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To sampleの部分一致の例文一覧と使い方
該当件数 : 18250件
To provide an extraction method of a sample piece for analysis capable of obtaining a clean peeling surface free from processing strain in the fine sample piece.例文帳に追加
微小な試料片において、加工歪のない清浄な剥離面を得ることができる分析用の試料片抽出方法を提供する。 - 特許庁
To provide an inspection apparatus and an inspection method capable of suppressing sample drift by locally adjusting the temperatures of a sample.例文帳に追加
試料の温度調整を局所的に行うことにより、試料ドリフトを抑制することができる検査装置及び検査方法を提供する。 - 特許庁
In the tester for testing magnetic characteristics of veneer, the surface of a magnetic pole of a yoke is allowed to directly abut against, in a sample at a region having a sample width of 5-90%.例文帳に追加
単板磁気特性試験用試験器において、ヨークの磁極面を、試料幅の5〜90%の領域で試料と直接接触させる。 - 特許庁
Since a sample mounting means 2 can be positioned with respect to a sample mask 4 by a positioning mechanism 8, the positioning of the samples 3 becomes easy.例文帳に追加
位置決め機構8により、試料装着治具2を試料マスク4に対して位置決めできるので、試料3の位置決めが容易になる。 - 特許庁
To provide a sample holder and a sample table that enable examination of the samples for examination, from many directions in the electron microscope.例文帳に追加
電子顕微鏡内において観察対象となる試料を多方向から観察することができる試料ホルダーおよび試料台を提供する。 - 特許庁
Applying voltage to a sample feed electrode 7 having a plurality of needle electrodes 1 from a high voltage power supply 4, the sample feed electrode 7 is rotary driven by a driving part 3.例文帳に追加
複数の針電極1を有する試料搬送電極7に高圧電源4から電圧を印加し、駆動部3で回転駆動する。 - 特許庁
A certain conduit conveys the sample from the sample port to a certain qualification measurement area, and first and second contrastive measurement areas.例文帳に追加
一定の管路がサンプルを上記サンプル・ポートから一定のアッセイ測定領域および第1および第2の対照の各測定領域に運ぶ。 - 特許庁
To provide a method of displaying sample images capable of reducing the time required for displaying the sample image on a user terminal.例文帳に追加
標本画像をユーザの端末装置に表示するまでに要する時間を短縮することが可能な標本画像の表示方法を提供する。 - 特許庁
The sparger chamber steam column is communicated with the sample receiver, and a second end on the side opposite to the sample receiver is closed with a sparger chamber steam column cover.例文帳に追加
スパージャ室蒸気カラムは試料受け器に連通し、試料受け器と反対側の第二端はスパージャ室蒸気カラムカバーで閉じられる。 - 特許庁
To provide a laser emission spectroscopic analyzing method capable of quickly analyzing a composition of solid sample and liquid sample with high sensitivity.例文帳に追加
迅速にかつ高感度で固体試料や液体試料の組成を分析することができるレーザ発光分光分析方法について提案する。 - 特許庁
A sample is collected from the chemical in each prescribed time, and the sample is neutralized to measure absorbance using a coloring reagent.例文帳に追加
薬品から一定時間毎にサンプルを採取するとともに、当該サンプルを中和させてから発色試薬を用いて吸光度測定を行う。 - 特許庁
A plurality of sample values are collectively transferred to a prescribed internal storage means from an external storage means having a plurality of waveform sample values stored therein.例文帳に追加
波形の複数サンプル値を記憶する外部記憶手段から所定の内部記憶手段に対して複数サンプル値をまとめて転送する。 - 特許庁
To suppress an occurrence of particles when a sample is grounded, while reducing a contact resistance between the sample and a ground electrode.例文帳に追加
本発明は、試料を接地する際に、パーティクルの発生を抑えつつ試料と接地電極の接触抵抗を低減することを目的とする。 - 特許庁
To provide a sample making device capable of making samples for bacteria testing from a sample solution containing E. coli or general bacteria, etc.例文帳に追加
大腸菌或いは一般細菌等を含有するサンプル液から、菌検査用の検体を自動で作製できる検体作製装置を提供する。 - 特許庁
