DEFECTIVEを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 10571件
A defective recording inspection section 8 extracts, from the image acquired by the image acquisition section 7, a pixel of which the luminance value is higher than those of peripheral pixels in a main scanning direction which is parallel to an arrangement direction of nozzles in a recording section 6, and thereby the defective recording inspection section 8 detects presence or absence of defective recording in the image on the basis of the inspection result.例文帳に追加
記録不良検査部8は、画像取得部7によって取得された画像を記録部6のノズルの配列方向に平行な方向である主走査方向に周辺画素より輝度値が高い画素を抽出し、この結果に基づいて画像の記録不良の有無を検出する。 - 特許庁
Accordingly, since the front mother substrate is separated into two front substrates, and the protective layer is formed only for the front substrate screened as the non-defective unit, even if a defective front substrate exists in the front mother substrate, superposing work of the defective substrate is not executed.例文帳に追加
このため、前面マザー基板を2枚の前面基板に分断して、良品として選別された前面基板のみに対して、保護層を形成するので、前面マザー基板に不良となる前面基板が存在していたとしても、この不良の前面基板の重ね合わせ作業を実施することがない。 - 特許庁
By conducting burn-in, a defect address of the semiconductor device in which a defect is generated is accessed continuously, when the defective semiconductor is generated, and a defective portion of the defective semiconductor device is specified based on a surface temperature distribution of the semiconductor device measured by the infrared sensor 1b.例文帳に追加
さらに、バーンインを行うことにより、不良半導体が発生したとき、不良が発生した半導体装置の不良アドレスを連続的にアクセスし、前記赤外線センサ1bより測定された上記半導体装置の表面温度分布から不良半導体装置の不良箇所を特定する。 - 特許庁
The operator who repairs the substrate PB at a repair station 4 determines whether the defective part N is a true defective part N, based on the image of the defective part N displayed by the image display unit 6, and inputs a determined result through an input unit 7.例文帳に追加
修理ステーション4で基板PBの修理作業を行う作業者は、画像表示器6に表示された不良箇所Nの画像に基づいて、その不良箇所Nが真の不良箇所Nであるか否かの判断を行い、その判断結果の入力を入力器7より行う。 - 特許庁
Defective addresses are written in four groups of cell rows to be arranged corresponding to each permutation decision part 3100.1-3100.6 only when a defective memory cell is found which differing in address from at least either of the line address and row address of a defective memory cell which has already been stored.例文帳に追加
各置換判定部3100.1〜3100.6に対応して設けられる4組の記憶セル列には、すでに記憶している不良メモリセルの行または列アドレスの少なくとも1方と異なるアドレスの不良メモリセルが発見された時にのみ、不良アドレスが書きこまれる。 - 特許庁
If the vicinity of the defective pixel is determined as colored, pre-interpolation is used (S104), while if determined as colorless, an image signal of another color component is used to generate an output image signal of the defective pixel so that an image at a position of the defective pixel becomes colorless (S105).例文帳に追加
欠陥画素近傍が有彩色と判定されたときは前置補間で(S104)、無彩色と判定されたときは他の色成分の画像信号を用いて欠陥画素位置の画像が無彩色になるように(S105)、夫々欠陥画素の出力画像信号を生成する。 - 特許庁
To replace a defective label of a plurality of IC labels peelably stuck on a web release paper mount side by side and conveyed with a good label without separately providing a conveyance route, and to replace a defective product with a good product when the replaced good label is the defective product.例文帳に追加
ウェブ状の剥離台紙に並んで剥離可能に貼着されて搬送される複数のICラベルのうち不良ラベルを、別途搬送経路を設けることなく良品ラベルに貼り替えることができるとともに、貼り替えた良品ラベルが不良品である場合に良品に貼り替える。 - 特許庁
The defective product ejecting system is provided with a detecting means 2 for detecting the defective product, an ejecting means 3 for ejecting a prescribed number of products containing the defective product detected by the detecting means 2 as ejecting products and a marking means 4 for affixing marks showing ejection order onto the ejected products ejected by the ejecting means 3.例文帳に追加
