「Defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(323ページ目) - Weblio英語例文検索

Voltages of the capacitance elements of the first and the second pixel parts are read out via the pixel transistors and the defect of the pixel part is detected based on a result obtained by comparing the voltages of the capacitance elements of the first and the second pixel parts with each other.例文帳に追加

続いて、前記画素トランジスタを介して第１の画素部の容量素子の電圧及び第２の画素部の容量素子の電圧を読み出し、第１の画素部の容量素子の電圧と第２の画素部の容量素子の電圧とを比較した結果に基づいて画素部の不良を検出する。 - 特許庁

The problem of a structural defect caused by the formation of a coarse structure, which occurs when the board 1 is manufactured by a dry method, is overcome by setting the width of the groove 2 at 10 mm or less, and an emboss resistance (press load) is reduced when the board 1 is manufactured by a wet method.例文帳に追加

また縦目地溝２の巾を１０ｍｍ以下に設定することによってこの板１が乾式法で製造された場合に発生する粗構造の形成による構造欠陥の問題を解消し、湿式法で製造された場合のエンボス抵抗（プレス負荷）を軽減する。 - 特許庁

To provide a two-cylinder test capable of detecting abnormality before a defect such as peeling or the like is produced from a rotating test piece in a simple and accurate AE detecting method and capable of detecting the initial fatigue damage produced in the test piece with high sensitivity, and to provide a two-cylinder testing machine.例文帳に追加

簡潔で適確なＡＥ検出方法で、回転する試験片からはく離等の欠陥が発生する前に異常を検知することができ、試験片に発生する初期の疲れ損傷を高感度で検出可能な二円筒試験およびその装置を提供することにある。 - 特許庁

When there is a defect in any of the equipment side and terminal connection side after terminal connection processing, the flexible wiring board 1 after peel processing is cut off along the cut off space 6, and part of the board side connection terminal 5 is isolated from the flexible wiring board 1 after peel processing.例文帳に追加

端子接続処理後の機器側および端子接続側のいずれかに不良がある場合に、剥離処理後のフレキシブル配線基板１を切断スペース６に沿って切断して、剥離処理後のフレキシブル配線基板１から基板側接続端子５の部分を切り離す。 - 特許庁

To provide: a semiconductor device package capable of preventing a defect of a seal ring part and a connection part for electrical connection that may occur during the production process for mounting a semiconductor device package on an external circuit substrate via its solder ball; and a method for manufacturing and mounting the same.例文帳に追加

半導体素子パッケージを、そのソルダーボールを介して外部回路基板に実装する生産工程中に発生しうるシールリング部及び電気的な接続のための接続部における不良を防ぐことのできる半導体素子パッケージと、その製造および実装方法を提供する。 - 特許庁

To prevent occurrence of the detection of brake out caused by the defect of the stability in the temperature of a mold frequently shown in the case the content of SiO_2 in mold powder is reduced for dealing with the problem of contamination of the powder to a slab causing the surface flaw of a cold-rolled steel sheet.例文帳に追加

冷間圧延鋼板の表面疵の原因となる鋳片へのモールドパウダーの巻き込みの問題に対処するためパウダーのＳｉＯ_２の含有量を減らした場合に多く見られる、鋳型温度安定度の不良に起因するブレークアウトの検知の発生を防止する。 - 特許庁

To provide an image forming apparatus capable of avoiding trouble such as an electrostatic attraction defect due to more electric charges for electrostatic attraction imparted to transfer paper P while making less deterioration of a belt member 160 due to supply of a transfer current at a transfer position.例文帳に追加

転写位置で転写電流を流すことによるベルト部材１６０の劣化をより抑えつつ、静電吸着用の電荷を転写紙Ｐにより多く付与することに起因する静電吸着不良等の不具合を回避することができる画像形成装置を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection apparatus and method for practically and efficiently inspecting a failure in a disk device caused by a change in a magnetic disk itself, which is inspected before assembling of a hard disk since the defect of the magnetic disk occurs among the failure contents of the hard disk.例文帳に追加

