「interference test」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

The overlay precision is calculated using the positional information of first interference fringes and second interference fringes formed by acquiring a first image and a second image from the first mark 110 and the second mark 120, and by overlapping a test image having a third pitch on the first image and the second image.例文帳に追加

オーバーレイ精度は第１マーク１１０及び第２マーク１２０から第１イメージ及び第２イメージを取得し、第１イメージ及び第２イメージ上に第３ピッチを有するテストイメージを重ねることで形成された第１緩衝縞及び第２干渉縞の位置情報を用いて算出される。 - 特許庁

To solve a problem where site attenuation performance is reduced by electromagnetic wave interference in EMI measurement caused by the traveling rail of an overhead traveling crane that is used for raising and lowering heavy under-test equipment, can withstand the weight of the under-test equipment, and has metal structure.例文帳に追加

重量の大きな供試機器を上げ降ろしする上降装置として、供試機器の重量に耐える金属構造の天井走行クレーンが必要であり、この天井走行クレーンの走行レールがＥＭＩ測定時の電磁波障害になる等して、サイトアッテネーション性能が低下する。 - 特許庁

To provide a wavefront aberration measuring apparatus and a wavefront aberration measuring method which can measure the wavefront aberration of an optical system under test with high precision by checking the state of the interference fringes of photographed image data before performing image processing for calculating the wavefront aberration of the optical system under test.例文帳に追加

被検光学系の波面収差の算出のための画像処理を実施する前に、撮像した画像データの干渉縞の状態をチェックすることによって、高精度に被検光学系の波面収差を測定することができる波面収差測定装置及び方法を提供する。 - 特許庁

To provide a monitoring system capable of conducting a communication test while taking radio wave disturbance into consideration during the communication test so that an unsteady signal is accurately transmitted from a terminal device to a central processing unit even in the case of radio wave disturbance due to interference of a radio wave in normal use.例文帳に追加

本発明は、通常使用時に電波の混信などによる電波妨害があった場合でも、正確に非定常信号が端末器から中央処理装置に送信されるように、通信テストの際に電波妨害を考慮にいれて通信テストが行える監視システムを提供する。 - 特許庁

The inner angle θ2 of the ridge portion 11a formed by both ridge surfaces 11b is formed to the test piece fixing angle corresponding to the displacement of the bending angle θ1 of the test piece 15, and a recessed portion 11c to avoid the interference with the spring portion 15a corresponding to the ridge portion 11a is formed.例文帳に追加

両稜面１１ｂにより構成される稜線部１１ａの内角θ２が、試料片１５の曲げ角度θ１の変位に対応する試料片固定角度に形成されると共に、稜線部１１ａに対応バネ部１５ａとの干渉を回避する逃し部１１ｃが形成される。 - 特許庁

In executing a wind tunnel test while being set up as the entire current collector, a flowfield changes due to interference with other parts as compared with the case of executing the wind tunnel test singly in the collector shoe, so there is necessity to adjust the lift working on the current collector into an appropriate value.例文帳に追加

集電装置全体として組み上げた状態で風洞試験を実施する場合には、集電舟単体で風洞試験を実施する場合に比べて、他の部品と干渉して流れ場が変化するため、集電装置に作用する揚力を適正値に調整する必要がある。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a hard coating film which is excellent in adhesion after a light resistance test, in scratch resistance, in coating film hardness such as pencil hardness, and in leveling properties in coating, with less interference unevenness.例文帳に追加

本発明のハードコートフィルムの製造方法は、耐光試験後の密着性、耐擦傷性、鉛筆硬度等の塗膜硬度、塗工時のレベリング性に優れ、且つ干渉ムラも少ないハードコートフィルムを提供できる。 - 特許庁

To provide an automatic connection device for an electric instrument capable of efficiently executing a performance test for various kinds of electric instruments by preventing interference between a protrusion of the electric instrument and a moving body.例文帳に追加

電気計器の突起物と移動体とが干渉することを防止し、様々な種類の電気計器の性能試験を効率よく実施可能な電気計器用自動結線装置を提供する。 - 特許庁

To provide a probe card for a semiconductor testing device, improving inconveniences in device test with the interference of a power current between a plurality of DUTs in the prove card applicable to a wafer prober device.例文帳に追加

