「Defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(327ページ目) - Weblio英語例文検索

To realize a manufacturing process of a semiconductor which is free from defect/failure and inner contamination of production installation due to fragment of film peeling of the oxide film of a high melting point metal formed in the wafer rear surface of a semiconductor in a semiconductor device wherein the oxide film of a high melting point metal is used.例文帳に追加

高融点金属の酸化膜を使用する半導体装置において、半導体のウエハ裏面に形成された高融点金属の酸化膜の膜剥離した破片による欠陥不良および生産設備内部汚染がない半導体の製造工程を実現する。 - 特許庁

To provide a defect marking apparatus that allows defective parts to be confirmed easily, and preventing conforming parts from being used due to the transfer of the wet ink at a marking section to a carrying roll and that of the wet ink from the carrying roll to the succeeding sheet material.例文帳に追加

次工程において、容易に欠陥箇所を確認することを可能とするとともに、マーキング部分の未乾燥インクが搬送ロールに転写し、さらに搬送ロールから後続のシート材料に転写することにより良品部分が使用できなくなることを防止する欠陥マーキング装置を提供する。 - 特許庁

To provide a polishing method, a polishing device, and a manufacturing method of a polishing tool for excellently exhibiting a polishing characteristic for various kinds of polishing objects by reducing a defect such as a scratch and sticking of resin caused on a polishing object surface of the polishing objects of a semiconductor wafer.例文帳に追加

半導体ウェーハの研磨対象物の被研磨面に発生するスクラッチ等の欠陥および樹脂の付着を低減し、各種の研磨対象物に対してその研磨特性を良好に発揮できる研磨方法、研磨装置、および研磨工具の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a silicon wafer heat treatment method which can considerably reduce void defect of a surface layer part of a wafer, and improve oxygen concentration of the surface layer part, suppress deterioration of surface roughness of a polished surface, and improve productivity in an RTP.例文帳に追加

ウェーハの表層部のボイド欠陥を大きく低減することができ、表層部の酸素濃度を向上させることができ、研磨面の表面粗さの悪化も抑制でき、かつ、ＲＴＰにおける生産性を向上させることができるシリコンウェーハの熱処理方法を提供する。 - 特許庁

To provide an operation control method for a sterilizer which is capable of surely performing a sterilization treatment by continuing sterilization work and sufficiently discharging air even when the defect of a pressure sensor for detecting the pressure in a sterilizing vessel occurs.例文帳に追加

この発明が解決しようとする課題は、滅菌槽内の圧力を検出する圧力センサの不良が発生したときにも、滅菌作業を継続させ、かつ空気排出を十分に行い、確実に滅菌処理を行うことができる滅菌器の運転制御方法を提供することである。 - 特許庁

To provide an image forming apparatus realizing setting for accurately positioning a writing head and a photoreceptor drum, and restraining the vibration of the writing head caused by the vibration of a movable member, thereby preventing an image defect such as banding associated with resonance and obtaining excellent image quality.例文帳に追加

書き込みヘッドと感光体ドラムとの高精度な位置決め設定を実現すると共に、可動部材の振動による書き込みヘッドの振動を抑制し、これにより共振に伴うバンディング等の画像欠陥を防止し、良好な画質品質を得ることができる画像形成装置を提供する。 - 特許庁

To effectively remove the generation in the defect of unplating caused by the generation in the floating of a product in a barrel after the charging of the barrel into a plating tank, and the generation in the storing of gas in the barrel as a cause for making the amount of ions in the barrel unstable and giving influence on the quality of the plating itself.例文帳に追加

めっき槽内へのバレル投入後、バレル内での製品の浮きの発生による「めっき無し」不良の発生や、バレル内イオン量が不安定となってめっき品質そのものへの影響を与えてしまう原因となるバレル内ガス溜まりの発生を効果的に除去可能とする。 - 特許庁

When sectors Sta and St are exchanged as a result of write-and- verify to a disk 16, the presence of a linear defect Dfa is assumed and all sectors between the sectors Sta and St along the radial direction of the disk 16 are exchanged.例文帳に追加

