「OF test」に関連した英語例文の一覧と使い方(418ページ目) - Weblio英語例文検索

In addition, test signals are generated responding to connection of the devices with the device interface, and then transmitted on the bus.例文帳に追加

いくつかの実施形態では、デバイスをデバイス・インターフェースと結合させるのに応答してテスト信号を生成し、バス上に当該テスト信号を送信し、デバイス・インターフェースでのバス信号が予想されたバス信号と異なる時にエラー信号を生成する。 - 特許庁

During the IDDQ test, a signal CUTP is set at an L-level, and a signal CUTN is set at an H-level, and when 0V is applied to each gate of FETs 11, 13, FETs 11, 12, 13 are switched off, and a bias current flowing in an operation amplifier 1 is cut off.例文帳に追加

ＩＤＤＱテスト時に、信号ＣＵＴＰをＬレベル、信号ＣＵＴＮをＨレベルとし、ＦＥＴ１１、１３のゲートに０Ｖを与えると、ＦＥＴ１１、１２、１３がオフとなり、オペアンプ１に流れるバイアス電流が遮断される。 - 特許庁

The printed second test pattern is scanned, and the group whose amount of light is not higher than the threshold value is detected.例文帳に追加

さらに、光量が閾値以下であるグループのノズルと、光量が閾値以下であるグループに隣接したグループのノズルとをグループ化して、第２テストパターンを印刷し、印刷された第２テストパターンをスキャニングして、光量が閾値以下であるグループを検出する。 - 特許庁

The high precision LUT49B is used at a proofreading control section 82 for creating a newest LUT at an LUT creating section 88 based on reference data from a test pattern memory 84 and measurement data (from a read data memory 86), i.e. measurement of that print.例文帳に追加

高精度ＬＵＴ４９Ｂは、校正制御部８２において、テストパターンメモリ８４から基準データとそのプリントの計測結果である計測データ（読取データメモリ８６）からＬＵＴ生成部８８で最新のＬＵＴが生成される。 - 特許庁

A developer result integrating means 14 fetches from the developer result storage means 11 each developer's results that can be integrated after completion of the single test, and stores the results in an integrated result storage means 16.例文帳に追加

開発者成果物統合手段１４は、単体テストが終了して統合可能である開発者別成果物を開発者別成果物格納手段１１から取り出し、統合済成果物格納手段１６に格納する。 - 特許庁

A step for stopping the real clock tree and a step for closing the phase lock loop feedback route by the copy clock signal are completed within a single clock cycle so as to maintain the lock during the period of switching from the normal operation mode to the test mode.例文帳に追加

リアルクロックツリーを停止するステップと、コピークロック信号で位相ロックループフィードバック経路を閉じるステップは、通常動作モードからテストモードへの切り換えの間ロックが維持されるように、単一クロックサイクル内で完了する。 - 特許庁

Since no constituent parts are arranged between the rollers 7a and 7b nor between rollers 8a and 8b in the dynamic balancing machine 1, it is possible to measure unbalance of the device under test 11 having a protrusion part 35.例文帳に追加

また、動釣合い試験機１には、ローラ７ａおよび７ｂと、ローラ８ａおよび８ｂとの間に構成部品が配置されていないので、突出部分３５を有している被試験体１１の不釣合いを測定することができる。 - 特許庁

To provide a porous membrane that can rapidly be shortened the time required for developing specimens, for example, blood and can be used as a test paper for determination of specific components in the specimens, for example, blood sugar or the like with markedly high measurement accuracy.例文帳に追加

血液などの検体の展開に要する時間を飛躍的に短縮することができ、かつ非常に測定精度が高い、血糖などの検体中の特定成分を測定する試験紙に使用する多孔質膜を提供する。 - 特許庁

To provide a means for evaluating the possibility of a cDNA array test in clinical cases, classifying various carcinomas to several carcinoma subtypes having uniform clinical outcome, and identifying a new latent prognostic factor and a therapeutic target.例文帳に追加

臨床例におけるｃＤＮＡアレイ試験の可能性を評価し、雑多な癌を臨床転帰がさらに一様ないくつかの腫瘍サブタイプに分類し、かつ新たな潜在的予後因子および治療標的を同定する手段を提供する。 - 特許庁

