「Defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(319ページ目) - Weblio英語例文検索

In the ultrasonic flaw detection method for detecting flaws of the material to be inspected via water by using a piezoelectric oscillator, creeping waves are transmitted to the material to be inspected, and creeping waves reflected by a defect existing in the material to be inspected are received at a position different from the transmission position of the creeping waves.例文帳に追加

圧電型振動子を用い、水を介して、被検査材の探傷を行なう超音波探傷方法において、被検査材に対してクリーピング波を送信し、被検査材に存在する欠陥で反射したクリーピング波を送信位置とは異なる位置で受信する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of a composite substrate preventing a light emission abnormal point by processing only a part of a defect caused by foreign matter such as dust or dirt involved by dielectric printing or the like after baking, and having a high yield; and to provide the composite substrate and an EL element.例文帳に追加

誘電体印刷などにより巻込まれた塵、埃等の異物により生じた欠陥を、焼成後にその部分だけ処理することによって、発光異常点を防ぎ、歩留まりのよい複合基板の製造方法、複合基板、およびＥＬ素子を提供する。 - 特許庁

To provide an instant lottery which needs no much time or labor, facilitates use, generates no scraping chips, generates no practical problems such as unsealing defect and pattern transferring in unsealing when a user uses the instant lottery, has high productivity in manufacturing, and also has a low manufacturing cost.例文帳に追加

ユーザーがインスタントくじを使用する上で、手間がかからず、使いやすく、削りカスが発生せず、また開封不良や、開封時の絵柄転写などの実用上の問題が生じないで、製造上で生産性が高く、製造コストが安いインスタントくじを提供する。 - 特許庁

To provide an automatic inspection method with high accuracy not by visual inspection, for detecting a defect on a stencil mask, in particular, detecting a foreign substance on the surface, and to provide an inspection device for obtaining a reference image for comparison inspection.例文帳に追加

ステンシルマスク上の欠陥検出、特に表面異物を検出する方法について、目視検査によらず自動的な高精度検査方法を提案すると共に、比較検査を行うための基準画像が取得できる検査装置を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a contact charger which prevents a body to be charged from being charged ununiformly also decreases wear of the body to be charged, and also to provide an image forming apparatus which avoids an image quality defect, as in the form of a white streak, and ununiform image quality.例文帳に追加

被帯電体が不均一に帯電するのを防止したり、被帯電体が損耗するのを低減したりすることができる接触帯電器、および白い横筋状の画質デイフェクトや画質むらの発生が回避できる画像形成装置を提供する。 - 特許庁

To prevent the sticking of liquid face suspensions causing a defect in coating on entrance into an electrodeposition tank when a paint liquid is stirred in such a manner that the surface flow of the paint liquid in the electrodeposition tank is made to flow in a direction reverse to the moving direction of the object to be coated, and electrodeposition coating is performed.例文帳に追加

電着槽内における塗料液の表面流が被塗物の移動方向と逆方向に流れるように塗料液を攪拌して電着塗装する際に、塗装不良の原因となる液面浮遊物を入槽時に付着させないようにする。 - 特許庁

To reduce the development defect by forming a liquid film of developer over the entire surface of a wafer W even if the water repellency of the surface of the wafer W is high when development is carried out by discharging the developer to the surface of the rotating wafer W.例文帳に追加

回転しているウエハＷの表面に現像液を吐出して現像を行うにあたって、ウエハＷの表面の撥水性が大きくてもウエハＷの表面全体に亘って現像液の液膜を形成させ、現像欠陥を低減すること。 - 特許庁

To provide a defect inspection apparatus for easily and quickly discriminating whether a crack detected on a surface of an equipment structure under reactor water in a reactor of an atomic power generation plant, is a fatigue crack, or a stress corrosion crack.例文帳に追加

原子力発電プラントなどにおいて、炉水中の炉内機器構造物の表面に検出された亀裂が疲労亀裂であるか、あるいは応力腐食割れであるかを短時間の内に、容易に判別することのできる欠陥検査装置が求められている。 - 特許庁

Therein, surface temperature of the SiC substrate is lower than back surface temperature thereof, therefore, the gas sublimated from the vicinity 12b of the back surface of the substrate having a high temperature is moved to the vicinity 12a of the surface of the substrate having a low temperature through a micropipe defect 11 which is hollow.例文帳に追加

そして、ＳｉＣ基板裏面より基板表面の温度が低くなっていることから、温度が高い基板裏面近傍１２ｂから昇華したガスが中空であるマイクロパイプ欠陥１１を通して、温度の低い基板表面近傍１２ａに移動する。 - 特許庁

