「Test set」に関連した英語例文の一覧と使い方(19ページ目) - Weblio英語例文検索

The density of a test pattern toner image is detected by an image density sensor 20, and a developing bias potential and a grid voltage optimum for a potential control part 26 are calculated and set by a system control part 27 based on the detected image density, and an image forming operation is performed.例文帳に追加

テストパターンのトナー像の画像濃度を画像濃度センサ２０で検出し、システム制御部２７は検出された画像濃度に基づいて電位制御部２６に最適な現像バイアス電位、グリッド電圧を演算・設定し、作像動作が実行される。 - 特許庁

Then LUT data for converting density characteristics so that the density of an original image coincides with that of an output image are set up on the basis of the read picture signal and gradation characteristic information stored as the prescribed test pattern.例文帳に追加

次に、読み取った画像信号と当該所定のテストパターンとして記憶している階調特性情報とに基づいて、原画像の濃度と出力画像の濃度とが一致するように濃度特性を変換するＬＵＴのデータを設定する(S4-S5)。 - 特許庁

To provide a polymer material evaluation method capable of evaluating easily and accurately a chlorine resistance of a polymer material, by a device capable of controlling automatically a residual chlorine concentration, a temperature, a pH and a circulation velocity of a test liquid within set ranges thereof, and a device used in the same.例文帳に追加

試験液の残留塩素濃度、温度、ｐＨ、循環速度を自動的に設定範囲に制御可能な装置によって、高分子材料の耐塩素性を簡便かつ正確に高分子材料評価する方法及びそれに用いる装置の提供。 - 特許庁

To unify a plurality of pattern programs using effectively a free timing set in a system, and to eliminate thereby a wasteful idle period to enhance a through-put in a device test.例文帳に追加

当該システムで空いているタイミングセットを有効利用して、複数本のパターンプログラムを１本化して、無駄なアイドル期間を削除してデバイス試験のスループットを向上する半導体試験装置、タイミングセットの最適化方法、タイミングセットの最適化プログラムを提供する。 - 特許庁

A data inversion circuit 16 stores an effect that ECC bit inversion data which can specify inversion of write ECC data generated by an ECC generation circuit 12 bit by bit are set up by write data to a test object address and an ECC section 14 by the CPU.例文帳に追加

データ反転回路16はＣＰＵにより検査対象アドレスとＥＣＣ部14への書込みデータによりＥＣＣ生成回路12が生成した書込みＥＣＣデータのビット毎に反転を指定できるＥＣＣビット反転データとが設定されると記憶する。 - 特許庁

Bit line voltage VBL0 supplied by the voltage nodes 120L, 120R and bit line voltage VBL1 supplied by the voltage nodes 125L, 125R can be set independent from each other at least at the time of the burn-in test.例文帳に追加

電圧ノード１２０Ｌ，１２０Ｒによって供給されるビット線電圧ＶＢＬ０と、電圧ノード１２５Ｌ，１２５Ｒによって供給されるビット線電圧ＶＢＬ１とは、少なくともバーンインテストにおいて、互いに独立に設定可能である。 - 特許庁

A difference between the number of recording marks obtained from a reproducing signal on the basis of the test pattern and the number of recording marks used for the recording is obtained, and the recording or reproduction laser power is set from a range of the recording or reproduction laser power when the difference reaches a prescribed number or below.例文帳に追加

テストパターンに基づく再生信号から求めた記録マーク数と、記録に用いた記録マーク数との差を求め、その差が所定数以下になるときの記録または再生レーザーパワーの範囲内から記録または再生レーザーパワーを設定する。 - 特許庁

The method contains a step to extract a DNA from a test specimen, a step to amplify a recombination gene from the extracted DNA by an LAMP method to use a primer set derived from the target sequence of the recombination gene, and a step to detect the amplified DNA.例文帳に追加