ハードディスクの不良内容のうち、磁気ディスクの欠陥不良が発生しており、ハードディスク組み立て前に磁気ディスクの検査を行っているが、磁気ディスク自体の変化による単体不良の実用的かつ効率的な検査装置およびその検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide an improved method for welding metal foil to a cylindrical metal pin where the defect in resistance welding that the interruption of a production process occurs by the exchange of a consumed welding electrode at regular intervals is avoided, and to provide a lamp realized by the method.例文帳に追加

消耗した溶接電極を規則的なインターバルで交換することにより製造プロセスの中断が生じてしまう抵抗溶接の欠点を回避する、円柱状メタルピンにメタルフォイルを溶接するための改善された方法及びこの方法により実現されるランプを提供することである。 - 特許庁

To prevent a defect from being generated in a separation process in a method for creating a laminated substrate by laminating first and second substrates with a porous layer and separating the laminated substrate into two substrates at the part of the porous layer for manufacturing an SOI substrate.例文帳に追加

多孔質層を有する第１の基板と第２の基板とを貼り合わせて貼り合わせ基板を作成し、該貼り合わせ基板を基板を多孔質層の部分で２枚の基板に分離してＳＯＩ基板を製造する方法において、分離工程における欠陥の発生を防止する。 - 特許庁

To provide a method for producing acrylic-based artificial marble free of a defect such as uneven shading, poor contrast or the like, and uniform in appearance, and excellent in mechanical property, by carrying out casting polymerization of slurry containing an inorganic powder and crushed particles with a diameter of 0.1-10 mm.例文帳に追加

無機粉末および粒子径が０．１〜１０ｍｍの破砕粒子を含有したスラリーを注入して注型重合を行い、濃淡斑、コントラスト不良等の欠点がなく、外観が均一で機械的物性に優れるアクリル系人工大理石の得られる製造方法を提供すること。 - 特許庁

As a result, the measurement of the gamma voltages outputted by the gamma voltage levels generated within a driver IC by using an external output pins of the IC and instruction words is made possible and the effective utilization for gamma tuning, improvement of image quality, defect analysis, and driving analysis, etc., is made possible.例文帳に追加

これによって、ドライバＩＣの外部出力ピン及びテスト用命令語を使用して、ＩＣ内部で生成されるガンマ電圧レベル別に出力されるガンマ電圧を測定可能となり、ガンマチューニング、画質改善、不良分析、及び駆動分析等に活用することができる。 - 特許庁

To provide a surface treatment agent for sheet used for ink jet printing paper that solves the problem such as thickening or agglomeration in a coating color dispersion, which has been a defect in the conventional cationic polymer prepared by polycondensation, and that can uniformly form a coating layer and can enhance water resistance.例文帳に追加

従来の重縮合系カチオン性重合体の欠点であったコートカラー分散液の増粘あるいは凝集などの問題点を解決し、均一に塗工層を形成でき、かつ耐水性を向上できるインクジェット方式印刷用紙用のシート表面処理剤を提供する。 - 特許庁

To provide a method for coating a building board preventing attaching of ink mist at an ink delivering port of an ink jet head, when ink jet-coating the lower face of a building board by the ink jet head disposed under the building board, to reduce occurrence of picture quality defect.例文帳に追加

板状建材の下方に配設したインクジェットヘッドによって、板状建材の下面にインクジェット塗装を行う際に、該インクジェットヘッドのインク吐出口にインクミストが付着することを防止し、もって画質不良の発生を低減し得る板状建材塗装方法を提供する。 - 特許庁

To provide an information display panel hardly causing disconnection by providing a route wiring part avoiding electric corrosion therein, and capable preventing the generation of a defect in a pixel comprising an electrode present ahead of a wiring line which causes disconnection or is liable to cause disconnection.例文帳に追加

引き回し配線部で電蝕が発生しないように引き回し配線部を設けて、断線が起こりにくくし、断線を生じたか、もしくは、断線しやすくなった配線の先にある電極が構成する画素に欠陥が発生するのを防止することのできる情報表示用パネルを提供する。 - 特許庁

To provide a process for producing an oxide magnetic body in which remanent magnetic flux density can be enhanced, although it has been difficult hitherto, by improving the defect of dry molding, i.e. so-called "the ratio of remanent magnetization/saturation magnetization" in dry molding having high molding speed as compared with wet molding.例文帳に追加

