「Defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(322ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an electrophotographic image forming apparatus that forms an image of high image quality free from an image defect such as a white stripe for a long period of time by preventing toner from being fused on a doctor blade of a developing device without scattering the toner into the image forming apparatus.例文帳に追加

電子写真方式の画像形成装置において、トナーの画像形成装置内部への飛散を起こすことなく、現像装置におけるドクターブレードへのトナーの融着を防止し、白すじなどの画像不良がない高画質画像を長期にわたって形成する。 - 特許庁

To provide an inkjet recording paper sheet, which has favorable ink absorbency, excellent high-speed recordability, high weatherability and by which highly glossy and high grade inkjet prints can be obtained under the condition that ununiform gloss as the defect of pigment ink is reduced.例文帳に追加

本発明の目的は、インク吸収性が良好で高速記録適性に優れ、高い耐候性を有し、しかも顔料インクの弱点である光沢ムラを軽減して高光沢・高品位のインクジェットプリントが得られるインクジェット記録用紙を提供することである。 - 特許庁

To obtain a polyester film that provides high-quality images actualizing high luminance and having neither unevenness nor defect and has excellent optical properties when used as various optical members such as a liquid crystal display, a plasma display, an organic EL, a projection display, etc.例文帳に追加

液晶ディスプレイ、プラズマディスプレイ、有機ＥＬ、プロジェクションディスプレイなどの各種光学部材として使用した際に、高度な輝度を実現することができ、ムラや欠陥がなく、高品質な画像を与えることのできる、光学的性能が良好なポリエステルフィルムを提供する。 - 特許庁

A robot hand provided with a bar-like tool 9 and a CCD camera rotation-driven around the axis, is inserted into the inner part of a cylinder bore 2 and the inner peripheral surface 20 of the bore is picked up while shifting downward and whether the casting defect 3, such as blow hole, exists or not, and this position, is specified.例文帳に追加

軸心周りに回転駆動される棒状ツール９とＣＣＤカメラとを備えたハンドを上方からシリンダボア２の内部に入れ、下方に移動させながらボア内周面２ａを撮像して鋳巣等の鋳物欠陥３の有無とその位置を特定する。 - 特許庁

By rotating a cleaning brush 203 for a specified time or more at the time of supplying power, the tilt of bristles formed because the brush 203 is still kept in contact with a photoreceptor drum 200 when the machine is not used before is restored, so that an image defect caused by the tilt of the bristles is prevented.例文帳に追加

電源投入時に所定時間以上にわたってクリーニングブラシ２０３を回転させ、それ以前の機械不使用時に感光体ドラム２００と接したままになっていることによって形成された毛倒れを戻し、毛倒れによる画像不良を防止する。 - 特許庁

To provide an original sheet for a steel sheet for a can in which surface roughness can be stably controlled to the low one, and the defect in a gloss after tinning is not caused, to provide a method for producing the same, to provide a steel sheet for a can obtained from the original sheet, and to provide a method for producing the same.例文帳に追加

めっき原板の表面粗度を安定して小さく制御でき、すずめっき後の光沢不良を引き起こすことのない缶用鋼板用原板とその製造方法ならびにその原板から得られる缶用鋼板とその製造方法を提案する。 - 特許庁

To provide a lens sheet which holds superior contactness even after a long time has elapsed, is free of an image defect of a liquid crystal display device due to peeling on the interface between a light-transmissive base material and a lens made of active-energy-ray setting resin, and makes it possible to obtain an image of high quality.例文帳に追加

長時間経過後においても優れた密着性を保持し、透光性基材と活性エネルギー線硬化樹脂からなるレンズとの界面で剥離による液晶表示装置などの画像欠陥のない、高品位の画像が得られるレンズシートを提供する。 - 特許庁

To improve the defect of polylactic acid that the flexibility of the resin is poor and it is readily cracked, as it can retain the merit of the excellent biodegradability.例文帳に追加

ポリ乳酸は、暫らく放置すると自然に分解して無害なものになる、という長所を持っているが、反面、柔軟性に乏しく衝撃を受けると割れ易いという欠点をもっているので、ポリ乳酸の上記長所を残したまま上記欠点を改良しようとする。 - 特許庁