不良品を検知する検知手段2と、検知手段2で検知された不良品を含む所定数の製品を排出品として排出する排出手段3と、排出手段3で排出さた排出品に排出順位を示す符号を付するマーキング手段4とを備えている。 - 特許庁
Side surface inspection parts of a plurality of selected non-defective containers B are imaged substantially in the same condition as that of inspection of the side surface part of an inspection object container BK, and fetched as non-defective image data, and the non-defective image data are processed to preset a luminance threshold for each pixel of the side surface inspection part.例文帳に追加
選定した複数の良品容器Bの側面検査部を、被検査容器BKの側面部の検査と略同じ条件で撮像して良品画像データとして取込み、前記良品画像データをデータ処理して側面検査部の各画素の輝度閾値を予め設定する。 - 特許庁
To provide a defective marking apparatus capable of detecting defects of long, sheet-like products being transferred in a length direction by an inspection device, marking detected defective parts without damaging the sheet-like products, and easily removing or repairing the defective parts in after processes.例文帳に追加
長さ方向に搬送される長尺のシート状製品の欠陥を検査装置により検出し、検出された欠陥部分にシート状製品に損傷を与えることなくマーキングを施し、後工程において容易に欠陥部分の除去又は補修をすることができる欠陥マーキング装置を提供する。 - 特許庁
The information recording device includes an initialization processing section 1072 which, during the physical reformatting of the information recording medium, while maintaining at least the defect location information among the defective management information, rewrites the defective status information with attribute indicating that the defective area has been physically reformatted.例文帳に追加
情報記録装置は、情報記録媒体の物理再フォーマット時に、欠陥管理情報のうち少なくとも欠陥位置情報を維持する一方、欠陥状態情報を、当該欠陥領域に対して物理再フォーマットを行った旨を示す属性に書き換える初期化処理部1072を備える。 - 特許庁
The technique for removing the defective thread comprises holding the terminal part of the defective thread at the opposite side of the thread-feeding part by a pneumatic weft thread-holding device which holds the terminal parts of one or more of beaten weft threads by sucking, at the initial time of removal operation of the defective thread.例文帳に追加
不良糸除去技術は、不良糸の反給糸側端部を、その不良糸の少なくとも初期除去作業時に、筬打ちされた1以上の緯糸の反給糸側端部を吸引によって保持する空気式の緯糸端保持装置に保持させることを特徴とする。 - 特許庁
A domain, where the inclination α of the intensity distribution of the power spectrum in each inspection domain expressed numerically lying within a prescribed range, is extracted as a defective domain, each extracted defective domain is integrated, the magnitude of the defective domain is calculated, and determination is performed (step 107-109).例文帳に追加
数値化された各検査領域におけるパワースペクトラムの強度分布の傾きαが所定の範囲内に収まる領域を欠陥領域として抽出し、抽出した欠陥領域を統合して欠陥領域の大きさを算出して判定を行う(ステップ107〜109) - 特許庁
When the defective sector is detected by the error detecting part 21, a log generating part 22 generates priority of log register decided conforming to LBA for discriminating the defective sector and a detecting method of the defective sector in the detecting part 19 as the log to be registered.例文帳に追加
エラー検出部21により不良セクタが検出されると、ログ生成部22は、不良セクタを識別するためのLBA及び検出部19における不良セクタの検出方法にしたがって決定されるログ登録の優先度を登録すべきログとして生成する。 - 特許庁
A liquid drop 505 containing a non-conductive material is injected in the defective part 503 of the electrode layer 502 that is formed on a transparent substrate 501, and by heating and evaporating the solvent of the liquid drop entered in the defective part 503, the non-conductive membrane is formed, and thereby, the defective part is filled.例文帳に追加
