| 例文 |
To sampleの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 18250件
X-ray non-transmission processing by gold plating is executed in the central portion 102 and a peripheral portion of the FZP 100 to irradiate a sample 106 with only light condensed while avoiding an influence of direct light.例文帳に追加
FZP100の中央部分102および周辺部分103には、直接光の影響を避け集光された光のみが試料106を照射するようにするために金メッキによるX線不透過処理が施されている。 - 特許庁
A user terminal 110 executes a retrieval conditions input tool 111 on the basis of a sample video stored beforehand and generates a first media feature value (a correct answer feature value) 121 to be a reference for retrieving the media recognition site.例文帳に追加
ユーザ端末110は、予め記憶されたサンプル映像をもとにして、検索条件入力ツール111を実行し、メディア認識サイトを検索する基準となる第一のメディア特徴量(正解特徴量)121を作成する。 - 特許庁
Because a component such as a support shaft turning the support part 5 forward is not separately required, for example, so as to move the commodity sample A, the number of the components is not increased, and production cost of the automatic vending machine can be suppressed.例文帳に追加
また、商品サンプルAを移動させるために、例えば支持部5を前方に回動させる支持軸等の部品を別途必要としないので、部品点数を増加させることがなく、自動販売機の製造コストを抑えることもできる。 - 特許庁
To provide a needle-integrated type measuring device simple in structure and bringing a bio-sensor chip and a device body into electrical continuity between them when puncture and sample collection are done by concurrently driving a puncture needle and a bio-sensor chip.例文帳に追加
穿刺具およびバイオセンサチップを同時に駆動して穿刺および試料採取を行った際に、簡単な構造でバイオセンサチップと装置本体との電気的導通を図ることができる針一体型測定装置を提供する。 - 特許庁
In a sample for tensile test of a tubular material 1, which is used in a tensile test, a plurality of slits 2 extending in an axial direction are formed around the tubular material 1 to form test piece parts 3 between the slits 2.例文帳に追加
引張試験に供される管材1の引張試験用供試材であって、管材1の周囲に軸線方向に延びるスリット2が複数並んで形成されることによって、各スリット2の間に試験片部3が形成されてなる。 - 特許庁
To provide a flaw inspection device capable of inspecting the flaw such as fine foreign matter, a crack, etc. on the upper surface of a transparent thin film at a high speed with high sensitivity in a sample such as a substrate or the like having the transparent thin film formed on its surface.例文帳に追加
表面に透明薄膜が形成された基板等の試料において、透明薄膜の上面の微小な異物、キズ等の欠陥を高感度且つ高速に検査することができる欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁
To provide a downsized charged beam inspection apparatus, saving on a space, reducing a cost, preventing vibration, accelerating the speed, and having a high reliability of inspection, and large effects, especially for the case of a wafer having a large diameter, in a device for inspecting defects of a sample.例文帳に追加
試料の欠陥を検査する装置において、装置が小型化できて省スペース,コストダウン,振動抑止と高速化,検査の信頼性が得られ、特に大口径化したウエハの場合に効果が大きい荷電ビーム検査装置を得る。 - 特許庁
To obtain a structure for implementing scanning on the stage side by an AFM nanoprober, using multiple probes which quickly corrects the positional relation between a sample and probes, avoids conflicts among the probes, and facilitate electrical measurements in a submicron region.例文帳に追加
多探針を用いたAFMナノプローバで、ステージ側のスキャンを行う構造にして、試料と探針の位置関係の補正を迅速に行い、探針同士の衝突を回避して、サブミクロン領域での電気測定を容易にできるようにする。 - 特許庁
To provide an evaluation method for activities of microorganisms, capable of being carried out readily in a short time, and for finding how much of the proportion of the microorganisms having the high activities is present in the total of the microorganisms in a sample.例文帳に追加
簡便にかつ短時間で行うことができ、かつ、試料中の微生物の総量に対して、活性の高い微生物がどの程度の割合で存在するかを知る方法である、微生物活性の評価方法を提供する。 - 特許庁
To provide a method for simply obtaining a mass spectrum of high precision in a short time by automatically correcting the shift of spectrum peaks produced by the difference of altitude at respective points within a sample measuring surface in measurement using time-of-flight mass spectrometry.例文帳に追加
