「OF test」に関連した英語例文の一覧と使い方(417ページ目) - Weblio英語例文検索

The water-color pigment composition is composed at least of a pigment, water and an acrylic acid ester emulsion, and its flowability expressed by spread-meter diameter D measured by the flow characteristic test method described in JIS K5101 is ≥30mm and ≤70mm.例文帳に追加

少なくとも顔料と、水と、アクリル酸エステル系エマルジョンとからなり、流動性がＪＩＳ Ｋ５１０１に記載の流動特性試験によるスプレッドメーター直径Ｄ３０ｍｍ以上７０ｍｍ以下である水性顔料組成物。 - 特許庁

If not paused, it does not start a failure information displaying process, but if paused, it reads displaying conditions from test programs of the IC tester 4 and takes in displaying conditions to be inputted by the operator.例文帳に追加

このとき、一時停止中でなければ不良情報表示の処理を起動しないこととし、一時停止中であればＩＣ試験装置４の試験プログラムから表示条件を読み込むと共にオペレータが入力する表示条件を取り込む。 - 特許庁

Based on each independent, sequential movement of the transport hands 50A, 50B and the index units 60A, 60B, 60C, the electronic component T is sequentially arranged in respective test sockets Sc1-Sc3 for performing different tests.例文帳に追加

これら搬送ハンド５０Ａ，５０Ｂ及びインデックスユニット６０Ａ，６０Ｂ，６０Ｃの各独立した順次移動に基づいてそれぞれ異なる試験を行なう各テストソケットＳｃ１〜Ｓｃ３に対し電子部品Ｔを順番に配置する。 - 特許庁

Preferably, the ratio of a grounding area when the tire 4 is placed on the two rollers 6 to a grounding area when the tire 4 is placed on a plane is 0.1-0.2 in the test method.例文帳に追加

好ましくは、この試験方法では、上記タイヤ４が平面に載せられたときにおける接地面積に対する、このタイヤ４が上記２本のローラー６に載せられたときにおける接地面積の比は、０．１以上０．２以下である。 - 特許庁

To provide a circulation flow water vessel provided with a bubble removing device capable of removing bubbles generated in a circulation flow or bubbles generated by a cavitation test to carry out an experiment not affected by the bubbles.例文帳に追加

回流中に生成された気泡或いはキャビテーション試験によって生成した気泡を除去して、気泡の影響を受けない実験を行うことのできる気泡除去装置を備えた回流水槽を提供することにある。 - 特許庁

DEVICE AND METHOD FOR SELECTING MARKET TEST DATA, PROGRAM OF METHOD EXECUTABLE BY COMPUTER, RECORDING MEDIUM WITH PROGRAM AND READ BY COMPUTER, AND ITS SYSTEM AND METHOD例文帳に追加

マーケットテストデータ選定装置、マーケットテストデータ選定方法、このマーケットテストデータ選定方法をコンピュータにより実行可能なプログラム及びこのプログラムを記録したコンピュータにより読み取り可能な記録媒体、並びに、マーケットテストシステム及びマーケットテスト方法 - 特許庁

To obtain a low modulus resin paste for semiconductors which has excellent workability without reducing adhesive strength on heating and excellent reliability without causing the peeling of the semiconductor resin paste layer in the soldering crack-resistant test after moisture absorption treatment.例文帳に追加

作業性に優れ、熱時接着強度の低下がなく、吸湿処理後の耐半田クラック性試験において半導体用樹脂ペースト層の剥離が起こらない信頼性に優れた低弾性率の半導体用樹脂ペーストを得る。 - 特許庁

A timing adjustment part 160 adjusts transmission timing so that a pulse signal is transmitted from a transmitting/receiving antenna 140-1 after the lapse of timing offset T3 from timing when a test pulse signal arrives at a transmitting/receiving antenna 140-2.例文帳に追加

タイミング調整部１６０は、送受信アンテナ１４０−２にテストパルス信号が到着したタイミングからタイミングオフセットＴ３経過後に、送受信アンテナ１４０−１からパルス信号が送信されるように送信タイミングを調整する。 - 特許庁

Thereby, a feedback whether the examination preparation content has been on a test are presented, and whether the examination preparation content follows the trend of questions can be verified, even when the examination is not disclosed.例文帳に追加