To provide a diversity antenna device by which antenna elements can be switched or selected in short period of time, and the possibility of causing reception defect due to the deterioration of a reception state can be reduced without taking time for changing the directivity of a diversity antenna.例文帳に追加

アンテナ素子の切替やアンテナ素子選択が短時間で済み、ダイバシティアンテナの指向性の変更に時間を要せず、その間に受信状態が悪化して受信不良を起こす可能性を小さくできるダイバシティアンテナ装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

In the manufacture of the defective mask for inspecting a defect in a pattern transfer mask used in a semiconductor lithography process, the mask pattern 4 that is the same as a pattern transfer mask to be inspected is formed on a mask substrate that becomes the base of the defective mask.例文帳に追加

半導体体リソグラフィ工程にて用いられるパターン転写マスクの欠陥を検査するための欠陥マスクを製造するのにあたり、その欠陥マスクの基となるマスク基板上に、検査対象となるパターン転写マスクと同一のマスクパターン４を形成する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device in which a single crystal Si thin film device can be formed easily on an insulating substrate without using an adhesive, and which contains a single crystal Si thin film wherein surface defect is eliminated and film thickness is small and uniform, and a method for manufacturing the semiconductor device.例文帳に追加

単結晶Ｓｉ薄膜デバイスを絶縁基板に接着剤を使用することなく容易に形成可能であって、表面欠陥を除去した、膜厚が薄くかつ均一な単結晶Ｓｉ薄膜を含む半導体装置およびその製造方法を提供する。 - 特許庁

The defect detector comprises: XY coordinate transformation means 112 as coordinate transformation means for exciting an epitaxial growth substrate 17 where a compound semiconductor layer is grown epitaxially on a single crystal substrate by applying exciting light from above and then mapping the light emission intensity of photoluminescence over the whole epitaxial growth substrate; and defect detection means 113 for sequentially detecting defective pixels by using the difference between multiple pixels divided into coordinates by the coordinate transformation means 112 and multiple pixels adjacent thereto.例文帳に追加

単結晶基板上に化合物半導体層をエピタキシャル成長させたエピタキシャル成長基板１７の上方より励起光を照射して励起した後に、フォトルミネッセンスによる発光強度のマッピングをエピタキシャル成長基板全体に渡って行う座標変換手段としてのＸＹ座標変換手段１１２と、座標変換手段１１２により座標に分割された複数のピクセルのそれぞれとこれに隣接する複数ピクセルとの差を用いて、欠陥検出すべきピクセルが欠陥ピクセルかどうかを順次検出する欠陥検出手段１１３とを有している。 - 特許庁

The period of the defect warranty liability is limited to the following periods: one (1) year after the user becomes aware of the defect (Articles 570 and 566 of the Civil Code ［Sales Contract］) or one (1) year after delivery (Article 637 of the Civil Code ［Work Contract］); provided that if the user is a business entity, Article 526 of the Commercial Code applies and the period is six (6) months after delivery. The liability period of the non-performance of main obligation is limited to ten (10) years from the date the program is delivered (Paragraph 1, Article 167 of the Civil Code). 例文帳に追加

瑕疵担保責任を問うことのできる期間は、ユーザーが瑕疵を知ったときから１年（売買の場合、民法第５７０条、第５６６条）又は、引渡しを受けたときから１年（請負の場合、民法第６３７条）である。ただし、ベンダーとユーザーの双方が事業者である売買の場合は、商法第５２６条の規定が適用され、引渡しを受けたときから６か月である。また、債務不履行責任は、債務不履行の時から１０年で時効により消滅する（民法第１６７条第１項）。 - 経済産業省

In this nonvolatile semiconductor storage element, a storage part 200 equipped with two transistors as one set by the standard CMOS process makes a hole and an electron generated when an inter-band tunnel current generated between a source and a semiconductor substrate flows trapped in a crystal defect in the vicinity of the boundary of the semiconductor substrate and a gate oxide film.例文帳に追加

標準的なＣＭＯＳプロセスによるトランジスタ二個を一組とし備える記憶部２００は、ソース・半導体基板間に発生するバンド間トンネル電流が流れる際に発生する正孔と電子を、半導体基板とゲート酸化膜の境界付近にある結晶欠陥にトラップさせる。 - 特許庁