透明基板501上に形成された電極層502の欠陥部503に、非導電性材料を含有する液滴505を吐出し、欠陥部503に入り込んだ液滴の溶媒を加熱蒸発させ、非導電性膜を形成し、欠陥部を充填することを特徴とする。 - 特許庁
When data contents of both the data differ from each other in spite of the same data name and the same generated data and time, the data processing apparatus 2 determines that the data a1 are defective and overwrites the data c2 on the defective data a1 automatically or a manual operation of a user to recover defective data inside the memory card 1.例文帳に追加
ここで、同一データ名、同一作成日時でデータ内容が異なる場合に、データ処理装置2は、データa1が破損していると判断し、自動または手動でデータc2を破損したデータa1に上書きして、メモリカード1内部のデータの破損を修復する。 - 特許庁
Then, the image of the defective place is displayed on the display 320 to receive the visual judgment of quality while, in the case where the defective place is not judged by its image, the image of the defective place is newly acquired by the second camera 315 and the visual judgment of quality is received on the basis of the new image.例文帳に追加
そして、不良箇所の画像をディスプレイ320に表示させて、目視による良否判定を受け付ける一方、その画像で判定できない場合は、その不良箇所における画像を新たに第二カメラ315で取得し、新たな画像に基づいて目視による良否の判定を受け付ける。 - 特許庁
This method changes an irradiation intensity of a laser beam depending on a laser beam permeability of a comparing/referring resin in the vicinity of a defective part including a pixel corresponding to a substrate of the defective part, or adjusts a focal depth by changing a lens magnification of a laser beam irradiation system depending on the height of the defective part.例文帳に追加
欠陥部の下地に相当する画素を含む欠陥部近傍の比較参照樹脂のレーザ光透過率に応じて、レーザ光の照射強度を変更する、あるいは、欠陥部の高さに応じて、レーザ光照射系のレンズ倍率を変えて焦点深度を調整する。 - 特許庁
A defect correcting device applying the correction material to the defective point of a panel substrate to correct the defective point is provided with an application head for applying the correction material to the defective point and a shielding mechanism inserting a shielding member between the application head and the panel substrate so that the shielding member can be retreated.例文帳に追加
パネル基板の欠陥箇所に修正材料を塗布して修正する修正装置において、修正材料を欠陥箇所へ塗布するための塗布ヘッドと、塗布ヘッドとパネル基板との間に遮蔽部材を退避可能に挿入する遮蔽機構を備えることを特徴とする。 - 特許庁
To inspect an inspection-desired defective to enhance the inspection reliability, by receiving, from an imaging device, only a light component of bringing a defective shape into relief through a feature on a surface of an inspection object, in the defective, out of the light components incident multi-angularly.例文帳に追加
多角度から入射される光の成分のうち、不良を検査対象物の表面上の特徴を通じて不良形状が浮き彫りにされる光の成分のみを撮像装置から受け入れて、所望する不良を検査して検査信頼性を高めるための光学検査システムを提供すること。 - 特許庁
To provide a monitor control system in a radio communication system for detecting such a sign that defective information is frequently generated, and for setting short a polling interval before defective information is actually generated, and for setting long the polling interval when such a fear that the defective information is frequently generated is decreased.例文帳に追加
障害情報が多発する兆候を検知し、実際に障害情報が多発する前にポーリング間隔を短く設定でき、障害情報が多発する恐れが低下した場合にはポーリング間隔を長く設定できるようにした無線通信システムにおける監視制御方式を提供する。 - 特許庁
The improvement of the productivity is obtained and the lowering of yield by the defective shape is prevented even if the shape is deformed with the first stand because the defective shape is straightened with the leveler 6 by the second stand 2 and the sheets pass without hindrance by the defective shape.例文帳に追加
第1スタンド1で形状が乱れたとしても第2スタンド2までにレベラー6で形状不良が矯正されるので、形状不良により通板が阻害されることはなく、生産性の向上を図ることができ、また形状不良による歩留り低下を防ぐことができる。 - 特許庁