これにより試験対策コンテンツの内容が出題されたか否かのフィードバックを受けることができ、試験問題を公開していない試験であっても、試験対策コンテンツが出題傾向に沿っているか否かを確認することができる。 - 特許庁

During steady operation, the damper is fixedly opened with a fixed opening, and a heat quantity in accordance with a temperature rise is discharged by ventilation (equivalent ventilation), and a relatively small control heater 13 is used to perform proportional control of a temperature in the test chamber.例文帳に追加

定常運転時には、ダンパーを一定の開度で固定的に開き、換気によって昇温に見合う量の熱量を排出し（等価換気）、比較的小型の制御ヒータ１３を使用して試験室内の温度を比例制御する。 - 特許庁

To provide a polysulfide-based two-component mixed type sealing material wherein residual tack on the surface of a cured product disappears quicker than ever before, which material passes "JIS A 1439 5.17 durability test 9030" while suppressing variation in physical properties after heating.例文帳に追加

硬化物表面の残存タックが従来よりも早く消失し、さらに、加熱後の物性変化を抑えて「ＪＩＳ Ａ １４３９ ５．１７ 耐久性試験９０３０」に合格する、ポリサルファイド系二液混合型シーリング材を提供すること。 - 特許庁

A plate-like test-piece 1 in the end part of which a notch 6 is formed is set to a side bend testing machine and, by making it break by imparting in-plane tension and bending, and strain, a strain gradient and strain concentration in the broken part are measured.例文帳に追加

板端部に切欠き６が形成された板状試験片１をサイドベンド試験機にセットし、板面内の引張および曲げを与えて破断させ、破断部のひずみとひずみ勾配とひずみ集中とを測定する。 - 特許庁

When a front end part in the transfer direction of the test tube is a tip part, its front end part is butted against a tip detecting plate 32 positioned on the innermost side by passing through a determining opening formed in a tube port detecting plate 31, and moves its plate.例文帳に追加

試験管の移送方向前端部分が先端部であれば、その前端部分が管口検出板３１に形成された判定開口を通過して奥側に位置する先端検出板３２に突き当たり、それを運動させる。 - 特許庁

One or more kinds of fluorescent dyes to amplify its fluorescent intensity by binding with a nucleic acid and permeable to membranes are added together with glycerol to the test liquid containing the cells or microorganisms to be measured, and the mixture is left at rest for a definite time.例文帳に追加

計測目的の細胞または微生物を含む検体液に、膜透過性でかつ核酸結合により蛍光量が増幅する一種類または複数種類の蛍光色素とグリセリンを検体液に追加し一定時間静置する。 - 特許庁

After that, a density variation rate α of a test region TL is calculated, estimated completion time ET is calculated based on density values D2a, D2b and the density variation rate α and it is determined whether sensitization treatment is required or not.例文帳に追加

その後、テスト領域ＴＬの濃淡変化率αが算出され、推定完了時間ＥＴが濃淡値Ｄ２ａ、Ｄ２ｂおよび濃淡変化率αに基づいて算出されるとともに増感処理が必要か否かが判断される。 - 特許庁

The first clocking device 1 transmits information to the first communication device 3 as test information including a value specifying a transmission time of the information when transmitting the information specifying the transmission time to the first communication device 3.例文帳に追加

第１計時装置１は、伝達時間を特定するための情報を第１通信装置３に送信するとき、その情報を、その情報の送信時刻を特定する値を含む試験情報として第１通信装置３に送信する。 - 特許庁

To make evaluatable the durability by applying the loads of compression stress and tensile stress in three axial directions at the same time to perform a strength and acceleration test.例文帳に追加

三軸方向に圧縮応力及び引張応力の負荷を同時にかけて、強度及び促進試験を行い、耐久性の評価ができるコンクリート等の耐久性評価試験装置及びその耐久性評価方法を提供する。 - 特許庁

To control the temperature of an electronic part testing socket such as an IC socket without adding a noise to a test signal applied to electronic parts such as an IC device or to a response signal read out from the electronic parts such as the IC device.例文帳に追加

