「Measuring method」に関連した英語例文の一覧と使い方(489ページ目) - Weblio英語例文検索

To solve the problem of conventional measuring method which is not able to fully detect fine defects or enormous defects using conventional adjustment of an amplifier, in detecting a defect in a wall of a conduit using a leakage flux pig.例文帳に追加

漏洩磁束ピグを用いて導管の管壁の欠陥を検知するに当り、従来の増幅器の調整では導管管壁の微小欠陥や巨大欠陥を十分な検出感度で検出することができない。 - 特許庁

To provide a laser distance measuring apparatus by which a distance can be measured with high accuracy by a method wherein the time up to the detection of reflected waves from the emission of a pulse-shaped laser beam to an object is measured by using a comparatively low cycle clock.例文帳に追加

対象物へのパルス状レーザ光の発射から反射波の検出までの時間測定を、比較的低周期のクロックを使用して高精度の距離測定を可能にするレーザ測距装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a sheath-core composite conductive fiber which is superior in conductivity in a surface resistance measuring method and durability of conductivity, and has good passableness in the spinning process and the post process, and has excellent chemical resistance.例文帳に追加

表面抵抗測定法における導電性と導電性の耐久性に優れ、紡糸工程および後工程の通過性が良好で、耐薬品性にも優れた芯鞘複合型導電性繊維を得ることである。 - 特許庁

In this method and device, a vehicle speed is measured by use of the millimeter wave sensor set in the road, and the congestion determination is performed from the sum of the number of passed vehicles every lane and speeds in the measuring range.例文帳に追加

道路に設置したミリ波センサを用いて、車両速度を計測し、該計測範囲における各車線毎の通過車両の台数および速度の総和から渋滞判定を行うことを特徴とする。 - 特許庁

To provide a method for extremely easily and quickly measuring at a work site, the concentration of a detergent in a cleaning solution composed of the detergent including a surface active agent and an organic solvent particularly, in a dry cleaning field.例文帳に追加

特にドライクリーニング分野において、界面活性剤を含む洗剤と有機溶剤とからなる洗浄溶液中の該洗剤の濃度を、作業現場にて極めて簡便に、かつ迅速に測定する方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method of measuring an impurity of gas that stably produces a measurement result and facilitates exposure work for adhesion of the impurity to a sample and handling work of the sample, and to provide a vessel suitable for it.例文帳に追加

測定結果が安定して得られ、また不純物の試料への付着のための暴露および試料の取扱作業が簡便な気体の不純物の測定方法およびそれに適した容器の提供。 - 特許庁

To provide a thin film coverage evaluation method for measuring coverage in a minute area of a thin film even if the thin film and the material of a substrate with the thin film formed thereon contain the same material.例文帳に追加

薄膜と薄膜が形成されている基板の材料とが同じ材料を含んでいても、薄膜の微小領域における被覆率の測定を行うことができる薄膜の被覆率評価方法を提供する。 - 特許庁

To provide an analyzing method capable of accurately and easily measuring the Hazen color number (APHA) without being affected by the composition of the principal components of material to be measured, the kind of impurities, and the content thereof.例文帳に追加

被測定物質の主成分の組成、不純物の種類、その含有量の影響を受けることなく、そのハーゼン色数（ＡＰＨＡ）を精度よくかつ簡便に測定できる分析方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a method and a device for measuring an electrochemical reaction which enable detailed measurement regarding the electrochemical reaction by utilizing a phenomenon caused by a nonlinear reaction, and the degree of the nonlinear reaction.例文帳に追加

非線形反応に起因する現象や非線形反応の程度を利用することで電気化学反応に関する詳細な計測が可能な電気化学反応計測方法および電気化学反応計測装置を提供する。 - 特許庁

To provide a novel light waveguide type measuring method which enables the precise detection of the characteristics of a sample using a simple structure by effectively utilizing the reflected light due to a light waveguide, and a light waveguide type sensor.例文帳に追加

光導波路による反射光を有効利用し、簡単な構造で、精度良く試料の特性を検出することができる、新規な光導波路式測定方法、光導波路型センサを提供する。 - 特許庁

This method for storing the fluorescent substance paste comprising the fluorescent substance and one or more organic or inorganic substances, characterized by storing the fluorescent substance paste, while measuring the precipitation speed of the fluorescent substance particles in the paste.例文帳に追加

蛍光体と有機物あるいは無機物からなるペーストを保管する保管方法であって、前記ペースト中の蛍光体粒子の沈降速度を計測しながら保管する蛍光体ペーストの保管方法である。 - 特許庁

To provide a method for quickly and simply measuring the number of Streptococcus in the oral cavity which is necessary for finding a cariogenic bacteria ratio that is the value dividing the number of Streptococcus mutans by the number of Streptococcus in the oral cavity, or the like.例文帳に追加

