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dRAMを含む例文一覧と使い方

該当件数 : 1879件



例文

The CPU 7 performs image processing with the contents set by the operation switches, while storing respective image data before the processing for the specific process about raw image data recorded in a DRAM 5, converts it into a set storage format and stores it on a compact flash card 8.例文帳に追加

CPU7はDRAM5に記録された生画像データに対し、特定の処理については処理前に画像データをそれぞれDRAM5に保存しつつ操作スイッチにより設定された内容で画像処理を行い、設定された保存形式に変換してコンパクトフラッシュカード8へ保存する。 - 特許庁

An impurity is then injected in the logical region covering the DRAM region on a substrate and exposed with an opening for at least partly exposing the logical region to form source and a rain extended parts 135 and 136 of the logical device, and then a mask is removed from the substrate.例文帳に追加

次に、基板上のDRAM領域を覆い、論理領域の少なくとも一部が露出する開口部を有露出している論理領域に不純物を注入して、論理デバイスのソースおよびドレインの延長部135、136を形成した後に基板からマスクを除去する。 - 特許庁

A trench capacitor vertical-transistor DRAM cell in an SiGe wafer compensates for overhang of a pad nitride, by forming an epitaxial strained silicon layer on trench walls that improves transistor mobility, removes voids from the polysilicon filling, and reduces resistance on the bit line contact.例文帳に追加

SiGeウェハ中のトレンチ・コンデンサ型縦形トランジスタDRAMセルにおいて、トレンチ壁上にトランジスタの移動度を向上させるエピタキシャル歪シリコン層を形成することによってパッド窒化物のオーバハングを補償し、トレンチのポリ充填物から空洞を除去し、ビット線接点の抵抗値を小さくする。 - 特許庁

In a mixed DRAM core in which word constitution can be changed, either of a word constitution specifying information from a metal work constitution setting circuit 1 setting word constitution by metal slice and a word constitution specifying information stored in a register 10 is selected by a change circuit 4, and it is given to an I/O switch.例文帳に追加

語構成が変更可能な混載DRAMコアにおいて、語構成をメタルスライスにより設定するメタル語構成設定回路(1)からの語構成指定情報と、レジスタ(10)に格納された語構成指定情報の一方を、変更回路4により選択して、するI/Oスイッチへ与える。 - 特許庁

例文

In this DRAM, an n+ type drain region 7d of a field transistor 7 included in an internal protection circuit 9 is replaced by p+ type drain region 7d', and a bias potential V1 larger than a power supply potential VCC is applied to an n type well region NW below the p+ type drain region 7d'.例文帳に追加

このDRAMでは、内部保護回路9に含まれるフィールドトランジスタ7のn+ 型ドレイン領域7dをp+ 型ドレイン領域7d′で置換し、p+ 型ドレイン領域7d′の下のn型ウェル領域NWに電源電位VCC以上のバイアス電位V1を印加する。 - 特許庁


例文

In a redundant row decoder 4 of a DRAM, plural N channel MOS transistors 31a, 32a receiving a pre-decoding signal X0 allotted to word lines WL corresponding to each gate are connected in series between one side of terminals of each fuse (e.g. 30a) and a line of a ground potential GND.例文帳に追加

DRAMの冗長行デコーダ4において、各ヒューズ(たとえば30a)の一方端子と接地電位GNDのラインとの間に、各々ゲートがともに対応のワード線WLに割当てられたプリデコード信号X0を受ける複数のNチャネルMOSトランジスタ31a,32aを直列接続する。 - 特許庁

To solve the following problem: a primary storage medium such as a DRAM is provided as a buffer for absorbing time variation of a secondary storage medium subjected to frame compression when a video signal is played back from the secondary storage medium, however, the primary storage medium become delay, and responsiveness is deteriorated when playback speed is changed.例文帳に追加

映像信号をフレーム圧縮した2次記憶媒体から再生する場合、2次記憶媒体の時間ばらつきを吸収するためのバッファとしてDRAM等の1次記憶媒体が設けられているが、再生速度を変更した場合は遅れとなり、応答性が悪くなる。 - 特許庁

When a user uses a remote controller to instruct print of an image after a printer is connected to a USB terminal 48, image data corresponding to the image instructed to be printed by the user, out of image data stored in a DRAM 35 are read and sent to an image processing IC 47.例文帳に追加