ウエハプローバ装置に適用するプローブカードにおいて複数ＤＵＴ間の電源電流の干渉に伴うデバイス試験の不具合を改善可能とした半導体試験装置のプローブカードを提供する。 - 特許庁

Hereby, since the number of layers of the test substrate can be decreased, a substrate cost is greatly reduced, and a wiring distance between layers is not narrowed, to thereby prevent generation of the mutual interference, and to guarantee measurement accuracy.例文帳に追加

これにより試験基板の層数を減らすことができるので、基板のコストは大幅に下がり、層間の配線距離も狭くならないので、相互干渉が起こらず測定精度を保証できる。 - 特許庁

To obtain a plastic lens exhibiting excellent durability even against a salt water boiling test by applying a hard coat layer having high adhesiveness on a polycarbonate resin plastic lens base without a primer layer, and to obtain a plastic lens that suppresses interference fringes and is improved in the appearance.例文帳に追加

ポリカーボネート樹脂製プラスチックレンズ基材に、プライマー層無しでも密着性の良いハードコート層を設け、塩水煮沸試験に対しても優れた耐性を示すプラスチックレンズを得ることである。 - 特許庁

To provide a high-frequency integrated circuit test apparatus capable of conducting tests such as measuring filter characteristics and interference characteristics of a high frequency integrated circuit, based on the level of an IF signal in its actual working condition.例文帳に追加

高周波集積回路のフィルタ特性、妨害特性の測定において、実使用状態でのＩＦ信号のレベルに基づいたテストができる高周波集積回路テスト装置が求められる。 - 特許庁

The determining part 214 determines the irradiation position of the signal light LS in order to avoid an area of small intensity of the interference light, which is to say, to avoid the opacified site in the test eye E.例文帳に追加

照射位置決定部２１４は、干渉光の強度が小さい領域を避けるように、つまり被検眼Ｅ内の混濁部位を避けるように、信号光ＬＳの照射位置を決定する。 - 特許庁

The recording wavelengths of reference and signal lights generated by a laser light source 12 to output a plurality of test recording wavelengths λt at adjacent cycles λa are shifted to record interference patterns.例文帳に追加

隣接周期λａを隔てた複数の試験記録波長λｔが出力されるようレーザ光源１２が生成する参照光と信号光の記録波長をシフトさせて、干渉パターンを記録する。 - 特許庁

To provide a probe package structure of a probe card, which provides superior electromagnetic shield effect for shielding against electromagnetic interference, a superior shield protection effect enough to effectively reduce the electromagnetic interference between probes, enabling the probes to act normally respectively and effectively improves the test yield of chips.例文帳に追加

優れた電磁気遮蔽効果を提供出来、電磁気干渉に対する遮蔽効果が優れており、優れる遮蔽保護効果を図れ、プローブ同士間の電磁気干渉を効果的に低減出来、プローブ同士がそれぞれノーマルに作用出来、チップのテストの歩留まりを効果的に向上できる、プローブカードのプローブ包み構造を提供する。 - 特許庁

Each interference fringe is imaged relative to each of a plurality of imaging arrangement positions set so that a relative position relation between a direction of a plane of polarization of measuring light and the test optical element is mutually different, and improper domains A_1, A_2 where the transmission wavefront information is not carried correctly are specified in each imaged interference fringe.例文帳に追加

測定光の偏光面の方向と被検光学素子との相対的な位置関係が互いに異なるように設定された複数の撮像配置位置毎に干渉縞を撮像し、撮像された各々の干渉縞において、透過波面情報が正しく担持されなかった不適正領域Ａ_１，Ａ_２を特定する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit, having a test pad control circuit for so performing a breakdown voltage that relaxes the control so that the interference due to high voltage will not occur, by checking the state of high voltage when it is selected and when it is non-selected.例文帳に追加

選択時及び非選択時の高電圧状態をチェックし、高電圧による障害が発生しないよう耐圧緩和制御を行うテストパッド制御回路を有する半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

To provide a wind tunnel capable of efficiently displaying the effect of a slotted wall, properly inhibiting wall interference, and performing measurement with high precision, even when the state of a test-piece in a measuring portion changes.例文帳に追加

測定部における供試体の状態が変化した場合においても、スロッティドウォールの効果を効率良く発揮させ、適正な壁干渉の抑制を実施でき、高精度な計測を可能とする風洞を提供する。 - 特許庁