飛行時間型質量分析を用いた計測において、試料測定面内各点の高低差によって生じるスペクトルピークのズレを自動補正し、精度の高い質量スペクトルを簡易かつ短時間に得る方法を提供する。 - 特許庁
To provide a method capable of calculating compressive strength of coarse aggregate for concrete simply and accurately without measuring it by a compressive strength testing machine, after boring a sample from ore, and coring it or forming a molded body therefrom.例文帳に追加
コンクリート用粗骨材の圧縮強度を、原石からボーリングして、コア抜きし、又はこれの成形体とし、圧縮強度試験機にかけて測定しなくても、簡便に精度良く、算出できる方法を実現することを目的とする。 - 特許庁
To promote shortening of the measurement time and simplification of the device structure of an interference film thickness gauge 100 by enabling omission of an incidental measurement (especially measurement of a calibration sample), which has been conventionally required every time when a light reflectance of an inspection work is measured.例文帳に追加
干渉膜厚計100において、検査ワークの光反射率測定時に都度必要であった付随計測(特に校正サンプルの計測)を省略可能にして、測定時間の短縮や装置構成の簡単化を促進する。 - 特許庁
In addition, shots 508 and 509 symmetrically positioned with respect to a straight line 503 passing the center of a shot layout or shots which are point symmetrically positioned about the center 500 of the layout are selected as other sample shots.例文帳に追加
さらには、ショットレイアウトの中心を通る直線503についてほぼ対称の位置にあるショット508、509、またはショットレイアウトの中心500についてほぼ点対称の位置にあるショットを他のサンプルショットとして選択する。 - 特許庁
A business trip report screen processing part 25 prepares business trip report screen information including user information and business trip application information in a business trip report sample information to be stored in a business trip report information database 22c.例文帳に追加
出張報告画面処理部25は、出張報告情報データベース22cに格納される出張報告雛型情報に、利用者情報および、出張申請情報を含む出張報告画面情報を生成する。 - 特許庁
The method for refining the nucleic acid comprises a step for binding the nucleic acid to the solid support by bringing a nucleic acid-containing sample into contact with a solution containing a kosmotropic salt on the solid support having a hydrophilic functional group on the surface.例文帳に追加
表面に親水性官能基を有する固体支持体の上で、核酸含有試料とコスモトロピック塩を含む溶液とを接触させて、核酸を前記固体支持体に結合させる段階を含む、核酸の精製方法である。 - 特許庁
When a lamp 5 on the side of the first space 26 and the ion trap 9 on the side of the second space 27 are partitioned by the partition 25, the irradiation volume of vacuum ultraviolet light 7 with reference to a sample gas can be increased in the first space 26.例文帳に追加
第1空間26側のランプ5と第2空間27側のイオントラップ9とを仕切り壁25で仕切ることにより、第1空間26中において、サンプルガスに対する真空紫外光7の照射体積を増加できる。 - 特許庁
When the peak of a sample molecule is detected by a UV detector 5 and a mass spectrum is not obtained by the data processing of a mass spectrograph even if the sweeping of mass dispersion is made, voltage is changed from the introduction of a positive ion to that of a negative ion.例文帳に追加
UV検出器に試料分子のピークが検出されて、質量分散の掃引を行っても質量分析計のデータ処理でマススペクトルが得られない時に、正のイオン導入から負のイオン導入電圧に変える。 - 特許庁
To provide a method for preparing a soft-semi dry animal specimen, which shortens a preparation time and semipermanently maintains an original feel of sample and holds the specimen more inexpensively than a conventional method for preparing a soft-dry dissection specimen.例文帳に追加
従来の軟・乾性解剖標本の作製方法よりも、作製時間を短縮し、標本本来の感触を半永久的に維持できる柔軟・半乾性動物標本を安価に作製、保管する方法を提供する。 - 特許庁
To provide an image pickup device which can automatically sample an image adequate for fingerprint matching from a fingerprint image inputted from an input device even if the image has variance in shading distribution or variance in ridge pattern thickness.例文帳に追加
画像の濃淡分布のばらつきまたは隆線パターン太さのばらつきがあっても、入力装置から入力されている指紋画像から指紋照合に適切な画像を自動的に採取可能な画像撮像装置を提供する。 - 特許庁
To provide a dielectric physical property measuring instrument capable of well measuring dielectric physical properties and well receiving a sample even in such a case that a conductive material or an electrolytic material is contained in a dielectric.例文帳に追加