ディスク１６に対してライトアンドベルファイを行なった結果として、セクタＳｔａとセクタＳｔｂが交替された場合に、線状のディフェクトＤｆａがあるものとみなして、ディスク１６の半径方向に沿ってセクタＳｔａとセクタＳｔｂの間にある全てのセクタを交替する。 - 特許庁

To provide an electrophotographic photoreceptor having a surface protective layer which has excellent lubricity, is resistant to scraping and flawing, prevents an image defect due to filming etc., is good in coming off of toner and has high durability, in the electrophotographic photoreceptor having a photosensitive layer and a surface protective layer on a conductive substrate.例文帳に追加

導電性基体上に感光層と表面保護層を有する電子写真感光体において、潤滑性に優れ、削れにくく、傷が付きにくく、フィルミング等による画像欠陥を防止し、トナー離れの良い高耐久性の表面保護層を備える電子写真感光体を提供すること。 - 特許庁

To provide the analyzing method of result of inspection in the manufacturing process of the semiconductor device, which predicts quality of chips with high accuracy, based on the result of inspection of a defect, an analyzing device, an analyzing program, a recording medium for recording the analyzing program and the manufacturing method of the semiconductor device.例文帳に追加

欠陥の検出結果に基づいてチップの良／不良を高い精度で予測することができる半導体装置の製造工程中の検査結果の分析方法、分析装置、分析プログラム及び分析プログラムを記録した記録媒体並びに半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a dressing method for the surface of a continuously cast slab, by which saving in energy and equipment is realized by using at least one plasma torch corresponding to a position, a shape, and the like of a defect detected, and to provide a dressing device, by which the dressing method is effectively executed.例文帳に追加

検出された欠陥位置、形状等に応じて少なくとも一個のプラズマトーチにて対処でき、エネルギー及び設備面において節減を図ることが可能な連続鋳造鋳片の表面手入れ方法及びこの方法を効果的に実施し得る手入れ装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a method of producing a mask blank and a method of producing a transfer mask, for achieving a desired flatness of the mask blank even when a thin film itself has a film stress, and avoiding degradation in positional accuracy of a mask pattern or occurrence of a pattern displacement error and a pattern defect during pattern transfer.例文帳に追加

薄膜自体に膜応力がある場合においても、マスクブランクの平坦度が所望の平坦度となり、マスクのパターン位置精度や、パターン転写の際、パターン位置ずれやパターン欠陥が発生することがないマスクブランクの製造方法および転写用マスクの製造方法を提供する。 - 特許庁

A microcomputer 15 judges a defect when the pushed-up dark level output is not a prescribed value while at least one of the low luminance range output and the high luminance range output in effective pixels not to be the object of light shielding is a saturated value or a minimum value.例文帳に追加

マイコン１５は、遮光の対象とならない有効画素における低輝度レンジ出力および高輝度レンジ出力の少なくとも一方が飽和値または最小値になっている時に、押し上げておいた暗レベル出力が所定値となっていないと不良であると判定する。 - 特許庁

Toner particles forming an image on the intermediate transfer belt 70 receive vibrations from from the toner layer diffusion member 10 to be peeled off a surface of the intermediate transfer belt 70 and dispersed in carrier liquid, so that the secondary transfer defect at the secondary transfer unit 80 can be prevented.例文帳に追加

中間転写ベルト７０上で画像を形成するトナー粒子は、このトナー層拡散部材１０からの振動を受け中間転写ベルト７０表面から剥がされ、キャリア液中に分散するような状態となり、二次転写ユニット８０での二次転写不良の発生を防止することができる。 - 特許庁

This carbon nanotube can be manufactured through a defect introducing process for introducing defects into a raw material carbon nanotube, and a heating process for heating the raw material carbon nanotube into which the defects have been introduced, to a temperature of 1,000 to 2,000°C in a vacuum or in an innert gas atmosphere.例文帳に追加

このカーボンナノチューブは、原料カーボンナノチューブに欠陥を導入する欠陥導入工程と、欠陥を導入された原料カーボンナノチューブを、真空中又は不活性ガス雰囲気中で１０００〜２０００℃に加熱する加熱工程と、を経て製造することができる。 - 特許庁