To provide an antireflection film, based on the background, which is excellent in chemical adhesion resistance and chemical abrasion resistance before and after a high temperature and high humidity endurance test, and has low haze, high transmissivity and no interference irregularities.例文帳に追加

本発明は上記背景に鑑み、高温高湿耐久試験前後での耐薬品密着性、耐薬品擦傷性に優れ、低ヘイズ・高透過率・干渉むらのない反射防止フィルムを提供するものである。 - 特許庁

This zone plate enables to conduct interference measurement for calibration without increasing unknown measurement error, because it can form the two null wave surfaces (the null wave surface for the test plane and the null wave surface for the Fizeau plane).例文帳に追加

このゾーンプレートは、２つのヌル波面（被検面のヌル波面、及びフィゾー面のヌル波面）を形成することが可能であるので、未知の測定誤差を増やすことなく校正用の干渉測定を行うことを可能とする。 - 特許庁

A non-interference-system wave front measuring part 3 stores the respective center-of-mass positions of a plurality of condensing spots based on the light condensed by a measuring object optical system 2 in a ground test, as reference center-of-mass positions.例文帳に追加

非干渉方式波面計測部３は、地上試験において測定対象光学系２で集光された光に基づく複数の集光スポットの各重心位置を基準重心位置とし記憶している。 - 特許庁

Therefore, quality improvement in a selection process can be performed by discovering defect caused by interference of bit liners which is hard to discover at I/O compression test of a multi-bit DRAM hitherto.例文帳に追加

したがって、従来多ビットＤＲＡＭのＩ／Ｏ圧縮テスト時の発見が難しかったビット線の干渉による不良を従来のテスト効率を損なうことなく発見することで、選別工程における品質向上ができる。 - 特許庁

To provide a radar signal processor capable of preventing an amplitude value of a test cell from getting low, and capable of evading a target detection rate from getting low, even when a plurality of other target signals, a clutter spread along a time direction, an interference signal or the like exists in the vicinity of a degree coming within an averaged cell, with respect to the test cell.例文帳に追加

テストセルに対して複数の他目標信号、時間方向に拡がっているクラッタ、干渉信号等が平均化セル内に入る程度に近接して存在する場合であっても、テストセルの振幅値を低下させず、目標検出率の低下を回避可能なレーダ信号処理装置を提供する。 - 特許庁

The interference measuring method uses a transmissive zone plate forming both a first wave surface being a null wave surface for a test plane and a second wave surface being a null wave surface for a Fizeau plane by using a pair of equivalent opposite sign graded transmission diffractive lights, in addition to use of an interferometer and a Fizeau lens for the test plane measurement.例文帳に追加

干渉計と、被検面測定用のフィゾーレンズとを使用した干渉測定に、被検面に対するヌル波面である第１波面、及びフィゾー面に対するヌル波面である第２波面を、等量反対符号の次数の一対の透過回折光により形成する透過型ゾーンプレートを使用する。 - 特許庁

A wavelength scanning interferometer measures an absolute distance to an object on the basis of a signal of interference light between reference light, which is divided from a light flux emitted from a light source while changing a wavelength of the light flux, and test light.例文帳に追加

波長走査干渉計は、光源から射出される光束の波長を変更しながら該光束から分割された参照光と被検光との干渉光の信号に基づいて被検体までの絶対距離を計測する。 - 特許庁

Then, an inter-bit interference extraction test for the semiconductor memory loaded on the memory module can be performed based on the mat information.例文帳に追加

メモリモジュール製造時にメモリモジュールのＳＰＤに半導体メモリのマット情報を記録し、装置でのメモリ試験でＳＰＤに記録したマット情報を読み出し、このマット情報は、メモリモジュールに搭載された半導体メモリ用のビット間干渉摘出試験を実施する。 - 特許庁

To further improve accuracy of a test write power and to secure an optimum power margin by producing an optimum recording mark in a whole zone area of a disk, without being affected to the utmost by the thermal interference due to a linear velocity for every zone while unnecessitating a complicated algorithm or special constitution.例文帳に追加

複雑なアルゴリズムや特別な構成を要せずに、ゾーン毎の線速度による熱的干渉を極力受けず、テストライトパワーのさらなる精度向上およびディスクのゾーン全域で最適な記録マークを生成し最適なパワーマージンを確保する。 - 特許庁