誘電体中に導電性物質や電解性物質が含まれている場合でも、良好に誘電物性を測定することができ、しかも、試料を良好に受け入れることのできる、誘電物性測定装置を提供すること。 - 特許庁
To provide an inspection device capable of consistently manufacturing a sample for appearance inspection of a semiconductor wafer in high speed and high resolution and for TEM observation or various analyses from an existing part of foreign matters or defects, with high positioning accuracy.例文帳に追加
半導体ウエハの高速で高分解能な外観検査と、異物や欠陥の存在部位からTEM観察や各種分析のための試料を高い位置精度で一貫して作製することのできる検査装置を提供すること。 - 特許庁
This value of 0.5 mA is a considerably lower value than the amount of emission current normally set up at about 20 to 30 mA when the sample is ion-etched, and therefore the amount of filament vaporized becomes considerably smaller than in the past.例文帳に追加
試料のイオンエッチング時のエミッション電流量は通常20〜30mA程度に設定されるが、この0.5mAという値は、それに比べるとかなり低い値であり、フィラメントの蒸発量は従来よりかなり少なくなる。 - 特許庁
A mounting plate 18 is installed on the tips of rods 15b of the compressive fixing means 15, and an actuator 19 for applying the shear deformation to the sample piece 1 is installed vertically on the upper part of the mounting plate 18.例文帳に追加
圧縮固定手段15のロッド15bの先端には、取付けプレート18が設けてあり、この取付けプレート18の上部には、供試体1に剪断変形を付与するためのアクチュエータ19が鉛直向きに設置されている。 - 特許庁
The apparatus 10 oriented so that the cell fragment may pass from a cell sample 14 to a cell flow pathway 16 and delivers the reagents 82, 92, 102 through the reagent flow pathway 18, by applying a pressure.例文帳に追加
装置10は、圧力を加えることにより細胞破片を細胞試料14から細胞流路16を通るように方向付けし、更に試薬82、92、102を、試薬流路18を通して給送するように構成される。 - 特許庁
To provide a space-saving, inexpensive and high-response secondary electron detector, capable of acquiring TV-Scan rate images for VP-SEM which uses gas amplification in a low-vacuum sample chamber and a positive induced current detection system.例文帳に追加
低真空試料室内で起こるガス増幅を利用し、正の誘導電流検出方式を用いたVP-SEMにおいて、省スペースで安価でかつTV-Scanレート画像の取得が可能な高速応答のVP-SEM用二次電子検出器を提供する。 - 特許庁
To provide a confocal microscopic spectroscope for simultaneously measuring scattered light, such as Raman scattered light and fluorescence, and the optical image (confocal optical microscopic image)of a sample, and for clarifying the position relationship.例文帳に追加
ラマン散乱光や蛍光などの散乱光と、試料の光学像(共焦点光学顕微鏡像)とを同時に測定することができ、これらの位置関係を明確にすることができる共焦点顕微分光装置を提供する。 - 特許庁
Line delay circuits 3, 4 respectively output pixel values of pixels D, G in timing when a value of a pixel A is given to an input terminal 2 and sample delay circuits 5-10 output respectively pixel values of pixels B, C, E, F, H, I.例文帳に追加
画素Aの画素値が入力端子2に入力されたタイミングにおいて、ライン遅延回路3,4は、それぞれ、画素D,Gの画素値を出力し、サンプル遅延回路5乃至10は、それぞれ、画素B,C,E,F,H,Iの画素値を出力する。 - 特許庁
A removable cover 18 is inserted and fixed to an apparatus body 4 in advance, and an immune chromatography specimen 1 where a liquid sample is added is inserted into an insertion section 19 of the cover for measurement.例文帳に追加
装置本体4には、あらかじめ着脱可能なカバー18が挿入固定されており、カバーの挿入部19に、液体試料が添加された免疫クロマトグラフィー試験片1を挿入することにより測定を行うものとした。 - 特許庁
A sample is placed on an electrode part 21 of a measuring device 20, and AC voltage having the selected frequency is applied to the electrode part 21, whereby only the yeast is accumulated at needle parts 22a, 23a of comb tooth-like electrodes 22, 23.例文帳に追加
測定装置20の電極部21にサンプルを置き、選定した周波数を有する交流電圧を電極部21に印加することにより、櫛歯状電極22、23の針状部22a、23aに酵母のみを集積させる。 - 特許庁
To provide a method for performing an accurate measurement by quickly and efficiently extracting a target substance by a simple method in a method for performing an immunological measurement with a liquid-absorbing carrier for absorbing blood as a sample.例文帳に追加
血液を吸収させた液吸収担体を試料として免疫学的測定を行う方法において、より簡便な方法で短時間に効率的に目的物質を抽出し正確な測定を行う方法を提供する。 - 特許庁