USB端子48にプリンタが接続された後に、ユーザがリモコンを用いて画像を印刷するように指示すると、DRAM35に記憶された画像データの中から、ユーザにより印刷するように指示された画像に対応する画像データが読み込まれて、画像処理IC47に送出される。 - 特許庁

In another method, bit line capacity is made approximately twice as much as capacity at the time of normal use and minute potential difference between a pair of bit lines is made approximately the same as that of a normal DRAM circuit having a single array by turning on all four bit line separating switches 23-26 and performing read-out operation.例文帳に追加

他の方法では、4つのビット線分離スイッチ23〜26を全てオンにして読み出し動作を行うことにより、ビット線容量を通常使用時の約2倍にしてビット線対間微小電位差を、シングルセルアレイを有する通常のDRAM回路の場合と同程度にする。 - 特許庁

例文

To provide an automatic generating method for a LSI test pattern program which can generate automatically a test pattern program easily when capacity, the number of I/O, and the like are changed, its device, and a LSI test method, in a semiconductor memory such as a DRAM, a SRAM, a FLASH, or the like.例文帳に追加

DRAMやSRAMやFLASHなどの半導体メモリにおいて、容量やI/O数などが変更されたとき容易にテストパターンプログラムを自動生成できるようにしたLSIテストパターンプログラム自動生成方法およびその装置並びにLSIテスト方法を提供することにある。 - 特許庁

例文

To provide a memory system in which deterioration of signal quality caused by signal reflection by mismatching of wiring impedance of a data bus is lightened, and which can perform read-out and write-in of data at high speed, in a memory system in which memory devices such as a DRAM or the like are branched for a data bus.例文帳に追加

データバスに対して、DRAM等のメモリデバイスを分岐した形で接続したメモリシステムにおいて、データバスの配線インピーダンスの不整合による信号反射による信号品質の劣化を軽減し、高速で、データの読出、書込を行うことができるメモリシステムを提供することである。 - 特許庁

A refresh control device 400 includes an arbitration function section 700 for arbitrating between a memory access request to a DRAM 200 and a refresh trigger for requesting the execution of refresh operation, and a trigger generation section 600 for generating the refresh trigger at a non-constant period so as to satisfy a refresh rate requirement.例文帳に追加

リフレッシュ制御装置400は、DRAM200へのメモリアクセス要求と、リフレッシュ動作の実行を要求するためのリフレッシュトリガとを調停する調停機能部700と、リフレッシュレート規定を満たすように、前記リフレッシュトリガを一定でない周期で発生するトリガ発生部600とを備える。 - 特許庁

Access to a memory space from a CPU 1 or a PCI device 23 usually becomes access to a DRAM 3a via a "c." path depending on an address, or distributed by a Memory Controller 2 to a Disk Controller 6 and the PCI device 23 via a "d." or "d'." path.例文帳に追加

CPU1やPCI Device23からメモリ空間へのアクセスは、アドレスによって通常c.のパスを経由してDRAM3aへのアクセスとなるか、d.又はd’.のパスを経由してDisk Controller6やPCI Device23へとMemory Controller2によって振り分けられる。 - 特許庁

To obtain a method for manufacturing a semiconductor device which can reduce process margin necessary for control adjustment of CMP polishing by preventing exposure of a capacitor and short circuit of wiring which become a problem in a surface flattening process of a multilayer wiring type semiconductor device having a DRAM region and a logic region.例文帳に追加

DRAM領域とロジック領域とを有する多層配線型の半導体装置の表面平坦化工程で問題となるキャパシタの露出および配線のショートを防止し、CMP研磨の制御調整に要するプロセスマージンを低減できる半導体装置の製造方法を得ること。 - 特許庁

The DRAM cell includes a MOS capacitor 4 composed of a plate node electrode, a storage node electrode 114 and insulator membranes 110 and 111, and a cell transistor 3 comprising a gate insulating membrane 110, a gate electrode 112, and a source/drain 118 formed on the top surface of an active region.例文帳に追加

DRAMセルは、プレートノード電極、ストレージノード電極114、絶縁体薄膜110,111からなるMOSキャパシター4と、活性領域の上部面に形成されたゲート絶縁膜110及びゲート電極112、ソース/ドレーン118を含むセルトランジスター3と、を含む。 - 特許庁