ミュータンスレンサ球菌数を口腔内レンサ球菌数で除した値である齲蝕菌比率を求める際等に必要になる、口腔内レンサ球菌数を迅速簡便に測定する方法を提供すること。 - 特許庁

To provide a lithography system, a device for collecting information about an aligner, a device for setting measuring instrument, an aligner and a method of manufacturing a semiconductor device, with which lithographic process including alignment can be maintained stably.例文帳に追加

露光処理を含むリソグラフィ工程を安定に維持することができるリソグラフィシステム、露光装置の情報収集装置、計測器の設定装置、露光装置、及び半導体デバイス製造方法を提供する。 - 特許庁

To set modulation conditions according to conditions to be measured and to improve measurement accuracy when measuring double ray scattered light and multiple light path interference light due to the reflection of a connector end by a pulse-OSA method.例文帳に追加

ダブルレイリ散乱光やコネクタ端反射による多重光路干渉光をパルス−ＯＳＡ法によって測定する際に、被測定対象の条件に応じて変調条件を設定し、測定精度の向上をはかる。 - 特許庁

To provide a measuring method wherein the coaxiality of a nozzle 1 which passes a nozzle plate 11 in its plate thickness direction, and which has a taper part 1a in a hole diameter reduced toward its tip side from its base end part is measured at high speed and efficiently.例文帳に追加

ノズルプレート１１の板厚方向に貫通しかつ、基端側から先端側に向かって孔径が縮小したテーパ部１ａを有するノズル１における同軸度の測定を高速でしかも効率的に行う。 - 特許庁

To provide a method and device for measuring optical characteristics of an optical component such as an optical pickup and a DSC with high accuracy, by detecting and adjusting its position with respect to an optical axis with high accuracy.例文帳に追加

光ピックアップやＤＳＣなどの光学部品の光学特性測定において、光軸に対する位置を高精度に検出、調整し、高精度に光学特性を測定する測定方法、装置を提供する。 - 特許庁

To provide a contact detection device for a machine tool and a method for manufacturing a tip contact of a stylus for accurately measuring the dimension of a workpiece based on the nominal radius of the tip contact and actual traveling distance of the stylus.例文帳に追加

先端接触子の呼び半径とスタイラスの実際の移動距離とによって、ワークの寸法計測を正確に行うことができる接触検出装置およびスタイラスの先端接触子の製造方法を提供する。 - 特許庁

The method includes introduction of a plurality of local external perturbations in the optical fiber, and a group delay time difference is used as standard measuring technique after the optical fiber is allowed to reach to a stationary condition.例文帳に追加

この方法は、光ファイバにおける複数の局所外部摂動の導入を含み、前記光ファイバが定常状態に到達することを許可された後、次に、群遅延時間差が標準の測定技術に使用される。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for the measurement of the profile of a roll wherein the profile can be measured simply and precisely in a state that the pressure roll as a measuring object is set, without removing it from a rolling machine.例文帳に追加

測定対象の圧延ロールを圧延機から取り外すことなくセットしたままの状態で簡単かつ正確にプロフィールの測定を行うことができるロールプロフィールの測定方法および装置を提供すること。 - 特許庁

To provide an electronic component bonding device and a method therefor in which a tact is shortened comparing to the conventional and a parallel degree measuring device is provided, when the electronic component are bonded on a board by using an anisotropic conductive film.例文帳に追加

回路基板上に異方性導電フィルムを用いて電子部品を接合するとき、従来に比べてタクトを短縮し、さらに平行度測定装置を備えた電子部品接合装置及び方法を提供する。 - 特許庁

To provide a technology capable of measuring a right angle merely from one-direction measurement without requiring to add an analytical compensate, in a strain scanning method to measure a strain generating in an object to be measured.例文帳に追加

被測定物に発生しているひずみを測定するひずみスキャニング法において、一方向の測定のみで、解析的な補正を加える必要がなく、正しい回折角を測定できる技術を提供する。 - 特許庁

To provide a method for positioning edge of a pattern element on a substrate, capable of very accurately, speedily, and reproducibly measuring the edge position in edges constituted, as desired, at the lower level of accuracy of pixels.例文帳に追加

任意に構成されているエッジにて、極めて精密で迅速で再現可能であるエッジポジションの測定を画素の下位の精度で可能とする、基板上のパターン要素のエッジをポジション決定するための方法を提供する。 - 特許庁

To provide a measuring method for relative speed in the transverse direction, in which the relative speed in the transverse direction of a vehicle which precedes its own vehicle is measured with high accuracy on the basis of the reflection intensity pattern of a laser radar.例文帳に追加

