「tests」に関連した英語例文の一覧と使い方(45ページ目) - Weblio英語例文検索

The controlling part tests a recording power in a recording power test region other than a user data recording region and decides a controlling power before recording an user datum and the user datum is recorded on the user data recording region on the basis of the decided recording power.例文帳に追加

ユーザデータの記録を行なう前に、制御部は、ユーザデータ記録領域以外の記録パワーテスト領域にて、記録パワーのテストを行なって記録パワーを決定し、決定された記録パワーに基づいてユーザデータ記録領域にユーザデータの記録を行なう。 - 特許庁

In both cases where the output of the OR circuit 25 is at a low level when a high-level value is inputted as an expected value and where the output of the circuit 25 is at a high level when a low-level value is inputted as the expected value, the DC tests are judged as abnormal.例文帳に追加

期待値としてハイレベルが入力された場合にＡＮＤ回路の出力がローレベルである場合、期待値としてローレベルが入力された場合に、ＯＲ回路の出力がハイレベルである場合はＤＣテスト異常と判定される。 - 特許庁

To provide an electrical connector, in which continuity tests can be carried out in both cases, when a retainer is at a temporary locking position enabling the contact to be inserted into a housing, and when the retainer is at the final locking position ensuring prevention of the falling out of the contact.例文帳に追加

リテーナがコンタクトのハウジングへの挿入を可能とする仮係止位置にある場合と、コンタクトの抜け止めを保証する本係止位置にある場合のいずれの場合でも、導通検査を行なうことができる電気コネクタを提供する。 - 特許庁

For example, a memory circuit MEM such as a multi-port RAM and a BIST circuit (BIST[A],[B]) performing tests of each port PO[A], PO[B] of the MEM are provided, pointers PNT0[A] to PNT3[A], PNT0[B] to PNT3[B] are provided corresponding to PO[A], PO[B].例文帳に追加

例えば、マルチポートＲＡＭ等の記憶回路ＭＥＭと、ＭＥＭの各ポートＰＯ［Ａ］，ＰＯ［Ｂ］のテストを行うＢＩＳＴ回路（ＢＩＳＴ［Ａ］，［Ｂ］）を設け、ＰＯ［Ａ］，ＰＯ［Ｂ］に対応してポインタＰＮＴ０［Ａ］〜ＰＮＴ３［Ａ］，ＰＮＴ０［Ｂ］〜ＰＮＴ３［Ｂ］を設ける。 - 特許庁

Once internal controls are placed in operation, IT controls continue functioning in a consistent manner until the time when a change or error occurs. Therefore, operation tests can be conducted based on the policies shown in Table 5-2. (⇒ II 3 (3) 5 D c, Practice Standards) 例文帳に追加

IT 統制は、一度内部統制が設定されると、変更やエラーが発生しない限り一貫して機能するという性質がある。したがって、付録図表５－２のような方針に基づき運用テストを実施することができる⇒（実施基準Ⅱ．３（３）⑤ニｃ）。 - 経済産業省

Since September 2005, the JAEA, which is the licensee of reactor operation, implemented the remedial work to cope with the sodium leakage (completed the work in May 2007), and conducted tests to confirm the validity of the work, the functions and performance of the plant.例文帳に追加

原子炉設置者である日本原子力研究開発機構（JAEA）においては、2005年9月からナトリウム漏えい対策工事（2007年5月に完了）を実施するとともに、当該工事の確認やプラントの機能・性能を確認するための試験を実施した。 - 経済産業省

2-2) Positive results in Mutagenicity tests in germ cells using mammals (chromosome aberration test using mammalian spermatogonia, micronucleus test using mammalian sperm cells, gene mutation test in germ cells using transgenic mice/rats, etc.)例文帳に追加

2-2）ほ乳類を用いる生殖細胞の変異原性試験（ほ乳類精原細胞を用いる染色体異常試験、ほ乳類精細胞を用いる小核試験、トランスジェニックマウス/ラットを用いる生殖細胞の遺伝子突然変異試験など）での陽性結果 - 経済産業省