To form an accurate desired gate electrode by suppressing an electron shading damage and reducing positive charging by a polysilicon electrode, in a manufacturing method for semiconductor memory and an etching method for gate electrode using a plasma dry etching method for flash memory or DRAM, etc., having a floating gate.例文帳に追加

フローティングゲートを有するフラッシュメモリやDRAM等のプラズマドライエッチングによる半導体メモリの製造方法及びゲート電極エッチング方法に関し、電子シェーディングダメージを抑制し、ポリシリコン電極が正のチャージングを抑制して正確な所望のゲート電極を形成することを課題とする。 - 特許庁

To obtain a semiconductor integrated circuit device which can increase the access speed to the memory cell of the memory cell section of a DRAM by reducing the resistance of the bit line or capacity connection of the memory cell section by siliciding the diffusion layer of a logic circuit section in a chip in which the memory cell section and the logic section of a peripheral circuit integrally coexist.例文帳に追加

DRAMのメモリセル部と、周辺回路のロジック部とを一体化した混載チップで、論理回路部の拡散層を珪化物化して高速化、高集積化しつつ、メモリセル部のビット線接続や容量接続の抵抗を低減して該セルへのアクセスの高速化を可能にする装置を提供する。 - 特許庁

CPU 23 of a display controller 19 executes a control for executing a refresh operation of DRAM 22, when a signal for showing that a display data processing can not be executed is received from FLCD 20, in the case of the state where a processing for displaying on a display screen can not be executed in FLCD 20.例文帳に追加

ディスプレイコントローラ19のCPU23は、FLCD20で表示画面上に表示するための処理ができないような状態にある場合に、FLCD20から表示データ処理ができないことを示す信号を受信した時、DRAM22のリフレッシュ動作を行う制御を実行する。 - 特許庁

Furthermore the polycrystalline silicon film 77 and the granular silicon crystal 76 are removed from the top surface of the silicon oxide film 50 by etch-back, and the electrode of a DRAM(dynamic random access memory) data storage capacitor device is composed of a polycrystalline silicon film 77 and a granular silicon crystal 76.例文帳に追加

さらにシリコン酸化膜50上面の多結晶シリコン膜77および粒状シリコン結晶76をエッチバックして除去し、多結晶シリコン膜77および粒状シリコン結晶76からなるDRAMの情報蓄積用容量素子を構成する下部電極を形成する。 - 特許庁

When a power supply is turned on in a data recorder capable of recording data in a detachable storage medium whether an attached device 10 can be used or not is decided, and when the device 10 can be used, free capacity data stored in an EEPROM 8 are loaded into a DRAM 7.例文帳に追加

着脱可能な記憶媒体へのデータ記録が可能なデータ記録装置において、電源が投入されると装着されているデバイス10の使用可否を判定し、使用可能であればEEPROM8に記憶されている空き容量データをDRAM7へロードする。 - 特許庁

A recorder 10 as an information processor has a CPU 11 as an arithmetic processor, a DRAM 12, an NOR flash memory 13 as a first device, an HDD 14 as a second device, a display output part 15, an operation input part 16, and a tuner 17.例文帳に追加

本発明に係る情報処理装置としての記録装置10は、演算処理装置としてのCPU11、DRAM12、第1のデバイスとしてのNOR型フラッシュメモリ13、第2のデバイスとしてのHDD14、表示出力部15、操作入力部16およびチューナ17を有する。 - 特許庁

In this DRAM, after amplification of potential difference of non-bit lines (BL_j+1, /BL_j+1) is performed by a sense amplifier (5_j+1), (/BL_j) is driven to a potential in accordance with write-in data for selection memory cells (MC_i,_j).例文帳に追加

本発明によるDRAMでは、非選択ビット線(BL_j+1、/BL_j+1)の電位差の増幅がセンスアンプ(5_j+1)によって行われた後、ライトバッファ(8)によって選択ビット線(BL_j、/BL_j)が選択メモリセル(MC_i,j)への書き込みデータに応じた電位に駆動される。 - 特許庁