Another constitution of this method is to form a semiconductor film having a low crystal-defect density and a large crystal-grain size by irradiating a crystalline semiconductor film formed by a thermal crystallization method utilizing metal elements with a laser light and by heat-treating again.例文帳に追加

また、本発明の他の構成は、金属元素を用いる熱結晶化法を行って形成された結晶性半導体膜に対して、レーザ光を照射し、再度熱処理を行うことで、結晶欠陥の少ない大粒径の結晶粒を有する半導体膜を形成することを特徴としている。 - 特許庁

To provide a defect inspection method that can appropriately control a charge amount of a surface of a sample even when the irradiation current value for enlarging the throughput or the like is increased, obtains clear image data with small distortion, and can perform an inspection with high reliability.例文帳に追加

スループットを大きくする等のため照射電流値を増加する場合にも試料表面の帯電量を適切に制御することができ、歪の小さい鮮明な画像データが取得され、信頼性の高い検査を行うことができる欠陥検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for correcting a semiconductive belt which flattens a shape defect part more than a conventional correction method by heating process so as to perform correction with no practical problem and which can improve manufacturing yield more than the correction method by heating process.例文帳に追加

従来の加熱処理による修正方法よりも形状的な欠陥部分を平坦化して、実使用上問題の無い状態に修正でき、加熱処理による修正方法よりも製造の歩留まりを向上することができる半導電性ベルトの修正方法を提供することにある。 - 特許庁

In the normal operation with an off state of the detection signals DFCT of a defect detecting circuit 220, a switch 240 is connected to a jitter detection circuit 210, and the jitter detection signals of the jitter detection circuit 210 are transmitted through the switch 240 to a microcomputer 300 as they are.例文帳に追加

ディフェクト検出回路２２０の検出信号ＤＦＣＴがオフの通常動作では、スイッチ２４０がジッタ検出回路２１０側に接続されており、ジッタ検出回路２１０のジッタ量検出信号がそのままスイッチ２４０を介してマイコン３００側に伝送される。 - 特許庁

When a laser beam is irradiated on the optical disk and data is reproduced, an irradiation light quantity detecting signal suited to light quantity of the laser beam irradiating the optical disk is output, and defect of the optical disk is detected based on this irradiation light quantity detecting signal.例文帳に追加

本発明では、レーザビームを光ディスクに照射してデータを再生する際、光ディスクに照射されるレーザビームの光量に応じた照射光量検出信号を出力し、この照射光量検出信号に基づいて光ディスクの欠陥検出を行うこととする。 - 特許庁

To provide an image reading apparatus for easily realizing a secured cross point voltage to a prescribed voltage level or over and avoiding a defect of sampling of ringing noise by controlling the generated position of the ringing noise so as to arrange the ringing noise at a position with a timing margin.例文帳に追加

クロスポイントの電圧を所定の電圧レベル以上に確保することを容易に実現すると共にリンギングノイズの発生ヶ所をコントロールしてタイミング的に余裕度のある位置にリンギングノイズを配することでリンギングノイズをサンプリングしてしまう不具合を回避することができる画像読取装置を提供する。 - 特許庁

Although electrons cannot smoothly pass as a grain boundary and crystal defect exists in the channel region of the poly-crystal silicon film 3, by providing the single crystal region 102, the electrons mainly pass the single crystal region 102 and raise a field effect mobility.例文帳に追加

多結晶シリコン膜３のチャネル領域には結晶粒界や結晶欠陥があるため電子はスムーズに通過できないが、単結晶領域１０２を設けることで、電子は主に単結晶領域１０２を通過するようになるため、電界効果移動度を高くすることができる。 - 特許庁

To provide a ceramic reduced in pore defect by thoroughly preventing the generation of micropore defects, and to provide a forming raw material and a ceramic powder for obtaining the ceramic reduced in pore defects, and a method of obtaining the ceramic reduced in pore defects.例文帳に追加

