「OF test」に関連した英語例文の一覧と使い方(416ページ目) - Weblio英語例文検索

The illumination section 12 having the "σ" set at 1 or more illuminates the measurement chart "ob" so that transmitted light generates the zero-order and odd-order diffraction light to be imaged on an imaging surface "im" of a CCD11 with a test lens L0.例文帳に追加

σを１以上に設定している照明部１２により計測チャートｏｂを透過照明して発生する０次及び奇数次の回折光は、被検レンズＬ０によりＣＣＤ１１の撮像面ｉｍに結像される。 - 特許庁

An appropriate level is given to a signal EN in a test other than speed selection or in normal operation, and switching is made so that a selector 1 selects an input side, thus enabling the output of the F/F4 to cut a negative feedback path to be fed back to the F/F2.例文帳に追加

スピード選別以外のテストや通常動作の時は信号ＥＮに適切レベルを与え、セレクタ１が入力側を選択するように切替えることで、Ｆ／Ｆ４の出力がＦ／Ｆ２に負帰還する負帰還パスをカットする。 - 特許庁

Coating by a coating material 9 is applied to a portion inside the through-hole 7 and a portion positioned on a close portion to the lower-side end member 2 of the extremely thin metal wire 4, and the test fluid is not brought directly into contact with the extremely thin metal wire 4.例文帳に追加

極細金属ワイヤ４のうち貫通孔７内及び下側エンド部材２の直近部位に位置する部分には、被覆材９による被覆が施されており、試験流体が極細金属ワイヤ４に直接には接触しない。 - 特許庁

To provide a support device and method for outputting test data covering a branch and a computer program for making a computer function as the support device even when a program code using the arithmetic result of a mathematical equation as branch conditions is included in a program.例文帳に追加

プログラムに数式の演算結果を分岐条件が含まれている場合も分岐を網羅する試験データを出力できる支援装置、支援方法及びコンピュータを前記支援装置として機能させるコンピュータプログラムを提供する。 - 特許庁

When an SNMP unit 3 requests a loop back test to a station side media converter 2b per request from an SNMP manager 7, the station side media converter 2b prohibits transmission and reception of a signal from a TP 5a and transmits a request message to a user side media converter 8.例文帳に追加

SNMPマネージャ7からの要求により、SNMPユニット3が局側メディアコンバータ2bへループバック試験を要求すると、局側メディアコンバータ2bは、TP5aからの信号の送受信を禁止して利用者側メディアコンバータ8へリクエストメッセージを送信する。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for evaluation wherein the sticking strength, the tearing strength, the tearing property and the like of a film or a sheet can be evaluated and tested with a satisfactory correlation property with an actual hand tearing evaluation or a transplantation test and quantitatively.例文帳に追加

フィルムやシートの突刺し強度、引裂き強度及び引裂き性等を実際の手裂き評価や移植試験と相関性がよくかつ定量的に評価試験できるる評価装置および評価方法を提供すること。 - 特許庁

During the scan test, a third clock control section 117 stops the supply of the clock to a hard macro 110 such as a ROM and a RAM which are irrelevant to inspection by a control signal from the control signal input terminal 105.例文帳に追加

一方、第３のクロック制御部１１７は、スキャンテスト時に、制御信号入力端子１０５からの制御信号によって、検査に関係の無いＲＯＭやＲＡＭ等のハードマクロ１１０へのクロックの供給を停止させる。 - 特許庁

A printer 15 has a microphone in the inside, executes a test pattern for measuring operation sound for driving each drive section of the printer 15 at each prescribed time independently, and records the operation sound at that time at a recording storage section.例文帳に追加

プリンタ１５は、その内部にマイクを備え、稼働音測定用のテストパターンを実行することによってプリンタ１５の各駆動部をそれぞれ所定の時間毎に単独で駆動させ、そのときの稼働音を録音記憶部に録音する。 - 特許庁

The conductivity measurement system irradiates a surface of silicon wafer (test piece) 160 with the microwave generated in a network analyzer (NA) 110 through a wave guide tube 130, and a sensor 140, and the reflected microwave is received by the sensor 140.例文帳に追加