In 1954 a JNR C62 steam locomotive ran on Kisogawa Bridge on the Tokaido trunk line at a speed of 129 km/h, which was 'a speed record of steam locomotives on the narrow gauge railroad,' however, this record was made in the process of a series of speed tests to see if an old-type truss bridge called a pin jointed truss could stand high-speed driving in the coming age of electric trains under an atypical situation that the tests were performed on the C62 steam locomotive alone from various limitations. 例文帳に追加

国鉄C62形蒸気機関車は1954年に東海道本線木曽川橋梁上で129km/hという「狭軌鉄道における蒸気機関車の速度記録」を樹立したが、この記録はピン結合トラスと呼ばれる古いタイプのトラス橋が来るべき電車時代に高速運転に耐え得るか否かを調査する目的で行われた、一連の速度試験の過程より得られたもので、さまざまな制約からC62形単機での試験が実施されるという、特殊な状況下で成立したものであった。 - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

In the injection device 8 a flying object 10 is mounted in sabot, and a sabot retainer and a vent hole are provided at an end of a muzzle 11 so as to block injection gas in the muzzle 11 for preventing the soil in a soil tank 6 for tests from blowing off.例文帳に追加

上記の射出装置８は、飛翔体１０をサボー１８に装着して装填するとともに、銃口１１先端部にサボー受け２２と、ガス抜き孔２５を設けて、銃口１１内の噴射ガスをブロックし、実験土槽６の土６’が吹き飛ばないように構成する。 - 特許庁

An external memory BIST 21, which tests a nonvolatile semiconductor memory which is an external memory, is provided with a bad block address management table having a function which monitors block addresses, stores bad block addresses and perform test control in a test of nonvolatile semiconductor memory 4.例文帳に追加

外部メモリである不揮発性半導体メモリをテストする外部メモリＢＩＳＴ２１には、不揮発性半導体メモリ４のテストにおいて、ブロックアドレスの監視、バッドブロックアドレスの格納、ならびにテスト制御などの機能を有するバッドブロックアドレス管理テーブルが設けられている。 - 特許庁

By posing negative pressure at frequency corresponding to rainfall the enclosure experiences, from the air leak testing arrangement 20, and, after that, by implementing air leak tests of the enclosure 10 with the air leak testing arrangement 20, thus pass or fail of waterproof function is checked from the result.例文帳に追加

そして、エアリーク試験装置２０から密閉筐体１０が遭遇する降雨回数に対応する回数の負圧を加え、その後に密閉筐体１０のエアリーク試験をエアリーク試験装置２０により実行して、その結果により防水機能の合否を確認する。 - 特許庁

The display makes identification conditions, the (n) kinds of molding conditions, the set values corresponding to the (n) kinds of molding conditions, and (m) kinds of statistical values one molding condition setting data and indicates a plurality of molding condition setting data portions corresponding to a plurality of the molding tests.例文帳に追加

ディスプレイは、識別条件、ｎ種の成形条件、ｎ種の成形条件に対応する複数の設定値、ｍ種の統計値を１つの成形条件出しデータとして、複数の成形テストに対応する複数の成形条件出しデータ分を表示する。 - 特許庁

To provide a controller with a memory test function and a computer mounted with the controller for normally maintaining picture display on the display monitor of the computer, and for easily and precisely performing memory tests in all the regions of a main memory mounted on the computer.例文帳に追加

本発明は、メモリ試験機能付きコントローラおよび該コントローラが搭載されたコンピュータに関し、コンピュータの表示モニタへの画面表示を正常に維持して、コンピュータに実装された状態のメインメモリの全領域を容易且つ詳細にメモリ試験することを目的とする。 - 特許庁

To provide a test in particular for the sensitivity of bacteria to an antibiotic or a biostatic agent, a test to assess the growth stage of the bacteria and the health state, and to provide methods of carrying out these tests and kits for achieving them.例文帳に追加