微小気孔欠陥の発生を根本的に防止することによって、気孔欠陥を低減したセラミックスを提供するとともに、気孔欠陥を低減したセラミックスを得るための成形原料とセラミック粉末、および気孔欠陥を低減したセラミックスを得るための製造方法を提供する。 - 特許庁

The peritoneal dialysis liquid reduces the adverse effect on the living body by the glucose which is the defect of the existing peritoneal dialysis liquids and is useful for supplying the L carnitine lacking in the dialysis patient into the living body by containing the L carnitine as a main osmotic agent in the peritoneal dialysis liquid.例文帳に追加

腹膜透析液内の主浸透圧剤としてL-カルニチンを含有することで、既存の腹膜透析液の欠点であるブドウ糖による生体への悪影響を減少させ、なおかつ透析患者に不足しているＬ−カルニチンの生体内への供給にも役立つ腹膜透析液を提供する。 - 特許庁

To highly reliably evaluate the density and the origin of a defect in an insulation film or in a semiconductor film by surely securing an electrical contact for electric detection electronic spin resonance measurement and remarkably reducing noise caused by contact resistance or the like.例文帳に追加

本発明は、電気検出電子スピン共鳴測定に対して、電気的接触の確実な確保が可能となり、接触抵抗等に由来するノイズを大幅に低減し、絶縁膜、もしくは、半導体膜中の欠陥の密度、起源の、信頼性の高い評価することを目的とする。 - 特許庁

Only a component which varies in cycles longer than the size of a circuit pattern and repetition cycles in a potential contrast image obtained with the reflected electrons is imaged through lenses 8, 12, and 13 and an image signal is compared with a previously set value to find whether there is a defect and measures its position.例文帳に追加

反射電子により得られる電位コントラスト像のうち、回路パターンのサイズや繰り返し周期より長い周期で変化する成分のみを、レンズ８、１２、１３により結像し、画像信号をあらかじめ設定した値と比較することにより、欠陥の有無および位置を計測する。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a semiconductor device having a super junction structure wherein a dislocation defect does not easily occur in a filled epitaxial layer of a second conductivity type for the purpose of further improving the quality of the region of the second conductivity type formed inside a trench.例文帳に追加

トレンチ内に形成する第２導電型の領域の更なる高品質化を目的に、前記第２導電型の充填エピタキシャル層に転位欠陥が発生しにくいスーパージャンクション構造を有する半導体素子の製造方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

The output signal levels of photodetecting elements corresponding to the respective optical filters are multiplied by individual gain coefficients to make level corrections so that the output signal levels obtained from photodetecting elements having no black defect have the same prescribed level is irrelevantly to the kinds of the optical filters.例文帳に追加

各光フィルタに対応する受光素子の出力信号レベルに対して各別の利得係数を乗じることにより、黒欠陥のない受光素子から得られる出力信号のレベルが光フィルタの種類に拠らずに同一の規定レベルとなるようにレベル補正する。 - 特許庁

A maintenance information providing server 12 is connected to a network N, and provides maintenance information acquired by correlating information on a past defect generation spot of the semiconductor integrated circuit testing device with a diagnosis result of a self-diagnosis program function provided in the semiconductor integrated circuit testing device.例文帳に追加

メンテナンス情報提供サーバ１２は、ネットワークＮに接続され、半導体集積回路試験装置の過去の不良発生箇所に関する情報と、半導体集積回路試験装置に設けられた自己診断プログラム機能の診断結果とを対応付けたメンテナンス情報を提供する。 - 特許庁

An airfoil to be exposed in a predetermined fluid receives the fluid from an introduction hole 2a that is formed at a front edge 1a, and discharges the received fluid from a discharge hole 2b that is formed at a rear edge 1b to supply the fluid to a velocity defect region.例文帳に追加

所定の流体中に晒される翼であって、前縁部１ａに形成された導入孔２ａから上記流体を取り込むと共に、取り込んだ上記流体を後縁部１ｂに形成された導出孔２ｂから噴出して速度欠損領域に供給する。 - 特許庁