ＩＣデバイスなどの電子部品に印加されるテスト信号や、ＩＣデバイスなどの電子部品から読み出される応答信号にノイズを入れることなく、ＩＣソケットなどの電子部品試験用ソケットの温度を制御する。 - 特許庁

To decide optimum recording power which forms a good mark and a good space in test recording under the limited condition for an optical information recording medium in which manufacturer recommended recording power and also recording power of the previous time are recorded.例文帳に追加

メーカー推奨記録パワーが記録され、かつ、前回の記録パワーが記録されている光情報記録媒体に対して、限られた条件でのテスト記録で、良好なマーク及びスペースを形成する最適記録パワーを決定する。 - 特許庁

Since the BPFs 24-1, 24-2, etc., constituting the N distributor 22 apply delays to the RF signals, peaks of the RF signals relating to channel CH1, CH2,...CHN are hardly overlapped so as to enhance the test/ evaluation accuracy.例文帳に追加

Ｎ分配器２２を構成するＢＰＦ２４−１，２４−２，…により遅延が施されているため各チャネルＣＨ１，ＣＨ２，…ＣＨＮに係るＲＦ信号間のピークの重なり合いが生じにくくなり、試験・評価精度が向上する。 - 特許庁

The tool for adjustment is moved to a position where the test pattern is correctly read by the image reading device in this condition, and the positioning member is fixed to an image reading device main body after adjusting a mounting position of the positioning member.例文帳に追加

その状態においてテストパターンが画像読取装置により正しく読みとられる位置に調整用治具を移動させ、位置決め部材の装着位置を調整した後、位置決め部材を画像読取装置本体に固定する。 - 特許庁

The test patterns are read, detection rates and average concentration of embedded additional information in relation to the respective large dot patterns are obtained, and a large dot pattern wherein the values thereof are set in reference ranges and closest to ideal values is determined (S107).例文帳に追加

それらのテストパターンを読み、それぞれの大ドットパターンに関して埋め込まれた付加情報の検出率と平均濃度を求め、それらの値が基準範囲にありかつ理想値に最も近い大ドットパターンを決定する（Ｓ１０７）。 - 特許庁

Consequently, the API test control part 120 displays a candidate API list expressing the API to be the succeeding performance candidate, based on the order data, and determines the input data of the API to be successively performed, based on the relation data.例文帳に追加

これにより、ＡＰＩテスト制御部１２０は、順序データに基づいて次の実行候補となるＡＰＩを表す候補ＡＰＩリストを表示し、更に関連データに基づいて次に実行するＡＰＩの入力データを決定する。 - 特許庁

Ink injected from the printer head is adjusted by comparing it with a color code value of the characterized test image, and the color manegement adjustment is carried out according to an apparatus profile wherein an output apparatus estimates how it is converted.例文帳に追加

これを特徴付けテスト画像の色コード値と比較してプリントヘッドから噴射するインクを調整し、出力装置がコード値をどのように変換するかを予測した装置プロファイルに従って色マネージメント調整を行う。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for efficiently testing a semiconductor integrated circuit by eliminating a loss time occurring whenever signals of address and data are output to an object under test having an automatic program function.例文帳に追加

自動プログラム機能を有する被試験対象に対してアドレス及びデータを出力する度に生ずる無駄時間を無くすことで効率的に試験を行うことができる半導体集積回路試験装置及び方法を提供する。 - 特許庁

To provide an inspection method applicable to a determination of an early diagnosis or a curative effect and prognosis for a disease for which a specific biomarker is not discovered or a specific disease for which an image test cannot be an evaluation subject.例文帳に追加

疾患特異的なバイオマーカーが発見されていない疾患や、画像検査が評価の対象とならないような特定の疾患に対して、早期診断や治療効果の判定、予後診断に適用可能な検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide conductive paste which can prevent solder leakage and characteristic degradation due to temperature cycle test while preventing oxidization from reducing a capacity and while obtaining adhesion, in the case where the paste is used for a terminal electrode of a ceramic electronic component.例文帳に追加

セラミック電子部品の端子電極として用いた場合、酸化による容量低下を防ぎ、固着力を確保しつつ、半田濡れ不良、温度サイクル試験による特性劣化を防ぐことができる導電性ペーストを提供する。 - 特許庁