湿式成形に比べて成形速度が速い乾式成形において、乾式成形の欠点であるといわれる「（残留磁化／飽和磁化）の比」を改善して、従来より困難であるとされていた残留磁束密度を向上させることのできる酸化物磁性体の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a cold cathode fluorescent lamp in which an intermediate electrode is prepared to eliminate the defect of unstable discharge due to current leakage from the lamp when a long-sized fluorescent lamp is used in a high frequency region of a low current region and to make it possible to discharge stably.例文帳に追加

長尺型の蛍光ランプを低電流領域の高周波領域で使用すると、ランプからの電流漏れが発生し、放電が不安定になる虞があったが、これを中間電極を設けることにより回避して安定した放電を可能とした冷陰極蛍光ランプを提供する。 - 特許庁

To provide a method in which a cast and forged product without a substantially problematic defect even when used in a later forging process is inspected with high inspection accuracy and with satisfactory efficiency, by a method wherein a so-called preform after a casting operation or a finished product as required is inspected.例文帳に追加

鋳造後のいわゆるプリフォーム或いは必要により完成部品を検査することにより、その後の鍛造工程で使用しても、実質的に問題となるような欠陥を有しない鋳造鍛造品を検査精度高く、かつ、検査効率よく、検査する方法の提供。 - 特許庁

In this surface defect inspection device, the light emitting elements 30 are arranged consecutively to remain a prescribed shape of dark face in an inside, in the lay-out pattern, and arranged to receive the irradiation light of each of the light emitting elements 30 reflected from the inspected face on at least one dark face 31 by the imaging camera 4.例文帳に追加

レイアウトパターンが発光素子３０を内側に所定形状の暗面を残すように連続的に配置させたものであり、少なくとも１つの暗面３１に撮像カメラ４が被検査面から反射される各発光素子３０の照射光を受光するように配置する。 - 特許庁

To solve such a problem that, in an aluminum molding, an alumite film and a pore sealing film are extremely hard films, and, as hard metal films are further vapor-deposited thereon in a multilayer, the strength of the whole layer is deteriorated, and the respective films pull each other, so as to generate microcracks and the defect in adhesion.例文帳に追加

アルミニウム形成品において、アルマイト膜や封孔処理膜は非常に硬い膜であり、その上面に更に硬い金属膜を多層に蒸着して行くと全体の層の強度が衰え夫々の膜同士が引っ張り合いマイクロクラックや密着不良が発生するものと考慮される。 - 特許庁

To provide an electrophotographic photoreceptor realizing high image quality recording whose resolution is ≥1,200 dpi and eliminating an image defect such as an interference fringe pattern (moire) by setting the surface roughness of a conductive supporting body to a specified range, and an image forming method using the same.例文帳に追加

この発明は、導電性支持体の表面粗さを特定の範囲に設定することにより、解像度１２００ｄｐｉ以上の高画質記録で、干渉縞模様（モアレ）等の画像不良を解消した電子写真感光体及びそれを用いた画像形成方法を提供する。 - 特許庁

Besides a bonding pad 11 to bond an electrical source lead, a ground lead, or a signal lead, a non-bonding pad used only to check a structure defect of its chip 10, i.e., a plurality of test pads 12 are connected to a required circuit point in the IC chip.例文帳に追加

電源線、接地線及び信号線のいずれかにボンディングするためのボンディングパッド１１の他に、そのチップ１０の構造不良を検査するためにのみ使用される非ボンディングパッド、すなわちテストパッド１２を、ＩＣチップ中の所要の回路ポイントに接続して複数設ける。 - 特許庁

To provide a method for hot-rolling a grain-oriented magnetic steel sheet in which even in the case of containing a large quantity of grain-boundary segregation-type elements, the surface crack caused by hot-brittleness and further, the development of surface defect, such as scab, on a product sheet, can effectively be prevented.例文帳に追加

粒界偏析型元素を多量に含有する場合であっても、熱間脆性に起因した表面割れひいては製品板におけるヘゲ疵などの表面欠陥の発生を効果的に防止することができる方向性電磁鋼板の熱間圧延方法を提供する。 - 特許庁