To provide an electrostatic charging member provided with a resistance layer being free from the occurrence of an image defect as a result of resistance unevenness, and an electrophotographic device forming a uniform and faithful image being free from unevenness, even adopting thermoplastic resin or elastomer for a resistance layer of an electrostatic charging member.例文帳に追加

帯電部材の抵抗層に熱可塑性樹脂やエラストマーを用いても、抵抗ムラによる画像不良を発生しない抵抗層を有する帯電部材を提供し、かつムラのない均一かつ忠実な画像と形成する電子写真装置を提供することにある。 - 特許庁

By using the light-receiving result of return light of a sub-beam spot SP1 for tracking control formed in the preceding side of scanning of a main beam spot SP0, the change of a signal level caused by the building up of the light quantity of a laser beam is suppressed and the defect of an optical disk 3 is detected.例文帳に追加

本発明は、主のビームスポットＳＰ０の走査に対して、先行する側に形成されるトラッキング制御用の副のビームスポットＳＰ１の戻り光の受光結果より、レーザービームの光量の立ち上げによる信号レベルの変化を抑圧し、光ディスク３の欠陥を検出する。 - 特許庁

To prevent a defect due to redeposit of a coated substance in a spin coat method which is implemented to solve a problem of depositing a solid substance solidified with a coating liquid scattered in a device to a coated surface in the coating by the spin coat method.例文帳に追加

本発明はスピンコート法による塗布において、装置内部に飛散した塗布液が固化した固形物が塗布面に付着するという問題を解決するためになされたものであり、スピンコート法において塗布物の再付着による欠陥を防止することを目的とする - 特許庁

With respect to an outflow type defective element from which charge flows out to adjacent elements (or peripheral elements) because of a defect etc. in a read circuit of a detector, a signal outflow function f(x) expressing the ratio of outflow is held in a storage part 202 as an influence amount parameter 205.例文帳に追加

検出器の読出回路の不具合等によって、電荷が隣接素子（或いは周辺素子）に流出してしまう流出型欠陥素子について、流出の割合を表した信号流出関数ｆ（ｘ）を影響量パラメータ２０５として記憶部２０２に保持しておく。 - 特許庁

When a defect occurs in an optional sector f, and it is decided as the fault sector, plural sectors d, e, f containing the fault sector equal to a data size of a recording or reproducing command for the address of the fault sector sent to an information recording/reproducing device are re-arranged in an alternate area 11.例文帳に追加

任意のセクタｆで欠陥が生じ不良セクタと判定した場合、情報記録再生装置に送られた当該不良セクタのアドレスに対する記録又は再生命令のデータサイズと等しい当該不良セクタを含む複数のセクタｄ，ｅ，ｆを、交替領域１１に再配置する。 - 特許庁

To provide a polyester monofilament that not only slightly causes white powder scum, but also easily removes a foreign matter such as slightly produced white powder scum etc., has no defect such as warp stripes etc., in an obtained gauze in weaving a screen gauze and is suitable for producing a high-quality and high-density screen gauze.例文帳に追加

スクリーン紗製織時において、白粉スカムの発生が少ないばかりではなく、わずかに発生する白粉スカムなどの異物を容易に除去でき、得られる紗には経筋などの欠点もなく、品位の優れた高密度スクリーン紗を製造するのに好適なポリエステルモノフィラメントを提供すること。 - 特許庁

To provide a heat-shrinkable polyolefin film which is free from a defect in appearance such as a fish eye, capable of a center seal by an organic solvent, excellent in waist strength and impact resistance, and used suitably for, for example, shrinkable packaging, shrinkable bundling packaging, and a shrinkable label.例文帳に追加

フィッシュアイなどの外観上の不具合がなく、かつ有機溶剤によりセンターシールが可能である上、優れた腰強度及び耐衝撃性を有し、例えば収縮包装、収縮結束包装、収縮ラベルなどの用途に好適に用いられるポリオレフィン系熱収縮性フィルムを提供すること。 - 特許庁

To provide a substrate for a liquid crystal display device provided with a photospacer which has a sufficient process margin without leaving air bubbles even after liquid crystal injection in an ODF system and hardly gives rise to a display defect even when a pressure is exerted to the liquid crystal panel from the outside after liquid crystal panelizing.例文帳に追加