特に抗生物質又は生物静力学的薬剤に対する細菌の感受性についての試験、及び細菌の増殖段階及び健康状態を判定するための試験、これら試験を実行する方法及びそれらを達成するキットを提供すること。 - 特許庁

A test tool 10 tests the scenario for successively performing the plurality of APIs.例文帳に追加

複数のＡＰＩを順次実行するシナリオをテストするテストツール１０において、ＡＰＩテスト制御部１２０は、ＡＰＩの実行に伴って、ＡＰＩ順序登録部１５０を介して複数のＡＰＩの実行順序を表す順序データ及び入出力データをテスト情報データベース１１０に記憶する。 - 特許庁

By applying the individual external power supply terminal of an LSI chip to be tested with a 0 V and maintaining the individual external power supply terminal of the other LSI chip in an open state to measure the characteristics of the power supply-side protective diode, connection tests on the common external terminals are performed.例文帳に追加

テストを行う側のＬＳＩチップの個別外部電源端子に０Ｖを印加し、他方のＬＳＩチップの個別外部電源端子はオープン状態として、電源側保護ダイオードの特性を測定することにより、共通外部端子の接続試験を行う。 - 特許庁

The management part 5 of the server 1 totalizes answers with respect to the questions of questionnaires/tests and retrieves supplementary materials conforming to a prescribed condition from the material DB 6 based on the totalized data to distribute the materials to respective participant's terminals 3-1 to 3-n via a network.例文帳に追加

サーバ１の管理部５では、アンケート／テストの設問に対する回答を集計し、該集計データに基づいて、所定の条件に合致する補足資料を講義ＤＢ６から検索し、ネットワークを介して各参加者端末３−１〜３−ｎに配信する。 - 特許庁

To conduct tests continuously for reduction in testing time by identifying a dummy test signal at the time of operational test of an electronic circuit breaker formed so as to incorporate energization heat history properties into overcurrent tripping properties, thereby temporarily releasing the energization heat history properties.例文帳に追加

過電流引外し特性に通電熱履歴特性を取り入れるようにした電子式回路遮断器の動作テスト時に擬似テスト信号であることを検知して一時的に通電熱履歴特性を解除して、連続テストを可能してテスト時間の短縮をはかる。 - 特許庁

To provide a material testing apparatus, which can apply sufficient load to micro test specimen collected from an actual machine structure while conducting tests with high accuracy, and has a size-reducible mechanism so that the collected test specimen can be tested on site.例文帳に追加

実機構造物において採取した微小な供試体に対して、高精度に試験することができながら十分な荷重を負荷でき、供試体を採取した現地で試験が行えるように小型化できる機構を有する材料試験機を提供すること。 - 特許庁

To provide a means for analyzing a stress distribution in a cellular structure caused by its internal temperature distribution and external pressure, which can be realized by using a general-purpose computer software and a hardware, without carrying out simulation tests nor investing a large amount of money.例文帳に追加

模擬の試験によらないで、高額な投資を伴うことなく、汎用のコンピュータソフトウエア及びハードウエアの利用によって、実現することが可能な、セル構造体の内部温度分布乃至外部圧力に対する応力分布の解析手段を提供すること。 - 特許庁

To provide a droplet discharge apparatus having a coordinate precision confirming device capable of previously grasping the precision of discharging a droplet to a work and capable of shortening the adjustment time of the apparatus by reducing the practical discharge tests of the droplet to the work.例文帳に追加

あらかじめワークに対して液滴を吐出する精度の把握をすることができ、実際のワークに対する液滴の吐出実験を減らして装置の調整期間を短縮することができる座標精度確認装置を有する液滴吐出装置を提供すること。 - 特許庁

To obtain a device for inspecting the sealed state of a connected pipe joint capable of obtaining reliable test results by speedily supplying and discharging water from a test band for testing the sealed state of the sealed part of the pipe joint and performing pressure-proof tests by a manual pressurization.例文帳に追加

