「defect process」に関連した英語例文の一覧と使い方(15ページ目) - Weblio英語例文検索

(a) preventing, diagnosing, curing or alleviating a disease, ailment, defect or injury in persons; or (b) influencing, inhibiting or modifying a physiological process in persons; or (c) testing the susceptibility of persons to a disease or ailment. 例文帳に追加

(a) 人における疾病，軽い慢性的疾患，欠損又は傷害の予防，診断，治療又は緩和，又は (b) 人における生理学的過程について，影響を与え，抑制し又は変更を加えること，又は (c) 病気又は軽い慢性的疾患に対する人の羅病性を試験すること - 特許庁

In a process of bonding a substrate 8 with a plurality of electrodes and an IC 7 with a plurality of electrodes by heat and pressure, a thermometer which measures substrate lower surface temperatures at a plurality of arbitrary positions is provided, so that a bonding defect during bonding can be precisely detected.例文帳に追加

複数電極を有する基板８と複数電極を有するＩＣ７を加熱加圧接合する過程において、任意の複数位置の基板下面温度を測定する温度計を備えることにより、接合中の接合不良を精度良く検知することが可能である。 - 特許庁

To provide a process cartridge and a developing device which prevent an image defect that melt fixing of toner to a developing toner control member in the last period of a cartridge lifetime hinders uniform toner coating to give stripes to an image, even after preserved in various preservation environments and distribution conditions.例文帳に追加

様々な保管環境及び物流状況下で保管されたとしてもカートリッジ寿命末期においてトナーが現像トナー規制部材に融着し、均一なトナーコートを妨げ画像上にスジが入ってしまうという画像欠陥を防ぐプロセスカートリッジ及び現像装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a high quality silicon carbide single crystal by growing the crystal without generating a new defect in a crystal growing process when the crystal is grown by using a large diameter seed crystal formed by a sublimation method and having defects.例文帳に追加

昇華法にて作成された欠陥を有する大口径種結晶を用い結晶成長を行う場合において、結晶の成長過程で新たな欠陥を発生させることなく結晶を成長させ高品質な炭化珪素単結晶を製造する方法の提供。 - 特許庁

To solve such a problem that a conventional PTP (press through package) packaging is not easily crushed by weak force of a finger tip since a circumference of a pocket formed into a circular form or a trapezoid is hard and such a defect that an aluminum sheet also falls simultaneously in a process of taking out a tablet.例文帳に追加

従来のＰＴＰ包装においては、円形や台形に形成されたポケットの周囲が固いために、弱い指先の力では容易に押し潰せないと云う問題と、錠剤を取り出す過程にアルミシ−トも同時に落下してしまうと云う欠点とがあったものである。 - 特許庁

In the third inspection process, the solid-state imaging device is inspected per predetermined range set in advance, and the number of peculiar pixels within each range is counted, and at the same time, the sum of brightness data of the individual peculiar pixels within each range is calculated as a defect level.例文帳に追加

第３検査工程では、予め設定されている所定範囲ごとに固体撮像素子の検査が行われ、この所定範囲内の特異画素の個数が計数されると同時に、この所定範囲内の各特異画素の輝度データの合計値が欠陥レベルとして算出される。 - 特許庁

In the production process of the resin optical waveguide, the core pattern of the waveguide is embedded after executing heat treatment of ≥150°C, thus the deformation and embedding defect of the waveguide core pattern are prevented, thereby forming the resin optical waveguide low in loss and excellent in the optical characteristics.例文帳に追加

樹脂光導波路の作製工程において、１５０℃以上の熱処理を実施した後、導波路のコアパターンを埋め込むことにより、導波路コアパターンの変形および埋め込み不良等を防止し、低損失で、光学特性に優れた樹脂光導波路の作製方法を提供するものである。 - 特許庁

To provide a method for producing a composite member by which the shape of a base material can be simplified and an operating process can be simplified and metal structure of the composite material after melting and solidifying can be made precise, and the development of defect, such as shrinkage hole, impurity in this metal structure of the composite material can be reduced.例文帳に追加

