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Weblio 辞書 > 英和辞典・和英辞典 > after testに関連した英語例文

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after testの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 1379



例文

In1 a test head 18B, semiconductor devices D in odd-numbered rows and odd-numbered column1s among the semiconductor devices D mounted on the test board 1 after the completion of test in the test head 18A, and then semiconductor devices D in odd-numbered rows and even-numbered columns are tested.例文帳に追加

また、テストヘッド18Bにおいて、テストヘッド18Aにおける試験が終了したテストボード1に搭載されている半導体装置Dのうち奇数列奇数行の半導体装置Dの試験をした後に、奇数列偶数行の半導体装置Dの試験を行う。 - 特許庁

After a positive type resist is coated on a test substrate and it is brought into a focus by using a mask original plate for a test pattern to expose at a plurality of parts, development is carried out to form the test patterns composed of remaining patterns at the plurality of parts on the test substrate, respectively (step S11).例文帳に追加

テスト基板上にポジ型レジストを塗布し、テストパターン用マスク原版を用いてフォーカスを振って複数個所に露光した後、現像を行なって、テスト基板上の複数個所にそれぞれ残しパターンからなるテストパターンを形成する(ステップS11)。 - 特許庁

To provide: a printed circuit board test-assisting apparatus that can efficiently assist in conducting an actual measurement test after a high-density mounting printed board is manufactured; a printed circuit board test-assisting method; and a printed circuit board test-assisting program.例文帳に追加

高密度実装のプリント基板の製造後における実測試験を効率的に支援することのできるプリント基板試験支援装置、プリント基板試験支援方法、及びプリント基板試験支援プログラムを提供することを課題とする。 - 特許庁

Then, before the second test piece 82 begins to press the first test piece 81 and after the second test piece 82 is pressed to the first test piece 81, the friction force is corrected on the basis of the measured voltage of the piezoelectric element 43.例文帳に追加

そして、第2の試験片82を第1の試験片81に押しつけ始める前、及び、第2の試験片82を第1の試験片81の押しつけ終わった後、に測定した圧電素子43の電圧に基づいて、上述の摩擦力を補正する。 - 特許庁

例文

To solve such a problem that in a test of a semiconductor memory, as a chip itself does not store nature of the chip, in order to perform analysis of a defective product by a wafer test after assembling, a test corresponding to the wafer test must be performed again and a defective product must be selected.例文帳に追加

半導体記憶装置の検査において、チップの素性をチップ自身は記憶していないので、ウエハ検査不良品の解析を組み立て後に行うためには再度、ウエハ検査相当の検査を実施して不良品を選別しなければならない。 - 特許庁


例文

The method for measuring impact absorption energy using the machine for testing impact of dropping weight, measures the impact absorption energy of a test specimen by using the kinetic energy when a dropping weight is freely fallen without colliding the weight to the test specimen and the kinetic energy after the weight is collided to the test specimen and the test specimen is broken.例文帳に追加

落錘式衝撃試験機を用いた衝撃吸収エネルギーの測定方法であって、落錘を試験片に衝突させずに自由落下させた際の運動エネルギーと、落錘が試験片に衝突し、破断させた後の運動エネルギーを用いて、当該試験片の衝撃吸収エネルギーを測定する。 - 特許庁

In a standby test after the screening test, as a result of the calculation of the difference between the consumption current measured at each test point and the consumption current measured before the screening test, the semiconductor device of which the difference exceeds a second consumption current threshold is regarded as faulty.例文帳に追加

次に、スクリーニングテスト後のスタンバイテストでは、各テストポイントで測定した消費電流とスクリーニングテスト前に測定した消費電流との差分を算出し、それらが第2の消費電流しきい値よりも大きい半導体装置を不良品とする。 - 特許庁

To provide a new method of a performance test for establishing the fine particle removing performance of a membrane and a nondestructive integrity test for preconfirming that the membrane after use is within setting in the fine particle removing performance, and to provide a test reagent to be applied to the test, and a method of manufacturing the reagent.例文帳に追加

膜の微粒子除去能を確定する性能試験および使用後の膜が微粒子除去性能においてあらかじめ設定内であることを確認す非破壊法の完全性試験の新しい方法と該試験に適用させる試験試薬と該試薬を製造する方法を提供する。 - 特許庁