導電率測定システムでは、ネットワークアナライザ（ＮＡ）１１０内で生成したマイクロ波を導波管１３０、センサ１４０を経て、シリコン・ウェーハ（試料）１６０の表面に照射し、反射されたマイクロ波をセンサ１４０で受信している。 - 特許庁

To provide a semiconductor memory which can easily and accurately discriminate a contact state of an external terminal by same simple timing as that in normal operation without adding an exclusive terminal for test after mounting a semiconductor chip on a board.例文帳に追加

半導体チップをボードに実装後、専用の試験用端子を追加しなくても、通常動作と同じ簡易なタイミングによって、容易に精度良く、外部端子のコンタクト状態を判定することができる半導体記憶装置を提供する。 - 特許庁

To provide a capillary immunoassay device capable of detecting target material highly sensitively on a test body by using a specific bonding reaction between the target material and functional material, and an immunoassay method using the device.例文帳に追加

標的物質と機能性物質との特異的な結合反応を利用して、検体について、標的物質の検出を高い感度で行うことのできるキャピラリイムノアッセイデバイスの提供、並びにこれを用いるイムノアッセイ法を提供すること。 - 特許庁

The monolithic molded articles are cited as the medical equipment container including a sterile medical equipment container, instruments used for physics/chemistry test, slide glass, monolithic eyeglasses of lens and frame, windowpane, illuminator cover, tableware, roof tile, helmet and the like.例文帳に追加

一体成型した成型品として、減菌済医療用を含めた医療器具容器、理化学試験で用いる器具類、スライドグラス、レンズとフレームとを一体にした眼鏡、窓ガラス、照明器具カバー、食器、瓦屋根、ヘルメット等が上げられる。 - 特許庁

This semiconductor memory device is configured to access all the memory cells by utilizing only a part among address pins in a wafer level test mode, and a part of the address pins is used to receive the address signals from a tester.例文帳に追加

本発明による半導体メモリ装置は、ウェーハレベルテストモードでアドレスピンのうち一部のみを利用してすべてのメモリセルをアクセスするように構成され、一部アドレスピンはテスト装置からのアドレス信号が入力されるのに使用される。 - 特許庁

To provide a method for testing a semiconductor device, by which a precise test corresponding to an actual using state can be performed to an accelerated semiconductor device, even if using a testing device of slow operation which is used conventionally.例文帳に追加

従来から使用していた動作速度の遅いテスト装置を用いても高速化された半導体装置に対して実際の使用状態に即した正確なテストを行うことができる半導体装置のテスト方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a miniaturizable corrosion thinning testing device and a corrosion thinning test method, which grasp quantitatively a corrosion thinning characteristic of a ceramic material or a heat-resistant metal material, and have excellent safety, economical efficiency and operability.例文帳に追加

セラミックス材料や耐熱性金属材料の腐食減肉特性を定量的に把握でき、安全性、経済性、操作性に優れるとともに、小型化が可能な腐食減肉試験装置及び腐食減肉試験方法を提供すること。 - 特許庁

In the screen structure information comparison processing, an operation content relating to part information which is differed in the screen structure information between before and after program correction performed by a user is recorded to convert the data of the test script.例文帳に追加

そして、画面構成情報比較処理においてユーザが行ったプログラム修正前後の各画面構成情報で差異となる部品情報への関連付けの操作内容を記録してテストスクリプトのデータの変換を行う。 - 特許庁

After completion of the test, the board 31 is sealed within a box 87 which unalterably fixes the board, such that a third person can not touch the testing connector 47.例文帳に追加

さらに、試験が終了した後は、その遊技制御基板３１を非可逆的な組付け状態に固着される遊技制御基板ボックス８７内に封入し、容易に試験用コネクタ４７に第三者が手を触れることができないように構成する。 - 特許庁

When the means 110 detects the fault occurrence, a command acquiring means 101 inputs a restarting procedure file and executes restarting processing, so that the automatic test can be continuously executed even at the occurrence of the fault.例文帳に追加

また、障害検出手段１１０で障害発生を検出した場合、コマンド取得手段１０１が再開手順ファイルを読み込んで再開処理を行うので、障害発生時にも継続して自動試験を行うことができる。 - 特許庁

