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etching methodの部分一致の例文一覧と使い方

該当件数 : 6852



例文

The etching method comprises a step of using the periphery of a copper film 101 where a mask material 102 was formed on its surface as the atmosphere of an organic compound gas 22 and a step of anisotropically etching the copper film 101 by irradiating the copper film 101 with an oxygen ion 6 using the mask material 102 as a mask in the atmosphere of the organic compound gas 22.例文帳に追加

表面にマスク材102が形成された銅膜101の周囲を、有機化合物ガス22雰囲気とする工程と、有機化合物ガス22雰囲気中で、銅膜101に、マスク材102をマスクに用いて酸素イオン6を照射し、銅膜101を異方性エッチングする工程と、を具備する。 - 特許庁

The method comprises the steps of forming a plating resist to a metal plate as a lead for electrolytic plating, and then irradiating laser or partially etching to the metal plate of the part to be finally becoming a terminal for connecting the chip, forming a wiring pattern by the electrolytic plating, forming an insulating film on it, and removing the metal plate by etching at the end.例文帳に追加

電解メッキ用リードとしての金属板にメッキレジストを形成後、最終的にチップ接続用端子となる部分の金属板に、レーザー照射もしくは、部分エッチングを行い、電解メッキにより配線パターンを形成し、その上に絶縁膜を形成し、最後に金属板をエッチングにより除去する。 - 特許庁

A first interlayer insulating film 2 laminating a first etching stopper layer 2a, a porous first dielectric constant film 2b, a first cap layer 2c, is formed on a lower layer wiring 1, and a via-hole 4 is also formed with the dry etching method using a resist mask 3 by utilizing a fluorocarbon gas including a large amount of carbon such as C_4F_8.例文帳に追加

下層配線1上に第1エッチングストッパー層2a、多孔質の第1低誘電率膜2bおよび第1キャップ層2cの積層した第1層間絶縁膜2を形成し、C_4F_8のような炭素含有量が多いフルオロカーボンガスを用いレジストマスク3を使用したドライエッチングによりビアホール4を形成する。 - 特許庁

The method of manufacturing the flexible printed board is characterized by maintaining an oxygen concentration in an etching processing atmosphere at 2 vol.% or below in a process of forming a copper wiring pattern by performing etching processing on a copper coating layer formed at least on one surface of an insulator film without interposing an adhesive.例文帳に追加

フレキシブルプリント基板の製造方法であって、絶縁体フィルムの少なくとも片面に接着剤を介さずに形成された銅被覆層をエッチング処理して銅配線パターンを形成する工程における前記エッチング処理雰囲気の酸素濃度が、2体積%以下に維持されることを特徴とする。 - 特許庁

例文

To provide an plasma etching method by which, when a substrate having a structure in which a ferroelectric film made of an oxide is sandwiched between an upper electrode film and a lower electrode film is subjected to plasma etching, the lower electrode which is exposed as the ferroelectric film is etched more, is prevented from being etched.例文帳に追加

酸化物からなる強誘電体膜が上部電極膜及び下部電極膜によって挟まれた構造を備える基板をプラズマエッチングする場合に、強誘電体膜のエッチングが進んで露出した下部電極までエッチングされるのを防止することができるプラズマエッチング方法を提供する。 - 特許庁


例文

To provide a method for manufacturing a semiconductor device in which an emitter and a gate finger electrode having a desired thickness can be formed without requiring exact control of etching thickness in the etching of a pressure-contact IGBT having an emitter and a gate finger electrode consisting of an extremely thin metal film.例文帳に追加

極めて薄い金属膜からなるエミッタおよびゲートフィンガー電極を有する圧接型IGBTにおけるエッチングにおいて、エッチング厚さの厳密な制御を必要とすることなく、所望の厚さを有するエミッタおよびゲートフィンガー電極を形成することができる半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for uniformly etching a gate insulating film and a semiconductor substrate without damaging them and for forming a gate electrode, when regions different in etching rates are given in the same gate polysilicon film by means of introducing different concentration ions or different ion types.例文帳に追加