In this probe card 10, the each probe 12 is extended from a substrate 11 therefor, and a test signal is transmitted and received to/from each contact area (pad and bump) in a chip area of a semi-conductor wafer Waf that is a measured object.例文帳に追加

プローブカード１０は、その基板１１から各探針１２が伸長され、被測定対象となる半導体ウェハＷａｆのチップ領域における各接触領域（パッドやバンプ等）にテスト信号の授受が行われるものである。 - 特許庁

To provide an individual identification device wherein a protection plate provided before an imaging means in an advance direction of light transmitted through a test subject such that dirt or dust does not come into the imaging means from the outside is not used as it is dirty.例文帳に追加

撮像手段に外部からゴミやホコリが入らないように被検体を透過した光の進む方向に向かって撮像手段の手前に設けられた保護板が汚れたままでは使用されない個人識別装置を提供する。 - 特許庁

Abnormal nozzles are found out from void lines generated in a solid recording area 31a in the test pattern, ink nondischarging or ink flying bending is determined from the presence or absence of dots by the dot group area 31b when there are the abnormal nozzles.例文帳に追加

テストパターンにおけるベタ記録エリア３１ａに発生した白抜けラインより異常ノズルを見出し、異常ノズルがあった場合に、ドット群エリア３１ｂによるドットの有無からインク不吐出又はインク飛行曲がりを判別する。 - 特許庁

To provide a test circuit that detects a poor contact system when an element exists around a contact and can specify a contact with an open failure, and to provide a method of detecting and evaluating a contact failure using the same.例文帳に追加

コンタクト周辺に素子が存在する場合のコンタクト系不良が検出できるとともに、オープン不良となっているコンタクトを特定できるテスト回路およびそれを用いたコンタクト不良の検出評価方法を提供する。 - 特許庁

A pulse width is calculated just before erasing and writing are carried out, and the erasing and the writing operation are performed by the optimized pulse width, then the efficient I_ref trimming test is performed in a short period of time without causing any defect.例文帳に追加

消去、書き込みを行う直前に、パルス幅を計算し、最適化したパルス幅で消去及び書き込み動作を行い、不良発生を惹起することなく短時間で効率良くＩ_ｒｅｆトリミング試験を実行する。 - 特許庁

Moreover, under the condition that the communication between the in-station device 10 and the ATU-R of a user's terminal be established, the ADSL circuits are connected with one another via the circuit test interface, thus the ADSL circuits in on line state can be monitored.例文帳に追加

また、局内装置１０とユーザ端末のＡＴＵ−Ｒとの間の通信を確立した状態で回線試験インタフェースを介してＡＤＳＬ回線を接続し、オンライン状態でのＡＤＳＬ回線をモニタすることができる。 - 特許庁

The body for locking is made up as a spring element, having a clip section 17, and the clip section is placed at a position 24, whereby the spring element is locked, when the test strip is pushed into an aperture for pushing of the rapid diagnostic apparatus.例文帳に追加

このロック用本体は、クリップ部分17を有するバネ要素として形成されており、このクリップ部分は、テストストリップが迅速診断装置の押し込み用開口部の中に押し込まれたとき、上記バネ要素をロックする位置24をとる。 - 特許庁

To provide an electron beam-curing composition for forming an adhesive sheet, excellent in the balance between the transparency of a cured material and the yellowing degree after the light resistance test, and excellent in rework properties and level difference conformability; and to provide an adhesive sheet obtained from the same.例文帳に追加

硬化物の透明性と耐光性試験後の黄変度のバランスに優れ、リワーク性及び段差追従性に優れる粘着シート形成用電子線硬化型組成物、及び当該組成物から得られた粘着シートの提供。 - 特許庁

To perform a strength test by a testing device with a simple configuration, which loads pressure at a state close to a situation that a gate is actually used to a flat plate structure which receives hydraulic pressure of a gate, etc. in a water gate, a sluice gate, and a sluice pipe.例文帳に追加

水門、樋門、樋管におけるゲート等の水圧を受ける平板構造体に対し実際にゲートが使用される状況に近い状態での圧力を載荷する簡易な構成の試験装置により強度試験を行う。 - 特許庁