接続した管継手のシール部のシール性を試験するためのテストバンドへの給排水を迅速に行ない、しかも耐圧試験は手動加圧とすることにより確実な試験結果の得られる管継手の密閉性検査装置を得ることを課題とする。 - 特許庁

To provide an apparatus and a test method for conducting wear tests in a point-contact state at a constantly stable revolution speed and contact position without being affected by the material or the surface conditions of a specimen, test conditions, etc. which is capable of evaluating wear resistance with high repeatability.例文帳に追加

試験片の材質、表面状態、または試験条件等に影響されず、点接触状態において、常に安定した回転数及び接触位置で摩耗試験を行い、再現性の高い耐摩耗性を評価する装置及び試験方法を提供する。 - 特許庁

To provide a salty taste enhancing agent to effectively enhance salty taste of foods and drinks and, consequently, reduce addition amount of sodium chloride, and to provide a method for easily and efficiently select the salty taste enhancing agent based on a clear index without using sensory evaluation tests.例文帳に追加

飲食物の塩味を効果的に増強させて、結果的に塩化ナトリウム添加量を削減することができる塩味増強剤、及び、該塩味増強剤を、官能試験に依らず明確な指標で容易且つ効率的に選抜する方法を提供する。 - 特許庁

To provide a load testing machine for performing a plurality of tests, such as a test for simultaneously applying loads of a plurality of weights to a test object and a test for applying a load to the test object while increasing the load in steps, without requiring any attachment/detachment of a dedicated tool.例文帳に追加

被試験物に複数の分銅の荷重を同時に負荷する試験、被試験物に荷重を段階的に増加させて負荷する試験等複数の試験を専用の治具の着脱を要することなく行うことができる荷重試験機を提供する。 - 特許庁

To provide an apparatus and a method for inspecting an electronic element, which can easily determine small-scale defects such as short circuits without the need of providing an electronic element characteristic inspection apparatus that tests characteristics of an electronic element in an energized state.例文帳に追加

電子素子を検査する場合、通電状態で特性を試験する電子素子の特性検査装置を設ける必要がなく、また、短絡等の小規模の不良を判定することが容易である電子素子の検査装置および検査方法を提供することを目的とする。 - 特許庁

A subject 40 is made to carry out the exercise tests to perform pedaling motion to the state corresponding to the exhaustion repetitively a plurality of times while the load torque is changed in the state that the specified load torque is imparted to the subject 40 by a bicycle ergometer 10.例文帳に追加

自転車エルゴメータ１０により被験者４０に対して一定の負荷トルクを与えた状態で被験者４０が疲労困憊に相当する状態に至るまでペダリング運動を行わせる運動テストを、負荷トルクを変えながら複数回繰り返して行う。 - 特許庁

To provide a means for judging whether inspection is properly performed by utilizing the measured value in a reaction process and to prevent the oversight of an item showing abnormal reaction even during tests performed several thousand times-tens of thousands times per day.例文帳に追加

本発明は反応過程における測定値を利用して、検査が適切に行われたか否かを判定する手段を提供し、１日に数千から数万テストが計測される中においても異常反応をしめす項目の見落しを防止することを目的とする。 - 特許庁

By individually allotting the signal pins T1, T2, T5, and T6 of the LSI tester to the power source terminals D2 and D10 and GND terminals D4 and D8 of the DUT, continuity tests of the power terminals D2 and D10 and GND terminals D4 and D8 of the DUT are performed for every one pin.例文帳に追加

ＤＵＴの電源端子Ｄ2，Ｄ10及びＧＮＤ端子Ｄ4，Ｄ8にＬＳＩテスタの信号ピンＴ1，Ｔ2，Ｔ5，Ｔ6が別々に割り当てられることによって、ＤＵＴの電源端子Ｄ2，Ｄ10及びＧＮＤ端子Ｄ4，Ｄ8の導通試験が１ピン毎に実施する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit device in which the device is constituted of a BIST circuit without changing its constitution, a decision on the result of target address access time performance and a decision on conventional function tests are simultaneously performed without providing needless external terminals.例文帳に追加