As the input signal is delayed by the delay circuit 2, signals with time difference are input to the data input terminal D of the latch circuit 1 and the timing input terminal T to perform a test to guarantee a setup time and a hold time.例文帳に追加

該入力信号は遅延回路により遅延されるため、時間差を持った信号がラッチ回路１のデータ入力端子Ｄとタイミング入力端子Ｔに入力されてセットアップ時間及びホールド時間の保証テストが実施される。 - 特許庁

The ternary value output circuit 1 adopts a circuit configuration shown in Figure 1, in which number of diodes is small by properly switching each switch depending on a selected power supply so as to switch the power supply for an IC test.例文帳に追加

３値出力回路１は、図１に示す回路構成とし、選択する電源に応じて、各スイッチを適宜開閉することにより、ダイオードの使用個数が少ない回路構成で、ＩＣテストのための電源切換を行うことができる。 - 特許庁

The disk controller HDC9 performs a magnetization test mode to detect the magnetized state of the write head by using a degaussing control circuit 62 and a degaussing circuit 63 provided in a head amplifier circuit 6 in a perpendicular magnetic recording disk drive.例文帳に追加

垂直磁気記録方式のディスクドライブにおいて、ヘッドアンプ回路６に搭載されているデガウス制御回路６２及びデガウス回路６３を利用して、ＨＤＣ９はライトヘッドの帯磁状態を検出する帯磁テストモードを実行する。 - 特許庁

To provide a sealing method for molten materials wherein when compound semiconductors such as InAs, SnTe, PbTe are melted to perform a diffusional test or the like, evaporated matters of samples can be prevented from permeating a shear cell or a crucible.例文帳に追加

ＩｎＡｓ，ＳｎＴｅ，ＰｂＴｅ等の化合物半導体を溶融させて上述した拡散試験等を行う場合に、試料の蒸発物がシェアセルやるつぼを透過するのを防止することができる溶融材料の密封方法を提供する。 - 特許庁

To precisely conduct an acceptance determining measuring test for a semiconductor integrated circuit having a large number of output terminals to output multi-gradation output voltages, using inexpensive device constitution.例文帳に追加

多数の出力端子を有し多階調の階調出力電圧を出力する半導体集積回路の合否判定測定テストが、安価な装置構成で高精度に行える半導体検査装置及び半導体検査方法を提供する。 - 特許庁

A test mode discriminating circuit 31 inputs an external command consisting of a chip-select signal/CS, a row address strobe signal/RAS, a column address strobe signal/CAS, a write-enable signal/WE, and the like, while inputs memory address signals A0-An.例文帳に追加

テストモード判定回路３１は、チップセレクト信号／ＣＳ、ロウアドレスストローブ信号／ＲＡＳ、コラムアドレスストローブ信号／ＣＡＳ及びライトイネーブル信号／ＷＥ等からなる外部コマンドを入力するとともに、メモリアドレス信号A0〜Anを入力する。 - 特許庁

Accordingly, the memory cell array can operate at the first data transfer rate while allowing the output circuit to output data to an external terminal at the second data transfer rate that is lower than the first data transfer rate, in a test mode of operation.例文帳に追加

これにより、テストモードで、前記メモリセルアレイは前記第１データ転送速度で動作する一方、前記出力回路は前記第１データ転送速度より低い前記第２データ転送速度でデータを前記外部ターミナルに出力しうる。 - 特許庁

To provide a pattern generator and capable of generating test pattern data by an interleave method without having to analyze or creating internal operations for pattern generation for each interleave operation, and to provide a pattern generating method.例文帳に追加

パターン生成のための内部演算をインターリーブ動作の各々に対して分析して作成しなくても、インターリーブ方式でテストパターンデータの生成が可能な半導体テストのためのパターン生成装置及びパターン生成方法を提供する。 - 特許庁

In pre-rotation for image formation, fifty test electrostatic images 1s are formed on a photosensitive drum 1 and detected by 10 potential sensors 30, whereby image flow states at 100 points on the surface of the photosensitive drum 1 are measured.例文帳に追加