The luminous flux of a light source needed for the inspection is converted into slit light suitable for the inspection, the semiconductor package 13 fixed to a movable table 14 is irradiated with the above slit light, and image of irregularly reflected light at a defect place in the semiconductor package 13 is picked up by an image pickup means.例文帳に追加

検査に必要な光源の光束を検査に適したスリット光に変換し、前記スリット光を、移動可能なテーブル１４に固定された半導体パッケージ１３に照射し、半導体パッケージ１３内の不良個所での乱反射光を撮像手段によって撮像する。 - 特許庁

To obtain a powder coating material which can easily be obtained without undergoing a long and complicated production step and, simultaneously, without the possibility of causing gelation when produced and, it addition, the powder coating material thus produced which can form a coating film having excellent smoothness without causing the defect of the coating film such as foaming and a pinhole.例文帳に追加

長くて複雑な製造工程を得ることなく、容易にかつ製造時にゲル化を起こす恐れがなく、しかも得られる粉体塗料がワキやピンホールのような塗膜欠陥を生じることなく平滑性に優れる塗膜を形成するような粉体塗料を提供する。 - 特許庁

To provide a liquid material applying apparatus capable of applying the liquid material forming defect-free smooth and fine patterns with high degree of freedom, even for a three-dimensional substrate, a liquid material applying method, and an electronic device manufactured by using the liquid material applying apparatus.例文帳に追加

基板が立体形状であっても自由度高く微細かつ欠陥のない滑らかなパターン作成を行う液体材料の塗布が可能な液体材料塗布装置、液体材料の塗布方法、及び液体材料塗布装置を用いて作製された電子デバイスを得ることを目的とする。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a semiconductor device capable of forming gate insulating films with a plurality of thicknesses on the same semiconductor substrate during a single step of forming the gate insulating films and suppressing a defect caused by a pro-oxidant material from occurring in the gate insulating film.例文帳に追加

１回のゲート絶縁膜形成工程で複数の厚みのゲート絶縁膜を同一の半導体基板上に形成することができるとともに、ゲート絶縁膜に酸化促進物質による欠陥が発生するのを抑制することができる半導体装置の製造方法の提供。 - 特許庁

To provide a flux-cored wire for electrogas arc welding for stainless steel, even in the case an extra-thick stainless steel plate is welded, which can obtain a weld metal free from the generation of a fusion defect and undercut in a bevel, having high strength and having high toughness in an extra-low temperature environment.例文帳に追加

極厚のステンレス鋼板を溶接する場合においても、開先内に融合不良及びアンダカットが発生せず、高い強度及び極低温環境における高い靭性を有する溶接金属を得ることができるステンレス鋼エレクトロガスアーク溶接用フラックス入りワイヤを提供する。 - 特許庁

An unrecorded normal partition is prevented from being erroneously determined to be recorded by the resetting means and the measuring means of reproducing signal peak and bottom levels, and correct determination is made as to whether the partition of a trial writing area corresponding to the defect partition of a count area is used or unused.例文帳に追加

再生信号のピークレベルとボトムレベルのリセット手段および測定手段により、未記録の正常パーティションを記録済みと誤って判断しないようにし、また、カウント領域の欠陥パーティションに対応する試し書き領域のパーティションが使用済みか未使用かを正しく判断する。 - 特許庁

Reflected light from the second area of the steel pipe surface is received by a one-dimensional camera to measure brightness thereof, the measured brightness is compared with the calculated reference level, and the presence of a defect on the steel pipe surface is detected based on a comparison result therein (S4).例文帳に追加

そして、鋼管表面の第２領域から反射光を１次元カメラにより受光してその輝度を計測し、算出した基準レベルと計測した輝度とを比較して、その比較結果に基づいて、鋼管表面の欠陥の有無を検出するようにしている（Ｓ４）。 - 特許庁

To obtain a developed image of high quality by preventing a developer of a low toner concentration ratio peeled from magnetic brush rollers by peeling magnetic poles after the end of development from directly readhering to clamping magnetic poles thereby preventing the image defect to bring about the degradation in image density in a part of the toner image.例文帳に追加