To enable a liquid crystal display device to cope with both of the display signals of a sequential scanning and an interlaced scanning and also to dissolve the generation of the connection defect of up-and-down scanning in the sequential scanning in a liquid crystal display device in which two blocks of row scanning electrode driving circuits are arranged.例文帳に追加

行走査電極駆動回路を２ブロック配置した液晶表示装置において、順次走査と飛び越し走査の双方の表示信号に対応することができるようにし、かつ順次走査における上下の連結欠陥の発生を解消する。 - 特許庁

To realize a homoepitaxial growth to a low off angular surface in a silicon carbide {0001} plane to enhance the performance of an electronic device or ideally substantially to an off-less surface, to reduce a surface defect density in the homoepitaxial growth layer, and to make as flat as possible, on the front surface of the homoepitaxial grown layer.例文帳に追加

電子デバイスの高性能化のために、炭化珪素｛０００１｝面において、低オフ角面、理想的には、ほぼオフ無し面へのホモエピタキシャル成長を実現すること、並びに前記のホモエピタキシャル成長層における表面欠陥密度を低減すること。 - 特許庁

To provide a binding agent composition capable of a so-called clean casting, and containing no component causing a metallurgical defect of the casting, so that it results in the improvement of a working atmosphere of a place to work in relation to steel or the like, mainly a foundry.例文帳に追加

従来の鋳造工場を主体とする鉄鋼関係職場等の作業環境の改善に繋がるようまた冶金学的に鋳物欠陥に繋がるような成分を含まず、いわゆるクリーンな鋳物ができる粘結剤組成物の提供をすること。 - 特許庁

To enable to make uniform emission with high luminous efficiency by improving degradation of emission characteristics and emission defect in the polymer EL element in which at least the organic luminous layers (3, 4) are formed by a painting method or a printing method using a form.例文帳に追加

少なくとも有機発光層（３、４）を版を用いた塗工法または印刷法により有機発光層を製膜した高分子ＥＬ素子における発光特性の低下や発光欠陥を改善し、発光効率が高く、均一な発光を行うことを目的とする。 - 特許庁

As an oxide which contains an activated metal and a rare earth element which is variable in oxidation number, an oxide CeO_2 or Pr_6O_11, a composite oxide of Ce and Zr, or a composite oxide of Ce, Zr and Y is activated with a reductive gas at a high temperature to introduce an oxygen defect.例文帳に追加

活性金属と酸化数変化の可能な希土類元素を含有する酸化物としてCeO_2又はPr_6O_11の酸化物又はCeとZrの複合酸化物又はCeとZrとYの複合酸化物とし、これを高温で還元性ガスにより活性化処理して酸素欠陥を導入する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a polymer film, especially a polyimide film which has no coating streaks, that is, a surface characteristic suitable as a substrate film of an electronic component, has the surface nature free from a surface defect like a crater, and carries a mechanical characteristic and heat resistance.例文帳に追加

電子部品の基材フィルムとして好適な表面特性すなわち塗工スジのない、しかもクレータのような表面欠陥を有さない表面性を有し、機械特性と耐熱性を具備した高分子フィルム特にポリイミドフィルムを製造する方法を提供する。 - 特許庁

Constitutive components of a defect inspection device are classified into components to be temperature-controlled and temperature-control unnecessary components, the components to be temperature-controlled are collectively stored in a temperature control component storage part 604, and the temperature-control unnecessary components are arranged in a heat radiation part 605.例文帳に追加

欠陥検査装置の構成部品のうち、温度制御すべき部品と、温度制御不要の部品とに区別し、温度制御すべき部品を一括して温度制御部品収容部６０４に収容し、温度制御不要の部品を放熱部６０５に配置する。 - 特許庁

To provide a high printing quality by eliminating a defect of decrease in printing quality caused by difficulty of speed controlling and large speed variation when a compression coil spring is used and practiced for supplementing a driving force for speed-up of a shuttle mechanism part.例文帳に追加

本発明は、シャトル機構部の高速化を推力補助のために圧縮コイルバネを用い実施した場合の、速度制御が困難で速度変動が大きいことによる印刷品質低下という欠点をなくし、高印字品質を提供することを課題とする。 - 特許庁

V-line flaw information indicative of relation between the position and level of a V-line flaw occurring in an image due to a defect in the charge transfer line of an image pick-up sensor 16 and the temperature of the image pick-up sensor 16 is prestored in a flaw information memory 54.例文帳に追加

撮像センサ１６の電荷転送ラインにおける欠陥に起因して画像において発生するＶライン傷の位置およびレベルと、当該撮像センサ１６に係る温度との関係を示すＶライン傷情報を傷情報メモリ５４に予め記憶しておく。 - 特許庁