レーザレーダの反射強度パターンに基づいて自車両に先行する車両の横方向相対速度を高精度に計測するようにした先行車両の横方向相対速度計測方法を提供する。 - 特許庁

In this method, a voltage higher than a voltage set in measuring is applied for a predetermined time to apply a voltage in multistage.例文帳に追加

多段にて電圧を印加するために測定時の設定電圧より高い電圧を一定時間に加えることを特徴とする積層コンデンサの絶縁抵抗の測定の為の急速充電方法及びその方法及びその測定器。 - 特許庁

To provide a roller head extruder and a method for roller head extruding capable of manufacturing a rubber sheet having a high dimensional accuracy by directly accurately measuring a bank pressure and controlling an extrusion head, a roller and the like by its pressure.例文帳に追加

バンク圧力を直接的に正確に測定し、その圧力によって押出ヘッド及びローラ等を制御して、寸法精度の高いゴムシートを作製できるローラヘッド押出機及びローラヘッド押出方法を提供する。 - 特許庁

With this positioning method, the position of the mobile station MS is measured by using a pilot channel and data channel and measuring the distance between a plurality of base stations BS and the mobile station MS.例文帳に追加

本発明に係る測位方法は、パイロットチャネルと共に、データチャネルを用いて、複数の基地局ＢＳと移動局ＭＳとの距離を測定することによって、当該移動局ＭＳの位置を測定することを特徴とする。 - 特許庁

To provide a WWW server performance measuring device for searching a critical performance value whose reliability is high by providing a method to reproduce an access pattern close to the actual operational environment reality of a WWW server.例文帳に追加

ＷＷＷサーバの実運用環境現実に近いアクセスパターンを再生する方法を提供して、信頼性の高い限界性能値を求めるＷＷＷサーバ性能測定装置を提供する。 - 特許庁

A substrate cleaning method includes portioning out part of the cleaning liquid, bringing it into contact with a model piece of the same material with the substrate to be cleaned, and measuring the electrostatic potential of the model piece to monitor an electrostatic charging state of the substrate.例文帳に追加

洗浄用液体の一部を分取し、被洗浄基板と同材質のモデル片と接触させ、該モデル片の静電電位を測定することにより、基板の帯電状況を監視する基板洗浄方法。 - 特許庁

In the recovery method for judging on the number of a required preliminary delivery by measuring the rate of delivery, the preliminary-delivery recovering operation is performed with all nozzles after determining the number of the required preliminary delivery with a part of nozzles first.例文帳に追加

吐出速度を測定することにより必要予備吐数を判断する回復方法であって、まず一部のノズルで必要予備吐数を求めた上で、全ノズルで予備吐回復を行うことを特徴とする。 - 特許庁

The method is that the end face of the laminated material 1 is pushed against a hardened silicon rubber 6 1 to transfer the shape of the end face, and then obtain data on the end face of the laminated material 1 by measuring the transferred irregularity of the hardened silicon rubber 6.例文帳に追加

積層体１の端面に硬化性シリコンゴム６を押圧して、端面の形状を転写し、その転写された硬化性シリコンゴム６の凹凸を測定することにより積層体１の端面のデータを得る。 - 特許庁

To provide a high-precision, non-contact, real-time temperature measuring method by reducing the effects of the manufacturing process, fixtures, or the like in the measurement of wafer temperature in the semiconductor manufacturing process.例文帳に追加

半導体生産プロセスにおけるウエハの温度計測の方法に関して、生産工程の影響や固定具等からの影響を低減し、より精度の高い非接触かつリアルタイムの計測方法を供給する。 - 特許庁

To provide a method for alignment by which a photosensitive substrate can be aligned smoothly and efficiently even when the substrate is increased in size, even when the disposition of alignment marks in the measuring area of a specific mark detecting system is difficult.例文帳に追加

感光基板が大型化し、特定のマーク検出系の計測領域内にアライメントマークを配置することが困難である場合でも、感光基板を円滑に効率良くアライメントできるアライメント方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method and an apparatus for measuring the intrinsic distortion of a surface modified member constituting means for properly evaluating the residual stress of a surface modified member.例文帳に追加

より適切に表面改質部材の残留応力を評価するための手段とすることが可能な表面改質部材の固有歪測定方法および表面改質部材の固有歪測定装置である。 - 特許庁

To provide an optical characteristic inspection device capable of precisely measuring the double refraction (retardation) possessed by each of the layers in a multilayered double refractive sample processed into a polarizing plate at every layer, and an optical characteristic inspection method.例文帳に追加

偏光板加工された多層複屈折試料における各層が有する複屈折（リタデーション）を、層ごとに精度よく測定することができる光学特性検査装置および検査方法を提供する。 - 特許庁