ＯＤＦ方式での液晶注入においても気泡を残さず十分なプロセスマージンを有するとともに、液晶パネル化後に外部から圧力が液晶パネルに加わった場合にも表示不良を生じ難い、フォトスペーサを備えた液晶表示装置用基板を提供すること。 - 特許庁

To eliminate a defect of a light-emitting type display, increase the reflectivity to the front side of light from an illuminant by enhancing the reflectance, and provide the substrate for the rear face in which reflection of external light or the like is suppressed, and provide a display constituted by using this.例文帳に追加

発光型のディスプレイにおける欠点を解消し、発光体からの光の反射率を高めて前面側に向かう割合を増加させると共に、外光等の反射を抑制した背面用基板およびこれを用いて構成されたディスプレイを提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a magnetic disk test method or a certifier which reduces a write connecting region of test burst signals in a test track, which become non-test areas, and also reduces error of defect detection of the write connecting region when errors of a magnetic disk are detected.例文帳に追加

未検査エリアとなる検査トラックにおけるテストバースト信号の書きつなぎ領域を低減しかつ磁気ディスクのエラー検出をする際に書きつなぎ領域の欠陥誤検出を低減することができる磁気ディスクの検査方法あるいはサーテファイアを提供することにある。 - 特許庁

The information recording device includes an initialization processing section 1072 which, during the physical reformatting of the information recording medium, while maintaining at least the defect location information among the defective management information, rewrites the defective status information with attribute indicating that the defective area has been physically reformatted.例文帳に追加

情報記録装置は、情報記録媒体の物理再フォーマット時に、欠陥管理情報のうち少なくとも欠陥位置情報を維持する一方、欠陥状態情報を、当該欠陥領域に対して物理再フォーマットを行った旨を示す属性に書き換える初期化処理部１０７２を備える。 - 特許庁

To provide a positive photosensitive resin composition excellent in pattern collapse margin with excellent fine pattern formation, excellent pattern shape, and less development defect even in not only normal exposure (dry exposure) but also immersion exposure, and to provide a pattern forming method using it.例文帳に追加

通常露光（ドライ露光）のみならず液浸露光においても、微細で良好なパターン形成が可能で、パターン形状が良好であり、現像欠陥が極めて少なく、且つパターン倒れマージンに優れた、ポジ型感光性樹脂組成物及びそれを用いたパターン形成方法を提供する。 - 特許庁

To provide a laser light source which can be operated at room temperature and is capable of efficiently generate deep ultraviolet rays and to provide a mask inspection device and an exposure device which have a high defect detection sensitivity due to this deep ultraviolet laser light source and are small-sized and stable.例文帳に追加

室温で動作することが可能な深紫外光を効率良く発生できるレーザ光源を提供することであり、また、この深紫外光レーザ光源により、高い欠陥検出感度を有する小型で安定したマスク検査装置及び露光装置を提供することを目的とする。 - 特許庁

To provide a laminate which is produced with a large area and at low cost by a simpler manufacturing process such as a roll-to-roll method and which includes a polymer film having a microphase separation structure including no defect, grain structure or the like, and also to provide a method of manufacturing the laminate.例文帳に追加

ロールトゥロール（Roll to Roll）方式などのより簡易な製造プロセスによって大面積かつ低コストで生産することができ、欠陥やグレイン構造などが含まれないミクロ相分離構造を有する高分子膜を備える積層体、およびその積層体を製造する方法を提供する。 - 特許庁

An error detection section 25A detects the word delimiter data included in the data S21 for detection of occurrence of a synchronization defect between the received serial data and the reproduce clock sign in the case that position data denoting the detection position are dissident as to two word delimiter data with the same data stream inbetween.例文帳に追加

エラー検出部２５Ａにおいて、データＳ２１に含まれるワード区切りデータが検出され、この検出位置を示す位置データが同一のデータ列を挟む２つのワード区切りデータについて一致しない場合に、受信シリアルデータと再生クロック信号とが同期不良を起こしていることを検出する。 - 特許庁

To provide a plug with a built-in pressure sensor excellent in durability by forming a weld part for fixing a sensor case to a main metal fitting on the whole circumference without causing a welding defect by clearance formation to ensure the waterproofing property and airtightness, and a method for manufacturing it.例文帳に追加