When data recorded in a series of sectors including a defective sector are read, data of the defective sector are also read out to a buffer memory and appropriate data among the data corresponding to the plurality of defective sectors and recorded in the alternate tracks are successively read out to shorten seek time and rotational delay time.例文帳に追加
欠陥セクタを含む一連のセクタに記録されたデータをリードする場合、欠陥セクタのデータをもバッファメモリに読み出し、続けて交替トラックに記録された複数の欠陥セクタ対応データの中から適切なデータを読み出すことによりシーク時間+回転待ち時間を短縮する。 - 特許庁
A semiconductor storage device is provided with a memory module 30 loaded with DRAMs 10 and an SPD (EEPROM) 20 and storing the defective address information of the DRAMs 10 in the SPD 20 and a memory controller 40 for reading out the defective address information from the SPD 20 and transferring the defective address information to the DRAMs 10.例文帳に追加
DRAM10、SPD(EEPROM)20が搭載されるとともに、SPD20にDRAM10の不良アドレス情報が格納されたメモリモジュール30と、不良アドレス情報をSPD20から読み出してDRAM10に不良アドレス情報を転送するメモリコントローラ40と、を備える。 - 特許庁
When the good chip is at the end of a current row (S7), a wafer is moved in the row direction to move a defective chip, positioned at an end, to the pickup point (S8) to check whether there are two defective chips during the movement and to determine whether the moved chip is a defective chip (S9).例文帳に追加
現在の行の最後の良品チップの場合(S7)、ウェーハを行方向へ移動して端に位置する不良チップをピックアップポイントへ移動し(S8)、移動中に二つの不良チップが存在したか否かのチェックと、移動したチップが不良チップであるか否かを判断する(S9)。 - 特許庁
In reading the page data, the circuit 31 extracts the defective-number information added to the page data read from the flash memory 3 from the page data, refers to the defective-number information, and extracts dummy data inserted in the page data by the number indicated by the defective-number information.例文帳に追加
ページデータの読出の際には、フラッシュメモリ3から読み出されるページデータに付加されている欠陥数情報を当該ページデータから抜き取ると共に、この欠陥数情報を参照し、当該欠陥数情報に示される数だけ当該ページデータの中に挿入されているダミーデータを抜き取る。 - 特許庁
The radiographic apparatus includes: a moire image generating part 12 for generating the moire image p2 with a stripe pattern reflected therein, based on the reference image p1; and a defective pixel map generating part 13 for generating the defective pixel map p3 with the defective pixel reflected therein, based on the moire image p2.例文帳に追加
つまり、本発明には、参照画像p1から縞模様のパターンが写りこんだモアレ画像p2を生成するモアレ画像生成部12と、モアレ画像p2を基に欠損画素が写りこんだ欠損画素マップp3を生成する欠損画素マップ生成部13とを備えている。 - 特許庁
When the read program data are determined to be defective by a defect decision circuit 33A, the memory controller 2 reads the program data corresponding to the program data determined to be defective from the storage region 201 different from the storage region 201 in which the program data determined to be defective are stored.例文帳に追加
メモリコントローラ2は、読み出されたプログラムデータが不良判定回路33Aにおいて不良と判定される場合、不良と判定されたプログラムデータが格納された格納領域201とは異なる格納領域201から、不良と判定されたプログラムデータに対応するプログラムデータを読み出す。 - 特許庁
To provide a coordinate correction method between different apparatuses which enables access to a defective position simply and precisely with a defective review system, based on coordinate information of an arbitrary defect obtained by a shape defective inspection device, and to provide an inspection method using the coordinate correction method.例文帳に追加
外観欠陥検査装置で取得した任意の欠陥の座標情報に基づき欠陥レビュー装置で当該欠陥位置に容易に且つ精度良くアクセス可能にする異なる装置間の座標補正方法及びこの座標補正方法を用いた検査方法を提供する。 - 特許庁
The present invention relates to defective-marking method of a semiconductor device 10, having an inspection pad 12 such that when a defective inspection of the semiconductor device 10 is performed, and as a result, it is determined that the semiconductor device 10 is defective, the inspection pad 12 is removed by fusion.例文帳に追加