In the semiconductor tester for implementing the automatic calibration of a test execution section at a predetermined interval at which a stable measurement operation is ensured, the automatic calibration is implemented in parallel with overhead factors other than the automatic calibration.例文帳に追加

安定した測定動作を保証する所定の周期でテスト実行部の自動校正を行う半導体テスト装置において、前記自動校正を、自動校正以外のオーバーヘッド要因と並行に行うことを特徴とするもの。 - 特許庁

To provide a power supply device capable of easily and efficiently performing voltage adjustment work required for replacing an abnormal power supply and a semiconductor integrated circuit test device including the power supply device.例文帳に追加

異常が生じた電源の交換作業時に行う必要のある電圧調整作業を容易に且つ効率的に行うことができる電源装置及び当該電源装置を備える半導体集積回路試験装置を提供する。 - 特許庁

Consequently, a connection test between the terminal of a semiconductor chip and the external terminal can be performed on each semiconductor chip by measuring a current flowing through the switch circuit while supplying a predetermined level to the dedicated terminal and the first terminal.例文帳に追加

このため、専用端子及び第１端子に所定のレベルを供給した状態で、スイッチ回路に流れる電流を測定することで、各半導体チップ毎に、半導体チップの端子と外部端子との接続試験を実施できる。 - 特許庁

A Fizeau interferometer 10 incorporates an off-axis paraboloidal reflector 30 that forms virtual images of a reference surface and a test surface 18 and a camera lens system 46 that converts the virtual images into real images on a camera detector surface 48.例文帳に追加

基準表面と検査表面１８の虚像を形成するオフアクシス放物面反射器３０及び虚像をカメラ検出器表面４８上の実像に変換するカメラレンズ系４６がフィゾー干渉計１０に組み込まれる。 - 特許庁

In a read test mode, the precharge circuit 20 supplies a power supply voltage VDD to one of node pairs ND11 and ND12, which holds at least low-level data, between writing and reading the data to and from the memory cell 10.例文帳に追加

リードテストモード時、プリチャージ回路２０は、メモリセル１０へのデータの書き込みと読み出しの間において、ノード対ＮＤ１１、ＮＤ１２のうち、少なくともローレベルのデータを保持するノードに対し、電源電圧ＶＤＤを供給する。 - 特許庁

A control part 50 forms patch toner images for yellow and magenta at screen angles of 90° and 45° by image forming parts Pa, Pb when a test image measuring mode is instructed, and then transfers and superposes the patch toner images on an intermediate transfer belt 51.例文帳に追加

制御部５０は、テスト画像測定モードが指令されると、画像形成部Ｐａ、Ｐｂによりスクリーン角度が９０度と４５度のイエローとマゼンタのパッチトナー像を形成して、中間転写ベルト５１に転写して重ね合わせる。 - 特許庁

The work station 10 is always operated making analysis host process as damon object of sever process, when analysis processing is required from the test processor 20, the work station 10 performs directly analysis processing in accordance with the request.例文帳に追加

ワークステーション１０は、解析ホストプロセスをサーバプロセスのデーモンオブジェクトとして常時起動しており、テスタプロセッサ２０から解析処理の要求があった場合、ワークステーション１０は直ちにその要求に応じた解析処理を実行する。 - 特許庁

The IC tester which tests an object under test is improved in such a way that the object is mounted on a performance board and that a signal is transferred via the POGO pin of a POGO pin block connected to the performance board.例文帳に追加

本発明は、被試験対象をパフォーマンスボードに搭載し、このパフォーマンスボードに接続するポゴピンブロックのポゴピンを介して信号の授受を行い、被試験対象の試験を行うＩＣテスタに改良を加えたものである。 - 特許庁

Letting that one turbidity matter in the test water flowing through the measuring cell 11 is PM1, the turbidity matter PM1 interrupts a laser beam emitted from a particle counter light source 12a when the turbidity matter PM1 reaches a location A of particulate detection.例文帳に追加

測定セル１１を流れる検水中のある一つの濁質をＰＭ１とすると、濁質ＰＭ１は、微粒子検出位置Ａに達すると、濁質ＰＭ１が微粒子計光源１２ａから発せられるレーザー光線を遮断する。 - 特許庁