To provide a semiconductor testing device wherein a control means which is substantially equivalent to a control signal to be stored in a WCS memory which controls the generation of a test pattern provided at an ALPG is provided outside the WCS memory.例文帳に追加

ＡＬＰＧが備える試験パターンの発生を制御するＷＣＳメモリに格納すべき制御信号と、実質的に等価な制御手段を、当該ＷＣＳメモリ外に備えるＡＬＰＧとする半導体試験装置を提供する。 - 特許庁

Further, a test pattern is recorded and reproduced while changing the recording condition for each sector with respect to the already inspected recording track, then the optimum value of the recording pulse condition is searched by taking the average jitter value for each obtained recording condition as the reference for the discrimination.例文帳に追加

更に、検査済みの記録トラックに対してセクタ毎に記録条件を変えながらテストパタンの記録再生を行い、得られた記録条件毎の平均ジッタ値を判断基準として、記録パルス条件の最適値を探査する。 - 特許庁

To provide a projection type video display device with which the respective characteristic points can be easily detected even in the case in which the number of characteristic points is large and the whole test pattern image cannot be taken by an image taking device.例文帳に追加

テストパターン画像の全体を撮像装置によって撮像することができず、特徴点の数が多いようなケースであっても、各特徴点を簡易に検出することを可能とする投写型映像表示装置を提供する。 - 特許庁

The method further comprises supplying the determined drive current to the calibration memory cell, and using the calibration memory cell to determine(403) strength of a weak write to be utilized by a weak write test for detecting defective RAM cells.例文帳に追加

方法は更に、較正メモリセルに決定された駆動電流を供給し、較正メモリセルを使用して、欠陥ＲＡＭセルを検出するために弱い書き込みテストにより利用されるべき弱い書き込み強度を決定する(403)ことを含む。 - 特許庁

An acquisition means 4 acquires an argument of a method designated and its type, and when a message generated by a requester 51 is captured by a given test value, a SOAP (simple object access protocol) message type name acquisition means 7 acquires a type name from a body part.例文帳に追加

取得手段４は指定されたメソッドの引数、型を取得し、与えられたテスト値によって、リクエスタ51によって生成されたメッセージが捕獲されると、SOAPメッセージ型名取得手段７は、ボディ部から型名を取得する。 - 特許庁

Under a state where a black 1 head among at least five removable print heads for color printing is replaced by a scanner head 51 for image scanning, a predetermined test pattern is printed by means of all print heads 54 but the scanner head 51.例文帳に追加

カラー記録用の少なくとも５個の着脱式印字ヘッドのうちブラック１ヘッドを画像走査用のスキャナヘッド５１と交換した状態で、スキャナヘッド５１以外の全印字ヘッド５４で予め定めたテストパターンを印字する。 - 特許庁

In this falling-by-dead-weight type handler by which the device is slid down along an inclined chute to be conveyed to a test head, a tube is embedded in a groove formed in a sliding-down face of the chute, and an inflated tube is pressed to the devices to align the devices.例文帳に追加

傾斜したシュートに沿ってデバイスを滑落させ、テストヘッドへ搬送する自重落下式ハンドラにおいて、シュートの滑落面に形成された溝にチューブを埋設し、膨らませたチューブをデバイスに押し付け、デバイスを整列させる。 - 特許庁

Discharge circuits 4, 6 for discharging the accumulated charge in a cable connected to a measuring object are provided, and operation of the discharge circuits 4, 6 is controlled by a low-order program according to a test instruction by a control program.例文帳に追加

本発明は、測定対象に接続されたケーブルの蓄積電荷を放電させる放電回路４、６を設け、制御プログラムによる試験の指示に対応して、この放電回路４、６の動作を下位のプログラムにより制御する。 - 特許庁

Also, the control section generates the screen data in which the test pattern to be displayed on each the changeover screen is moved and disposed at the different display position at every time when the screen is switched, and changes the display position of the same on each the changeover screen.例文帳に追加

また、各切替画面においてその画面上に表示するテストパターンを、画面を切り替える毎に移動させて異なる表示位置に配置した画面データを生成し、各切替画面に亘ってその表示位置を変化させる。 - 特許庁