母材形状を簡素化でき、作業工程を簡素化でき、溶融かつ凝固後の複合材の金属組織を緻密にでき、その複合材の金属組織に収縮孔や不純物などの欠陥が発生することを低減できる複合化部材の製造方法を提供すること。 - 特許庁

To increases inductor characteristics and reliability by eliminating residue and defect of shape of wiring made of Al or the like, and further to shorten processing time by avoiding problems to become the bottleneck in a process, in a semiconductor device having an inductor of a multiplayer interconnection structure in an on-chip state formed on a double poly-silicon type bipolar transistor.例文帳に追加

ダブルポリシリコン型バイポーラトランジスタ上にオンチップで形成される多層配線構造のインダクタを有する半導体装置において、Ａｌ等の配線の残さや形状不良をなくしてインダクタ特性及び信頼性を高め、プロセスネックとなるような問題を回避して加工時間も短縮する。 - 特許庁

To impart a pressure required for a whole tube inner face of a working region in a process of working, to prevent a wrinkle and a shape defect in bending/flattening a tube, to commonly use for manufacturing worked products having various cross sectional sizes and to quickly take in/out a core.例文帳に追加

加工の過程で加工領域の管内面全体に必要な圧力を付加することができ、管の曲げ加工、扁平加工におけるしわや形状不良を防止し、各種断面寸法の加工製品の製造に共用でき、中子の挿入排出が迅速にできること。 - 特許庁

To provide a semiconductor device wherein the addition of a circuit used at the time of turning on/off power is unnecessary, the addition of a process and the increase of a manufacturing expenses are prevented, a recovery means is provided to make recovery from a defect by a simple method, and a capacity and reliability are improved.例文帳に追加

電源を入れる時と切る時に用いる回路の追加が不必要であり、プロセスの追加や作製費用の増大を防止し、欠陥を簡便な方法で救済する救済手段を有し、大容量化と信頼性の向上を実現した半導体装置の提供を課題とする。 - 特許庁

In this nonvolatile semiconductor storage element, a storage part 200 equipped with two transistors as one set by the standard CMOS process makes a hole and an electron generated when an inter-band tunnel current generated between a source and a semiconductor substrate flows trapped in a crystal defect in the vicinity of the boundary of the semiconductor substrate and a gate oxide film.例文帳に追加

標準的なＣＭＯＳプロセスによるトランジスタ二個を一組とし備える記憶部２００は、ソース・半導体基板間に発生するバンド間トンネル電流が流れる際に発生する正孔と電子を、半導体基板とゲート酸化膜の境界付近にある結晶欠陥にトラップさせる。 - 特許庁

To provide a substrate for a liquid crystal display device provided with a photospacer which has a sufficient process margin without leaving air bubbles even after liquid crystal injection in an ODF system and hardly gives rise to a display defect even when a pressure is exerted to the liquid crystal panel from the outside after liquid crystal panelizing.例文帳に追加

ＯＤＦ方式での液晶注入においても気泡を残さず十分なプロセスマージンを有するとともに、液晶パネル化後に外部から圧力が液晶パネルに加わった場合にも表示不良を生じ難い、フォトスペーサを備えた液晶表示装置用基板を提供すること。 - 特許庁

To provide a laminate which is produced with a large area and at low cost by a simpler manufacturing process such as a roll-to-roll method and which includes a polymer film having a microphase separation structure including no defect, grain structure or the like, and also to provide a method of manufacturing the laminate.例文帳に追加

ロールトゥロール（Roll to Roll）方式などのより簡易な製造プロセスによって大面積かつ低コストで生産することができ、欠陥やグレイン構造などが含まれないミクロ相分離構造を有する高分子膜を備える積層体、およびその積層体を製造する方法を提供する。 - 特許庁

Then, it is easy to confirm whether or not to be able to correctly decode and process defective information in the recorder/player by using a test disk utilizing a mirror file having settled defective information that is not related to an actual defect on the disk in a DMA information confirmation test mode.例文帳に追加