ＢＩＳＴ回路の構成を変更せずにそのままの構成にし、かつ余分な外部端子を設けずに目標アドレスアクセスタイム性能の合否判定を、従来の機能テスト判定と同時に判定させるようにした半導体集積回路装置を提供する。 - 特許庁

To provide an engine control device, in which burdens of conformance test work requiring the huge numbers of tests and map preparation work are reduced and controllability of simultaneous matching of a plurality of sorts of engine output values with request values is improved.例文帳に追加

膨大な試験点数を要する適合試験作業及びマップ作成作業の負担軽減を図るとともに、複数種類のエンジン出力値を同時に要求値に一致させることに対する制御性向上を図ったエンジン制御装置を提供する。 - 特許庁

Combinations of command values of the plurality of sorts of controlled variables with respect to the target values of the plurality of sorts of combustion parameters are calculated by the controlled variables arithmetic expression 32, so that the burden of conformance test work requring the huge number of tests is reduced.例文帳に追加

したがって、制御量演算式３２を用いて、複数種類の燃焼パラメータの目標値に対する複数種類の制御量の指令値の組み合わせを算出できるので、膨大な試験点数を要する適合試験作業の負担を軽減できる。 - 特許庁

Further, the burn-in testing can be efficiently performed by automatically determining the result of the burn-in tests of both of the logic circuit 403 and the hard macro 402.例文帳に追加

スキャンテストを用いたロジック回路４０３のバーンインテストと同時にハードマクロ４０２のバーンインテストをＢＩＳＴ回路４０１を用いて行い、また、ロジック回路４０３およびハードマクロ４０２のバーンインテストの結果を自動判定することにより、効率的にバーンインテストを行うことができる。 - 特許庁

To provide a sheet-like probe and manufacturing method thereof capable of achieving stable connecting conditions to even circuit devices including minute and fine pitched electrodes and preventing positional deviation between an electrode constructing body and a test electrode caused from temperature variation in burn-in tests.例文帳に追加

微小で微細ピッチな電極を有する回路装置にも安定な接続状態が達成され、バーンイン試験において温度変化による電極構造体と被検査電極との位置ずれが確実に防止されるシート状プローブおよびその製造方法を提供する。 - 特許庁

The testing device includes an input terminal IN, an output terminal OUT, and a control terminal CTRL, and tests a semiconductor device 1 including operation in which the output terminal is in a high impedance state based on a control signal applied on the control terminal CTRL.例文帳に追加

試験装置は、入力端子ＩＮ、出力端子ＯＵＴおよび制御端子ＣＴＲＬを含み、制御端子ＣＴＲＬに印加された制御信号に基づき出力端子がハイインピーダンス状態となる動作を含む半導体装置１を試験する。 - 特許庁

The semiconductor testing apparatus 1 is provided with a controller 11, a converter 12, and a pin electronics section 13 which functions as an interface to a DUT 40 and tests the DUT 40, on the basis of signals obtained by applying test signals to the DUT 40.例文帳に追加

半導体試験装置１は、制御装置１１、変換装置１２、及びＤＵＴ４０に対するインターフェイスとして機能するピンエレクトロニクス部１３を備えており、ＤＵＴ４０に試験信号を印加して得られる信号に基づいてＤＵＴ４０の試験を行う。 - 特許庁

To enable the use of elements in a spare region as spare elements after verification of a semiconductor testing apparatus, by electrically providing defective elements, without physically destroying the elements, in a semiconductor device for verifying a semiconductor testing apparatus that tests the semiconductor device.例文帳に追加

半導体装置を試験する半導体試験装置を検証するための半導体装置において、素子を物理的に破壊せずに電気的に不良素子を設け半導体試験装置の検証後スペア領域の素子をスペア素子として使用することができるようにする。 - 特許庁

To provide a blood clinical testing device for performing blood coagulation test, biochemical test, or immune serum test capable of speedily heating specimens and reagents housed in reaction containers to a reaction temperature and further efficiently perfuming tests.例文帳に追加