In order to form the color adjusting characteristic curve and/or the process adjusting characteristic curve, a computer 5 for ascertaining image forming data having the function of a test pattern and/or transmitting the same is provided to the pre-printing stage 1.例文帳に追加

色調整特性データおよび／またはプロセス調整特性データを生成するために、印刷前段階１には、テストパターンの役目をする画像形成情報をつきとめるおよび／または転送するコンピュータ５が備えられている。 - 特許庁

To provide a method for determining whether a test chicken is avian influenza-resistive or not by elucidating relation between Mx gene type possessed by a chicken individual and the avian influenza-resistivity of the chicken individual and based on the obtained information.例文帳に追加

ニワトリ個体が持つMx遺伝子型と当該ニワトリ個体のトリインフルエンザウイルス抵抗性との関係を明らかにし、得られた知見を基に、被検トリについて、トリインフルエンザウイルス抵抗性か否かの判定方法の提供を課題とする。 - 特許庁

An exclusive connecting terminal is arranged like a land-shaped stage or lattice for improving peel strength, and connecting land outline dimension width is set as a testable land size so that the dual use of a test terminal and the connecting terminal can be realized.例文帳に追加

ピール強度を向上させる為に専用接続端子をランド形状の階段配置、又は、格子配置にして、接続ランド外形寸法幅をテスト可能なランドサイズとしてテスト端子、接続端子の兼用化できる構造とした。 - 特許庁

To obtain a TEG(test element group) pattern for evaluating plasma damage which can eliminate the defective blowing out of all fuses and, at the same time, can make all gates to be able to be measured under the same condition without giving any damage to the gates.例文帳に追加

本発明は、すべてのヒューズの切断不備を解消するとともに、測定前のゲートにはほとんどダメージを与えることをなくしてすべて同一の条件下で測定ができるようになるプラズマダメージ評価用ＴＥＧパターンを得る。 - 特許庁

To provide a test circuit capable of confirming whether desired TDM data is normal or not without rearranging the TDM data stored in a memory in a multiplexed format, such as a concentrated arrangement type and a distributed one.例文帳に追加

集中配置型及び分散配置型などの多重化形式でメモリ内に格納されているＴＤＭデータを配置し直すことなく、所望のＴＤＭデータが正常であるか否かを確認することが可能な試験回路を提供する。 - 特許庁

Therefore, compared with a conventional method in which voltage drop is performed according to the external power source voltage Vcc through wiring resistance R1-Rn, newly provided internal voltage Vi of power source wiring L1-Ln can be dropped in a short time so that the test time is shortened.例文帳に追加

したがって、配線抵抗Ｒ１〜Ｒｎを介して外部電源電圧Ｖｃｃに従って降圧させていた従来に比べ、電源配線Ｌ１〜Ｌｎの内部電圧Ｖｉを短時間で降圧でき、テスト時間が短くて済む。 - 特許庁

In a normal time, a TEST flag signal is 'L', a switch SWA is turned on, a switch SWB is turned off, an output of a first boosting circuit 104 is supplied to a memory core 107 and a voltage drop power source 108.例文帳に追加

通常時においては、ＴＥＳＴフラグ信号が「Ｌ」であり、スイッチＳＷＡはオン、スイッチＳＷＢはオフとなり、メモリコア１０７及び降圧電源１０８には、同じ第１の昇圧回路１０４の出力が供給される。 - 特許庁

The charts 102-108 are arrayed in the arrow B direction on the test print 100, and, when setting up a photograph processing device 10, the coloring densities of the patches P1-P18 on the charts 102-108 are measured respectively by a colorimetric unit 24.例文帳に追加

テストプリント１００にはチャート１０２〜１０８が矢印Ｂ方向に配列され、写真処理装置１０のセットアップの際には測色ユニット２４によってチャート１０２〜１０８のパッチＰ１〜Ｐ１８の発色濃度がそれぞれ測定される。 - 特許庁

Thus, the holding test for judging whether the DSP core 4 precisely stops the operation can be conducted since the DSP core 4 itself can recognize the inner state of the DSP core 4 when the operation is resumed.例文帳に追加

従って、動作再開時のＤＳＰコア４の内部状態をＤＳＰコア４自身が認識することができるので、ＤＳＰコア４が正しく動作を停止しているか否かを判定するホールドテストを実施することが可能になる。 - 特許庁