従って、ＤＭＡ情報確認テストモードによりディスク上の実際の欠陥と関連のない既決欠陥情報を持つミラーファイルを利用したテストディスクを使用することにより、記録及び再生装置にて正しく欠陥情報を解読し処理できるか否かが容易に確認される。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing an electro-luminescence element for prematurely evaluating the acceptability of the formed state of a light emitting layer without energization in the production process for an organic EL display device and increasing a production efficiency by omitting wasteful steps after the evaluation when a defect is found.例文帳に追加

有機ＥＬ表示装置の製造過程で、通電を行わずに発光層の形成状態の良否を早期に評価することができ、不良が発覚した場合にはその後の無駄な工程を実施しないようにして生産効率を向上できる製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide: a semiconductor device package capable of preventing a defect of a seal ring part and a connection part for electrical connection that may occur during the production process for mounting a semiconductor device package on an external circuit substrate via its solder ball; and a method for manufacturing and mounting the same.例文帳に追加

半導体素子パッケージを、そのソルダーボールを介して外部回路基板に実装する生産工程中に発生しうるシールリング部及び電気的な接続のための接続部における不良を防ぐことのできる半導体素子パッケージと、その製造および実装方法を提供する。 - 特許庁

To provide an improved method for welding metal foil to a cylindrical metal pin where the defect in resistance welding that the interruption of a production process occurs by the exchange of a consumed welding electrode at regular intervals is avoided, and to provide a lamp realized by the method.例文帳に追加

消耗した溶接電極を規則的なインターバルで交換することにより製造プロセスの中断が生じてしまう抵抗溶接の欠点を回避する、円柱状メタルピンにメタルフォイルを溶接するための改善された方法及びこの方法により実現されるランプを提供することである。 - 特許庁

To prevent a defect from being generated in a separation process in a method for creating a laminated substrate by laminating first and second substrates with a porous layer and separating the laminated substrate into two substrates at the part of the porous layer for manufacturing an SOI substrate.例文帳に追加

多孔質層を有する第１の基板と第２の基板とを貼り合わせて貼り合わせ基板を作成し、該貼り合わせ基板を基板を多孔質層の部分で２枚の基板に分離してＳＯＩ基板を製造する方法において、分離工程における欠陥の発生を防止する。 - 特許庁

To provide the analyzing method of result of inspection in the manufacturing process of the semiconductor device, which predicts quality of chips with high accuracy, based on the result of inspection of a defect, an analyzing device, an analyzing program, a recording medium for recording the analyzing program and the manufacturing method of the semiconductor device.例文帳に追加

欠陥の検出結果に基づいてチップの良／不良を高い精度で予測することができる半導体装置の製造工程中の検査結果の分析方法、分析装置、分析プログラム及び分析プログラムを記録した記録媒体並びに半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

To make a condition set efficiently, to shorten an inspection time, and to enhance reliability of inspection, in a circuit pattern inspection device for inspecting a defect, a foreign matter, a residue or the like in the same design pattern of a semiconductor device on a wafer under a production process for the semiconductor device, by an electron beam.例文帳に追加

半導体装置の製造過程にあるウェハ上の半導体装置の同一設計パターンの欠陥，異物，残渣等を電子線により検査する回路パターン検査装置において、条件設定の効率、検査時間の短縮及び検査の信頼性を向上する。 - 特許庁

To solve the problem that the cut waste of a gate part metal, provided on a substrate scatters on a solder ball surface and causes a short-circuit defect between the solder balls of a semiconductor device, in a cutting process of making the substrate provided with a plurality of semiconductor chip loading regions into the individual pieces of a semiconductor device single body.例文帳に追加

複数の半導体チップ搭載領域を備えた基板を半導体装置単体に個片化する切断工程において、基板に設けられたゲート部金属の切断くずがはんだボール面上に飛散して半導体装置のはんだボール間のショート不良を招く。 - 特許庁

To realize a manufacturing process of a semiconductor which is free from defect/failure and inner contamination of production installation due to fragment of film peeling of the oxide film of a high melting point metal formed in the wafer rear surface of a semiconductor in a semiconductor device wherein the oxide film of a high melting point metal is used.例文帳に追加

高融点金属の酸化膜を使用する半導体装置において、半導体のウエハ裏面に形成された高融点金属の酸化膜の膜剥離した破片による欠陥不良および生産設備内部汚染がない半導体の製造工程を実現する。 - 特許庁