本発明は、異なる濃度のイオンが導入されたり、異なるイオン種が導入されることにより、同一ゲートポリシリコン膜内において、エッチングレートが異なる領域を有する場合に、ゲート絶縁膜や半導体基板にダメージを与えることなく均一にエッチングしてゲート電極を形成する方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

In the plasma etching method, a substrate W having a mask pattern formed on a surface is etched in a plasma chamber wherein a target material 30 for sputtering is installed, and plasma of an oxygen-based gas is generated in the plasma chamber in or after the etching of the substrate to ash a surface of a target material 30.例文帳に追加

本発明に係るプラズマエッチング方法は、スパッタ用のターゲット材30が設置されたプラズマチャンバ内で、表面にマスクパターンが形成された基板Wをエッチングし、基板のエッチングの途中またはエッチング後に、プラズマチャンバ内で酸素系ガスのプラズマを発生させて、ターゲット材30の表面をアッシングする。 - 特許庁

In the manufacturing method of wafer, the crystal orientation accuracy of orientation flat is improved by processing only an orientation flat end surface of ingot formed by cutting the orientation flat mechanically or wafer formed by slicing the orientation flat, in a wet-etching with an anisotropy wet-etching liquid suitable for a material of the wafer and an orientation flat direction desired to be used.例文帳に追加

本発明によるウエハの製造方法は、オリフラを機械的にカットしたインゴット又はスライスしたウエハのオリフラ端面のみをウエハの材質及び使用したいオリフラ方位に適した異方性エッチング液でウエットエッチングを行うことにより、オリフラの結晶方位精度を高くすることを特徴としている。 - 特許庁

例文

The method forms structures arranged on a substrate in a two-dimensional manner by forming a single layer by arranging spherical particles on the surface of the substrate so as to fill the surface with the spherical particles most densely using self-organization of the spherical bodies, and performing etching processing using the single layer formed of the spherical particles as an etching mask.例文帳に追加

球体の自己組織化を利用して、基板表面に球状粒子を最密に充填するように配置して単層を形成し、前記球状粒子からなる単層をエッチングマスクとしてエッチング処理を行うことにより、基板上に規則的に二次元配置した構造体を形成する方法。 - 特許庁

例文

In the manufacture of copper wiring substrate formation by a semi additive method, an etching solution containing a hydrogen peroxide of 0.1 to 10 wt.% and a phosphoric acid of 0.5 to 50 wt.% is used as an etching solution of a metal thin film layer (seed layer), whose weight ratio of a hydrogen peroxide/phosphoric acid is 0.02-0.2.例文帳に追加

セミアディティブ法における銅配線基板製造において、金属薄膜層(シード層)のエッチング液として、過酸化水素 0.1〜10重量%とリン酸 0.5〜50重量%を含有し、かつ過酸化水素/リン酸の重量比が 0.02〜0.2であるエッチング液を使用する銅配線基板製造方法。 - 特許庁

The method for straightening the warping of the ceramic plate 50 in which the warping is generated has an etching process of etching a surface 50A formed to a convex shape by the warping in the ceramic plate 50 by irradiating the surface 50A formed to the convex shape with a beam of at least either of an ion beam or neutral particle beam.例文帳に追加

反りを生じたセラミック板50の反りの矯正方法であって、セラミック板50において反りによって凸状とされている面50Aに対してイオンビーム又は中性粒子ビームの少なくとも一方のビームを照射して、凸状とされている面50Aをエッチングするエッチング工程を備える。 - 特許庁

The etching method includes a first process which arranges droplets including a thin film forming material on a substrate, a second process which dries the droplets and forms a dry film of a narrower width than a diameter of the droplets at arrangement described above, and a third process to etch using the dry film as an etching protective film.例文帳に追加

本発明は、基板上に膜形成材料を含む液滴を配置する第1工程と、前記液滴を乾燥し、前記配置時の液滴の径よりも狭い幅の乾燥膜を形成する第2工程と、前記乾燥膜をエッチング保護膜としてエッチングする第3工程と、を含むエッチング方法により、上記課題を解決する。 - 特許庁