To provide a highly accurate calibration method and device for measuring device by adding an alignment mark and a reflecting surface on parallel plates having high transparency or by marking in the circumferential direction of a circular cylinder having high transparency.例文帳に追加

透明度の高い平行平板にアライメントマークと反射面とを付加したり、透明度の高い円柱の円周方向にマーキングすることで、きわめて高精度な測定装置校正方法および校正装置を提供する。 - 特許庁

In a shape measuring method using the contact probe, correction values for correcting measurement errors are previously computed by simulation to map the correction values in a surface to be measured and create a correction table in a step S3.例文帳に追加

接触式のプローブを用いる形状測定方法において、ステップＳ３で測定誤差を是正する補正値を予めシミュレーションにより算出し、その補正値を被測定面上にマッピングして、補正テーブルを作成する。 - 特許庁

To provide a method capable of measuring the direction, speed, and rate of a fluid flow in a small space, and to evaluate force received by a minute body from the fluid within the small space.例文帳に追加

狭小空間での流体の流れる方向や流速又は流量を測定できる方法、及び狭小空間内において微小な物体が流体から受ける力を評価する方法を提供する。 - 特許庁

In this method of measuring a cell volume in the present invention, the piezoelectric element immobilized with the cell is oscillated, and a change of the cell volume is measured based on a change of a physical characteristic of the piezoelectric element.例文帳に追加

また、本発明の細胞容積の測定方法は、細胞が固定化された圧電素子を発振させ、前記圧電素子の物理的特性の変化に基づいて、前記細胞の容積の変化を測定することを特徴とする。 - 特許庁

To provide a measurement animal holder and a method of measuring animals for holding, such that measurement parts of animals abut closely against the inner wall of the holder for preventing movement, even if the dimensions of the animals to be measured fluctuate.例文帳に追加

計測対象の動物の寸法がばらついても、動物の計測部位が保持具内壁に緊密に接して動かないように保持する計測動物保持具及び動物計測方法を提供することを課題とする。 - 特許庁

To provide an elastically deformable conductive contact formed of a conductive coating covering a conductive base material in a method of measuring at least one of the characteristics of a semiconductor wafer.例文帳に追加

半導体ウエハの少なくとも１つの電気的特性を測定する方法において、導電性の基礎材料を覆う導電性のコーティングで形成された弾性変形可能な導電性の接触子を設ける。 - 特許庁

In the final stage of a preparation of the APTT measuring reagent, i.e. an inspection process after the reagent is prepared, an inspection method for reflecting differences of measured values between the lots and/or between the vials is introduced.例文帳に追加

ＡＰＴＴ測定試薬調製の最終段階、つまり試薬製造後の検査工程において、ロット間及び／又はバイアル間における測定値の違いを反映しうる検査方法を導入することによる。 - 特許庁

To obtain a method and apparatus for measuring the interface position whereby the this position can be accurately measured with a little number of terminals even if the interface is between an oil and water layers having near values of specified gravity or an emulsion layer interposes.例文帳に追加

比重が近い油層と水層であっても、またエマルジョン層が介在しても、少ない端子数で正確に界面位置を測定することができる界面位置の測定方法および測定装置を提供すること。 - 特許庁

To provide a method for readily, rapidly and highly sensitively measuring a regenerating islet-derived family, member 4 (regenerating gene type 4) mRNA (Reg IV mRNA) at a constant temperature by one step.例文帳に追加

Ｒｅｇｅｎｅｒａｔｉｎｇ ｉｓｌｅｔ−ｄｅｒｉｖｅｄ ｆａｍｉｌｙ， ｍｅｍｂｅｒ ４（ｒｅｇｅｎｅｒａｔｉｎｇ ｇｅｎｅ ｔｙｐｅ ４） ｍＲＮＡ（Ｒｅｇ ＩＶ ｍＲＮＡ）を一定温度かつ１段階で、簡便、迅速、高感度に測定する方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method of discriminating advanced glycation endproducts (AGE) of a skin by using fluorescence in the skin with a highly accurate technique of quantitatively measuring the skin AGE without a decrease in measurement accuracy due to light absorbing substances such as melanin.例文帳に追加

皮膚における蛍光を用いた皮膚ＡＧＥの鑑別法であって、メラニン等の吸光物質による測定精度の低下を受けない、精度の高い皮膚ＡＧＥの定量的測定技術を提供する。 - 特許庁

To provide a position measuring method which can accurately measure positional information without causing an error even when pulse-like detection light is used to measure positional information about marks formed on an object.例文帳に追加

パルス状の検知光を用いて物体に形成されたマークの位置情報を計測する場合であっても、誤差を生じずに精確に位置情報を計測することができる位置計測方法等を提供する。 - 特許庁