To provide a test selection method and a test selecting apparatus for reducing the number of tests to be made without implementing a statement used for a program only in a testing process without reducing test precision in a regression test that is made after correcting the program.例文帳に追加

プログラムを修正した後に行う回帰試験において、試験精度を落とすことなく、また、プログラムに試験工程でのみ使用する命令文を実装することなく、行う試験の数を減らすことができる試験選択方法および試験選択装置を提供する。 - 特許庁

例文

A test program control part 4 translates commands of the test program and outputs a change request signal including a change parameter after the change and an input terminal of a change target to a test parameter control part 5 when the change of the parameter value of a test signal is requested.例文帳に追加

試験プログラム制御部4は、試験プログラムのコマンドを翻訳し、試験信号のパラメータ数値の変更を要求している場合、変更対象の入力端子と、変更後の変更パラメータとを含む変更要求信号を試験パラメータ制御部5に出力する。 - 特許庁

例文

Preferably, the analog test signals are directly inputted to the A/D converter 5 as well and the abnormality of the input circuit is judged based on the comparison of digital conversion test signals by the A/D converter 5 of the directly inputted test signals and the test signals after the separation.例文帳に追加

好ましくはアナログ試験信号をA/Dコンバータ5へも直接入力し、直接入力の試験信号のA/Dコンバータ5によるディジタル変換試験信号と前記分離後の試験信号との比較に基づき入力回路の異常を判定する。 - 特許庁

In the self-reference sense circuit 21, a first value is read from a test object cell before writing of writing data for the dummy cell of the test object, and a second value is read from the test object cell after writing of writing data for the test object cell.例文帳に追加

セルフリファレンスセンス回路21は、テスト対象のダミーセルに対する書込データの書込み前にテスト対象セルから第1の値を読出して保持し、テスト対象セルに対する書込データの書込み後にテスト対象セルから第2の値を読出す。 - 特許庁

Castec started to make earnest efforts to have employees take the national technical skills test after its director in charge of general administrative affairs was told by an official of another manufacturer located in the same industrial zone that it was natural for technical workers to pass at least Level 2 of the test. Thereafter, the company made it a policy to require team leaders or employees with higher positions to pass the national technical skills test so as to differentiate their skill levels from those of subordinates and disclose the qualifications acquired through the test.例文帳に追加

たまたま取締役総務部長が、同じ工業団地内のメーカーの人との会話の中で、「2 級技能検定合格は技術者として当たり前」と言われたことが、従業員の技能検定受検に本格的に取り組むきっかけとなった。 - 経済産業省

To provide an adhesive which retains an excellent adhesion between polyolefins and metals, even in Erichsen test performed after boiling immediately after adhesion.例文帳に追加

ポリオレフィンと金属の接着において、接着直後の煮沸のエリクセン試験においても優れた接着性を維持する接着剤を提供する。 - 特許庁

The container 7 has an indication 71 labeled '(2) after the dose', and it collects the exhalation gas of the identical testee after taking a reagent for the test.例文帳に追加

呼気ガス容器7には、「 服用後」なる表示71が付されており、同一の被検者の検査試薬投与後の呼気ガスを収納する。 - 特許庁

A magnetism detection element 20 for outputting a magnetic detection signal after detecting magnetism caused by the proximity of a test magnet as a test operating unit of the radio type sensing device 16 is provided, then test communication is performed when a predetermined time period is elapsed after an output of the magnetic detection signal is interrupted by removing the test magnet therefrom after outputting the magnetic detection signal by the magnetic detection element 20.例文帳に追加

無線式感知器16の試験操作部として試験用磁石の近接による磁気を検出して磁気検出信号を出力する磁気検出素子20を設け、磁気検出素子20が磁気検出信号を出力した後に試験用磁石を遠ざけることで磁気検出信号の出力が断たれると、所定時間を経過した時に試験通信を行う。 - 特許庁

A conveyance path 14A for conveying a pallet 16 carrying the specimen 2, and a deadhead path 15A for deadheading an empty pallet 16 after removing the specimen 2 after a test are arranged in an interior of the test tank 12 of the environmental test device 3.例文帳に追加