In the method of dry-etching the silicon nitride film 103 for dry-etching the silicon nitride film 103, the silicon nitride film 103 is dry-etched with no generation of plasma by using a process gas at least containing a hydrogen fluoride gas (HF gas) and a fluorine gas (F_2 gas) for an object to be processed 100 with the silicon nitride film 103 formed.例文帳に追加

窒化珪素膜103をドライエッチングする窒化珪素膜103のドライエッチング方法であって、窒化珪素膜103が形成された被処理体100に対して、少なくともフッ化水素ガス(HFガス)とフッ素ガス(F_2ガス)とを含む処理ガスを用いて、プラズマを生成することなく、窒化珪素膜103をドライエッチングする。 - 特許庁

This method for evaluating the etching accuracy comprises forming a test pattern 2 for measuring resistance including test patterns 21-24 each with a predetermined width and a space between lines arranged in rows and columns on all over the test substrate, measuring a resistance value after etching, and assuming a finished state of a circuit pattern by converting the resistance value into the widths of the line.例文帳に追加

縦、横に配列された所定線幅および線間のテストパターン21〜24を含む抵抗測定用テストパターン2をテスト基板の全面にわたって形成し、エッチング後に抵抗値を測定し、その抵抗値を線幅に換算して回路パターンの仕上がり状態を想定しエッチング精度を評価する。 - 特許庁

This method first etches a device separation film by employing an island mask where the channel area and its adjacent device separation film are partially exposed in the etching process of the recess gate area, and then etches a semiconductor substrate to prevent silicon horns from being formed in the recess gate area and increase a margin in the etching process.例文帳に追加

リセスゲート領域の食刻工程でチャンネル領域とこれに隣接した素子分離膜を部分的に露出させるアイランド型マスクを用いて素子分離膜を先に食刻した後、半導体基板を食刻することにより、リセスゲート領域にシリコンホーンが形成されることを防止し、食刻工程のマージンを高める。 - 特許庁

To provide a method capable of etching a dielectric film at an appropriate etching rate and in good contrast while preventing damage of a base metal film and adhesion of an undesired substance to a surface of the base metal surface, in manufacture of a dielectric element having a base metal film and a dielectric film formed on the base metal film.例文帳に追加

卑金属膜及び該卑金属膜上に形成された誘電体膜を有する誘電体素子の製造において、卑金属膜の損傷、及び卑金属膜表面への不要物の付着を抑制しながら、誘電体膜を適度なエッチングレート且つ良好なコントラストでエッチングすることを可能にする方法を提供すること。 - 特許庁

The manufacturing method has steps (S101, S102) of forming etching grooves XX on boundary lines between semiconductor chips CP from the main surface of a semiconductor wafer WF, for example in a former process, and a back-grinding step (S1042) as a subsequent process of grinding the whole rear surface of the semiconductor wafer WF to the etching grooves XX.例文帳に追加

例えば、前工程プロセスにおいて、半導体ウエハWFの主面から各半導体チップCP間の境界ラインにエッチング溝XXを形成し(S101,S102)、次いで後工程となるバックグラインド工程において、半導体ウエハWFの裏面全体をエッチング溝XXに到達するまで研削する(S1042)。 - 特許庁

The manufacturing method of the semiconductor device includes a step of forming an insulation film on the semiconductor substrate, a step of dry-etching the insulation film by a dry process, and a step of removing the damaged layer occurring on the semiconductor substrate by the dry etching by thermally decomposed atomic hydrogen at a predetermined temperature.例文帳に追加

半導体装置の製造方法は、半導体基板上に絶縁膜を形成する工程と、前記絶縁膜を、ドライ工程によりエッチングする工程と、前記エッチングにより前記半導体基板上に生じたダメージ層を、熱分解した原子状の水素により、所定の温度下で除去する工程とを含む。 - 特許庁