A change in the light absorption by the sample, when the temperature of the sample is gradually raised, is detected to evaluate the carbon nanotube.例文帳に追加
試料の温度を徐々に高くしていったときの試料による光吸収の変化を検出することにより、カーボンナノチューブを評価する。 - 特許庁
To evaluate an accumulation of hydrocarbon-based molecules on a sample surface, in an electron beam observation device for observing a sample by use of electron beams.例文帳に追加
電子線を利用して試料を観察する電子線観察装置において、試料表面への炭化水素系分子の堆積量を評価する。 - 特許庁
REAGENT FOR AND METHOD OF MEASURING SUBSTANCE TO BE MEASURED IN BIOLOGICAL SAMPLE, AND METHOD OF AVOIDING INFLUENCE OF BILIRUBIN CONTAINED IN BIOLOGICAL SAMPLE例文帳に追加
生体試料中の測定対象物質測定試薬、測定方法、及び生体試料に含まれるビリルビンによる影響の回避方法 - 特許庁
A micro-prober is bonded to a sample 2, and the sample 2 containing foreign matter supposed as a cause of defect is separated from the element forming part.例文帳に追加
さらに、マイクロプローバを試料2に接着させて、不良の原因と考えられる異物を含む試料2を素子形成部から切り離す。 - 特許庁
In this document you will profile the Anagram Game sample application.To do this you will first use the New Project wizard to create the sample application. 例文帳に追加
このドキュメントでは、Anagram Game サンプルアプリケーションのプロファイルを行います。 そのためにまずは、「新規プロジェクト」ウィザードを使ってサンプルアプリケーションを作成します。 - NetBeans
To precisiely select a peak necessary in the analysis of a sample in analysis using measured data acquired by the mass analysis of the sample.例文帳に追加
試料の質量分析により得られた測定データを用いた分析において、試料の解析に必要となるピークを精度よく選別する。 - 特許庁
To accurately detect a measuring object material in a sample by suppressing influence of a photothermal effect of a solvent contained in the sample.例文帳に追加
試料中に含まれる溶媒の光熱効果による影響を抑えて同試料中の測定対象物質の検出を高精度で行う。 - 特許庁
To provide a sample concentration detecting method, detector and program capable of preventing an influence of a fluorescence intensity fluctuation factor not depending on the sample concentration.例文帳に追加
試料濃度に依存しない蛍光強度変動要因の影響を防止する試料濃度検出方法、装置およびプログラムの提供。 - 特許庁
To provide an electronic simplified sample table apparatus which can suitably display information about pieces of music for performance unlisted on a paper medium sample table used together.例文帳に追加
併用される紙媒体早見本に未掲載の演奏曲に関する情報を好適に表示し得る電子早見本装置を提供する。 - 特許庁
To quickly perform a sample printing in an image-forming device, which is provided with a function of printing a part of a printing job as a sample.例文帳に追加
印刷ジョブの一部をサンプルとして印刷する機能を備えた画像形成装置において、サンプル印刷が早く実行されるようにする。 - 特許庁
To provide an automatic sample exchange device for an NMR device capable of preventing the occurrence of artificial errors, when a measuring person stores a sample in a slot.例文帳に追加
測定者がスロットに試料を格納する際に、人為的ミスが起こらないようなNMR装置用自動試料交換装置を提供する。 - 特許庁
To provide a quick and accurate preparation method of standard data of an inclusion or the like in a metal sample and a standard sample therefor.例文帳に追加
金属試料中の介在物等の標準データ及びそのための標準試料の迅速かつ正確な作成方法を提供すること。 - 特許庁
A sample fixing jig 1 and a picking base (KBr crystal) fixing jig 9 are built in a sample fixing pedestal 13 for an XY stage, so that the sample face and the picking face exist on the same plane, and fixing a magnetic head 25 for the sample and picking an object to be picked up from this sample are performed on this sample fixing pedestal 13.例文帳に追加
試料面と採取面とが同一面上に存在するように、試料固定治具1と採取台(KBr結晶)固定治具9とが、XYステージ用試料固定台座13に組み込まれ、XYステージ用試料固定台座13上で、試料用の磁気ヘッド25の固定と、この試料からの採取物44の採取とが行われるように構成したこと。 - 特許庁