To provide the insulating film forming method of a semiconductor device which can improve the reliability of process and the electrical characteristics of element, by minimizing defect generation in the front surface of the insulating film, and by suppressing failures or the like, where a pattern formed on its upper portion becomes thin, or is cut.例文帳に追加

絶縁膜の表面における欠陥発生を最小化し、その上部に形成されるパターンが薄くなり或いは切れる不良などを抑制し、工程の信頼性及び素子の電気的特性を向上させることが可能な、半導体素子の絶縁膜形成方法を提供する。 - 特許庁

To suppress the occurrence of a bonding peel-off defect caused by the reason that components such as C and F in etching gas such as CF_4 and CHF_3 to be used in an etching process for forming the aperture of a passivation film consisting of a silicon nitride film is left on the Al surface of a bonding pad.例文帳に追加

本発明は、シリコン窒化膜から成るパッシベーション膜に開口部を形成するためのエッチング工程において用いられる、例えばＣＦ_４やＣＨＦ_３等のエッチングガス内のＣやＦの成分などがボンディングパッドのＡｌ表面に残ることに起因するボンディング剥がれ不良を抑止する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing an electrophotographic photoreceptor with which the excess coating film of an electrophotographic photoreceptor is removed with an organic solvent, so that when the manufactured electrophotographic photoreceptor is used in an electrophotographic process, occurrence of an image defect (unevenness in halftone) can be suppressed, and an apparatus for removing an excess coating film.例文帳に追加

電子写真感光体の余剰塗膜を有機溶剤を用いて除去し、製造した電子写真感光体を電子写真方式に用いた場合に発生する画質欠陥（ハーフトーンのむら）を抑制できる電子写真感光体の製造方法および余剰塗膜除去装置を提供する。 - 特許庁

The void defect as well as the face roughness in the periphery of the wafer can be effectively reduced without adding another process by controlling the distance Dw between wafers and gas flow rate Vg of hydrogen or the like within the predetermined range in a general batch furnace.例文帳に追加

一般的なバッチ式炉において、ウェーハ間の距離Ｄｗと水素などのガス流速Ｖｇとを所要範囲に制御することにより、ボイド状欠陥の低減を行うと同時にウェーハ外周部の面荒れを効果的に低減でき、新たな工程を付加することなく簡単に実施できる。 - 特許庁

To manufacture easily and in a simple process nitride based III-V compound semiconductor substrates on which nitride based III-V compound semiconductor layers exhibiting a low defect density and a high quality can be grown, and to manufacture high-performance and long-life semiconductor devices by using them.例文帳に追加

欠陥密度が低い高品質の窒化物系ＩＩＩ−Ｖ族化合物半導体層を成長させることができる窒化物系ＩＩＩ−Ｖ族化合物半導体基板を簡単なプロセスで容易に製造し、これを用いて高性能かつ長寿命の半導体装置を製造する。 - 特許庁

To provide a production process of an oxide magnetic substance, capable of enhancing remanent magnetic flux density, which has been considered difficult in prior art, by improving the "the ratio of (remanent magnetization/saturation magnetization)" which has been said as being a defect in dry molding, having a higher molding speed, as compared with wet molding.例文帳に追加

湿式成形に比べて成形速度が速い乾式成形において、乾式成形の欠点であるといわれる「（残留磁化／飽和磁化）の比」を改善して、従来より困難であるとされていた残留磁束密度を向上させることのできる酸化物磁性体の製造方法を提供する。 - 特許庁

In the process of forming a thin film having a different lattice constant on the substrate 1, the semiconductor containing Sb is first formed and a buffer layer to vary the lattice constant is formed as an overlay, which facilitates formation of a thin film having no crystal defect using the buffer layer that is thinner than a conventional layer.例文帳に追加

基板１上に格子定数の異なる薄膜を形成する際に、まずＳｂを含む半導体を形成し、その上層に格子定数を変化させるためのバッファ層を形成することで、従来に比べ薄いバッファ層で結晶欠陥のない薄膜形成が可能となる。 - 特許庁