A silicon single crystal ingot 20 which does not include COP (Crystal-Originated Particles) and dislocation clusters is grown by a CZ (Czochralski) method, a silicon wafer is cut out from the silicon single crystal ingot 20, and the silicon wafer as-grown is subjected to reactive ion etching, thus a grown-in defect including silicon oxide is actualized as a projection on an etching face.例文帳に追加

CZ法によってCOP及び転位クラスタを含まないシリコン単結晶インゴット20を育成し、シリコン単結晶インゴット20からシリコンウェーハを切り出し、as-grown状態のシリコンウェーハに対して反応性イオンエッチングを施すことにより、酸化シリコンを含むgrown-in欠陥をエッチング面上の突起として顕在化させる。 - 特許庁

To obtain a method for forming a wiring of a semiconductor device, which can resolve etching conditions at the time of wiring and suppressing a charging damage on a semiconductor device, for example, exploring a cause/ effect relationship between the etching conditions at the time of the wiring and a fluctuation in the threshold voltage of an MOS FET and, on the basis of it.例文帳に追加

配線形成の際のエッチング条件と半導体装置のチャージングダメージ、例えば配線形成の際のエッチング条件とMOSFETのしきい値電圧の変動との間の因果関係を解明し、それに基づいてチャージングダメージを抑制できる半導体装置の配線形成方法を提供する。 - 特許庁

In the manufacturing method of the magnetic recording medium 1 for successively laminating at least a magnetic film 5, the protective film 6 and the lubricating layer 7 on a non-magnetic substrate 2, before depositing a lubricant on the protective film 6 and forming the lubricating layer 7, the surface of the protective film 6 is processed by using dry etching such as plasma etching.例文帳に追加

非磁性基板2上に少なくとも磁性膜5、保護膜6および潤滑層7を順次積層する磁気記録媒体1の製造方法において、潤滑剤を保護膜6上に蒸着し潤滑層7を形成する前に、保護膜6の表面をプラズマエッチングなどのドライエッチングを用いて処理する。 - 特許庁

The method of use thereof includes a process which makes the almost plane surface of polysilicon film contact with the solution which is highly aqueous and strongly basic for a sufficient time to make etching selectively the salient or the protrusion from the surface of the almost plane polysilicon film without etching significantly the almost plane polysilicon film.例文帳に追加

その使用方法は、概ね平面であるポリシリコン膜を有意にエッチングすることなく、概ね平面であるポリシリコン膜の表面を、該水性の高い強塩基性の溶液と、概ね平面であるポリシリコン膜の表面から隆起または突起を選択的にエッチングするのに十分な時間、接触させることを含む。 - 特許庁

The method of use thereof includes a process which contacts the almost plane surface of polysilicon film with the solution which is highly aqueous and strongly basic for a sufficient time to make etching selectively the upheaval or protrusion from the surface of the almost plane polysilicon film without etching significantly the almost plane polysilicon film.例文帳に追加

その使用方法は、概ね平面であるポリシリコン膜を有意にエッチングすることなく、概ね平面であるポリシリコン膜の表面を、該水性の高い強塩基性の溶液と、概ね平面であるポリシリコン膜の表面から隆起または突起を選択的にエッチングするのに十分な時間、接触させることを含む。 - 特許庁

A method comprises subjecting a substance 32 made from a transparent glass or a quartz on which surface a metal thin film 33 is formed, and about half surface of which is covered with a mask 34 for etching, and comprises judging a degree of etching by observing an judgment pattern 37 on a test piece 15 after removing the mask 34.例文帳に追加

透明なガラスまたは石英の基体32の表面に金属薄膜33を形成するとともに、マスク34によって基体32の表面の約半分の領域を覆った状態でエッチングに供し、この後にマスク34を除去して判定パターン37を透して見ることによって、テストピース15でエッチングの度合を知る。 - 特許庁

The method for surface-treating a fluororesin molding includes: a step (S11) of applying an etching treatment to the surface to be treated of the fluororesin molding with a solution containing an alkali metal; and after the step of applying etching treatment, a step (S14) of applying a modifying treatment to the surface to be treated with a solution containing a carboxylic acid.例文帳に追加