被判別試料からDNAを抽出する工程と、抽出したDNAから、組換え遺伝子の標的配列由来のプライマーセットを使用するLAMP法により組換え遺伝子を増幅する工程と、増幅したDNAを検出する工程と、を含む方法である。 - 特許庁

The image of a test pattern is formed and density change before and after transfer is detected by density detection sensors 63 and 64, and an offset value is read out from an offset setting table 112 according to the detected transfer state so as to adjust the set transfer voltage.例文帳に追加

そして、テストパターンを像形成して転写前後の濃度変化を濃度検知センサ６３及び６４で検知し、検知された転写状態によりオフセット値をオフセット設定テーブル１１２から読み出して設定された転写電圧を調整する。 - 特許庁

With respect to a standard material A having a natural water content W_A, a field rolling test and indoor compacting tests the with application of at least two types of work loads E_c1, E_c2, are conducted, and field rolling frequencies N_1, N_2 equivalent to the respective work loads E_c1, E_c2 are set.例文帳に追加

自然含水比Ｗ_Ａの標準材料Ａについて、現場転圧試験と少なくとも２種類の仕事量Ｅ_ｃ１、Ｅ_ｃ２での室内突固め試験とから、仕事量Ｅ_ｃ１、Ｅ_ｃ２とそれぞれ等価な現場転圧回数Ｎ_１、Ｎ_２を設定する。 - 特許庁

When data for test print are transmitted from the terminal T1-T2, a control unit 19 of the image forming apparatus 10 stores in a storage unit 14 terminal data (IP address, terminal name and the like being set to the terminal) to be transmitted together with the data.例文帳に追加

画像形成装置１０の制御部１９は、端末Ｔ１〜Ｔ２からテスト印刷用のデータが送信されてきたときに、そのデータとともに送信される端末データ（端末に設定されるＩＰアドレス、端末名等）を記憶部１４に記憶する。 - 特許庁

To provide a magnetic random access memory (MRAM) in which the set value of writing current in a writing test mode is switched to a value smaller than and a value larger than those in normal use to realize evaluation of an erroneous margin or a writing margin resulting in the high reliability of the MRAM.例文帳に追加

ＭＲＡＭにおいて、書き込みテストモードにおいて書き込み電流の設定値を、通常使用時よりも小さい値と大きい値を切り替えて誤書き込みマージンや書き込みマージンを評価することを可能とし、高信頼性を実現する。 - 特許庁

A burglarproof key switch 1 is connected into a closed loop, which a burglarproof receiver forms through the normally-closed contact of a burglarproof sensor, and is provided with a setting means 10 which sets the burglarproof precaution set state, the burglarproof precaution reset state, and the alarm test state by switching.例文帳に追加

防犯キースイッチ１は、防犯受信機が防犯センサの常閉接点を介して形成する閉ループ内に接続され、防犯警戒セット状態、防犯警戒リセット状態、警報テスト状態を切替設定する設定手段１０を備える。 - 特許庁

Before reading (routines 22, 23) test conditions of the semiconductor inspection program 1 out of values set in the hardware of a semiconductor inspection device which executes the semiconductor inspection program 1, a subject hardware for extracting inspection conditions is selected (routine 21).例文帳に追加

半導体検査プログラム１のテスト条件を、当該半導体検査プログラムを実行する半導体検査装置のハードウェアに設定されている値から読み出す（ルーチン２２，２３）前に、検査条件を抽出する対象ハードウェアを選択する（ルーチン２１）。 - 特許庁

After rendering the edge part geometry while a depth test is set for preventing a part of the shape from overlapping with the edge part geometry, the shape is rendered or the shape itself is changed so that an arbitrary part overlapping with the edge part geometry is deleted.例文帳に追加

形状の一部分が縁部ジオメトリに重ならないように深さテストを設定した状態で縁部ジオメトリがレンダリングされた後で形状がレンダリングされるか、形状自体が縁部ジオメトリに重なる任意の部分を削除するように変更される。 - 特許庁