To form a passivation layer made of an organic insulating material, thereby to minimize a parasitic capacity generated due to overlapping of a pixel electrode on a gate line and a data line, to smoothly carry out a repair process when disconnection defect occurs, and to improve the production yield of the final product.例文帳に追加

画素電極がゲート配線及びデータ配線と重なることによって発生する寄生容量を最小化するために有機絶縁物質で構成された保護層を形成すると共に、断線不良発生時の修理工程を円滑に進行させ、最終製品の生産収率を向上させる。 - 特許庁

To provide a base material-less double-sided pressure-sensitive adhesive sheet, capable of reducing a defect caused by deformation of an adhesive, reduced in a production loss in a process of separating a release film, and suitable for a touch panel, when used in the base material-less double-sided pressure-sensitive adhesive sheet for the electrostatic capacitance type touch panel.例文帳に追加

本発明は静電容量方式のタッチパネル用の基材レス両面粘着シートに用いた場合に、粘着剤の変形による欠点が少なく、離型フィルムを剥す工程での製造ロスが少なく、タッチパネル用に好適な基材レス両面粘着シート用離型フィルムを提供する。 - 特許庁

To provide one-component toners of a contact one-component developing system which prevent reversal fogging occurring in temperature rising, ameliorate image void, obviate the occurrence of streaks and filming for a long period of time and do not five rise to fogging and fixing defect under the high-temperature and high-humidity environment and a process cartridge.例文帳に追加

昇温に起因する反転かぶりを防ぐと共に画像白抜けを改善し、長期にわたって縦スジやフィルミングが発生せず、高温高湿環境下においてカブリや定着不良を発生しない接触一成分現像方式用の一成分トナー及びプロセスカートリッジを提供する。 - 特許庁

To provide a development device capable of reducing the deterioration of a developer with lapse of time due to peeling and embedding of an external additive, suppressing an image quality defect, such as scumming and toner scattering, and performing stable image output over a long period, a process cartridge, and an image forming apparatus.例文帳に追加

外部添加剤の剥がれ、埋没による経時での現像剤の劣化を低減させ、地汚れやトナー飛散等の画質不良を抑え、長期にわたって安定な画像出力をおこなうことのできる現像装置、プロセスカートリッジ及び画像形成装置を提供する。 - 特許庁

To eliminate a defect of a mesh screen type filter by discharging interposed foreign matters laminated on the surface of a filter screen together with backward washing water as a drainage to the outside by blowing the interposed foreign matters with spraying strongly-pressurized water on the water-introducing-side surface of the filter screen in the process of backward washing.例文帳に追加

逆洗浄を行うと同時に入水側濾過膜面に強力な水圧水を吹き付ける事により濾過膜面に積層した介雑物を吹き飛ばして逆洗水と共に濾過装置系外にドレンとして排出する事によって膜式濾過装置の欠陥を無くするものである。 - 特許庁

To provide a visual inspection device and a PTP packaging machine capable of carrying out transmission type inspection and reflection type inspection at the substantially same position, capable of saving a space, capable of reducing a manufacturing cost and capable of enhancing inspection efficiency, when inspecting an appearance defect in a manufacturing process of a PTP sheet.例文帳に追加

ＰＴＰシートの製造過程における外観不良を検査するに際し、透過式検査及び反射式検査を略同一位置において実施でき、省スペース化、製造コストの低減及び検査効率の向上を図ることのできる外観検査装置、及び、ＰＴＰ包装機を提供する。 - 特許庁

To provide a Levenson type phase shift mask having no divot (defect) in an opening (opening A) where the phase difference of transmitted light is to be 0°, even when a pinhole is present in a protective film protecting the opening A in the process of engraving the Levenson phase shift mask by etching.例文帳に追加

レベンソン型位相シフトマスクの掘込み部をエッチングによって形成する際に、透過光の位相差を０度とする開口部（開口部Ａ）となる部分を保護する保護膜にピンホールが存在しても、開口部Ａにディボット（欠陥）が形成されないレベンソン型位相シフトマスクを提供すること。 - 特許庁

To provide a developing device, a developing cartridge, a process cartridge, and an image forming apparatus constituted to prevent an image defect by absorbing the tolerance of respective parts and always making the position of a developing roller in a thrust direction constant and constituted to be easily assembled.例文帳に追加