検査用パッド12を有する半導体装置10の不良品マーキング方法であって、 前記半導体装置10の不良品検査を行い、 前記半導体装置10が不良品であると判定したときに、 前記検査用パッド12を溶断により除去することを特徴とする。 - 特許庁
When an optional chip except a starting chip 101A is a defective chip 101b, data expressing a following chip as a defective chip is attached to a good chip 101a to be inspected before the defective chip 101b is inspected at a second wafer inspection conducted after the first wafer inspection.例文帳に追加
スタートチップ101Aを除く任意のチップが不良品チップ101bである場合に、第1ウェハー検査の後に行われる第2ウェハー検査の際に不良品チップ101bの前に検査される良品チップ101aに、次のチップが不良であることを示すデータを持たせる。 - 特許庁
To easily analyze a failure generated for the first time, and to operate highly precise failure site specification corresponding to each detected defective part even when plural defective parts are present without repairing any defective part or invalidating any failure detector.例文帳に追加
最初に発生した障害を安易に解析できる上、障害箇所の修理或いは障害検出器の無効化を行わず、障害箇所が複数存在している場合にも、検出されたそれぞれの障害箇所に対応して精度の高い障害部位の特定を行う。 - 特許庁
A defect data acquiring section 17 monitors a defective position in broadcast data and, when the defective position in the broadcast data is detected, acquires substitute data determined based on a playback position at a present point of time, the defective position of in the broadcast data and information on the substitute data.例文帳に追加
欠損データ取得部17が、放送データの欠損した位置を監視すると共に、放送データが欠損した位置を検知した場合に、その欠損位置を再生するまでに、現時点の再生位置、放送データの欠損位置及び代替データの情報に基づいて決定された代替データを取得する。 - 特許庁
To provide a defective color area correction method and processing program for more easily and surely correcting the defective color area in various images photographed under various photographing conditions, and to provide an image processing apparatus capable of running the defective color area correction processing program.例文帳に追加
様々な撮影条件下で撮影された様々な画像において、色不良領域をより容易にかつ確実に補正する色不良領域補正方法、色不良領域補正処理プログラム、および、色不良領域補正処理プログラムの実行が可能な画像処理装置を提供すること。 - 特許庁
Thus, it uses subdivided reference values to determine the unit actually fault-sensed as defective due to non-defective foreign material to be acceptable, not the actual defective unit, preventing fault sensing to enhance inspection efficiency in the testing processes.例文帳に追加
したがって、本発明によると、細分化された基準値を利用して実際に不良ユニットではなく、良品性異物による不良として過検出されたユニットを良品として判別することによって、過検出を防止して検査工程での検査効率を向上させることができる。 - 特許庁
The pre-processing for applying electric inspection to the conductor pattern provided on at least one side of an insulation board for a printed wiring board by each piece inspects the conductor pattern by each piece to detect defective conductor patterns, and provides a conductive substance to defective pieces from which the defective conductor patterns are detected in a way of short-circuiting wires configuring each defective conductor pattern.例文帳に追加
プリント配線板用絶縁基板の少なくとも片面に設けられた導体パターンを各ピース毎に電気検査するための前処理に関し、導体パターンを各ピース毎に検査して不良導体パターンを検出し、不良導体パターンが検出された不良ピースについて不良導体パターンを構成する配線間を短絡させるように導電性物質を付与する。 - 特許庁
This method includes, when new data is recorded on an address of a disk already recorded with data, a step of writing defective information on the address already recorded with the data in a defective list and updating the defective list, and a step of transmitting a new data recording command to the address already recorded with the updated defective list and the data to the recording/reproducing device.例文帳に追加
ディスクにデータが既に記録されたアドレスに新たなデータを記録しようとする場合、前記データが既に記録されたアドレスに関する欠陥情報を欠陥リストに書き込んで前記欠陥リストをアップデートする段階と、前記アップデートされた欠陥リスト及び前記データが既に記録されたアドレスへの新たなデータ記録命令を記録/再生装置に伝送する段階とを含む。 - 特許庁