環境試験装置3の試験槽12の内部には、被試験品2を載せたパレット16を搬送するための搬送路14Aと、試験終了後に被試験品2が取り除かれた後の空のパレット16を回送するための回送路15Aが配置されている。 - 特許庁

In the conductive electroless plated powder, preferably, electric resistance after an aging test for 500 hr is ≤0.1 Ω cm, and the rate of change in the resistance Ωv= |Ωa-Ωb |/ Ωa≤20 (wherein, Ωa is the electric resistance before the aging test, and Ωb is the electric resistance after the aging test).例文帳に追加

前記導電性無電解めっき粉体は、500時間のエージング試験後の電気抵抗が0.1Ω・cm以下であり、且つその抵抗変化率Ωv=|Ωa−Ωb|/Ωa≦20(但し、Ωaはエージング試験前の電気抵抗、Ωbはエージング試験後の電気抵抗を示す。)であることが好ましい。 - 特許庁

A conveyance path 14A for conveying a pallet 16 carrying a specimen 2, and a deadhead path 15A for deadheading an empty pallet 16 after removing the specimen 2 after a test are arranged in an interior of the test tank 12 of the environmental test device 3.例文帳に追加

環境試験装置3の試験槽12の内部には、被試験品2を載せたパレット16を搬送するための搬送路14Aと、試験終了後に被試験品2が取り除かれた後の空のパレット16を回送するための回送路15Aとが配置されている。 - 特許庁

After that, he successively filled posts as director of Shiyaku (medical and pharmaceutical test) in the Health and Medical Bureau of the Ministry of Education and manager of both the Tokyo Shiyakujo and Osaka Shiyakujo (national medical and pharmaceutical products test laboratory organization), but retired from that work because he was prone to illness and after that, he devoted himself to literary work. 例文帳に追加

その後、文部省衛生局司薬監督、東京・大阪両司薬場長を歴任するが病気がちのために退官して、以後著述活動に専念した。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

Absorbance measurement is done twice for each test solution; one immediately after mixing a test reagent or a diluent with the sample and the other after occurring of the large scale of binding.例文帳に追加

試験溶液につき2回の吸光度測定を行い、1回は試薬/希釈剤と試料との混合直後に行い、他の1回は著量の結合が生じた後に行う。 - 特許庁

The method for evaluating a degree of awakening makes a test subject brush its teeth after applying mental stress on the test subject, and improving effect on the degree of awakening by the tooth brushing is evaluated based on the variation of event-related potentials before and after the tooth brushing.例文帳に追加

覚醒度の評価方法においては、試験参加者に精神的な負荷を与えた後に歯磨きを行わせ、該歯磨きの前後の事象関連電位の変化から、該歯磨きによる覚醒度の向上効果を評価する。 - 特許庁

After that, test patterns are mutually joined by a test pattern join means 106 after processes by an uncertain value reactivation means 104 and an uncertain value determining means 105.例文帳に追加

その後、不確定値再活性手段104、不確定値決定手段105による処理を経て、テストパタン併合手段106によってテストパタンの併合が行われる。 - 特許庁

The sweat stain suppressing fiber fabric has a water repellent agent on one side of a water absorptive fiber fabric and a discoloration rating of 3 or higher both 2 minutes after dropping of water and after drying of the dropped water in a test in accordance with the test of JIS L0853 for color fastness to water dropping.例文帳に追加

吸水性を有する繊維布帛の片面に撥水剤を有しており、JIS L0853 水滴下に対する染色堅牢度に準じた試験において、水滴下後の変退色が2分後、乾燥後とも3級以上である。 - 特許庁

This fiber-reinforced hydraulic hardened body is a hydraulic hardened body mixed with a reinforcing fiber and has 55-85% breaking ratio of reinforcing fiber in a broken-out section after a bending test after an endurance test.例文帳に追加

補強繊維が配合されてなる水硬性硬化体であって、耐久試験を施した後の曲げ試験後の破断面における補強繊維の非破断率が55〜85%である繊維補強水硬性硬化体とする。 - 特許庁

In this case, the first operation conditions are, for example, operation conditions in actual operation after a semiconductor circuit is completed, and the second operation conditions are, for example, operation conditions when performing a shipping test (in a test) after the semiconductor circuit is completed.例文帳に追加