The threshold voltage of the element is prevented from varying since an impurity activating process for the source/drain area can be omitted, and no determination defect of the substrate is generated since the impurities are diffused in a solid state, so that a leak current flowing through a joint can be reduced.例文帳に追加

ソース／ドレーン領域の不純物活性化工程が省略できるので素子のスレショルド電圧変動を防止でき、固体状態で不純物を拡散させるために基板の決定欠陥が発生せず、よって接合を通じた漏れ電流を減らせる。 - 特許庁

To provide a polygon mirror which is easily machined and useful for preventing an image defect generated by the abnormality of the shape of the mirror surface of the polygon mirror, an optical deflector using the polygon mirror, a machining tool for the polygon mirror, a method of manufacturing the polygon mirror and the device of manufacturing the polygon mirror.例文帳に追加

加工が簡単で、ポリゴンミラーのミラー面の形状異常によって発生する画像不良の防止に役立つポリゴンミラー、ポリゴンミラーを用いた光偏向装置、ポリゴンミラーの加工治具、ポリゴンミラーの製造方法及びポリゴンミラーの製造装置を提供する。 - 特許庁

In such method of fabricating semiconductor device, the gap between the gates 120 is embedded without any void defect, and reliability of semiconductor device can be improved by conducting the sputter etching process when the inter-layer insulation film 130 is formed on the gate pattern.例文帳に追加

このように、半導体装置の製造方法において、ゲートパターン上に層間絶縁膜１３０を形成する時にスパッタエッチング工程を行えば、ゲート１２０間のギャップがボイド欠陥無しに埋め込まれ、半導体装置の信頼性を高めることができる。 - 特許庁

To effectively suppress looseness by minutely coping with the unevenness of a building floor face while suppressing the occurrence of a defect that the strength of one of a surface material and a backing material is lowered in comparison with that of the other in a floor panel with the surface material placed over the backing material.例文帳に追加

表材と裏材とを重合させている床パネルにおいて、表材又は裏材の一方の強度が他方の強度と比べて低下する不具合の発生を抑えつつ建築床面の不陸にきめ細かく対応させてがたつきを効果的に抑える。 - 特許庁

To provide a screen printing device by which a flat film without defect can be obtained by preventing the occurrence of foams and printing operation and screen mesh removing operation can be smoothly carried out and a manufacturing method and a manufacturing device of an illuminating device using this kind of screen printing device.例文帳に追加

気泡の発生を防止して平坦で欠損のない膜が得られ、かつ印刷動作、スクリーンメッシュ剥離動作が円滑に行えるスクリーン印刷装置、この種のスクリーン印刷装置を用いた発光装置の製造方法および製造装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a biaxially oriented film capable of stably producing a film of high quality without an orange peel-like defect at a fast speed for a long time having an excellent smoothness in a method for biaxially orienting a sheet obtained by using a cooling roll having a microcrack surface.例文帳に追加

マイクロクラック表面の冷却ロールを用いて得られるシートを二軸延伸する方法において、平滑性に優れ、オレンジ肌様欠点のない高品質のフィルムを高速で長時間安定して生産できる二軸延伸フィルムの製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide an actinic ray sensitive or radiation sensitive resin composition that excels in roughness property, exposure latitude, depth of focus and development defect performance and that allows to form a fine isolated space pattern of favorable shape, and to provide a pattern forming method using the same.例文帳に追加

ラフネス特性、露光ラチチュード、焦点深度及び現像欠陥性能に優れ且つ良好な形状の微細な孤立スペースパターンを形成可能とする感活性光線性又は感放射線性樹脂組成物、及びそれを用いたパターン形成方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a method and system for efficiently determining the cause of an error such as 'telephone is cut off in the middle of conversation', specifically whether the error is due to a defect specific to a mobile terminal or due to a base station in that area.例文帳に追加

本発明は、例えば「通話が途中で切れる」というエラーについて、そのエラーがその移動端末固有の故障によるものか、その地域の基地局の原因によるものか効率よく判断することのできる方法及びシステムを提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide a device and a method for scanning exposure which are improved to realize effective prevention of an unsuitable exposure (fogging) on a sensitive substrate resulting from a pin hole defect besides a pattern area of an original plate without lowering a throughput or without generating a foreign matter.例文帳に追加

スループットを低下させたり、異物を発生させることなく、原版のパターン領域外のピンホール欠陥に起因する感応基板上での不適正露光（かぶり）を有効に防止できるよう改良を加えた走査露光装置及び走査露光方法を提供する。 - 特許庁