A more improved catalytic performance is obtained as compared to treat a corresponding sample using an inert gas at the same high temperature, if the MMO1 catalyst on which Te is vapor deposited is post-treated with oxygen at a high temperature.例文帳に追加
Teを蒸着したMMO1触媒を、高温において酸素で後処理すると、同じ高温において不活性ガスを使用して対応する試料を処理した場合と比較して、改善された触媒性能が得られた。 - 特許庁
The irradiation part 20 has an input end 21 and an output end 22, and when an x-ray reaches the input end 21 along a certain specific azimuth, the x-ray can be outputted from the output terminal 22 to a sample 90.例文帳に追加
照射部20は、入力端21および出力端22を有し、X線が或る特定の方位に沿って入力端21に到達すると、そのX線を出力端22から試料90へ出力することができる。 - 特許庁
The reaction treatment device is provided with a first discrimination information reading part for reading the discrimination information of the reaction vessel plate before being installed to a plate installation part and the discrimination information of a sample stored in the reaction vessel plate.例文帳に追加
反応処理装置は、プレート設置部に設置される前の反応容器プレートの識別情報とその反応容器プレートに収容されるサンプルの識別情報とを読み取るための第1識別情報読取り部を備えている。 - 特許庁
To obtain a polishing rate with high precision for a sample, which has unevenness on its surface, differs in size of the unevenness with the density of a wiring pattern and filming conditions, and varies in polishing rate, without conditioning a wafer.例文帳に追加
CMP加工前、試料表面に凹凸があり、凹凸の大きさが配線パターンの密度、成膜条件によって異なり、研磨レートが変動する試料に対し、ウェハでの条件出しすることなく、高精度に研磨レートを得る。 - 特許庁
A position signal, showing the position which is output from the position detection element 37, can be used as a signal showing an irradiation position of the laser light to a sample when scanning is performed in a scanning type confocal laser microscope.例文帳に追加
位置検出素子37から出力されるこの位置を示す位置信号は、走査型共焦点レーザ顕微鏡において走査が行われているときにおける試料へのレーザ光の照射位置を示す信号として利用できる。 - 特許庁
Furthermore, widening of the electron beam due to a space-charge effect of the primary electron beam is reduced by anions generated by the collision of the primary electron beam with the gas introduced from the sample chamber, and so accurate irradiation is possible.例文帳に追加
さらに一次電子線と試料室から入射した気体との衝突で発生した正イオンによって、一次電子線の空間電荷効果による電子線の拡がりが低減されており、正確な照射が可能となる。 - 特許庁
To provide a puncture testing device for tires which enables visual observation of the condition of a puncture and remarkable reduction in puncture testing cost, by reproducing the condition of the puncture having an inside pressure by using a sample piece of a tire.例文帳に追加
タイヤのサンプル片を用いて内圧を付与したパンク状況を再現することにより、パンク状況を目視により観察可能にし、かつタイヤのパンク試験コストを大きく削減することが可能なタイヤのパンク試験装置を提供する。 - 特許庁
To provide a lysis method for dissolving a biological sample comprising at least one micro-organism efficiently and simply, wherein any reagents and additional operation processes are not needed during using the method.例文帳に追加
少なくとも一の微生物を具備する生物学的試料を完全に、効率良く、しかも単純に溶解する方法であって、方法の使用中に如何なる試薬も如何なる付加的操作工程をも不要とする方法を提供する。 - 特許庁
The apparatus comprises a sample holder for holding the components of a library, a probe array for perturbing an independent library component mechanically, and a sensor array for measuring response to mechanical perturbation of each library component.例文帳に追加
この装置は、ライブラリの構成要素を保持するサンプルホルダと、独立したライブラリ構成要素を機械的に摂動するプローブの配列と、ライブラリ構成要素それぞれの機械的摂動に対する応答を測定するセンサの配列とを含む。 - 特許庁
To provide a pretreatment method for a surface analysis sample capable of easily eliminating electric charge from an analysis point for performing accurate analysis by forming a conductive film in the vicinity of the analysis point without requiring any complicated operation.例文帳に追加
煩雑な操作を必要とせず、分析点に近接させて導電膜を形成することにより、分析点からの電荷除去が容易に行え、正しい分析を行うことができる表面分析試料の前処理方法を提供する。 - 特許庁
In a method for applying an algorithm for detecting LC impurity, an LC column 20 has a circulation cell 22 that is used together with a UV-VIS spectrophotometer, and a sample 10 is subjected to elution or washing through the LC column 20.例文帳に追加