画像形成の前回転時に感光ドラム１に５０本の試験静電像１ｓを形成して、１０個の電位センサ３０で検出することにより、感光ドラム１の表面１００箇所における画像流れ状態を測定する。 - 特許庁

By forming fixing test images TA to TC on a recording body S, a supervisory control part 54 calculates measured glossiness from the intensity of reflected light concerning the respective images TA to TC detected by an image information detection part.例文帳に追加

記録体Ｓ上に定着テスト画像ＴＡ〜ＴＣを作成し、画像情報検出部が検出したそれぞれの画像ＴＡ〜ＴＣについての反射光強度から、統括制御部５４は実測光沢度を算出する。 - 特許庁

To continue an estimation for an integer bias even when the number of positioning satellites is changed, to efficiently conduct a test in a short time to determine the integer bias, and to allow provision with a method for calculating a base line spectrum.例文帳に追加

測位用衛星の数が変化しても整数バイアスの推定を継続でき、短時間で効率良く検定して、整数バイアスを決定するとともに、基線ベクトルを算出する方法を備えたキャリア位相相対測位装置を構成する。 - 特許庁

Since boring is generally performed in survey of a rock bed structure, the deformation coefficient D is evaluated at a low cost without requiring an original position test by effectively putting the data obtained by this boring to practical use.例文帳に追加

岩盤構造物の調査時にはボーリングは一般に行われているため、このボーリングにより得られるデータを有効活用することで、原位置試験を要することなく低コストに変形係数Ｄを評価することができる。 - 特許庁

A wafer transfer unit transfers first and second test wafers TW1 and TW2 in wafer cassettes 11 and 12 to the specified slots in a boat 30 unloaded from a reaction furnace of a semiconductor manufacturing apparatus, respectively, as instructed by a controller.例文帳に追加

ウェーハ移載器２０は、制御部４０の指示に従って、ウェーハカセット１１，１２の第１，第２のテストウェーハＴＷ１，ＴＷ２を半導体製造装置の反応炉から搬出されたボート３０の指示されたスロットにそれぞれ移載する。 - 特許庁

To construct a system for generating a derived structured document semantically equivalent to and different in expression from a structured document, facilitating a test of a structured document processing system and avoiding fragility in structured document processing.例文帳に追加

構造化文書に対して、意味的に等価で表現が異なる派生の構造化文書を生成し、構造化文書処理システムのテストを容易にし、また、構造化文書処理の脆弱性を回避するシステムを構築可能にする。 - 特許庁

This method is used for testing a plurality of devices such as HDDs by inspecting whether the HDDs are mounted in response to random requests, and by sequentially allocating one test thread to each mounted HDD.例文帳に追加

ランダムな要求に応答してＨＤＤが装着されたかを検査し，それぞれの装着ＨＤＤに対して一つのテストスレッドを順次に割り当てることによって，ＨＤＤのような複数のデバイスをテストする方法が提供される。 - 特許庁

To provide a semiconductor manufacturing apparatus wherein even an operator unfamiliar with communication specification for host computers can conduct a communication test to monitor transmission/reception messages in real time and easily specify the cause of an error when the error occurs.例文帳に追加

対ホストコンピュータとの通信仕様に不慣れなオペレータでも、通信テストを行って送受信メッセージをリアルタイムに監視し、異常発生時に異常原因を容易に特定することができる半導体製造装置を提供する。 - 特許庁

For example, when a fixing target switch 30a is pressed, the fixing target corresponding to it is lighted to guide the visual line of the test eye in this direction, and the fundus image about the fundus papilla part is taken on a film 18.例文帳に追加

例えば固視目標スイッチ３０ａが押されると、これに対応する固視目標が点灯され、被検眼の視線がその方向に誘導され、眼底乳頭部を中心とした眼底像がフィルム１８に撮影される。 - 特許庁

The ink jet head comprises a constituent member whose mass change is in a range of -0.8 to 8.0mass% when the ink jet head is subjected to an ink immersion test.例文帳に追加