When too high transmittance is obtained in the correction of a white defect by depositing an electron beam CVD film 6 of tetramethoxysilane in a halftone phase shift mask, a focused ion beam CVD film or an electron beam CVD film using a carbon-based source gas having low transmittance is further deposited to control the transmittance.例文帳に追加

ハーフトーン型位相シフトマスクのテトラメトキシシランの電子ビームCVD膜６の白欠陥修正で透過率が高すぎる場合には透過率の低い炭素系の原料ガスを用いた集束イオンビームCVD膜または電子ビームCVD膜を積層して透過率を調整する。 - 特許庁

To provide an electrostatic oil coating apparatus and method by which the coating defect of oil due to lack of hiding by proportional control is eliminated on and from the start-up of the oil coating even if proportional control start-up speed is decreased to the lower limit to perform the uniform electrostatic oil coating and futile use of a product is reduced to improve the production efficiency.例文帳に追加

比例制御開始速度を下限まで遅くしても、比例制御による塗油開始時からスケによる塗油不良をなくして均一に静電塗油させることができ、製品の無駄を減少させて生産効率を向上させる。 - 特許庁

To provide a manufacturing method and a manufacturing apparatus for a semiconductor device, that can prevent a bonding defect of a bump electrode from occurring when a surface electrode of a semiconductor chip having electrodes formed on its top and reverse surfaces is connected to a package substrate in a flip-chip manner.例文帳に追加

表面及び裏面に電極が形成された半導体チップの表面電極をパッケージ基板にフリップチップ接続する場合に、バンプ電極の接合不良を防止することができる半導体装置の製造方法及び製造装置を提供する。 - 特許庁

To eliminate the adverse influence that the dimensional fluctuation of a resist pattern induced by consequence of the degradation in the transmittance of a defect correction portion exerts on device quality when a design pattern dimension is reduced like, for example, about 1 μm in the dimension value on the photomask.例文帳に追加

デザインパターン寸法がフォトマスク上の寸法値で例えば約１μｍという様に縮小されるときに、欠陥修正部分の透過率低下に起因して生じるレジストパターンの寸法変動がデバイス品質に悪影響を及ぼす点を改善する。 - 特許庁

Consequently, propagation of the defect to a P^+ diamond semiconductor layer 11 and a P^- diamond semiconductor layer 12 is suppressed, so hillock density and abnormal particle density can be made low and generation of a leakage current can be deterred at a level lower than the level of a Schottky barrier.例文帳に追加

これにより、Ｐ^＋ダイヤモンド半導体層１１及びＰ^−ダイヤモンド半導体層１２への欠陥の伝播が抑制されるので、ヒロック密度や異常粒子密度を低くでき、ショットキー障壁のレベルよりも低いレベルでのリーク電流の発生を抑止できる。 - 特許庁

To provide a method for stably manufacturing semiconductor device such as a trench gate type MOS transistor that is not easily affected by a defect resulting from variation in manufacturing processes and assures small variation in the threshold voltages among semiconductor devices.例文帳に追加

トレンチゲート型のＭＯＳトランジスタなどの半導体装置において、製造プロセス上のばらつきに起因する欠陥の影響を受けづらく、半導体装置間のしきい値電圧のばらつきが小さい半導体装置を安定して製造する製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for controlling the precision removal of an unnecessary material from a substrate capable of transmitting light for the separation and removal of a defect from the surface of the substrate, for direct writing in a reticle or photomask and for the resulting reticle or photomask.例文帳に追加

光透過可能基板の表面から欠陥を分離して除去するため、ならびにレチクルまたはフォトマスクの直接書込みと得られたレチクルまたはフォトマスクのために、光透過可能基板からの不要な材料の精密除去を制御する方法を提供すること。 - 特許庁

The disordered multicomponent hydrogen storage material having remarkably high storage capacity due to a high density of usable hydrogen storage site (defect site of 1023/cm3) and/or remarkably small fine crystalline size shown in a graph in Figure is provided.例文帳に追加

高密度の使用可能な水素吸蔵サイト（１０^２３／ｃｃの欠陥サイト）および／または図中のグラフに示されるような著しく小さい微結晶サイズに起因する、非常に高い吸蔵容量を特徴とする不規則化された多成分水素吸蔵材料が提供される。 - 特許庁

This is a defect detection device for a coaxial flexible piezoelectric cable in which a piezoelectric tube 3 is provided in the hole 61 of an inspection electrode means 6 and DC voltage is impressed on the coaxial flexible piezoelectric body 2 by moving the piezoelectric tube 3.例文帳に追加