センサケースを主体金具に固定するための溶接部が隙間形成による溶接欠陥を生じることなく全周形成され、圧力センサの耐水性・気密性を確保することにより、耐久性に優れた圧力センサ内蔵プラグとその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a translucent-reflective liquid crystal display device which is a single polarizing plate provided having with only one polarizer with which reflective displaying with external light and transmissive displaying with backlight illumination can be attained, and display unevenness and alignment defect can be reduced.例文帳に追加

偏光板を１枚しか設けない単偏光板方式の液晶表示装置において、外光による反射表示と、バックライト照明による透過表示が可能で、かつ、表示ムラや配向不良欠陥が少ない半透過反射型液晶表示装置を提供することである。 - 特許庁

To provide a baking container for silicon nitride-based ceramic in which a silicon nitride-based molded article, especially, a honeycomb molded article containing metal silicon particles and/or silicon nitride particles can be subjected to thermal treatment such as nitrization and burning without any deformation and defect, with accuracy in shape, high quality and high efficiency.例文帳に追加

窒化ケイ素質成形体、特に金属ケイ素粒子および／または窒化ケイ素粒子を含むハニカム成形体を、変形や欠陥等なく形状精度よく、高品質で高効率に、窒化、焼成などの熱処理ができる窒化ケイ素質セラミックス用焼成容器の提供。 - 特許庁

To enable high-speed, stable, and accurate inspection of circuit pattern having insulating materials in a method for inspection by detecting a defect, contamination, residue, or the like appearing on the circuit pattern of a semiconductor-device wafer, by radiating an electron beam onto the wafer and comparing the secondary electron image with a reference image.例文帳に追加

半導体装置等基板上で発生した回路パターンの欠陥、異物、残渣等を電子線をウエハに入射して二次電子像を比較することにより検査する方法において、絶縁材料を有する回路パターンを高速に且つ安定して高精度に検査可能とする。 - 特許庁

Then, it is easy to confirm whether or not to be able to correctly decode and process defective information in the recorder/player by using a test disk utilizing a mirror file having settled defective information that is not related to an actual defect on the disk in a DMA information confirmation test mode.例文帳に追加

従って、ＤＭＡ情報確認テストモードによりディスク上の実際の欠陥と関連のない既決欠陥情報を持つミラーファイルを利用したテストディスクを使用することにより、記録及び再生装置にて正しく欠陥情報を解読し処理できるか否かが容易に確認される。 - 特許庁

To realize a biochemical automatic analyzer capable of investigating influence of contamination without respect to the degree of knowledge and skill of a user and informing occurrence of a defect in a function suppressing generation of contamination to the user for preventing generation of a measurement error.例文帳に追加

コンタミネーションの影響調査をユーザの知識・技術力の差に関係なく行うことができる生化学自動分析装置においてコンタミネーションの発生を抑制する機能の不具合の発生をユーザに知らせ測定誤差の発生を防止可能な生化学自動分析装置を実現する。 - 特許庁

An element drive transistor for controlling a drive current to supply to an EL element is operated in its linear region and a demerit point defect due to short circuit of the EL element is detected based on the emission luminance or a cathode current when the EL element is made an emission level.例文帳に追加

ＥＬ素子に供給する駆動電流を制御するための素子駆動トランジスタをその線形領域で動作させ、ＥＬ素子を発光レベルとしたときの発光輝度又はカソード電流に基づくことで、ＥＬ素子のショートに起因した滅点欠陥を検出する。 - 特許庁

To eliminate such a defect that a resin constituting a decorative sheet is crystallized by high temperature applied when the decorative sheet and a metal panel are laminated and a conventional decorative metal panel using a polyolefinic resin is whitened at a time of bending processing and generates fine cracks.例文帳に追加

従来のポリオレフィン系樹脂を使用した化粧金属板が、化粧シートと金属板との積層の際に加えられる高温のために、化粧シートを構成する樹脂の結晶化により、折り曲げ加工の際に白化したり、微細なひび割れが生じる等の欠点を有していた点を解消する。 - 特許庁