The electric characteristics measurement device 1 comprises a sample holder 31 holding a measured sample 45a, a pair of electrodes 33 sandwiching the measured sample 45a, and a separating drive part 36 moving at least one of the sample holder 31 and the pair of electrodes 33 to separate the measured sample 45a and the sample holder 31.例文帳に追加
本発明に係る電気特性測定装置1は、被測定試料45aを保持するための試料ホルダー31と、被測定試料45aを挟持するための一対の電極33と、被測定試料45aと試料ホルダー31とを離間させるように試料ホルダー31及び一対の電極33の少なくとも一方を移動させる離間駆動部36とを備えることを特徴とする。 - 特許庁
Information related to a sample such as height of the sample, alignment information or the like are obtained from the sample 5 housed in a load lock part 15 by sample information obtaining means like height detecting equipment or an optical microscope 30 arranged on the load lock part 15, in parallel with pressure reduction work executed when transferring the sample 5 from the load lock part 15 to a sample chamber 22.例文帳に追加
ロードロック部15に設けた高さ検出器や光学顕微鏡30といった試料情報取得手段によって、試料室22で観察する試料の高さ情報やアライメント情報といった試料情報の取得を、ロードロック部15から試料5を試料室22への搬送するに際して実行されるロードロック部15の減圧作業と並行して、ロードロック部15に収容されている試料5に対して実行する。 - 特許庁
The surface treatment apparatus S comprises a sample stage 12 supporting a sample 43, a plasma discharging electrode 20 having a porous body 21 located to the position facing the surface to be treated of the sample 43 put on the sample stage 12, and a gas passage 15 supplying a prescribed gas between the plasma discharging electrode 20 and the sample 43 put on the sample stage 12 through the porous body 21.例文帳に追加
プラズマ処理装置Sは、試料43を支持する試料ステージ12と、試料ステージ12に支持されている試料43の被処理面に対向する位置に設けられ、多孔質体部21を有するプラズマ放電電極20と、プラズマ放電電極20と試料ステージ12に支持されている試料43との間に多孔質体部21を介して所定のガスを供給可能な主ガス流路15とを備えている。 - 特許庁
To restrain generation of grinding dents and uneven stress on a grinding surface of a sample, to attain high flatness in an extremely wide range of a sample surface, to largely increase a feasible range of analysis and evaluation, and to obtain a thin-film sample having high reliability.例文帳に追加
試料の研磨面における研磨痕や応力ムラの発生を抑え、試料表面の極めて広い範囲において十分な平坦度が得られて分析評価の可能な領域の大幅な拡大化を実現し、信頼性の高い薄膜化された試料を得る。 - 特許庁
To move a sample probe to a sample suction position set outside a housing, when seen from above, without having to provide an opening to the side surface of a protective cover, in an autoanalyzer equipped with a protective cover for covering the upper and lateral parts of the moving range of a sample-dispensing mechanism.例文帳に追加
試料分注機構の移動範囲の上方及び側方を覆う保護カバーを備えた自動分析装置において、保護カバーの側面に開口を設けることなく、上方から見て筐体の外の筐体外試料吸引位置に試料プローブを移動させる。 - 特許庁
To provide a particulate concentration measuring chip which does not require an apparatus to detect a liquid sample or an apparatus and control to control supply of a liquid sample, but allows a predetermined minute amount of liquid sample to certainly pass through an aperture part.例文帳に追加
液状の検体を検出する装置や、液体の検体の供給を制御する装置及び制御を必要とせず、さらに確実に一定量の微量の液状の検体をアパーチャ部を通過させることを可能とする、微粒子濃度計測チップを得る。 - 特許庁
The primary beam 107 is irradiated to one point on the sample by a plurality of directions, namely, a plurality of angles against a sample wafer 115, and a reached point of the primary beam 107 on the sample is maintained at a fixed level without inclining the electrooptic system and the sample.例文帳に追加