現像終了後に剥離磁極にて磁気ブラシローラから剥離したトナー濃度比の低い現像剤が、つかみ磁極に直接再付着するのを防止して、トナー画像の一部に画像濃度の低下を来たす画像欠陥を防止して、高画質の現像画像を得る。 - 特許庁

In this member for the plasma display panel, all or part of structure layers selected out of an electrode, a dielectric layer, a partition wall and a phosphor layer are formed on the substrate, and a defect is provided in a non-effective region not contributing to the lighting display of the structure layers.例文帳に追加

基板上に電極、誘電体層、隔壁および蛍光体層から選ばれた全てまたは一部の構成層が形成され、かつ、該構成層の点灯表示に寄与しない非有効領域に欠陥を具備したことを特徴とするプラズマディスプレイパネル用部材およびプラズマディスプレイパネル。 - 特許庁

To provide a liquid crystal panel without breakage of an insulating substrate forming a laminated substrate, peeling of a seal member, or a defect in display characteristics even when a transparent conductive film is heated and formed on the laminated substrate with high airtightness into which a liquid crystal is charged by a vacuum injection method.例文帳に追加

液晶を真空注入法により充填する、気密性が高い貼り合わせ基板の表面上に、透明導電膜を加熱形成しても、貼り合わせ基板を形成する絶縁基板の破損やシール材の剥離および表示特性において欠陥のない液晶パネルを得る。 - 特許庁

To prevent a stripe defect in the spreading direction which is generated on a film flow-cast on a metal supporting body from occurring when a plastic polymer film is manufactured by a solution casting method, and at the same time, manufacture the film which is excellent in surface smoothness and thickness uniformity at a favorable productivity.例文帳に追加

プラスチックポリマーのフィルムを溶液キャスト法で製造する際、金属支持体上に流延されたフィルムに発生する流延方向のスジ欠陥を防止するとともに、表面平滑性及び厚み均一性も優れたフィルムを生産性よく製造できるようにする。 - 特許庁

Also, the mold powder is so prepared that 6 to 20wt% alumina is contained therein and the basicity of the mold powder is within a range from 1.3 to 2.0 and, thereby the hydrogen absorbency can be improved, the heat extraction defect due to the hydrogen can be surely prevented and the operation can be stabilized.例文帳に追加

また、モールドパウダーを、６〜２０ｗｔ％のアルミナを含有しているものとし、さらにモールドパウダーの塩基度が１．３〜２．０の範囲内とすることによって、水素分吸収能を向上させることができ、より確実に水素起因の抜熱不良を防止して操業を安定させることができる。 - 特許庁

If an object 12 to be examined does not have the defect and is normal, a light attenuated by the plate 18 from the illuminator 14 arrive at the unit 16 through an examining point of the object 12, and hence the light is detected in the intensity attenuated by the plate 18 by the unit 16.例文帳に追加

被検査物１２に欠点がなく正常な場合には、照明装置１４から拡散板１８によって減衰された光が、被検査物１２の検査点を通過して撮像装置１６に到達するために、撮像装置１６では、拡散板１８によって減衰された強度で検出される。 - 特許庁

To provide the outer electrode pattern of an electronic component of a structure that in the outer electrode pattern, the generation of a short- circuit between terminal electrodes is absolutely eliminated, a state that the terminal electrode provided on almost the central part of a printed board is soldered to the printed board also can be inspected and moreover, the defect of conduction between the terminal electrodes also can be absolutely eliminated.例文帳に追加

電子部品の外部電極パターンにおいて、端子電極間ショートの発生を皆無とし、且つ、基板のほぼ中央部に設けた端子電極の半田付け状態も検査することができ、更に、導通不良も皆無にし得る電極パターンを提供すること。 - 特許庁

Based on the displacement quantity of both patterns to be obtained by measuring an alignment mark for a light shielding pattern and an alignment mark for the phase shift pattern, displacement quantity of pieces of design data of both patterns is compensated and pattern defect inspection of a pattern to be inspected is performed on the basis of a reference pattern obtained by compensation of the displacement quantity.例文帳に追加