A frame processor 50 executes a process of decompressing the test pattern 20 output from the pattern generator 30 in operation in software manner by executing a previously set program, and generates/outputs a pulse shape signal, based on the decompressed data.例文帳に追加

フレームプロセッサー５０は、あらかじめ設定されたプログラムを実行することにより、パターンジェネレーター３０から出力されたテストパターン２０の伸張処理をソフト的に行い、さらに、伸張されたデータに基づいて、パルス波形を生成して出力する。 - 特許庁

A simulated secure connection between the first port unit and the second port unit via a network under test may be opened using a selected PCCD set from the one or more PCCD sets without performing decryption processing.例文帳に追加

検査下のネットワークを介して、第１のポートユニットと第２のポートユニットとの間のシミュレートされたセキュアな接続が、解読処理を実行することなく、１つ以上のＰＣＣＤのセットから選択されたＰＣＣＤのセットを用いて開かれてよい。 - 特許庁

To improve inspection efficiency by automatically performing several kinds of tests in each circuit board without changing the manual set functioning part of a back wiring board and also to prevent test leakage due to human error owing to automation.例文帳に追加

バックワイアリングボードのマニュアル設定機能部を変更することなく、各回路ボード内の数種の試験を自動的に行うことを可能とし、検査効率を向上することが可能であるとともに、自動化により人因ミスによる試験漏れを防止する。 - 特許庁

A measurement point 34 is set beforehand on a printing layer 33 of a gate disk 5 (a cell plate 32) corresponding to a shooting passage 30 to reflect laser beam from a test game ball sensing device 31, and a high reflective color is laid on the measurement point 34.例文帳に追加

試験用遊技球検出装置３１からのレーザー光の反射のために、発射通路３０に対応するゲート盤５（セル板３２）の印刷層３３に測定ポイント３４を予め定め、測定ポイント３４には高反射率色を付すようにした。 - 特許庁

When data is recorded in the optical disk 10 having no identification information, test data is recorded with the average record strategy and the strategy changed from this, the strategy, in which a detection rate for a synchronizing signal is a predetermined value or more, is set as the optimal strategy.例文帳に追加

識別情報のない光ディスク１０にデータを記録する場合、平均的な記録ストラテジ及びこれを変化させたストラテジでテストデータを記録し、同期信号の検出率が所定値以上となるストラテジを最適ストラテジに設定する。 - 特許庁

Article 97 (1) A person who intends to take a trade skill test set forth in Article 44, paragraph (1), or to receive reissuance of a certificate of passing as specified in Article 49 shall pay a fee as specified by a Cabinet Order. 例文帳に追加

第九十七条　第四十四条第一項の技能検定を受けようとする者又は第四十九条の合格証書の再交付を受けようとする者は、政令で定めるところにより、手数料を納付しなければならない。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

In a state that a body 1 under test is kept from being conveyed to a conveyance mechanism 2, that is, on condition comprising only an external electromagnetic noise environment condition, a connection state for minimizing the signal level of the combined detection signal is set in the selection part 16.例文帳に追加

そして、被検体１を搬送機構２に搬送させない状態、すなわち、外部の電磁ノイズ環境条件のみの条件において、合成検出信号の信号レベルが最小の接続状態を接続切換部１６に設定する。 - 特許庁

The torque loading means 3 is equipped with an electric servo motor 7 for applying tortional torque to the test target W, a servo controller 9 for controlling the output of the electric servo motor 7 and an input means 13 for inputting set torque to the servo controller 9.例文帳に追加

トルク負荷手段３は、被試験体Ｗに捩りトルクを負荷する電気サーボモータ７と、電気サーボモータ７の出力を制御するサーボコントローラ９と、設定したトルクをサーボコントローラ９に入力する入力手段１３とを備える。 - 特許庁