ここで、第1の動作条件は、例えば、半導体回路完成後の実動作時の動作条件であり、第2の動作条件は、例えば、半導体回路完成後の出荷試験を行うとき(試験時)の動作条件である。 - 特許庁

Further, the correlation of a staining state after a test and the staining state in actual exposure is made large to set the coating film after test to a staining state approximate to the staining state in actual exposure.例文帳に追加

また、試験後の汚れ状態と実際の暴露における汚れ状態との相関を大きくして、試験後の塗膜を、実際の暴露における汚れ状態に近似した汚れ状態とすることができる。 - 特許庁

The test circuit 14 flows test current when a test switch 15 closes, stops the test current after elapse of a given time in case the leak detection circuit 7 does not output signals, and stops the test current before elapse of the given time in case the leak detection circuit 7 keeps on outputting signals.例文帳に追加

テスト回路14は、テストスイッチ15が閉極するとテスト電流を流し、漏電検出回路7が信号を出力していない場合には所定の時間経過後にテスト電流を停止させ、漏電検出回路7が信号を出力している場合には所定の時間が経過する前にテスト電流を停止させる。 - 特許庁

To provide an insulation test method for a solar battery module and an insulation test apparatus for testing the insulation of the solar battery module easily even in manufacturing test, construction test or after-construction test and capable of specifying any defective position in insulation for the solar battery having defective insulation at a position thereof.例文帳に追加

製造検査時、施工時、施工後のいずれにおいても、太陽電池モジュールの絶縁不良検査を容易に、確実かつ安全に行うことができ、また任意の場所で絶縁不良が発生している太陽電池モジュールにおいても、絶縁不良場所を特定することが可能な太陽電池モジュールの絶縁試験方法及び絶縁試験装置を提供する。 - 特許庁

In the house apparatus A, a CPU 21 has a function as a detecting means of detecting whether the test means 35 receives the test signal within a previously set test time after sending out the test signal, and reporting that a contact of a relay constituting the transmission line to the voice communication device 1 has abnormality when the test signal is not received.例文帳に追加

住戸機Aは、試験手段35が試験信号を送出した後、予め設定されている試験時間に試験信号を受信したか否かを検出し、試験信号を受信しなかった場合には、通話装置1との間の伝送線路を構成するリレーの接点に異常があることを通知する検出手段としての機能をCPU21に有する。 - 特許庁

When a predetermined time elapses after the test circuit 5 is brought into the test status from the usual status or when a predetermined time elapses after an overcharge detecting means 10 detects a detecting signal in the test status, a delay circuit 8 returns a delay time from the test status to the usual status.例文帳に追加

テスト回路5が通常状態からテスト状態になってから所定時間が経過した場合、または、テスト状態で過充電検出手段10が検出信号を出力してから所定時間が経過した場合、遅延回路8が遅延時間をテスト状態のときのものから通常状態のときのものに戻す。 - 特許庁

After this preparation process, a voltage input test of the existing remote monitoring controller is performed with a disconnecting switch on, while performing a test process of voltage input test of a new remote monitoring controller with the disconnecting switch off, and after the test process with the disconnecting switch off, an existing one removal process of removing wiring having their base end at the existing remote monitoring controller is performed.例文帳に追加

この準備工程の後、断路スイッチを入りにして、既設の遠方監視制御装置の電圧入力試験を実施する一方、断路スイッチを切りにして、新設の遠方監視制御装置の電圧入力試験を実施する試験工程と、試験工程の後、断路スイッチを切りにして、既設の遠方監視制御装置を基端とする配線を撤去する既設撤去工程とを実施する。 - 特許庁

A test signal is added to a spare area continuing to the end of the PCA area at a plurality of types of laser power values that are lower than the maximum value of laser power used in a recording test after carrying out the recording test in the PCA area.例文帳に追加

PCA領域にて記録テストを実行した後、前記記録テストで使用するレーザーパワーの最大値より低い複数種類のレーザーパワー値にて、前記PCA領域の終端に連続する予備エリアへテスト信号を追記するようにした。 - 特許庁

Test pattern data is generated based on this read out program data, and memory BIST is performed by comparing data read out after the test pattern data is written in a memory to be tested with expected value pattern data corresponding to the test pattern data.例文帳に追加