The inspection device allows defective image during inspection to be displayed, by searching similar defects on images in case of a plurality of sheets of defective data, performing trend display of a search result, displaying a defective map by designating a sheet on the trend, and designating a defect on the defective map.例文帳に追加

複数枚の欠陥データの場合には、画像上で類似の欠陥を検索、検索結果をトレンド表示すること、トレンド上の１枚を指定することでその欠陥マップを表示し、欠陥マップ上の欠陥を指定することで検査時の欠陥画像の表示を可能とする。 - 特許庁

To provide a nanoimprint pattern forming method capable of controlling the leak of a surplus resin without requiring a complicated control mechanism in a transfer device and forming a dummy groove in a mold which causes a molding defect by a residual resin, and also to provide a base material used in the method.例文帳に追加

転写装置に複雑な制御機構を必要とせず、また、樹脂残留によりモールド欠陥を引き起こす原因となるダミー溝をモールドに形成せずに、余剰樹脂の漏出を制御することができるナノインプリントパターン形成方法およびそれに用いられる基材を提供する。 - 特許庁

To provide a gas shielded arc welding method, in which a sound welding bead is obtained without causing the defect of pores on the surface of a welding bead, even on condition that the welding speed is ≥80 cm/min in single electrode welding and the welding speed is ≥150 cm/min in two electrode welding.例文帳に追加

単電極溶接で溶接速度８０ｃｍ／分以上、２電極溶接で溶接速度１５０ｃｍ／分以上の条件においても、溶接ビード表面に気孔欠陥が発生せず、健全な溶接ビードを得ることができるガスシールドアーク溶接方法を提供する。 - 特許庁

An ECU controls operation of an EPS actuator to apply periodically instantaneous motor torque to a steering system in association with a changing direction of the assist force when an assist continuing control using the sensor signal (remaining sensor signal) which is output by a sensor element of which defect is not detected is executed.例文帳に追加

ＥＣＵは、故障が検出されていない方のセンサ素子が出力するセンサ信号（残存センサ信号）を用いたアシスト継続制御の実行時には、そのアシスト力の変化方向に関係して、周期的に瞬発的なモータトルクを操舵系に印加すべくＥＰＳアクチュエータの作動を制御する。 - 特許庁

To create a high-definition tomographic image capable of narrowing an operating range of an apparatus, obtaining a wide range of projection data, and imaging a minute defect, and the like in piping even in a narrow piping perimeter when photographing field plant piping.例文帳に追加

本発明の目的は、現地プラント配管を撮影する際に、配管周囲が狭隘な状況においても、装置の動作範囲を小さくしつつ、広範囲の投影データを取得し、配管内部の微小欠陥などを画像化できる高画質な断層画像を作成することにある。 - 特許庁

To securely manufacture a laminated ceramic electronic component which is free of a decrease in coverage of an internal electrode, a short-circuit defect etc., and having high reliability by preventing an internal electrode pattern from being attacked by a solvent in ceramic slurry when a ceramic green sheet is formed by applying the ceramic slurry.例文帳に追加

セラミックスラリーを塗布してセラミックグリーンシートを形成する際に、内部電極パターンがセラミックスラリー中の溶剤によってアタックされることを防止して、内部電極のカバレッジの低下やショート不良などがなく、信頼性の高い積層セラミック電子部品を確実に製造することを可能にする。 - 特許庁

In an electronic microscope 5 for observing the defects detected by an optical defect inspection apparatus or an optical visual inspection apparatus, an optical microscope 14 for redetecting defects is mounted thereupon and a distribution filter is inserted in its pupil surface, when the optical microscope 14 is used to observe dark field.例文帳に追加

光学式欠陥検査装置または光学式外観検査装置で検出した欠陥を観察する電子顕微鏡5において、欠陥を再検出する光学顕微鏡14を搭載し、この光学顕微鏡14で暗視野観察する際に瞳面に分布フィルタを挿入する構成とする。 - 特許庁

To provide a stencil mask for ion implantation, having superior heat resistance or durability and improving the ion implantation accuracy by reducing the defect of a stencil mask for ion implantation, such as, membrane deflection due to the heating of an ion beam, and to provide a low-cost method for manufacturing the stencil mask for ion implantation.例文帳に追加