圧電体チューブ３が検査用電極手段６の孔６１に配設され、圧電体チューブ３を移動させながら同軸状可撓性圧電体２に直流電圧を印加する構成の同軸状可撓性圧電体ケーブル欠陥検出装置を提供する。 - 特許庁

To establish a method for producing inexpensive lithium cobaltate by improving both quick chargeability and discharging performance at low temperatures simultaneously while reducing the expensive production cost, a defect of conventional lithium cobaltate (LiCoO_2).例文帳に追加

従来のコバルト酸リチウム（ＬｉＣｏＯ_２）の欠点である高価な製造コストの低減を図りつつ、リチウムイオン二次電池として要求されている急速充電性、低温放電特性を同時に改良し、安価なコバルト酸リチウムを提供する製造方法を確立する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device manufacturing method capable of suppressing a crystal defect in an impurity diffusion region or in the circumference of the region, when the impurity diffusion region is formed in a region enclosed by the trench of a semiconductor substrate by ion implantation method.例文帳に追加

半導体基板のトレンチに挟まれた領域に、イオン注入法により、不純物拡散領域を形成する場合に、不純物拡散領域およびその周辺での結晶欠陥の発生を抑制できる半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

In addition, inspection systems, circuits, and methods are provided to enhance defect detection by reducing thermal damage to large particles by dynamically altering the incident laser beam power level supplied to the specimen during a surface inspection scan.例文帳に追加

加えて、表面検査の走査の間に試料に供給される入射レーザ・ビームパワー・レベルを動的に変更することによって大きな粒子に対する熱破損を削減することにより欠陥検出を強化するための検査システムや回路、方法が提供される。 - 特許庁

Thus, the liquid crystal composition contains the amphiphile to remove the moisture and ionic impurities interposed in surfaces of inorganic alignment films 16 and 22 and then problems of an alignment defect (hindrance to a pretilt) and burning due to the moisture and ionic impurities are solved.例文帳に追加

両親媒性物質を含有させることにより、無機配向膜１６，２２の表面に介在する水分及びイオン性不純物を除去し、当該水分及びイオン性不純物による配向不良（プレチルトの阻害）及び焼き付きの問題を解消する。 - 特許庁

As a result, the area of grooves among the diffraction gratings are expanded so as to improve the removal effect of a mask material to be used during the formation of the diffraction gratings, reduce the density of internal dislocation (crystal defect), and attain the improved reliability for an element.例文帳に追加

その結果、回折格子の間の溝部の領域を拡げられるため、回折格子形成時に用いられるマスク材の除去効果の向上が図られ、内部の転位(結晶欠陥)密度の低減を実現し、素子信頼性の向上効果を得ることができる。 - 特許庁

An information recording medium is provided with a first spare region 102 including a spare sector to be substituted for a defective sector, a defect control information region 101 controlling substitution of a spare sector for a defective sector, and a volume space 100a in which user data can be recorded.例文帳に追加

情報記録媒体は、欠陥セクタを代替するスペアセクタを含む第１スペア領域１０２と、欠陥セクタからスペアセクタへの代替を管理する欠陥管理情報領域１０１と、ユーザデータを記録可能なボリューム空間１００ａとを備えている。 - 特許庁

To solve the problem that a lost flag can not be obtained when the state of no error apparently occurs in a 2nd error correction code in the occurrence of media defect, in the case the loss correction of a 1st error correction code is made by using the correction positional information of the 2nd error correction code.例文帳に追加

第２のエラー訂正符号の訂正位置情報を用いて第１のエラー訂正符号の消失訂正を行う場合、メディアデフェクト発生時に第２のエラー訂正符号に見かけ上エラーがない状態が発生すると消失フラグを得ることができない。 - 特許庁

To propose a screen printing device and a screen printing method which are capable of preventing a recess-shaped defect on a formed film from occurring on the occasion of using a screen printing process under a reduced pressure, a manufacturing method of a light-emitting device using the method, and an electronic apparatus.例文帳に追加

減圧下においてスクリーン印刷法を用いる際に、形成された膜上への凹状欠陥の発生を防止することができるスクリーン印刷装置、スクリーン印刷方法、及びこの方法を用いた発光装置の製造方法、電子機器を提案する。 - 特許庁

To provide a processing method and a processing apparatus for a planographic printing plate, by which a planographic printing plate having a photopolymerizable photosensitive layer and using a high definition screen for image exposure can be developed for a long period of time without causing an image defect such as process irregularity.例文帳に追加

画像露光において高精細スクリーンを用いる光重合性感光層を有する平版印刷版を長期間にわたって処理むら等の画像欠陥を生ずることなく現像処理できる、平版印刷版の処理方法及び処理装置を提供する。 - 特許庁