フッ素樹脂成形体の表面処理方法は、フッ素樹脂成形体の被処理面に対し、アルカリ金属を含有する溶液でエッチング処理を施すステップ(S11)と、エッチング処理を施すステップの後に、被処理面に対し、カルボン酸を含有する溶液による改質処理を施すステップ(S14)とを有する。 - 特許庁

To solve the problem that a manufacturing margin is small and when the distance between source/drain wiring is made short, yield is lowered, in the conventional manufacturing method wherein the number of manufacturing steps is reduced by forming a semiconductor layer and source/drain wiring of a channel etching type and insulating gate type transistor are formed in one photo etching step using a halftone exposure technique.例文帳に追加

ハーフトーン露光技術を用いて1回の写真食刻工程でチャネルエッチ型の絶縁ゲート型トランジスタの半導体層とソース・ドレイン配線を形成して製造工程数を削減した従来の製造方法では製造裕度(マージン)が小さくソース・ドレイン配線間の距離が短くなると歩留が低下する。 - 特許庁

The method for improving the corrosion resistance of the copper-free plated film on a resin includes electroplating a resin-molded article while skipping a copper plating step, and subjects the resin-molded article to each treatment of: etching S1; etching neutralization S2; catalyst application S3; and conductivity impartation S4; electrolytic nickel plating; and finally chromium plating S8.例文帳に追加

樹脂成形品に銅めっきを省略して電気めっきを施す銅フリー樹脂めっきの耐食性向上方法であって、前記樹脂成形品に、エッチングS1、エッチング中和S2、触媒付与S3及び導電化S4の各処理を施し、次に樹脂成形品に電気ニッケルめっきを施し、最後にクロムめっきS8を施す。 - 特許庁

To provide a method of protecting the sides of laminated word lines during SAS etching to avoid the problem that the sides of the laminated word lines of flash memory cells are exposed during SAS etching and prevents an inter-polysilicon dielectric and a gate dielectric from being undercut to increase the data hold loss.例文帳に追加

フラッシュ・メモリ・セルの積層されたワード線の側をSAS食刻中に露呈すること生ずる問題点、ポリシリコン間誘電体及びゲート誘電体をアンダーカットし、データ保持損失の増加を生ずること、を防ぐため、SAS食刻中に、積層されたワード線の側を保護する方法を提供する。 - 特許庁

The method for manufacturing a wiring board comprises a step for partially making thin a conductive foil 20 formed on a base substrate 10 by etching, a step for patterning the conductive foil 20 by etching, and a step for forming a wiring 30 having a thin part 32 on the base substrate 10 in an area being bonded to the electrode of an electronic component.例文帳に追加

配線基板の製造方法は、ベース基板10に形成された導電箔20の一部をエッチングによって薄くすること、及び、導電箔20をエッチングによってパターニングすることを含み、ベース基板10に、電子部品の電極との接合領域に薄肉部32を有する配線30を形成することを含む。 - 特許庁

The method for manufacturing the optical module includes the steps of first etching to form at least one or more grooves on the first surface of a wafer, and second etching to form at least one or more stopper holes so that the wafer is etched so as to penetrate from the second surface of the wafer.例文帳に追加

光学モジュールの製造方法は、ウェーハの第1面に少なくとも1つ以上の溝を形成する第1エッチング段階と、前記ウェーハの第2面から前記ウェーハが貫通するようにエッチングして少なくとも1つ以上のストッパホールを形成する第2エッチング段階とを含むことを特徴とする。 - 特許庁

The method of manufacturing the semiconductor device includes: forming an etching inhibition layer 107; then forming an n-type extension region (diffusion layer) 112 and a p-type extension region (diffusion layer) 115 in a silicon substrate (semiconductor substrate) 104; and then cleaning the top surface of the silicon substrate 104 in a state where the etching inhibition layer 107 is formed.例文帳に追加