To provide a multi-chip module for solving the problem that becomes assembling malfunctions or the like, by needing fundamentally unnecessary test wirings in a package inside, since inside wiring connecting components for individual inspection is set outside of a package.例文帳に追加

個別検査のために部品間を接続する内部配線をパッケージ外部に出しているため、パッケージ内部に本来なら不必要なテスト用配線が必要になり、組立不具合等の原因になる等の課題を解決するマルチチップモジュールを提供する。 - 特許庁

First and second cameras 1 and 2 for respectively picking up the images of two reference lines R1 and R2 attached to the test piece are set to a prescribed interval D, the focus distance is fixed and the image of one of the reference lines R1 and R2 is picked up respectively.例文帳に追加

試験片に付された２本の標線Ｒ1,Ｒ2をそれぞれ撮像する第１および第２のカメラ１,２を所定の間隔Ｄに設定すると共に、その焦点距離はを一定に揃えて前記標線の一方をそれぞれ撮像する。 - 特許庁

(2) A notifying manufacturing business operator who intends to take the test set forth in the preceding paragraph shall, pursuant to the provision of the Ordinance of the Ministry of Economy, Trade and Industry, submit a specified measuring instrument for testing, construction drawings and other relevant documents to said designated verification body. 例文帳に追加

２　前項の試験を受けようとする届出製造事業者は、経済産業省令で定めるところにより、試験用の特定計量器及び構造図その他の書類を当該指定検定機関に提出しなければならない。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

Thus, correspondence data CD for specifying a correspondence relation between each test ink amount set and the graininess index GI can be obtained, and a neural network as the graininess profile 200 is built up by using the correspondence data CD for a teacher signal.例文帳に追加

これにより、各テストインク量セットと粒状性指数ＧＩとの対応関係を規定した対応データＣＤを得ることができ、同対応データＣＤを教師信号として、粒状性プロファイル２００としてのニューラルネットワークを構築する。 - 特許庁

This annex is a compilation of the labeling of dangerous substances listed on the European Inventory of Existing Commercial Chemical Substances (EINECS) and the labeling based on base-set test results of new chemical substances; it contains qualitative descriptions, which take the form of specific or general warnings.例文帳に追加

ＥＵ既存化学物質リスト(EINECS)に収載された有害物質のラベル記載事項、および新規化学物質のベースセット試験結果に基づくラベル記載事項をまとめたものであり、警句及び結合警句による定性的な記述となっている。 - 経済産業省

Note that these are only examples for the purposes of illustration, not an exhaustive list of all required tests; the final set of items necessary for test and inspection must be determined in accordance with such aspects as the properties of the human stem cells, the research objective, and scientific knowledge.例文帳に追加

規格値（判定基準）は、研究初期段階では暫定的なもので良いが、当該臨床研究の進展に応じて適切に見直し、臨床上の有効性及び安全性に関連する品質特性を適切に把握するものとする。 - 厚生労働省

An input signal generating circuit 23 for the test is provided further to set optionally an L level and an H level when testing an LSI, and a signal therein and the output signal S1 are switched by the third selector 19 to be connected to an input of the first boundary scan register.例文帳に追加

ＬＳＩテスト時に任意にＬとＨを設定できるテスト用入力信号生成回路２３を更に備え、その信号と出力信号Ｓ１を第３のセレクタ１９により切り替えて、第１のバウンダリスキャンレジスタの入力に接続する。 - 特許庁

A calibration mode is set by a CAL.SET switch 302b, and in the case of setting this mode, the luminance ratio of a film plane to the image pickup surface is calculated by test-exposing an object whose luminance is a standard one, and the ratio is previously stored in a memory.例文帳に追加

ＣＡＬ．ＳＥＴスイッチ３０２ｂによりキャリブレーションモードが設定可能で、このモードでは標準的な明るさを有する被写体をテスト露光することによりフィルム面と撮像面との輝度比が算出され、予めメモリに記憶される。 - 特許庁