遮光パターン用のアライメントマークと位相シフトパターン用のアライメントマークを計測して得られる両パターンの位置ずれ量に基づき、両パターンの設計データの位置ずれ量を補正し、それにより得られた参照パターンを基準として披検査パターンのパターン欠陥検査を行う。 - 特許庁

A semiconductor integrated circuit (1) does not use a nonvolatile memory connected to a common bus (5) and utilized for general purposes, but uses a nonvolatile memory cell (6) of a fuse circuit (7) connected to a dedicated signal line (9), to store control information for relieving defect or the like of circuit modules (2, 3).例文帳に追加

半導体集積回路（１）は、回路モジュール（２，３）の欠陥救済等のための制御情報の記憶に、共通バス（５）に接続される汎用利用される不揮発性メモリを用いず、専用信号線（９）に接続されたヒューズ回路（７）の不揮発性メモリセル（６）を用いる。 - 特許庁

The historical defect list 8 is created for each wafer 1 and comprises a coordinates position, the number of detects, size, a cluster information, an index information of an image capturing, and the like of each defects for every inspection processes 31, 32, etc., and 3N, and every information in relation to the defects of the wafer.例文帳に追加

この欠陥来歴リスト８は、ウエハ１毎に作成され、各検査工程３_1,３_2,……,３_N毎に分けて夫々の欠陥の座標位置や検出数，大きさ，クラスタ情報，画像取得のインデックス情報などからなり、当該ウエハでの欠陥に関する全ての情報を含んでいる。 - 特許庁

In the write-once type recording medium having a plurality of recording layers, a normal recording and reproducing area, an alternate area, a first alternate management information area and a second alternate management information area (TDMA) (Temporary Defect Management Area) are provided and writing existence presentation information (space bitmap) is recorded.例文帳に追加

複数の記録層を有するライトワンス型の記録媒体において、通常記録再生領域と、交替領域と、第１の交替管理情報領域と、第２の交替管理情報領域（ＴＤＭＡ）が設けられ、さらに書込有無提示情報（スペースビットマップ）が記録される。 - 特許庁

To improve the display grade by preventing generation of an internal offset voltage in driving and the occurrence of a display defect by turning and a display failure by varying of electrical characteristics between a vertical alignment layer and a tilt alignment layer of a liquid crystal display element of a hybrid aligned nematic type display mode.例文帳に追加

ハイブリッド・アラインド・ネマティック型表示モードの液晶表示素子において、垂直配向膜とチルト配向膜との電気的特性が異なることにより駆動時に内部オフセット電圧を発生し、焼き付き及び表示不能による表示不良を生じるのを防止して、表示品位を向上する。 - 特許庁

To prevent an abnormal discharge at a double-side printing time or OHT printing time when the transfer voltage gets high and to prevent an image defect caused by the abnormal discharge by improving the material of a transfer member such as a transfer roller in an inline system image forming device using a transfer belt.例文帳に追加

転写ベルトを用いたインライン方式の画像形成装置において、転写ローラ等の転写部材の物性を改善することにより、転写電圧が高くなる両面プリント時やＯＨＴプリント時等に異常放電を防止して、これに起因する画像不良を防止することである。 - 特許庁

To provide an evaporation source for vacuum vapor deposition, which can form a film with a film thickness exceeding several hundred micrometers, can highly uniformly and quickly melt a large amount of a film-forming material, and can prevent a defect due to bumping and the like, and to provide a vacuum vapor-deposition apparatus using the evaporation source.例文帳に追加

数百μｍを超える厚膜の成膜が可能であり、かつ、多量の成膜材料を高い均一性で迅速に溶融でき、しかも、突沸に起因する欠陥等も防止できる真空蒸着用の蒸発源、および、この蒸発源を利用する真空蒸着装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method of heat-treating a silicon wafer, the method eliminating a crystal defect of a COP etc., at a surface part of the wafer to become a device active region, generating a BMD at a bulk part with high density, and further suppressing a slip generated during an RTP.例文帳に追加

デバイス活性領域となるウェーハの表面部においてＣＯＰ等の結晶欠陥を消滅させることができ、バルク部においてはＢＭＤを高密度で形成させることができ、さらに、ＲＴＰにおいて発生するスリップを抑制することができるシリコンウェーハの熱処理方法を提供する。 - 特許庁