半導体装置の製造方法では、エッチング抑制層107を形成した後に、シリコン基板(半導体基板)104内にn型エクステンション領域(拡散層)112およびp型エクステンション領域(拡散層)115を形成した後、エッチング抑制層107を形成した状態でシリコン基板104の上面を洗浄する。 - 特許庁

To provide a method for circulating an etchant, which solves unevenness in an etching rate due to dispersion of a temperature of a chemical solution without upsizing or pluralizing a tank, performs a rapid and uniform stirring in a circulation tank, uniformly keeps concentration of the chemical solution in the circulation tank, and performs stable etching, and to provide the circulation tank.例文帳に追加

槽を大型、複数化することなく、薬液温度のばらつきにより発生するエッチング速度のむらを解消し、また循環槽内の撹拌を迅速且つむらなく行い槽内の薬液濃度を均一に保持し、安定したエッチングを可能にするエッチング循環方法および循環槽を提供する。 - 特許庁

In a manufacturing method of a thin film transistor, a stack in which a first conductive film, an insulating film, a semiconductor film, an impurity semiconductor film, and a second conductive film are stacked in this order is formed, and the first conductive film is exposed by first etching and a pattern of the first conductive film is formed by second etching.例文帳に追加

薄膜トランジスタの作製工程において、第1の導電膜と、絶縁膜と、半導体膜と、不純物半導体膜と第2の導電膜をこの順に積層した積層体を形成し、第1のエッチングにより第1の導電膜を露出させ、第2のエッチングにより第1の導電膜のパターンを形成する。 - 特許庁

To provide cleaning liquid for removing resist enhanced in a removing function of resist residual dross and resistance against corrosion of a copper film and an insulator film, when the resist residual dross after etching or ashing, and other etching residual dross are removed in a semiconductor manufacturing process including a copper wiring process, and a manufacturing method for a semiconductor device using the cleaning liquid.例文帳に追加

銅配線プロセス等の半導体装置製造方法工程において、エッチング後またはアッシング後のレジスト残さ物およびその他のエッチング残さ物を除去する際に、レジスト残さ物等の除去性、銅および絶縁体膜の耐腐食性が高いレジスト除去用洗浄液を提供する。 - 特許庁

The method of manufacturing the semiconductor device includes a step (oxide film formation step) of forming a silicon oxide film on a silicon substrate surface, a step (etching step) of etching the silicon oxide film to a desired film thickness, and a step (high-k film formation step) of forming the high-k film on the silicon oxide film having been etched.例文帳に追加

本発明の半導体デバイスの製造方法は、シリコン基板表面にシリコン酸化膜を形成する工程(酸化膜形成ステップ)と、シリコン酸化膜を所望膜厚だけ残してエッチングする工程(エッチングステップ)と、エッチング後のシリコン酸化膜上に高誘電体膜を形成する工程(高誘電体膜形成ステップ)とを有する。 - 特許庁

Also, as the manufacturing method, the surface of the substrate including Si is irradiated with converged Ga ions or In ions, the Ga ions or In ions are implanted while shaving the surface of the substrate, a layer including the Ga or In is formed on the surface of the substrate, and dry etching is performed using the layer including the Ga or In as an etching mask.例文帳に追加

また、その製造方法として、前記Siを含む基板の表面に集束したGaイオン又はInイオンを照射して、該基板の表面を削りながらGaイオン又はInイオンを注入し、該基板の表面にGa又はInを含む層を形成し、これをエッチングマスクとしてドライエッチングする方法を構成する。 - 特許庁

To provide a composition for etching with which enables to collectively etch a metal-stacked film including an aluminum metal film or an aluminum alloy film and a molybdenum metal film or a molybdenum alloy film formed on a substrate so that the taper angle is less than or equal to 60 degrees, and provide an etching method using the composition.例文帳に追加

基板上に形成されたアルミニウム金属膜又はアルミニウム合金膜とモリブデン金属膜又はモリブデン合金膜との金属積層膜を一括してエッチングでき、テーパー角が60度以下となるようなエッチングを行うことが可能なエッチング用組成物及びそれを用いたエッチング方法を提供する。 - 特許庁