Meanwhile, when read error is caused by test reproduction in an outer periphery in starting, it is that warp exists in the optical disk 10 and restriction of the maximum speed is released, speed is set to the allowable maximum speed of the optical disk device, warp is corrected by centrifugal force.例文帳に追加

一方、起動時の外周における試し再生によりリードエラーが生じた場合には光ディスク１０に反りがあるとして最高速度制限を解除し、光ディスク装置の許容最高速度に設定し、遠心力により反りを矯正する。 - 特許庁

At least either frequency information for driving the primary coil L1 or drive pattern information of the primary coil L1 can be set in the test register 216, thereby the frequency or driving pattern in continuous power transmission can be selected as required.例文帳に追加

また、テストレジスタ２１６には、１次コイルＬ１の駆動のための周波数情報および１次コイルの駆動パターン情報の少なくとも一方を設定することができ、これによって、連続送電時の周波数や駆動パターンを適宜、選択することができる。 - 特許庁

(4) Of the check-items of the medical examination set forth in paragraph (1) (limited to the periodical ones), the check-item (limited to hearing test) listed in item (iii) of paragraph (1) of Article 44 may be substituted by a hearing test deemed appropriate by the physician (excluding the hearing pertaining to the sound levels of 1,000 Hz or 4,000 Hz) for a person who has already received the said hearing test of the previous medical examination or a person who is under 45 years old (excluding those who are 35 and 40), notwithstanding the provisions of paragraph (1). 例文帳に追加

４　第一項の健康診断（定期のものに限る。）の項目のうち第四十四条第一項第三号に掲げる項目（聴力の検査に限る。）は、前回の健康診断において当該項目について健康診断を受けた者又は四十五歳未満の者（三十五歳及び四十歳の者を除く。）については、第一項の規定にかかわらず、医師が適当と認める聴力（千ヘルツ又は四千ヘルツの音に係る聴力を除く。）の検査をもつて代えることができる。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

Test writing is performed in a predetermined area of an optical disk by obtaining a maximum signal amplitude position and a minimum reproduced error signal position of an RF signal by varying a focal offset, setting the focal offset between both positions, and controlling an optical head based on the set focal offset.例文帳に追加

フォーカスオフセットを可変しＲＦ信号の信号振幅の最大位置と再生エラー信号の最小位置とを求め、該両位置間でフォーカスオフセットを設定し、該設定したフォーカスオフセットに基づき光ヘッドを制御し、光ディスクの所定領域に試し書きを行う。 - 特許庁

To provide a recorder which can set a correction amount of the conveyance amount of a recording medium optimally by recording a test pattern used for setting a correction amount of the conveyance amount of a recording medium accurately, and to provide a method for correcting the conveyance amount of a recording medium.例文帳に追加

記録媒体の搬送量の補正量を設定するために用いるテストパターンを適確に記録して、記録媒体の搬送量の補正量を最適に設定することができる記録装置、および記録媒体の搬送量補正方法を提供すること。 - 特許庁

After a test signal is sounded from a master unit speaker 22 on receipt of a prescribed operation of a master unit 2, a reception offset continuation time is set if a transmission voice detector 49 detects a time in which an input level of a master unit microphone 21 becomes lower than the transmission voice threshold.例文帳に追加

受話オフセット継続時間は、親機２の所定の操作を受けて、テスト信号を親機スピーカ２２から報音させた後、親機マイク２１の入力レベルが送話音声閾値を下回るまでの時間を送話音声検出部４９が検出して設定される。 - 特許庁

When a seek control flag for self diagnosis is set, a seek control part 5 sets a cylinder value for self-diagnosis test and seek instructions to a servo control firmware 6 so that a head is positioned on a cylinder for diagnosis which is provided on the system area of a disk 9.例文帳に追加