各部品の公差を吸収し、かつ現像ローラのスラスト方向位置を常に一定とすることで画像不良を防止する構成を提供するとともに、組み立てが容易な構成とした、現像装置及び現像カートリッジ及びプロセスカートリッジ及び画像形成装置を提供する。 - 特許庁

To improve efficiency of condition setting, to shorten inspection time, and to improve reliability of an inspection, in a circuit pattern inspection device for inspecting, with an electron beam, a defect, foreign substance, residue, or the like of the same design pattern of a semiconductor device on a wafer in a manufacturing process of the semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置の製造過程にあるウェハ上の半導体装置の同一設計パターンの欠陥，異物，残渣等を電子線により検査する回路パターン検査装置において、条件設定の効率、検査時間の短縮及び検査の信頼性を向上する。 - 特許庁

Also, by arranging the main seal pattern 2 by bending it in the corrugated shape in the line width of a conventional straight pattern, the peeling load of the main seal pattern 2 per unit area of glass is improved and the serious defect of seal peeling is hardly induced in the process of cutting stuck glass into a panel individual piece size.例文帳に追加

また、本シールパターン２を従来の直線パターンの線幅で波状に曲げて配置することにより、ガラスの単位面積当たりの本シールパターン２の剥離荷重が向上し、貼り合わせガラスをパネル個片サイズに切断する工程において、シール剥離という重大欠陥を誘発しにくくなる。 - 特許庁

To provide an electrophotographic photoreceptor which has high sensitivity and a low residual potential even in the beginning, has a small variation in sensitivity and maintains the high sensitivity even after repetitive use, and hardly causes the residual potential and an image defect, and to provide a process cartridge and an electrophotographic device.例文帳に追加

初期において高感度かつ残留電位が低く、更に繰り返し使用によっても感度の変動が小さく高感度を持続し残留電位及び画像欠陥の生じ難い電子写真感光体、プロセスカートリッジ及び電子写真装置を提供することにある。 - 特許庁

To manufacture a magnetic disk medium with few defects by detecting original defects without detecting a groove of a magnetic film and a pattern of unevenness or the like as a defect in an error inspection process of a step for manufacturing the discrete track magnetic disk medium or a bit patterned magnetic disk medium.例文帳に追加

ディスクリートトラック磁気ディスク媒体またはビットパターンド磁気ディスク媒体の製造段階のエラー検査工程において、磁性膜の溝、凹凸などのパターンを欠陥として検出することなく本来の欠陥を検出し、欠陥の少ない磁気ディスク媒体を製造する。 - 特許庁

To provide a charging device which prevents image defect for a long period of time by preventing degradation in the cleaning performance of a cleaning member due to a lapse of time and also prevents a foreign matter from adhering to a gap formation member, which is specific to a close contact system, and to provide a process cartridge and image forming apparatus.例文帳に追加

経時によるクリーニング部材のクリーニング性能の低下を防止し、かつ、近接方式特有のギャップ形成部材への付着物の付着を防止することによって、長期に亘って画像不良の発生しない帯電装置、プロセスカートリッジ及び画像形成装置を提供する。 - 特許庁

According to the invention, the surface defect is decreased to improve the non-defective yield in the subsequent working process.例文帳に追加

マグネシウム合金の［温間粗圧延］−［焼鈍し］−［温間圧延］の工程を含むマグネシウム合金薄板のコイルを製造する方法において、粗圧延を経た中間シートのコイルに対し、水性の研削媒体の存在下に研磨ベルトを用いた湿式の表面研削を行なったのち、温間圧延に移る。 - 特許庁

To provide an effective product inspection method and a device capable of filling a content of liquids into a container, and then immediately transferring to a process for inspecting a defect on the container or the content, by removing positively bubbles or water drops existing in the container.例文帳に追加

容器内に存在しうる気泡や水滴を積極的に除去することによって、容器に液体類内容物を充填した後、直ちに容器やその内容物の欠陥を検査する工程に移行することができる効率のよい製品検査方法及び装置を提供すること。 - 特許庁