血液の凝固検査、生化学検査あるいは免疫血清検査を行う臨床検査装置であって、反応容器に収容した検体および試薬を反応温度まで迅速に加温でき、一層効率的に検査を実施し得る血液の臨床検査装置を提供する。 - 特許庁

(1) Applications for which no filings were previously made outside the Kingdom shall be tested by the Directorate or by any national or foreign institution specified by the Directorate, in accordance with" UPO Guidelines for the Conduct of Tests for Distinctness, Uniformity an Stability".例文帳に追加

1. 以前王国外でなされたことのない出願は，「識別性，均一性及び安定性についてのテストを行うための植物新品種保護国際同盟ガイドライン」に従って，局又は局により指定された王国の又は外国の機関によりテストされる。 - 特許庁

The circuit scale of the logic circuit 2 is reduced thereby, and the number of input signals to a semiconductor device 1 is thereby reduced in the burn-in test, to allow the burn-in tests for both the logic circuit 2 and the DRAM 3 to be carried out concurrently.例文帳に追加

従って、ロジック回路２の回路規模が縮小されるとともに、バーンイン試験時における半導体装置１に対する入力信号の数が減少して、ロジック回路２とＤＲＡＭ３の双方に対するバーンイン試験を同時に行うことが可能となる。 - 特許庁

To provide an ultrasonic diagnostic apparatus for detecting a failure or abnormality of hardware in a period shorter than a diagnostic cycle by the ultrasonic diagnostic apparatus itself detecting a state that self-diagnosis is executable to execute tests successively even in an activation state of the apparatus.例文帳に追加

装置を起動している状態でも、超音波診断装置自体が自己診断を実行可能な状態を検知しテストを逐次実行することで、診断周期よりも短い期間で、ハードウェアの故障や異常を検出する超音波診断装置を提供する。 - 特許庁

A device 8 which injects a flying object 10 (a sample projectile) by gas pressure is attached to an arm 3 of a centrifugal force load device so as to shoot the flying object 10 for a soil tank 6 for tests on a swing platform 4a substantially horizontally inclined outward in loading a centrifugal force.例文帳に追加

遠心力載荷装置のアーム３に飛翔体１０（モデル弾）をガス圧にて射出する装置８を取り付け、該飛翔体１０を、遠心力付加時の外方へ略水平に傾斜したスウィングプラットホーム４ａ上の実験土槽６に向けて撃ち込むようにする。 - 特許庁

To provide a method for making efficient a huge screening step in a drug development process, although in the development of a therapeutic agent of a neurodegenerative disease which is considered as associating with a complex action mechanism, it is considered that the huger screening tests are required.例文帳に追加

複雑な作用メカニズムが関与すると考えられる神経変性疾患治療薬の開発には、より膨大なスクリーニング試験が必要と考えられるが、本発明の方法は、この創薬過程における膨大なスクリーニング工程を効率化するものである。 - 特許庁

The tufted carpet is given excellent flame-retardance corresponding to combustion tests for various purposes by impregnating a basic fabric 2 with flame retardant in advance in the processing of the tufted carpet, before piles 3 are implanted in the basic fabric 2 and a liner layer 5 is stacked on the rear surface.例文帳に追加

タフテッドカーペットを製造する工程、基布２にパイル３を植設、及び裏面に裏貼層５を積層する前に、基布２に予め難燃剤を含浸させることにより、タフテッドカーペットに優れた、各種用途の燃焼試験に対応した難燃性を付与する。 - 特許庁

Also, the contents of change of the design documents showing the relation between the contents of the tests and troubles, the troubles, and the contents of the design for products thereby and test documents and program are managed in association with each other in the test stages of the development of the software.例文帳に追加

また、ソフトウェア開発の試験段階において試験内容と障害の関係及び障害とそれによる生産物となる設計内容を示す設計ドキュメント、試験内容を示す試験ドキュメント及びプログラムの変更内容を連携して管理する。 - 特許庁