光硬化性インクのインクジェットヘッドであって、該インクジェットヘッドを構成する、構成部材を、各々インク浸漬試験にかけたとき、該構成部材の質量変化率が、−０．８質量％〜８．０質量％の範囲であることを特徴とするインクジェットヘッド。 - 特許庁

The device includes the first reservoir 21 and the second reservoir 22 for supplying one or more of media continuously to the first chamber 2 and the second chamber 10, and the chambers have stirrers 4, 11 for mixing the solid test sample and the media.例文帳に追加

装置は１以上の媒体を第１のチャンバ２と第２のチャンバ１０へ連続的に供給する、第１のリザーバ２１と第２のリザーバ２２を含み、チャンバは固体試験サンプルと媒体を混合する攪拌器４、１１を有する。 - 特許庁

To provide a short-time and highly accurate inspection method, and inspection equipment by using a signal, except an electric signal such as current, voltage by a charge/discharge test as a method for inspecting an internal state of a lithium ion secondary battery in details.例文帳に追加

リチウムイオン二次電池の内部状況を詳細に検査する方法として、充放電試験による電流，電圧等の電気的信号以外の信号を用いて、短時間で、高精度な検査方法、及び検査装置を提供する。 - 特許庁

To provide a biaxially oriented polyester film for forming suitable for decoration of a molding, the polyester film having excellent formability under low temperature and low pressure and also little distortion in a durability test after formed into a molding.例文帳に追加

低い温度及び低い圧力下での優れた成型性を有すると共に、成型体成型後の耐久性試験における歪みが少ない、成型体加飾用として好適な成型用二軸配向ポリエステルフィルムを提供する。 - 特許庁

The semiconductor device 1 includes both a storage 2 for storing specific information for specifying the time of executed burn-in test and a controller 3 which stores specific information in the storage 2 and reading stored specific information.例文帳に追加

半導体装置１は、実施されたバーンイン試験時間を特定するための特定情報を記憶する記憶部２と記憶部２内に特定情報を記憶させ、また記憶された特定情報を読み出す制御部３とを含む。 - 特許庁

To provide a radio communication system and a radio communication method for starting direct communication without performing test transmission of both terminals when both the terminals are close to a relay station and are located at a distance allowing the direct communication.例文帳に追加

端末機双方が中継局に近く直接通話が可能な距離であった場合、端末機双方の試験送信を行わずに直接交信を開始させることができる無線通信システムおよび無線通信方法を提供する。 - 特許庁

To provide a report server device, report system, and report equipment testing method capable of discriminating automatically whether or not a test report signal is right even while the report system is being operated without providing the report equipment with a special constitution.例文帳に追加

本発明は、特別の構成を通報機器に備える必要もなく、通報システムの運用中でも試験通報信号の是非を自動的に区別し得る通報サーバ装置、通報システム及び通報機器試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a resin paste for a semiconductor excellent in reliability enough not to deteriorate bonding strength when heated and not to cause peeling of a resin paste layer for a semiconductor in a soldering crack resistance test after a moisture-absorbing treatment, and its manufacturing method.例文帳に追加

熱時接着強度を低下させず、吸湿処理後の耐半田クラック性試験において半導体用樹脂ペースト層の剥離が起こらない信頼性に優れた半導体用樹脂ペーストとその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a printer in which paper head position can be aligned without requiring test print every time when a sheet is set by eliminating error in alignment of paper head position occurring due to visual confirmation.例文帳に追加

頁先頭位置合わせにおいて、目視によって発生する頁先頭位置合わせの誤差を無くし、用紙をセットするたびに試し印刷をする必要の無い頁先頭位置合わせを可能とした印刷装置を提供することである。 - 特許庁

This electrical inspection system includes an inspection board which can come into electrical contact with a circuit board, a support plate for supporting the inspection board and the circuit board, a plurality of test probes for outputting an electrical signal, and a sensor for receiving an electrical signal through the circuit board and the inspection board.例文帳に追加

電気検査システムは、回路板に電気接触できる検査板、検査板と回路板を支える支持板、電気信号を出力する複数個のテストプローブ、回路板と検査板を経て電気信号を受信できるセンサーを含む。 - 特許庁