イオンビームの発熱に起因したメンブレンの撓みというイオン注入用ステンシルマスクの欠陥が低減され、優れた耐熱性や耐久性を有してイオン注入精度を向上するイオン注入用ステンシルマスクおよびその安価な製造方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a silicone composition that performs crosslinking by condensation, wherein the silicone composition enables rapid crosslinking and simultaneously does not have problems, for example, yellowing, surface stickiness, a slow vulcanization rate, or stability when stored, or a defect, such as incompatibility with an ordinary adhesion aid based on aminosilane.例文帳に追加

迅速な架橋を可能にし、同時に例えば黄変、表面粘着性、緩徐な加硫速度、貯蔵の際の安定性の問題またはアミノシランを基礎とする通常の付着助剤との非相容性のような欠点を有しない、縮合により架橋するシリコーン組成物を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor device, having a structure in which a multilayer wiring layer is further formed on a peripheral circuit formed on a semiconductor substrate, such that a defect of the peripheral circuit is analyzed without changing characteristics of elements constituting the peripheral circuit.例文帳に追加

半導体基板上に形成された周辺回路上にさらに多層配線層が形成された構造の半導体装置において、周辺回路を構成する素子の特性を変化させずに周辺回路の不良解析を行うことができる半導体装置を提供する。 - 特許庁

The substrate for surface-enhanced Raman scattering studies comprises a semiconductor surface with whiskers, coated with metal selected from the group consisting of silver, gold, platinum, copper and/or alloys thereof, where the semiconductor is a gallium-containing nitride, and essentially each whisker contains a linear defect inside.例文帳に追加

基板は、銀、金、白金、銅及び／又はそれらの合金から成る群から選択された金属により被覆されている、ウィスカーを含む半導体表面を含んでおり、半導体はガリウム含有窒化物であり、本質的に各ウィスカーは内部に線状欠陥を含んでいる。 - 特許庁

To provide a radiation-sensitive resin composition capable of improving hydrophilicity during alkali development while securing hydrophobicity in immersion exposure, suppressing a development defect of a non-exposure part, and providing a resist coating film excelling in a pattern shape after development.例文帳に追加

液浸露光時における疎水性を確保しつつアルカリ現像時における親水性を向上させることができ、未露光部の現像欠陥を抑制し得ることに加えて、現像後のパターン形状に優れるレジスト塗膜を与えることが可能な感放射線性樹脂組成物を提供する。 - 特許庁

To provide a teacher data superior in the repeatability and the objectivity, and alleviate a load of an operator for creating the teacher data, concerning a method for creating the teacher data for automatically classifying defects in a substrate, a defect classification method using it, and an apparatus.例文帳に追加

基板の欠陥を自動的に分類するための教師データを作成する方法およびこれを用いた欠陥分類方法ならびに装置において、再現性、客観性に優れた教師データを提供するとともに、該教師データの作成におけるオペレータの負荷を軽減する。 - 特許庁

To provide a concrete material, a concrete structure and its manufacturing method which inhibit or prevent a crack caused by dry shrinkage which makes an initial defect, particularly, in a slab and a plane member constituting a structure such as a wall or the like whose crack by the dry shrinkage becomes apparent.例文帳に追加

特に乾燥収縮によるひび割れが顕著となるスラブや壁等の構造物を構成する面部材において、初期欠陥となる乾燥収縮に起因するひび割れを抑制または防止することができるコンクリート素材とコンクリート構造物及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a coating defect correcting apparatus, in which the correction of coating ununiformity occurring in the continuous coating of a flexible belt like body with a coating liquid with a prescribed thickness by a coating utensil is surely and quickly performed without a user's touching at the flexible belt like body directly.例文帳に追加

塗布工具により可撓性帯状体に塗布液を所定の厚さに連続的に塗布する際に発生する塗布むらの修正を作業者が可撓性帯状体に直接に触れることなく確実かつ迅速に行うことができる塗布不良修正装置を提供する。 - 特許庁