In this pachinko game machine 10, a DMA controller 340 is constituted so as to perform division into transfer units capable of transfer in time shorter than the time in which the main controller 20 outputs the display command of one output unit and perform the DMA transfer from an SDRAM 314 to a DRAM 335.例文帳に追加

パチンコ機10におけるDMAコントローラ340は、主制御装置20が一出力単位の表示コマンドを出力している時間より短い時間で転送可能な転送単位に分割して、SDRAM314からDRAM335へのDMA転送を行う。 - 特許庁

To solve such a problem that when bit line pre-charge voltage VBP is lowered to improve a retention property of "1" data, since a tunnel leak current of a high dielectric constant insulation film is increased remarkably in a miniaturization mix DRAM process, inversely, a retention property of "0" data is deteriorated, and a retention time is rate-limited.例文帳に追加

“1”データのリテンション特性を改善するために、ビット線プリチャージ電圧VBPを下げたとき、微細化混載DRAMプロセスでは高誘電率絶縁膜のトンネルリーク電流の増大が顕著であるため、逆に“0”データのリテンション特性が悪化し、リテンション時間を律速する。 - 特許庁

Image data at both left and right sides of the video image are copied by using delay lines 6-8, a signal processing circuit 9 applies prescribed signal processing to the video signal which includes the copied area stores the video signal after the processing to the DRAM 3 through the memory controller 4.例文帳に追加

また、映像の左右両辺で遅延ライン6〜8を用いて画像データを複製し、この複製した領域を含む映像信号に対して信号処理回路9により所定の信号処理を行い、処理後の映像信号をメモリコントローラ4を通じてDRAM3に記憶する。 - 特許庁

Further, among the two data read for a 1st operation, the DRAM data to be also used for the next operation are temporarily held in a hold circuit 21 of an operation unit OU, and then, the data are re-written to the memory cells MC in a non-volatile manner as new FeRAM data to prepare for the next arithmetic operation.例文帳に追加

さらに、最初の演算のために読み出した2つのデータのうち、次の演算にも使用するDRAMデータを、演算ユニットOUの保持回路21に一時的に保持した後、次の演算に備えて、新たなFeRAMデータとして、メモリセルMCに不揮発的に書き戻すようにしている。 - 特許庁

When the generation of the abnormal termination is determined in the step S14, a processing is advanced to a step S15, where the CPU restores a part corresponding to abnormally terminated files of the directory entry of the storage DRAM for FAT and FAT, and overwrites the directory entry and FAT of an information recording medium.例文帳に追加

ステップS14において、異常終了が発生していたと判定された場合、処理はステップS15に進み、CPUは、FAT用保存DRAMのディレクトリエントリとFATの異常終了されていたファイルに対応する部分を修復し、情報記録媒体のディレクトリエントリとFATを上書する。 - 特許庁

A data shifter 20 shifts read-out data by N clock cycles (N is integer of 0 or more) of the internal test clock signal to output read-out data from the DRAM core MCR operating based on the internal test clock signal at the time of a test mode from the test pin terminal group TPG synchronizing with the external clock signal.例文帳に追加

データシフタ20は、テストモード時においては内部テストクロック信号に基づいて動作するDRAMコアMCRからの読出データを、外部クロックテスト信号に同期してテストピン端子群TPGから出力するために、読出データを内部テストクロック信号のNクロックサイクル(Nは0以上の整数)だけシフトさせる。 - 特許庁

A DRAM 10 is provided with a sleep mode in which control of an internal circuit supplying a power source to a memory core including a memory cell and control of refreshing for a memory core are combined to a power down mode, ad refresh-stop mode (Nap mode), and a partial self-refresh mode (S-Ref mode), these modes are selected in a program mode Pro, PE.例文帳に追加

DRAM10は、パワーダウンモードにメモリセルを含むメモリコアに電源を供給する内部回路の制御と、メモリコアに対するリフレッシュの制御を組み合わせた「スリープモード」、「リフレッシュ停止モード(Napモード)」、「部分セルフリフレッシュモード(S−Refモード)」を備え、これらモードをプログラムモードPro,PEにおいて選択する。 - 特許庁

In image processing systems 2-1 to 2-4, DMAC 20-1 to 20-4 read the same image data from a DRAM 1, decoders 21-1 to 21-4 expand the image data, TRC control section 23-1 to 23-4 execute gradation correction processing, and screen processing sections 24-1 to 24-4 carry out screen processing.例文帳に追加