To provide a magnetized area measurement method and magnetized area measuring instrument relating to a test of the magnetic head element used for a magnetic disk drive, for measuring a magnetized area written by a magnetic head element.例文帳に追加

本発明は、磁気ディスクドライブに用いる磁気ヘッド素子の試験に関し、その磁気ヘッド素子によってライトされた磁化領域を計測するライト磁化領域計測方法、およびライト磁化領域計測装置に関するものである。 - 特許庁

To provide a sealing material for a liquid crystal display element which can be hardened with light and which is excellent in adhesion property to a glass substrate of the liquid crystal display element subsequent to a temperature cycle test, and a liquid crystal display element using the sealing material.例文帳に追加

光により硬化させることができ、冷熱サイクル試験後においても液晶表示素子のガラス基板との接着性に優れた液晶表示素子用封口剤、及び、これを用いてなる液晶表示素子を提供する。 - 特許庁

According to the operation of the image forming device, it is determined at a step 400 whether or not print data for printing the test pattern are inputted, and if the print data are inputted, it is determined at a step 402 whether or not a yellow head 12Y is driven from the print data.例文帳に追加

ステップ４００で、テストパターンを印字するための印字データが入力されたか否かを判断し、印字データが入力されると、ステップ４０２で、印字データに基づいてイエローヘッド１２Ｙが駆動されるか否かを判断する。 - 特許庁

Upper and lower O rings 18, 19 are enlarged by a tapered face 15a and brought into press contact with the inner circumferential surface of the through hole P and a space defined by the O rings 18, 19 is isolated as an enclosed space R for leak test.例文帳に追加

テーパ面１５ａによって上下のＯリング１８，１９を拡径させて貫通孔Ｐの内周面に圧接させ、そのＯリング１８，１９によって挟まれた空間をリークテストのための密閉空間Ｒとして隔離する。 - 特許庁

In non-image formation, test electrostatic images 1s in a main scanning directional line of the four-pixel width in which VL exposing quantity and less-than-VL exposing quantity are combined is written to the photosensitive drum 1, and the potential distribution thereof is measured by the potential sensor 30.例文帳に追加

非画像形成時にＶＬ露光量とＶＬ未満露光量とを組み合わせた４画素幅の主走査方向ラインの試験静電像１ｓを感光ドラム１に書き込んで電位センサ３０により電位分布を測定する。 - 特許庁

At processing after the test, only the measured values in the predicted range are included in a tested measured value group to be used for the condition decision of processing to be operated afterwards, so that the measured values beyond the predicted range are not included in the tested measured value group (S29).例文帳に追加

検定後の処置では、予想範囲内の測定値のみを、その後の処理条件決定に用いる検定済み測定値群に含ませ、予想範囲外の測定値を検定済み測定値群に含ませないようにする（Ｓ２９）。 - 特許庁

An output data signal A of a test object circuit 1 and an expected value signal B from an expected value input terminal 2 are compared by a comparing means 3, and the comparison result signal C is held in a nonconformity holding means M1 when the signal C represents nonconformity.例文帳に追加

テスト対象回路１の出力データ信号Ａと期待値入力端子２からの期待値信号Ｂとを比較手段３で比較し、その比較結果信号Ｃが不一致を示すとき不一致保持手段Ｍ１において保持する。 - 特許庁

The switch control part 72, based on the control signal Scnt, turns the potential fixing switch M5 OFF, and further the separation switch M6 ON in a test mode period, and selectively turns either one of the first to fourth switches M1-M4 ON.例文帳に追加

スイッチ制御部７２は、制御信号Ｓｃｎｔに基づいて、テストモードの期間では電位固定スイッチＭ５をオフするとともに分離スイッチＭ６をオンし、第１スイッチＭ１ないし第４スイッチＭ４のいずれか１つを選択的にオンする。 - 特許庁

To provide a test system that makes testing automatically only measurement items where a plurality of component parts used for each measurement item uses only component parts normally connected with a controller controlling those operations.例文帳に追加

各測定項目に使用する複数の構成品が、それらの動作を制御する制御器に正常に接続されている構成品のみを使用する測定項目のみを、自動的に試験するようにした試験システムを提供する。 - 特許庁