自己診断用シーク制御フラグがセットされている場合には、シーク制御部５は、ディスク９のシステムエリア上に備えられた診断用シリンダにヘッドを位置づけるように、自己診断テスト用シリンダ値およびシーク命令をサーボ制御ファーム６にセットする。 - 特許庁

To provide a polishing method which can set a polishing time with high accuracy corresponding to the kind of a wafer to be polished or the changeover of a process without executing test polishing which reduces throughput in a production line for a plurality of kinds of semiconductor devices, and to provide its system.例文帳に追加

多品種の半導体デバイスを生産するラインにおいて、スループットを低下させるテスト研磨を行わなくても、研磨対象ウェハの品種もしくは工程の切り変えに応じて研磨時間を精度良く設定できる研磨方法およびそのシステムを提供する。 - 特許庁

Upon receiving a specified command from an operating section 32, a controller 40 forms a test print image in a specified region at the left and right end parts within a printable region being recognized by the set values of left and right blanks and the coordinate values at the left and right ends of paper 2.例文帳に追加

コントローラ４０は、操作部３２から所定のコマンドが入力されたとき、左右余白の設定値及び検出された紙２の左右端の座標値から認識される印刷可能領域のうち左右端部の所定領域にテスト印刷画像を形成する。 - 特許庁

When used as the shock test device (b), a cam block 4 for a front wheel and a cam block 5 for a rear wheel are mounted on a drum 1 for the front wheel and a drum 2 for the rear wheel, respectively having a desired phase relation, and a clutch 10 is set in the power transmission state and a motor 7 is rotated.例文帳に追加

ショックテスト装置として用いる場合には（ｂ）、前輪用ドラム１と後輪用ドラム２に前輪用カムブロック４と後輪用カムブロック５をそれぞれ所望の位相関係で装着し、クラッチ１０を動力伝達状態としてモータ７を回転する。 - 特許庁

The edge of the existing pile of a test object and a foundation building frame of the existing building is cut, and a jack is set at an upper end part of the existing pile, and reaction is taken to a vicinal existing building frame, and the support performance is measured by applying a vertical load to the existing pile by the jack.例文帳に追加

試験対象の既存杭と既存建物の基礎躯体との縁を切り、既存杭の上端部へジャッキを設置し、近傍の既存建物躯体に反力をとり、前記ジャッキにより既存杭に鉛直荷重を加えて支持性能を測定する。 - 特許庁

A single microcomputer 60 provided therein reads in test select items inputted from an input unit 67 and writes the ID code of the collocation room facility of the end user or the telegraph company, as a select item, in a VDSL ship set 61.例文帳に追加

その中には１個のマイクロコンピュータ６０が設けられ、それによって入力ユニット６７で入力されたテスト選定項目を読み取り、選定項目としてのエンドユーザ又は電信業者のコロケーションルーム設備の識別コードをＶＤＳＬチップセット６１に書き込む。 - 特許庁

When the pulse signal is determined to be a signal having the specific pattern and a detection signal is outputted to a controller 17, the controller 17 executes test shutoff as prescribed internal processing set up correspondingly to the detection signal.例文帳に追加

パターン判定回路１６で前記パルス信号が特定のパターンを有する信号と判定され、検出信号がコントローラ１７に出力されると、コントローラ１７では前記検出信号に対応して設定された所定の内部処理として、テスト遮断を実行する。 - 特許庁

The elastic member for methanol fuel cell cartridge is constituted by an elastomer having permanent compression set of 1 to 80, hardness (Type A) of 40 to 70, and operation limit period at fuel cell DMFC performance test of 10,000 hours or longer.例文帳に追加

圧縮永久歪みが１〜８０で、硬度（Ｔｙｐｅ Ａ）が４０〜７０であり、かつ燃料電池のＤＭＦＣ性能試験による作動限界時間が１０，０００時間以上となるエラストマーによりメタノール燃料電池カートリッジ用弾性部材を構成する。 - 特許庁