Further, if an insulated thin film is arranged between a semiconductor substrate and the nonlinear optical silica thin film, diffusion of an undesired impurity or the like for the semiconductor device or other device and occurrence of crystal defect of the substrate being due to the silica thin film can be prevented.例文帳に追加

なお、半導体基板と上記非線形光学シリカ薄膜との間に絶縁性薄膜を介在配置すれば、半導体基板や他の素子に不要な不純物などが拡散したり、基板に上記シリカ薄膜に起因した結晶欠陥が発生することを防止できる。 - 特許庁

In electron beam type automatic defect inspection equipment comprising an X-ray detector, the X-ray spectrum and image of a dust generated on a wafer for process QC are registered as reference data and defects occurring on the process wafer are sorted with reference to the reference data.例文帳に追加

Ｘ線検出器を備えた電子線式自動欠陥検査装置において、プロセスＱＣ用ウエーハ上に生じた異物のＸ線スペクトルと画像とを参照用データとして登録し、前記参照用データを照会してプロセスウエーハ上に生じた欠陥を分類する。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing an electro-luminescence element for prematurely evaluating the acceptability of the formed state of a light emitting layer without energization in the production process for an organic EL display device and increasing a production efficiency by omitting wasteful steps after the evaluation when a defect is found.例文帳に追加

有機ＥＬ表示装置の製造過程で、通電を行わずに発光層の形成状態の良否を早期に評価することができ、不良が発覚した場合にはその後の無駄な工程を実施しないようにして生産効率を向上できる製造方法を提供する。 - 特許庁

To prevent defective insulation or short circuit due to contact between a bonding wire of an electronic component at a lower stage side and an electronic component at an upper stage side, in addition, to suppress exfoliation defect among electronic components or increase in the production cost.例文帳に追加

複数の半導体素子等の電子部品を積層して搭載した積層型電子部品において、下段側の電子部品のボンディングワイヤと上段側の電子部品との接触に基づく絶縁不良やショート等を防止した上で、電子部品間の剥離不良や製造コストの増加等を抑制する。 - 特許庁

A lens 10 includes: a plastic lens base material 1; and a transparent anti-reflection layer 3 formed on the base material 1 through a hard coat layer 2, wherein ion is radiated to the surface of one layer 32 of the anti-reflection layer 3 to introduce oxygen defect and improve the conductivity.例文帳に追加

プラスチックレンズ基材１と、この基材１の上にハードコート層２を介して形成された透光性の反射防止層３とを有し、反射防止層３の１つの層３２の表面にイオンを照射して酸素欠陥を導入して導電性を向上したレンズ１０を提供する。 - 特許庁

Even when a surge voltage is applied, since a pn junction is formed by the n-type semiconductor layer region 130 and the p type impurity diffusion region 170, the concentration of the surge voltage on a defect is prevented and the destruction of the dielectric separation membrane 120 is prevented.例文帳に追加

サージ電圧が印加されたとしても、ｎ−型半導体層領域１３０とｐ型不純物拡散領域１７０とによりｐｎ接合が形成されているため、サージ電圧が欠陥に集中することを防ぎ、誘電体分離膜１２０の破壊を防止することができる。 - 特許庁

This prevention relates to a method for repairing a defect 3 on the surface or in the vicinity of the surface of artificial marble 1 obtained by forming a coating layer 2 on the surface of a resin molded body composed of a polymer consisting mainly of a thermosetting resin or a thermoplastic resin and an inorganic filler.例文帳に追加

熱硬化性樹脂又は熱可塑性樹脂を主体とする重合体と無機充填材から成る樹脂成形体の表面にコーティング層２を形成して成る人工大理石１の表面又は表面近傍の欠陥３を補修するための方法である。 - 特許庁

A shape to be generated by the processing according to the cutter location simulation is predicted by using cutting simulation, transfer simulation is conducted for the predicted shape after processing, and fulfillment of a required transmittance value on a processed position is confirmed, and then the defect is eliminated by processing according to the cutter location simulation.例文帳に追加

カッターロケーションシミュレーションどおり加工したときの形状を切削シミュレーションで予測し、予測した加工後の形状に対して転写シミュレーションを行い加工個所の透過率が必要とされる値を満たすことを確認してからカッターロケーションシミュレーションどおりに加工して欠陥を除去する。 - 特許庁