画像処理系2−1〜2−4は、DMAC20−1〜20−4により、DRAM1から同一の画像データを読み出し、デコーダ21−1〜21−4により、画像データを伸張し、TRC制御部23−1〜23−4により、階調補正処理を行い、スクリーン処理部24−1〜24−4により、スクリーン処理を行う。 - 特許庁

A coding section of the 1st CODEC 14 apply compression coding to the expanded image data and stores the resulting data to a DRAM 5 and stores management information such as a reception number of the image data, destination information, the number of pages, the number of lines of each page, a read width of each page, and image storage memory block information into a RAM 3 at the same time.例文帳に追加

展開された画像データは、第1CODEC14の符号部によって圧縮符号化されてからDRAM5に蓄積され、同時に、RAM3に、その画像データの受け付け番号、宛先情報、ページ数、各ページのライン数、各ページの読み取り幅、画像格納メモリブロック情報等の管理情報が格納される。 - 特許庁

Image data continuously obtained through a CCD 23 are stored as frame images of moving pictures for predetermined capacity in a buffer memory (DRAM 31), and when photographing timing is instructed, a series of frame images including the frame images stored in the buffer memory before the predetermined period are recorded as moving picture data in a memory 38.例文帳に追加

CCD23を通じて連続的に得られる画像データを動画のフレーム画像としてバッファメモリ(DRAM31)に所定容量分記憶し、撮影タイミングが指示されたときに、その所定時間前にバッファメモリに記憶されたフレーム画像を含む一連のフレーム画像を動画データとしてメモリ38に記録する。 - 特許庁

A DRAM chip 1 contains an input-output terminal 1c for testing having a circuit for coping with dielectric breakdown, another input-output terminal 1b for connecting supporting substrate having a circuit for coping with dielectric breakdown, and a third input-output terminal 1a having no circuit for coping with dielectric breakdown.例文帳に追加

DRAMチップ1は、静電破壊対策用回路を有する試験用の入出力端子1cと、静電破壊対策用回路を有する支持基板接続用の入出力端子1bと、入出力端子1bおよび1c以外の静電破壊対策用回路を有しない入出力端子1aとを含む。 - 特許庁

A capacitorless DRAM is provided with: a semiconductor layer which is located being separated from the surface of a substrate and which has a source region, a drain region and a channel region; an electric charge storage layer which is provided on the channel region; and a gate which is formed on the substrate in such a manner that it contacts the electric charge storage layer and the channel region.例文帳に追加

基板上面と離隔配置されたものであって、ソース領域、ドレイン領域及びチャンネル領域を備える半導体層、チャンネル領域上に備えられた電荷保存層、及び基板上にチャンネル領域及び電荷保存層と接するように形成されたゲートを備えることを特徴とするキャパシタレスDRAMである。 - 特許庁

To solve the problem that since the metadata of content are stored in a database in a standardized format, and special attributes which are not describable in the standardized format are stored in every DRAM type of region in a conventional technology, the metadata are extracted from content, and managed differently from the content, and as a result, the metadata are not operable only by an operation to the content.例文帳に追加

従来技術では、コンテンツのメタデータを標準化された形式でデータベースに格納し、標準化された形式で記述できない特殊な属性をDRM種別ごとの領域に格納するため、メタデータはコンテンツから抽出し、コンテンツと別に管理されるため、コンテンツへの操作のみでは、メタデータを操作できない。 - 特許庁

The circuits 30 are connected to corresponding packet processing circuits 38 by a dual-port memory (DRAM) 34 and 2M highway(2MHW) interfaces 32 and 36 and conversion between a time-division multiplexed frame signal and packets on a network side which are transferred to a connection line 50 is performed to send and receive voice packets when a channel is put in use.例文帳に追加

複数の回路30はそれぞれデュアルポートメモリ(DPRAM) 34と2Mハイウエイ(2MHW)インタフェース 32,36とにより、対応するパケット処理回路38にそれぞれ接続され、時分割多重されたフレーム信号と、接続線50に転送されるネットワーク側のパケットとの変換処理が行われて、通話路が開通した際に音声パケットの送受信が行われる。 - 特許庁