一次ビーム107は試料上の一点に対して複数の方向、すなわち試料ウェハ115に対して複数の角度をもって照射され、電子光学系と試料を傾斜させることなく、一次ビーム107の試料上到達点を一定に保つ。 - 特許庁
In an electrophoresis apparatus for analyzing a fluorescence- labelled sample by the capillary array using a plurality of capillaries, an adaptor, a sample plate, a sceptor and a sceptor holder are successively placed in this order on the tray in the sample supply part of the capillary array, to constitute a sample plate assembly.例文帳に追加
複数本のキャピラリを用いたキャピラリアレイにより、蛍光標識された試料を分析する電気泳動装置において、キャピラリアレイの試料供給部におけるトレイに、アダプタ、その上にサンプルプレート、その上にセプタ及びその上にセプタホルダを載置したサンプルプレートアセンブリ。 - 特許庁
To provide a charged particle beam apparatus, a sample transport apparatus, a mask position adjustment mechanism, a sample position adjustment method and a mask position adjustment method, which enable more flexible adjustment of a sample or a mask position without restrictions by wiring in sample or mask movable range.例文帳に追加
配線で可動範囲が制限されたりすることなく試料又はマスクの位置をより柔軟に調整することができる荷電粒子線装置、試料移動装置、マスク位置調整機構、試料位置調整方法及びマスク位置調整方法を提供する。 - 特許庁
To provide a sample document management device and a sample document management system which can manage a sample document regarding a prepared document without registering the prepared document and a computer readable recording medium which records a program that manages the sample document.例文帳に追加
作成した文書を登録することなく、当該文書に係る雛形文書を管理することができる雛形文書管理装置及び雛形文書管理システム、並びに雛形文書を管理するプログラムが記録してあるコンピュータ読み取り可能な記録媒体を提供する。 - 特許庁
In a treating device wherein a plurality of places carrying the sample exist and another treating device where a mechanism to the carrying position, the sample and the information of the sample exist, the sample has the information at both carrying original position and carrying destination position on the halfway of carrying.例文帳に追加
試料を搬送する場所が複数ある処理装置と、その搬送位置への機構と、試料及び、試料の情報がある処理装置において、試料を搬送途中は搬送元位置と搬送先位置の両方に試料情報を有することを特徴とする。 - 特許庁
To provide a box type microscopic apparatus capable of easily placing a sample container at an optimum position without adjusting the position of the sample container on a stage when changing the sample container with inexpensive and simple constitution, and easily and rapidly changing the sample container.例文帳に追加
低コスト且つ簡単な構成で、試料容器を交換する際のステージにおける試料容器の位置調整をすることなく最適な位置に試料容器を容易に載置可能であり、簡単且つ迅速に試料容器を交換可能な箱型顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁
In an embodiment, a spectrum obtaining part 141 obtains a spectral characteristic value at a sample point on the corresponding dyed sample based on a pixel value of a pixel for composing a dyed sample image obtained by imaging the dyed sample to be observed.例文帳に追加
本発明のある実施の形態において、スペクトル取得部141は、観察対象の染色標本を撮像した染色標本画像を構成する画素の画素値をもとに、対応する染色標本上の標本点における分光特性値を取得する。 - 特許庁
By this, the visible light imaging part fixed on the sample table 33 can image a desired position all the time because a relative position to the sample does not change regardless of movement of the sample table 33, and the visible light observation image of the sample is imaged easily.例文帳に追加
これによって、試料台33上に固定された可視光撮像部は、試料台33の移動に拘わらず試料との相対位置が変化しないため、常時所望の位置を撮像することが可能となり、試料の可視光観察像を容易に撮像できる。 - 特許庁
A prediction sample value calculation section 11 in a moving picture coding apparatus 10 calculates the prediction sample values required for selecting the prediction mode on the basis of pixel values of coded blocks in the vicinity of a coding object block and stores the calculated prediction sample values to a prediction sample value storage section 12.例文帳に追加
