiring connecting between a measuring device and a test object, since it is required to cutoff a current source so that the measured current does not flow during the connection checking period or to reduce measured current value, constituent becomes complicated.例文帳に追加

計測装置と被測定物間を接続している配線にチェック電流を流して接続チェックを行う４端子計測装置において、接続チェックを行う間は測定電流が流れないように電流源を切り離すか、測定電流値を小さくしなければならず、構成が複雑になるという課題を解決する。 - 特許庁

The Al-SiC composite produced by impregnating a porous material of SiC with a metal principally comprising Al contains 40 vol.% or more of SiC and exhibits bending strength of 300 Mpa or above in four point bending strength test conforming to JIS1601-1981.例文帳に追加

ＳｉＣ多孔体にＡｌを主成分とする金属を含浸したＡｌ−ＳｉＣ複合体であり、該複合体はＳｉＣを４０体積％以上含有し、ＪＩＳ１６０１−１９８１に準拠した４点曲げ強さ試験において、該複合体の曲げ強さが３００ＭＰａ以上であることを特徴とする。 - 特許庁

When an enterprise A1 and clients α31 and β32 exchange data, the data are passed through a hub server 2 and then a network administrator of the company is not loaded even when transactions increase; and the load in a continuity test is lightened, so the data exchange system can greatly lighten the load of management.例文帳に追加

企業Ａ１と取引先α３１や取引先β３２とのデータの交換を行う際、ハブサーバ２を経由させることにより、取引先が増加した場合でも自社内でのネットワーク管理者に対し負荷がかからず、導通テスト時の負荷をも軽減するため管理負担を大幅に軽減することができるデータ交換システム。 - 特許庁

This noise testing device comprises a smoothing part 13 imitating a DC power source 2A built in a device to be tested 2 and a filter part 14, and performs the noise resisting performance test of the circuit resulted from the DC power source by substituting the DC power source to supply the power to an internal circuit 2B.例文帳に追加

ノイズ試験装置は、被試験装置２に内蔵する直流電源２Ａを模擬した平滑部１３やフィルタ部１４をもつ構成にし、ノイズ試験には直流電源に置き換えて内部回路２Ｂに電源供給を行うことによって、直流電源に因る回路の耐ノイズ性能試験を行う。 - 特許庁

By turning a switch 50 and to short-circuiting the output terminals 30A and 30B and alternately inputting signals of different levels to the inverter circuits 11 and 12 at test, a current is made to alternately flow through an NchMOS transistor and a PchMOS transistor included in the two CMOS circuits to activate them.例文帳に追加

テスト時に、スイッチ５０をオンにして出力端子３０Ａ、３０Ｂを短絡するとともに、インバータ回路１１、１２に異なるレベルの信号を交互に入力することによって、２つのＣＭＯＳ回路に含まれるＮｃｈＭＯＳトランジスタ及びＰｃｈＭＯＳトランジスタに交互に電流を流し活性化させる。 - 特許庁

Two or more kinds of ligands are immobilized on fibers, respectively, the respective fibers are juxtaposed and fixed to a flat plate-like base body, and the base body is cut in a right-angled direction to the fibers, whereby a strip-like test piece for detecting a bioactive material specifically bonded to each ligand is prepared.例文帳に追加

複数種のリガンドの各々を繊維に固定化し、各々の繊維を平板状の基体上に並列させて固定し、繊維に対して直角方向に裁断することにより、各々のリガンドに特異的に結合する生物学的活性物質を検出するためのストリップ状の試験片を製造する。 - 特許庁

To shorten a delivery date while enabling a through-hole 76 to be formed at a required position in a constant temperature bath 1 keeping the interior of a testing chamber 35 at least at a predetermined temperature, the constant temperature bath having a testing chamber 35 for housing a test specimen, and at least one through-hole 76 communicating the outside of the testing chamber 35 with the inside thereof.例文帳に追加

供試体が収容される試験室３５と、試験室３５の内外を連通させる少なくとも１の導通孔７６と、を有し、試験室３５内を少なくとも所定の温度に保つ恒温槽１において、所望の位置に導通孔７６を形成可能にしつつも、その納期を短縮する。 - 特許庁

The X-ray apparatus starts outputting a pulsed tube voltage V_T by a pulse-voltage controller when a command is input to start fluoroscopy at the time t_1, and at the same time a filament current I_F is increased in a filament heater to heat a filament 12 for the purpose of seeing through a device under test by means of a generated X ray.例文帳に追加

本発明に係るＸ線装置は、時間ｔ_１において透視開始の指令が入力されると、管電圧制御部がパルス状管電圧Ｖ_Ｔを出力し始めるとともに、フィラメント加熱部がフィラメント電流Ｉ_Ｆを増大させてフィラメント１２を加熱し、発生させたＸ線によって被検体の透視を行う。 - 特許庁

Article 169 (1) The Minister of Land, Infrastructure, Transport and Tourism, when conducting an examination pursuant to paragraph (1) of the Article 29 of the Act applied mutatis mutandis in compliance with paragraph (4) of the Article 78 of the Act, shall put on public notice by way of Official Gazette the data and place of conducting the examination, submission term of the competence test application pursuant to paragraph (1) of the preceding Article, and other matters required. 例文帳に追加