The method of forming a circuit pattern of a printed circuit board includes (a) a step of applying an etching liquid to the portions of an insulating board where the circuit pattern is formed, (b) a step of curing the etching liquid under adjusted curing conditions, (c) a step of coating a metal ink over the etched circuit pattern, and (d) a step of sintering the metal ink.例文帳に追加

(a)絶縁基板の回路パターンの形成される部分にエッチング液を塗布する段階、(b)養生条件を調節してエッチング液を養生する(curing)段階、(c)エッチングされた回路パターンにメタルインクを塗布する段階、及び(d)メタルインクを焼成する段階を含む印刷回路基板の回路パターン形成方法。 - 特許庁

This manufacturing method is executed by forming a photoresist 35 acting as a mask so that the tip part of the upper pole is exposed after the upper pole 34 is formed so as to cover the pole chip 28 and applying anisotropic etching, in which an insulation layer 29 filling up the surrounding of the pole chip constitutes an etching stopper, thereby retreating the tip face of the upper pole from the air bearing surface.例文帳に追加

ポールチップ28を覆うように上部ポール34を形成した後、マスクとして作用するフォトレジスト35を、上部ポールの先端部分が露出するように形成し、ポールチップの周囲を埋める絶縁層29をエッチングストッパとする異方性エッチングを施して、上部ポールの先端面をエアベアリング面から後退させる。 - 特許庁

This etching method is provided with a process wherein ion implantation is performed to a nitride based compound semiconductor layer 2 to form a region 4 to be etched by deteriorating crystallinity, and a process wherein the region 4 where crystallinity is deteriorated is removed selectively with respect to a region where crystallinity is not deteriorated by wet etching.例文帳に追加

窒化物系化合物半導体層2にイオン注入を行って結晶性を悪化させることにより被エッチング領域4を形成する工程と、ウエットエッチングにより、結晶性を悪化させた被エッチング領域4を結晶性が悪化していない領域に対して選択的に除去する工程とを備えている。 - 特許庁

To provide a method of etching a silicon substrate that can make the absolute amount of metal impurities as a generation source other than the silicon substrate lower than before during etching of the silicon substrate which is important for metal impurity evaluation by high-sensitivity chemical analysis necessary for shipping a product of high quality; and to provide a method of analyzing impurities of the silicon substrate using the same.例文帳に追加

高品質な製品を出荷するために必要な高感度化学分析による金属不純物評価を行うために重要なシリコン基板のエッチングにおいて、シリコン基板以外が発生源となる金属不純物の絶対量を従来に比べて低くすることができるシリコン基板のエッチング方法と、それを利用したシリコン基板の不純物分析方法を提供する。 - 特許庁

The method includes: a step of forming an insulating film; a step of forming a conductive film on the insulating film; a step of forming a pixel electrode with an aperture by patterning the conductive film; and a step of forming the contact hole for communicating with the insulating film through the aperture by an etching method using the pixel electrode with the aperture as an etching mask.例文帳に追加

絶縁膜を成膜する工程と、絶縁膜の上に導電膜を成膜する工程と、導電膜をパターニングして開口が設けられた画素電極を形成する工程と、開口が設けられた画素電極をエッチングマスクとしてエッチング法により絶縁膜に開口と連通するコンタクトホールを形成する工程と、を有することを特徴とするTFTアレイ基板の製造方法。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing an aluminum material for an electrolytic capacitor electrode with superior etching properties for solving such a problem that the etching properties of the aluminum material, after final annealing is not sufficient owing to the inhomogeneous melting of the aluminum material surface in melting the aluminum material surface layer, by cleaning in the manufacturing method of conventional aluminum materials for electrolytic capacitors.例文帳に追加