To provide a test device for dynamic tests for combustion engines, which is advantageously connected to a control device where set values relating to transitions of a rotational frequency and rotation torque are adjusted and controlled by an electric driving/load device.例文帳に追加

有利には、電気式の駆動・負荷機器が回転数と回転トルクの推移に関する設定値を調整、制御する制御機器と接続された、燃焼式動力機関の動力学的な試験課題のための試験装置である。 - 特許庁

In the clock generating apparatus, the plurality of characteristics set in the voltage controlled oscillator 16 are sequentially selected and a test voltage is provided by a voltage controller 18, thereby various oscillation characteristics being identified.例文帳に追加

このクロック生成装置では、電圧制御発振器１６に設定されている複数の発振特性が順次選択されて、電圧制御器１８により試験電圧が与えられることで各発振特性について同定される。 - 特許庁

The system and method include an impedance adjustment circuit 4 incorporated into the output circuit 3 of a first LSI 1, and a test pattern generating circuit 5 for transmitting signals for testing random patterns via the circuit 4 to a second LSI 2.例文帳に追加

第１のＬＳＩ１の出力回路３内に組み込まれたインピーダンス調整回路４と、インピーダンス調整回路４を介してランダムパターンのテスト用信号を第２のＬＳＩ２に対して送出するテストパターン発生回路５を備える。 - 特許庁

Shortly after a test release was available from Berkeley, the socket interface had been ported to System III by a UNIX vendor (although ATT did not support the socket interface until the release of System V Release 4, deciding instead to use the Eighth Edition stream mechanism). 例文帳に追加

バークレーから入手できたテストリリースのすぐ後で、 ソケットインタフェースは UNIXベンダによって System III に移植されました (しかし、ATT は System V Release 4のリリースまでソケットインタフェースをサポートせず、 その代わりに Eighth Editionのストリーム機構を使用する ことを決めました)。 - FreeBSD

(v) Documents have been prepared, indicating the test methods for the products, etc. and other methods for verifying that food sanitation hazards have been prevented appropriately, with regard to the comprehensive sanitation management and production process of the products; 例文帳に追加

五　製品の総合衛生管理製造過程につき、製品等の試験の方法その他の食品衛生上の危害の発生が適切に防止されていることを検証するための方法を記載した文書が作成されていること。 - 日本法令外国語訳データベースシステム

To provide an optical transmission device which controls the phase difference of an optical signal passed through a data modulation section to a predetermined phase difference without causing a deterioration in a phase-modulated optical signal, and to provide an optical test device having the device.例文帳に追加

位相変調光信号の劣化を生ずることなく、データ変調部を介する光信号の位相差を所定の位相差に制御することができる光送信装置、及び当該装置を備える光試験装置を提供する。 - 特許庁

(ii) When a flame contact test is conducted by using a gas burner which is compliant with ASTM D 5025-94 and by using a flame which is adjusted in compliance with ASTM D 5207-98, either one of the following (a) or (b) is satisfied.例文帳に追加

（ii）ＡＳＴＭ Ｄ ５０２５−９４に準拠したガスバーナーを用い、ＡＳＴＭ Ｄ ５２０７−９８に準拠して調節した炎を用いて実施した接炎試験において、以下の（ａ）または（ｂ）のいずれかを満足する。 - 特許庁

To carry out a test for a mixed RAM in a CPU-built-in RAM-mixed LSI by a ususal operation of a built-in CPU to enhance inspection precision easily at a low cost, and to enhance a screening level for a deffective.例文帳に追加

ＣＰＵ内蔵ＲＡＭ混載ＬＳＩの混載ＲＡＭのテストを、内蔵ＣＰＵの通常動作にて行えるようにすることで、検査精度の向上を簡便かつ低コストで達成して、不良品のスクリーニングレベルを向上させ得ること。 - 特許庁

To provide an arithmetic test material effective for evaluating and analyzing whether a pupil masters already learned calculation required for mastering the calculation content in a new learning unit in a learning instruction of arithmetic in an elementary school.例文帳に追加

小学校の算数の学習指導において、新規学習単元での計算内容を習得するのに必要な既習の計算を児童が習得できているかどうかを評価・分析するのに有効な算数テスト教材を提供する。 - 特許庁