この読み出されたプログラムデータに基づいてテストパタンデータを生成し、被テスト対象メモリがテストパタンデータを書き込んだ後で読み出されたデータと、当該テストパタンデータに相当する期待値パタンデータとを比較することによりメモリBISTを行う。 - 特許庁

Storing a data state before and after the update of a data base as history information facilitates automatic creation of the test data creation suitable for the test case and execution of the test, regardless of the existence or nonexistence of the past input online journal and regardless of the change in data layout.例文帳に追加

データベースの更新前後のデータ状態を履歴情報として格納しておくことにより、過去の入力オンラインジャーナルの有無に関わらず、かつ、データのレイアウト変更に関わらず、テストケースに適合したテストデータ作成を自動的に生成してテストを実行することを可能にする。 - 特許庁

To provide a polishing tool capable of performing correctly semiconductor IC characteristic determination by removing effectively a solder scrap adhering to a contact pin used for a test performed in a form of a lead frame or a test after cutting the lead frame rectangularly, in an electric characteristic test of the semiconductor IC.例文帳に追加

半導体ICの電気特性試験において、リードフレームの形態で行うテストや、リードフレームを短冊状に切断した後のテストで使用するコンタクトピンに付着する半田屑などを有効に除去し、半導体IC特性判定を正しく行う事が出来る研磨冶具を提供する。 - 特許庁

Any of the plurality of capacitors and the power source corresponding thereto are selected in accordance with the content of a test performed after a test using the capacitor from among the plurality of capacitors supplying power source power to the device under test.例文帳に追加

また、複数のコンデンサのうち被試験デバイスに電源電力を供給するコンデンサを用いる試験の後に行う試験の内容に応じて、複数のコンデンサのいずれかと、複数のコンデンサのいずれかに対応する電源とを選択する、試験装置を提供する。 - 特許庁

When a print control device is commanded to print multiple copies of the same image as test printing, it generates print data of the same image as an actual print, and prints the image in a first test print run (S120-S140, S210-S230) and extracts only the outline of the image and prints the simplified image in test print runs after the first run (S170-S230).例文帳に追加

同一画像の試し刷りが複数部指示された場合に、1部目では本印刷と同一の画像により印刷データを生成して試し刷りし(S120〜S140,S210〜S230)、2部目以降では輪郭部分だけを抽出して簡素化した画像により試し刷りする(S170〜S230)。 - 特許庁

The testing equipment to be attached includes a safety device comprising a shell-like body which surrounds the test container during a test installed on a body along with the body to intercept the approach of the measuring person and is subjected to opening operation after the interruption and completion of the test to move to permit the approach of the measuring person.例文帳に追加

取り付けられる試験機器は、本体上に設置された試験中の試験容器を本体とともに囲繞し測定者の接近を遮断するとともに、試験中断及び試験終了後に開動作して移動し測定者の接近を許容する殻状体からなる安全装置を含む。 - 特許庁

To provide a test device capable of very efficiently recording log data which show the state of device and state of test, etc., before/after the time when abnormality occurs, by effectively utilizing a limited memory capacity, and to provide a recording method of the log data of the test device.例文帳に追加

限られたメモリ容量を有効に活用し、異常発生時前後の装置状態と試験状態等を示すログデータを極めて効率的に記録することが可能な試験装置と試験装置のログデータ記録方法とを提供することを目的とする。 - 特許庁

After the lapse of a desired period, a base part 28a of a concrete test piece 28 filled in the inner form 14 is broken, the concrete test piece is pulled out of the structure concrete 26 with the inner form, and the inner form 14 is removed from the concrete test piece 28.例文帳に追加

所望期間経過後内型枠14内に充填されたコンクリート試験片28の基部28aを折り、コンクリート試験片を内型枠と共に構造体コンクリート26から引き抜き、コンクリート試験片28から内型枠14を除去する。 - 特許庁

After specifying don't-care-bits as much as possible in response to a test pattern generated in relation to a combination circuit model (S12-4), a condition is assigned again to reduce the number of test conditions and the number of invalid test conditions in relation to the don't-care-bits (S12-5).例文帳に追加