A memory array part as a DRAM or an SRAM is provided in the package of a memory IC chip as a semiconductor memory device, and in addition to this, a plurality of interface modules corresponding to various memory types such as an SDR, a DDR, a DDR2...a DDR(n), the SRAM, a DPRAM, a FIFO are also provided.例文帳に追加

半導体メモリ装置としてのメモリICチップのパッケージ内に、DRAM又はSRAMとしてのメモリアレイ部が設けられていることに加え、例えばSDR、DDR、DDR2・・・DDR(n)、SRAM、DPRAM、FIFO等の各種のメモリタイプに応じた複数のインターフェースモジュールも設けられているようにする。 - 特許庁

In one chip LSI1 having a plurality of functional circuits 2 to 4 including a CPU, each power supply voltage of the functional circuits 2 to 4 is stored in a register 11 by an A/D conversion circuit 10 and can be monitored by developing a DRAM 22 outside, thereby enabling the system to monitor accurate voltage considering an actual IR drop.例文帳に追加

CPUを含む複数の機能回路2〜4を有したワンチップLSI1において、各機能回路2〜4の電源電圧をA/D変換回路10によりレジスタ11に記憶し、外部のDRAM22に展開することによりモニタ可能としたので、実際のIRドロップを加味した正確な電圧をモニタすることができる。 - 特許庁

A word line WL which functions as the gate electrode of the selective MISFET of a DRAM is made on the main surface of a semiconductor substrate, and then, plugs (a connecting plug BP and a plug made in a pattern SNCT) to be connected with the source and drain regions of the MISFET are made in the insulating film covering the word line WL.例文帳に追加

半導体基板の主面上にDRAMの選択MISFETのゲート電極として機能するワード線WLを形成した後、ワード線WLを覆う絶縁膜にMISFETのソース、ドレイン領域と接続するプラグ(接続プラグBPおよびパターンSNCTに形成されるプラグ)を形成する。 - 特許庁

The system which has a power-saving mode and comprises a CPU, a DRAM, and a hard disk is reset even if the signal for instructing recovery is generated at the same time by turning off the power source after placing a watchdog timer in operation when the power-saving mode is selected.例文帳に追加

本発明では省電力モードが存在し、CPU、DRAM、ハードディスクで構成されるシステムにおいて、前記省電力モード選択時にウォッチドッグタイマーを稼動させてから電源の遮断を行うようにすることで、もし同時に復帰指示の信号が発生した場合でもシステムにリセットがかかるようにする。 - 特許庁

If the history data and the reference data maintains the first corresponding relation and the reference quantity data and the reference data maintains the second corresponding relation after recovery from a condition where electricity supply to the DRAM 72b is temporarily stopped, change history at the time is set to a value indicated by the history data.例文帳に追加

DRAM72bに対する給電が一時的に停止される状態から復帰した後に、履歴データとその対照データとが第1の対応関係を維持し、且つ、参照量データとその対照データとが第2の対応関係を維持していることを条件に、その時点の変更履歴を履歴データによって示される値に設定する。 - 特許庁

A DRAM includes a reference voltage generation circuit 67 for generating a reference voltage Vref., an internal power supply circuit 11 for receiving the reference voltage Vref. to generate an internal power supply voltage Vcc1, and an internal power supply circuit 12 for receiving the reference voltage Vref. to generate an internal power supply voltage Vcc2.例文帳に追加

DRAMは、基準電圧Vref.を発生する基準電圧発生回路67と、基準電圧Vref.を受けて内部電源電圧Vcc1を発生する内部電源回路11と、基準電圧Vref.を受けて内部電源電圧Vcc2を発生する内部電源回路12とを備える。 - 特許庁

To provide a sense circuit for a DRAM memory cell responding to that sense time significantly becomes slow, the sense time at low voltage becomes high temperature and high speed, and furthermore, the sense time sharply changes to process variation according to voltage reduction of power supply voltage or the like.例文帳に追加

本願発明の課題は、電源電圧が低電圧化されるに従いセンス時間が著しく遅くなる、低電圧でのセンス時間が高温で高速になり、さらにプロセスばらつきに対してセンス時間が大きく変化してしまうこと等に対応したDRAMメモリセル用のセンス回路を提供することにある。 - 特許庁