動画像符号化装置10において,予測サンプル値算出部11は,符号化対象ブロック近傍の符号化済みブロックの画素値をもとに,予測モードの選択に必要となる予測サンプル値を算出し,予測サンプル値記憶部12に保持する。 - 特許庁
That is, since three sample parts 4 formed in a sample body 2 are exposed from a window 8 of the sales promotion sheet 8 even though the surface of the wide sample 1 is covered with the sales promotion sheet 8, the exposed sample parts 4 are made to be conspicuous.例文帳に追加
つまり、幅広型見本1の表面は販売促進シート8で覆われることになるが、見本体2に形成された3個の見本部4が販売促進シート8の窓部8aから露出されるので、その露出された見本部4が目立つことになる。 - 特許庁
The sample rod 23 moves to form a conical surface with the sample S being the apex when the sample rod rotates around the ω axis as center, and the nozzle 26 is disposed so that the sample rod 23 and a gas spraying direction of the nozzle 26 possibly form an acute angle between them.例文帳に追加
試料棒23はω軸線を中心として回転するときに試料Sを頂点とする円錐面を形成するように移動し、ノズル26は試料棒23とノズル26のガス吹付方向とが90度以下の鋭角になることがあるように設けられている。 - 特許庁
A light source 2 having a transmissive wavelength through the sample 1 and a light intensity measuring device 4 are installed in the facing state to a face in the thickness direction of the sample 1 across the flat sample 1, and the intensity of transmitted light transmitted through the sample 1 is detected by the light intensity measuring device 4.例文帳に追加
平板状試料1を挟んで、試料1を透過する波長の光源2と光強度測定器4が試料1の厚さ方向の面に対向して設置され、試料1を透過した透過光の強度を光強度測定器4で検出する。 - 特許庁
In the case of a large quantity of the sample, the sample is injected into a sub-vaporization chamber 5 installed additionally on a preceding step, stored in an inside sample reservoir 53, vaporized gradually, sent into the vaporization chamber by carrier gas, and thereafter introduced into the column similarly to the case of the small quantity of the sample.例文帳に追加
多量の試料の場合は、前段に付設された副気化室5に注入し、その内部の試料溜め53に溜められて徐々に気化しながらキャリアガスにより気化室に送り込まれ、以後は少量試料の場合と同様にしてカラムに導入される。 - 特許庁
Components of a sample are separated using either of a combination of the head space sample introduction device 10 and the the first column 22, or a combination of the liquid sample introduction device 14 and the second column 23, and sample gas is introduced directly into the ionization chamber 42 to execute mass spectrometry.例文帳に追加
ヘッドスペース試料導入装置10と第1カラム22又は液体試料導入装置14と第2カラム23のいずれかの組み合わせを使用して試料を成分分離し、その試料ガスを直接イオン化室42に導入して質量分析を実行する。 - 特許庁
The sampling device 1 comprises a monitor sample 2 on which a substance to be measured is adhered, a sample holder 3 which holds the monitor sample removably, and a vessel 4 which contains the sample holder 3 removably and aerate or shut off the air.例文帳に追加
サンプリング装置1は、測定物質を付着させるモニタ試料2と、モニタ試料を着脱自在に保持する試料ホルダ3と、試料ホルダ3を着脱自在に収納し、大気との間の通気及び遮蔽を選択自在とする容器4とを備えた構成とする。 - 特許庁
To provide a microscope apparatus capable of remarkably reducing dust-sticking on a sample such as a semiconductor wafer using an immersion objective lens and the occurrence of watermarks on the sample by quickly drying liquid remaining on the sample after performing the visual inspection of the sample.例文帳に追加
液浸系対物レンズを用いた半導体ウエハ等の標本の外観検査後に、標本上に残存する液体を速やかに乾燥して、標本への塵埃等の付着やウォーターマークの発生を著しく減少させることができる顕微鏡装置を提供する。 - 特許庁
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