従来の電解コンデンサ用アルミニウム材の製造法において、アルミニウム材表面層を洗浄により溶解させる際に、アルミニウム材表層の溶け方が不均質であるため最終焼鈍後のアルミニウム材のエッチング特性が不十分であるという問題点を解決し、エッチング特性に優れた電解コンデンサ電極用アルミニウム材の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a manufacturing method of an organic EL display panel and a thinning method of a glass substrate for the organic EL display panel capable of thinning the glass substrate by immersing it in an etching solution without damaging components of the organic EL display panel by the etching solution; and to provide a glass substrate for an organic EL display panel and an organic EL display using these methods.例文帳に追加

有機ELディスプレイパネルの構成部材をエッチング液によって損傷させることなく、エッチング液に浸漬してガラス基板を薄型化することが可能な有機ELディスプレイパネルの製造方法及び有機ELディスプレイパネル用ガラス基板の薄型化方法、並びにこれらの方法を使用した有機ELディスプレイパネル用ガラス基板及び有機ELディスプレイの提供。 - 特許庁

In addition to a method of manufacturing the FBAR element, there is provided a method of manufacturing the FBAR element, which is capable preventing structural drawbacks occurring in an air gap forming process due to normal wet etching, by forming a sacrificial layer 53 with a polysilicon and forming an air gap (A3) by dry etching, and which is capable of freely adjusting locations and the number of via holes.例文帳に追加

さらに、本発明は、かかるFBAR素子の製造方法ばかりでなく、犠牲層53をポリシリコンから構成しドライエッチングによりエアギャップ(A3)を形成することで通常のウェットエッチングによるエアギャップ形成工程において生じる構造的欠陥を防止できると同時に、バイアホールの形成位置及び数を自在に調節できるFBAR素子の製造方法も提供する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a semiconductor apparatus, a semiconductor manufacturing apparatus and the semiconductor apparatus, in which the roughness of a copper film surface after the etching treatment is reduced, and which can be performed in a short time and in a proper precision in few steps, in a copper film surface etching method, in which the copper film is oxidized and the oxide product is eliminated by an acid, alkali or the like.例文帳に追加

銅膜を酸化させその酸化物を酸もしくはアルカリなどで除去することにより銅膜の表面をエッチングする方法において、エッチング処理を行った後の銅膜表面が荒れてしまうことが少なく、少ない工程で短時間に精度良く行うことができる半導体装置の製造方法、半導体製造装置及び半導体装置を提供する。 - 特許庁

To prevent wiring accuracy from being lowered by etching fine wiring already, molded as well when etching a thin metal layer in semi-additive method (FAM: foil additive method) for forming fine wiring, by removing the thin metal layer on the surface of an insulating substrate after adding the thin metal layer on the surface of the substrate, and forming a wiring pattern with electric plating.例文帳に追加

絶縁基板表面に薄手の金属層を付加し、電気めっきにより配線パターンを形成後、基板表面の薄手金属層を除去して微細配線を形成するセミアデイテイブ(FAM:Foil Additive Method)工法において、薄手金属層のエッチング時に既に成形した微細配線をもエッチングして、配線精度の低下を招くことを防止する。 - 特許庁

To provide a method for forming a resist underlay film having a function as an antireflection film as well as excellent pattern transfer performance and etching resistance, and causing no bend in a pattern during transferring a fine pattern, and to provide a composition for a resist underlay film used for the above method, and a pattern forming method.例文帳に追加

反射防止膜としての機能を有するとともに、パターン転写性能及びエッチング耐性に優れ、微細化したパターンの転写時においてもパターンが曲がらないレジスト下層膜形成方法及びそれに用いるレジスト下層膜用組成物並びにパターン形成方法を提供することである。 - 特許庁

例文

To obtain an etchant which, when used in a spray method, i.e., an etching method suitable for mass-production, can strongly form a circuit wiring on an insulation board with good adhesion and can form a highly accurate, fine circuit wiring; and a production method for a suitable electronic circuit board using the same.例文帳に追加

量産向きのエッチング方法であるスプレー法に用いて回路配線を絶縁基板上に密着して強固に成膜でき、そして高精度で微細な回路配線を形成できるスプレー法用エッチング液及びそれを用いて好適な電子回路基板の製造方法を得ること。 - 特許庁




  
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