An output circuit 6 of a DRAM (semiconductor memory) is composed substantially of a NAND gate NA1, an AND gate A1, a Pch-Tr2, and a Nch-Tr4, and the circuit is provided with a refresh monitor circuit to which a TMSELF signal (test mode signal) and a int.ZRAS signal (internal signal starting refresh) are inputted.例文帳に追加

DRAM(半導体記憶装置)の出力回路6には、実質的にNANDゲートNA1とANDゲートA1とPch−Tr2とNch−Tr4とで構成され、TMSELF信号(テストモード信号)及びint.ZRAS信号(リフレッシュを起動する内部信号)が入力されるリフレッシュモニタ回路が付設されている。 - 特許庁

To increase a capacitor's capacitance without enlarging a step to a peripheral circuit part and with less photolithography processes required for capacitor formation, by, related to a DRAM of COB(capacitor over bit line) structure, forming a stack electrode in the region below a bit line as well.例文帳に追加

COB構造のDRAMにおいて、ビット線以下の領域にもスタック電極を形成することにより、周辺回路部との段差を大きくすることなく、キャパシタ容量を増加することができると共に、キャパシタ形成に必要なフォトリソグラフィ工程を低減することができるDRAM及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide semiconductor memory elements which can reduce the test time by making a DRAM core test by a parallel input/output interface method and support various input/output information transmission rates in the multi-port memory elements communicating information with external devices by a serial input/output interface method when operating normally.例文帳に追加

正常動作時に直列入/出力インタフェース方式で外部装置と情報通信を行うマルチポートメモリ素子において、並列入/出力インタフェース方式でDRAMコアテストを実行することによってテスト時間を減少させ、且つ、様々な入/出力情報伝送処理率を支援する半導体メモリ素子を提供すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor device which can prevent the deterioration of electric property between a storage electrode and a lower electrode connected to the electrode or the like in the process of annealing for crystallization and oxidation treatment of a capacitor dielectric film and its manufacturing method, in a semiconductor device having a DRAM storage element and its manufacturing method.例文帳に追加

DRAM型の記憶素子を有する半導体装置及びその製造方法に関し、キャパシタ誘電体膜の結晶化アニールや酸化処理の工程における蓄積電極とこれに接続される下部電極等との間の電気特性の劣化を防止しうる半導体装置及びその製造方法を提供する。 - 特許庁

In a front engine 4 of a camera system 1A, reduced-size image generation processing for generating a reduced-size image, by reducing a captured image output from an image capturing portion 15 is executed by an image reducing portion 410 as hardware processing which is performed in parallel with storage processing for storing the captured image data output from the image capturing portion 15 in DRAM 4b.例文帳に追加

カメラシステム1Aにおけるフロントエンジン4では、撮像部15から出力される撮影画像データをDRAM4bに記憶させる記憶処理と並行して行うハードウェア処理として、撮像部15から出力される撮影画像を縮小し縮小画像を生成する処理を画像縮小部410で実行する。 - 特許庁

A camera signal processing section 24 processes a photographed imaging signal for 5 seconds after the depression of a shutter of an operation input section 34, and an encoder/decoder 31 applies moving picture experts group MPEG compression to a digital image signal from the signal processing section 24 and a DRAM 29 writes the compressed image data under the control of a memory controller 25.例文帳に追加

操作入力部34のシャッターが押されてから5秒間、撮影された撮像信号がカメラ信号処理部24にて処理され、信号処理部24からのディジタル画像信号がエンコーダ/デコーダ31によりMPEGで圧縮され、圧縮画像データがメモリコントローラ25の制御によりDRAM29に書込まれる。 - 特許庁

例文

When the execution of freeway search is commanded by a user, the control section 10 arranges four road names of each freeway in the descending order of the travel frequency based on the travel frequency of each freeway stored in the DRAM 12, and subsequently displays the display screen having the road names of each freeway arranged in the order of the Japanese syllabary.例文帳に追加

また、ユーザによって高速道路検索の実行が指示された場合、制御部10は、DRAM12に記憶してある各高速道路の走行回数に基づいて、各高速道路の道路名を、走行回数が多い順に4つ並べ、続けて各高速道路の道路名を50音順で並べた表示画面を表示する。 - 特許庁




  
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