組み合わせ回路モデルに対して生成したテストパターンに対して、可能な限り多くのドントケアビットを特定した後(S12−4)、ドントケアビットに対して、テスト状態数および無効テスト状態数が削減されるように状態を再割当する(S12−5)。 - 特許庁

Moreover, the inkjet printer 1 has a controller 4 which controls the belt conveying device 20 so that the test pattern and a reading surface 41 of the image sensor 40 may be opposed to each other after the test pattern is formed to the test pattern formation region.例文帳に追加

さらに、インクジェットプリンタ1は、テストパターン形成領域にテストパターンが形成された後に、テストパターンと画像センサ40の読取面41とが対向するように、ベルト搬送装置20を制御する制御装置4を有している。 - 特許庁

An inlet node 10 sets a path according to path setting protocol, specifies the set path after the path setting completes to send a test signal to an outlet node, receives the test signal sent back by the outlet node and analyze the test signal to determine whether it is normal or not.例文帳に追加

入口ノード10は、パス設定プロトコルに従って、パスを設定し、パスの設定が行われた後に、設定されたパスを指定して、試験信号を出口ノードに送信するし、出口ノードによって折り返し送信された試験信号を受信して、試験信号を解析して正常であるか判定する。 - 特許庁

When a test pattern is applied to a memory 101 after relieving processing from a test pattern generating section 105, a data input value is converted utilizing defective address information of a fail information storing section 108 in which fail information of a memory at a wafer test.例文帳に追加

テストパターン生成部105からテストパターンを救済処理後のメモリ101に印加する際に、ウエハテスト時のメモリのフェイル情報を格納したフェイル情報格納部108の不良アドレス情報を利用し、データ入力値を変換する。 - 特許庁

This ink uses a highly swelling solvent giving a test piece weight of70% after a support immersion test, and a lowly swelling solvent giving a test piece weight of70% in a lowly swelling solvent so that the rate of the latter becomes 1 to 30%, as solvents for the ink.例文帳に追加

インキの溶剤として支持体の浸漬試験後に試験片重量が70%以上となった高膨潤溶剤と、試験片重量が70%未満であった低膨潤溶剤とを、当該低膨潤溶剤の割合が1%以上30%以下となるように用いたことを特徴とする。 - 特許庁

A light receiving/emitting sensor 76 is disposed below a detection window 74, and receives light reflected from the test piece disposed opposite to the detection window after the light is projected to the test piece and measures the color tone of color development of the test piece on the basis of the intensity of the reflection light.例文帳に追加

また、検出窓74の下側には、その位置に対向して配置される試験片に光を入射し、反射した光を受光し、その反射強度から、試験片の発色の色調を計測する受発光型センサ76が配置される。 - 特許庁

When receiving a memory test pattern for a pattern input period, the flash ROM 40 latches the memory test pattern in its inside, and the latched data of memory test pattern are written in a memory cell array for a nonvolatile program period after a lapse of the pattern input period.例文帳に追加

フラッシュROM40は、メモリテストパターンをパターン入力期間に入力すると、これが内部でラッチされ、パターン入力期間経過後の不揮発性プログラム期間において、ラッチされたメモリテストパターンのデータがメモリセルアレイに書き込まれていく。 - 特許庁

To solve the problem that since a first stage gate of a test interface circuit becomes a floating state and pass-through current flows therein and state of gates on and after the next stage is made unstable, the test and evaluation of a read-data mask function at setting of test mode cannot be performed.例文帳に追加

テストインターフェイス回路の初段ゲートがフローティング状態になり貫通電流が流れ、さらに次段以降のゲートのステートが不定となるため、テストモード設定時のリードデータマスク機能の検査および評価ができない。 - 特許庁

例文

To provide a power-steering oil circulation system for a cold oil test bench, capable of preventing a power steering pump from becoming seized, in a cold test of an engine, capable of measuring delivery pressure thereof, and capable of preventing a power steering oil from being leaked, after finishing the test.例文帳に追加

エンジンのコールドテストで、パワステポンプを焼き付かせること無く、その吐出圧を計測することが出来て、しかも、テスト終了後のパワステオイルの漏出を防止することが出来るコールドテストベンチのパワステオイル循環系統の提供。 - 特許庁

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