A superimposition part 14 provided to a radiography apparatus 1 superimposes a basic map indicating the position of a stably defective detection element on a current map indicating the position of an operation defective detection element to generate a superimposed map, and a pixel value change part 15 changes the pixel value of a pixel originating in the stably defective detection element and the operation defective detection element mapped in the superimposed map.例文帳に追加
本発明に係るX線撮影装置1が有する重ね合わせ部14は、安定欠損検出素子の位置を示す基本マップと動作の不良な検出素子の位置を示すカレントマップとを重ね合わせて、重合マップを生成し、画素値変更部15は、重合マップにマッピングされた安定欠損検出素子、および動作の不良な検出素子に由来する画素の画素値を変更する。 - 特許庁
When data are recorded to an information recording medium in units of block whether a block where the data are being recorded is defective or not is discriminated (step 409), and as a result, when the block is defective, the data are recorded newly to a block which is nearby the defective block, but not the block right behind the defective block (steps 419 to 427, 407).例文帳に追加
情報記録媒体に所定の大きさのブロック単位でデータを記録する際に、データの記録中のブロックが欠陥ブロックであるか否かを判別し(ステップ409)、その結果、記録中のブロックが欠陥ブロックである場合に、該欠陥ブロックに続く少なくとも1ブロックがスキップされた欠陥ブロック近傍のブロックにデータを新たに記録する(ステップ419〜427、407)。 - 特許庁
To provide a device for and a method of sorting the defective cathode plate which remove a cathode plate where swelling or curvature occurs as defects and which is determined as the defective cathode plate, before loading the defective cathode plate on a traverse conveyer, thereby preventing transportation trouble in the traverse conveyer caused by the defective cathode plate, consequently enhance the operation efficiency of the whole recovery system of an electrolytic copper plate.例文帳に追加
コブや湾曲等が発生して不良とされる陰極板をトラバースコンベアへ移載する前に排除し、不良陰極板が原因となるトラバースコンベアでの搬送トラブルを事前に防止して電気銅板の回収システム全体の生産効率のアップを図ることが可能な不良陰極板の選別装置及び不良陰極板の選別方法を提供する。 - 特許庁
METHOD AND SYSTEM FOR DETECTING DEFECTIVE WELDING, METHOD FOR MANUFACTURING ELECTRIC RESISTANCE WELDED STEEL PIPE, AND WELDED PRODUCT例文帳に追加
溶接欠陥検出方法及びシステム及び電縫鋼管の製造方法並びに溶接製品 - 特許庁
To perform highly accurate defective pixel correction while miniaturizing the circuit scale.例文帳に追加
回路規模の縮小化を図りながら、精度の高い欠陥画素補正を行うことを課題とする。 - 特許庁
Generation of a defective and a breakdown can be suppressed by pressing against the socket in this state.例文帳に追加
この状態でソケットに押圧することにより、不良品の発生や故障を抑えることができる。 - 特許庁
METHOD AND DEVICE FOR MODIFYING DEFECTIVE PART OF MASK AND METHOD FOR MANUFACTURING SEMICONDUCTOR DEVICE例文帳に追加
マスクの欠陥修正方法、マスクの欠陥修正装置、および半導体装置の製造方法 - 特許庁
To smoothly execute the next processing when the data writing of a non-contact ticket (IC card) is defective.例文帳に追加
非接触券(ICカード)のデータ書込不良時の次回処理を円滑にできるようにする。 - 特許庁
To prevent the occurrence of a failure when the number of acquired defective blocks increases in a flash memory.例文帳に追加
フラッシュメモリ内で後天性の不良ブロック数が増加したときの不具合の発生を防止する。 - 特許庁
Thereby, a refresh period can be shortened, and a DRAM of defective refresh can be relieved.例文帳に追加
これにより、リフレッシュ周期を短くすることができ、リフレッシュ不良のDRAMを救済できる。 - 特許庁
Thus, it is possible to remove defective products before the EL film formation to reduce the manufacturing cost.例文帳に追加
こうして、不良品をEL成膜前に除去可能であり、製造費用の削減を図れる。 - 特許庁
The redundant address region holds a second address indicating a defective memory cell as address information.例文帳に追加
冗長アドレス領域は、不良のメモリセルを示す第2アドレスをアドレス情報として保持する。 - 特許庁
Performance is maintained by a compensation means for the defective pixel of a plurality of lasers/array lasers, and by reducing a space between paper sheets.例文帳に追加
複数レーザー/アレイレーザーの画素欠損の補償手段、紙間をつめてパフォーマンス維持する。 - 特許庁
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