第百六十九条　国土交通大臣は、法第七十八条第四項において準用する法第二十九条第一項の規定により試験を行う場合は、試験の期日及び場所、前条第一項の技能検定申請書の提出時期その他必要な事項を官報で公示する。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

Then, an external terminal 52 is arranged for the discharging resistance 41 independently of an external power supply terminal 51 for the boosting circuit 40, and the both terminals 51 and 52 are connected by wiring on a TCP, or connected by wire-bonding in packaging posterior to the test so that a normal operation can be realized.例文帳に追加

そして、前記昇圧回路４０用の外部電源端子５１とは別に、前記放電抵抗４１用に外部端子５２を設け、試験後のパッケージング時に、ＴＣＰ上の配線によって両端子５１，５２を接続したり、ワイヤボンディングによって接続することで、通常動作を実現することができる。 - 特許庁

To provide a sound field measuring apparatus and a sound field measuring method, where in the case of driving a speaker by a test signal and measuring the propagation time of a speaker output by applying the sound field measuring apparatus to a car audio apparatus e.g., the propagation time can be surely measured by simple constitution even under a much-noise environment.例文帳に追加

本発明は、音場計測装置及び音場計測方法に関し、例えばカーオーディオ装置に適用して、テスト信号によりスピーカを駆動してスピーカ出力の伝搬時間を計測する場合に、ノイズの多い環境下でも、簡易な構成により確実に伝搬時間を計測することができるようにする。 - 特許庁

To provide a quality measurement system, a transmitter, a receiver, a quality measuring method and a program, capable of measuring communication quality with a few test packets and measuring one way communication quality even though times of a transmitter and a receiver do not synchronize with each other completely in a network including a radio section.例文帳に追加

無線区間を含むネットワークにおいて、少ないテストパケットで通信品質を計測でき、かつ、送信装置と受信装置の時刻が完全に同期していなくても片方向の通信品質を測定可能である品質計測システム、送信装置、受信装置、品質計測方法及びプログラムを提供する。 - 特許庁

Based on the results obtained by driving the light source of the reader by a plurality of different driving electric currents and by detecting the amounts of reflected light on respective electric current values respectively in a test pattern for calibration printed on a medium and the blank region of the medium, a correction factor for correcting the detection by the reader is obtained.例文帳に追加

メディアにプリントされたキャリブレーション用のテストパターンとメディアのブランク領域のそれぞれにおいて、読取器の光源を複数の異なる駆動電流により駆動して電流値毎に反射光量を検出した結果に基づいて、前記読取器による検出を補正するための補正係数を求める。 - 特許庁

To provide an indoor chemical material measuring apparatus having a small facility, supporting a JIS small chamber method, measuring instantaneous value in the field, easily identifying a generation source, accurately measuring by a sampler, and quickly measuring by implementing an accelerated test.例文帳に追加

小型の設備で、ＪＩＳ小形チャンバー法に対応して現場における瞬時値の測定を行なうことができ、発生源の特定が容易であると共に、サンプラによる高精度な測定ができ、しかも加速試験を行なって短時間に測定することができる室内化学物質測定装置を提供するものである。 - 特許庁

The image forming apparatus provides test patterns 410, 400 and 420 comprising two band-like patterns formed to use two developing devices corresponding to toner colors (magenta and yellow) in which a toner residual amount out of the four developing devices is a prescribed value or less (end state) on a center, a right end, and a left end of the status sheet SS2.例文帳に追加

ステータスシートＳＳ２の中央部、左端部、右端部には、４つの現像器のうち、トナー残量が所定値以下（エンド状態）となっているトナー色（マゼンタ、イエローに対応する２つの現像器を使用して形成された２本の帯状パターンからなるテストパターン４１０，４００，４２０が設けられる。 - 特許庁

The filter device which is provided with float type gas flow monitoring means in one body, and supplies a test gas to the gas detection device after removing dust includes a calibration gas introduction part which is formed while connected to a gas intake of the gas flow monitoring means and introduces the calibration gas.例文帳に追加

フィルタ装置は、フロート式のガス流監視手段が一体に設けられた、被検ガスをダストを除去してガス検出装置に供給するためのものにおいて、ガス流監視手段のガス流入口に接続されて形成された、校正用ガスを導入するための校正用ガス導入部を有する構成とされている。 - 特許庁

In the device for detecting acceleration by using the static capacitance type sensor 1 provided with a 1st fixed electrode 11 and a 2nd fixed electrode 12 and a movable electrode 13 arranged between them, a test for detecting the presence of a contact between the 1st or the 2nd fixed electrode, and the movable electrode is performed.例文帳に追加

第１の固定電極１１と第２の固定電極１２と、これらの間に配置された可動電極１３とを有する静電容量式センサ装置１により加速度を検出する装置において、第１又は第２の固定電極と可動電極との接触の有無を調べるための検査を行う。 - 特許庁