LC不純物検出のためのアルゴリズムを適用する方法であって、LCカラム20はUV−VISスペクトロフォトメータと共に用いられる流通セル22を有し、サンプル10はLCカラム20を通って溶離されまた洗浄される。 - 特許庁
A secondary electron emitted from a sample 10 by irradiation of an electron beam is deflected by a beam separator 7, and deflected to the vertical direction by an aberration correcting electrostatic deflector 11, and a magnified image is formed on the main face of an auxiliary lens 12.例文帳に追加
電子線の照射により試料10から放出された2次電子は、ビーム分離器7で偏向され、収差補正静電偏向器11により垂直方向に偏向され、補助レンズ12の主面に拡大像を形成する。 - 特許庁
To provide a spotting device, a spotting method, and a control device of the spotting device capable of performing spotting of a sample onto the accurate position on the surface of a base material regardless of an attitude of the base material on the XY-plane.例文帳に追加
基材がXY平面中でどのような姿勢になっていても、試料を基材の表面の正確な位置に点着することができる点着装置及び点着方法並びに点着装置の制御装置を提供すること。 - 特許庁
Then, the scanning tunnel microscope is used to acquire an STM image by scanning the probe along the measuring surface of the measuring sample on the condition that a tunnel current value is constant while preventing the probe from moving beyond the maximum forwardly-movable value.例文帳に追加
次いで、走査型トンネル顕微鏡を使用し、探針が最大前進可能値を超えて移動しないようにし、トンネル電流値が一定の条件で探針を測定試料の測定面に沿って走査してSTM像を取得する。 - 特許庁
A complex linear operation circuit 108 stores the inverse matrix of a matrix consisting of q rows and p columns of exp(2πjk_pn_q/N) about a set {k_p} using the carrier numbers of M effective carriers as elements and a set {n_q} using sample numbers 0 to M-1 as elements.例文帳に追加
複素線形演算回路108には、M本の有効キャリアの番号を要素とする集合{k_p}、サンプル番号0乃至M-1を要素とする集合{n_q}について、q行p列がexp(2πjk_pn_q/N)である行列の逆行列が記憶されている。 - 特許庁
To provide a system and a method for sampling a representative sample of a lot for the purpose of a quality inspection etc. of a granular product such as pellets etc. of a synthetic resin massively produced in a synthetic resin manufacturing factory etc.例文帳に追加
合成樹脂製造工場等において、合成樹脂のペレットなど大量生産される粒体製品の品質検査等の目的で、そのロットの代表サンプルをサンプリングするためのシステムならびに方法を提供すること。 - 特許庁
To provide a flaw inspection device capable of inspecting the flaw such as fine foreign matter, a crack, etc. on the upper surface of a transparent thin film at a high speed with high sensitivity in a sample such as a substrate or the like having the transparent thin film formed on its surface.例文帳に追加
表面に透明薄膜が形成された基板等の試料において、透明薄膜の上面の微小な異物、キズ等の欠陥を高感度且つ高速に検査することができる欠陥検査装置を提供する。 - 特許庁
To provide an extraction apparatus capable of efficiently extracting a specified substance, such as a nucleic acid, in a sample solution within a short time, and capable of enhancing reliability by detecting pressure, when the solution is discharged by pressurizing the inside of an extraction cartridge, and deciding whether actuation thereof is defective or not.例文帳に追加
短時間で効率よく試料液の核酸などの特定物質を抽出でき、抽出カートリッジ内を加圧し液を排出する際の圧力検出により動作不良の判定を行って信頼性を高める。 - 特許庁
A cross section of a core tube is formed into a non-circular quadrangle, which face of the core tube is faced to any direction is confirmed when the soil sample is collected, and the core tube is drilled thereafter into the ground by vibration, striking or the like, without rotating the core tube.例文帳に追加
コアチューブの断面を非円形の四角形とし、土壌試料の採取時にコアチューブのどの面がどの方位に面しているかを確認してコアチューブを回転させずに、振動や打撃などによって地中に打ち込む。 - 特許庁
Near field light is produced near the outside of a boundary plane 11 and a light converging part 30 converges the produced near field light to apply the light from the tip 31 of the light converging part toward the sample placed on a placement table 50.例文帳に追加
境界面11の外側の近傍には、近接場光が発生し、発生した近接場光を集光部30によって集光し、集光部の先端31から載置台50上に載置された試料に向けて照射する。 - 特許庁
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