To provide an electromagnetic waves generator, regardless of being capable of emitting electromagnetic waves having high electric field intensity, which can use a conventional antenna having a low withstanding voltage and can use a conventional electric power amplifier having a low withstanding voltage/low output and an interference immunity test apparatus using the electromagnetic waves generator.例文帳に追加

高い電界強度の電波を放射できる電磁波発生装置であっても，従来の低い耐電圧のアンテナが使用でき，また，従来の低い耐電圧・低出力の電力増幅器が使用できる電磁波発生装置を提供する。 - 特許庁

To provide a method for measuring interference of a non-rotationally symmetric wavefront error in the reflection of an optical face and/or the penetration of an optical element capable of obtaining further higher precision than an ordinary known rotation position test at equal measuring points or obtaining the precision equal to that of the rotation position test at greatly reduced number of measuring points.例文帳に追加

光学面の反射における及び／又は光学要素の透過における非回転対称波面誤差の干渉測定のための方法であって、同等の測定点での通常の既知の回転位置テストよりも一層高い精度が得られ、又は大幅に少ない数の測定点で以って斯かる回転位置テストと同等の精度が得られるような方法を提供する。 - 特許庁

A calculation control device 200 forms OCT images of the fundus oculi Ef from the result of the detection of new interference light LC in conformity of the new signal light LS through the test eye E and the new reference light LR through a reference mirror 174.例文帳に追加

演算制御装置２００は、被検眼Ｅを経由した新たな信号光ＬＳと、参照ミラー１７４を経由した新たな参照光ＬＲとに基づく新たな干渉光ＬＣの検出結果に基づいて眼底ＥｆのＯＣＴ画像を形成する。 - 特許庁

A cathode is formed first, and a luminous layer is formed by deposition, followed by forming by sputtering of an anode, forming by deposition of multi-layer interference layers, and coating of a protective layer, and finally, a package is completed as well as a device test is carried out to complete the organic EL full color panel.例文帳に追加

先にカソードを形成し、更に発光層を蒸着形成し、さらにアノードをスパッタ形成し、さらに複数層の干渉層を蒸着形成し、さらに保護層を塗布し、最後にパッケージ完成し並びにデバイス試験を行い有機ＥＬフルカラーパネルを完成する。 - 特許庁

To provide an antireflection film which does not cause color generation such as interference irregularities, is excellent in resistance to scuffing and excellent in adhesiveness and, in particular, has superior resistance to scuffing and adhesiveness even after a light resistance test, and to provide a polarizing plate and an image display apparatus using the antireflection film.例文帳に追加

本発明の目的は、干渉むらのような色味発生がなく、耐擦傷性や密着性に優れ、特に耐光性試験後も優れた耐擦傷性や密着性を有する反射防止フィルム、これを用いた偏光板、画像表示装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide a substrate for assaying an alkaline phosphatase without being influenced with hemolytic interference when assaying the alkaline phosphatase in a clinical test, a method for assaying using the substrate and an assaying reagent kit comprising the substrate.例文帳に追加

本発明の目的は臨床検査においてアルカリホスファターゼを測定する際に、溶血干渉の影響を受けることなく測定可能となる基質、及び当該基質を用いた測定方法、ならびに当該基質を含む測定試薬キットを提供することにある。 - 特許庁

To provide an antireflection film which does not cause color generation such as interference irregularities, is excellent in abrasion resistance and adhesiveness and, in particular, has superior abrasion resistance and adhesiveness even after a light resistance test and further to provide a polarizing plate and an image display apparatus using the antireflection film.例文帳に追加

本発明の目的は、干渉むらのような色味発生がなく、耐擦傷性や密着性に優れ、特に耐光性試験後も優れた耐擦傷性や密着性を有する反射防止フィルム、これを用いた偏光板、画像表示装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide an antireflective film with which no tint such as interference unevenness is produced, which is excellent in scratch resistance and adhesiveness, and which, in particular, has excellent scratch resistance and adhesiveness even after light resistance test; and to provide a polarizing plate, and an image display device using the same.例文帳に追加

本発明の目的は、干渉むらのような色味発生がなく、耐擦傷性や密着性に優れ、特に耐光性試験後も優れた耐擦傷性や密着性を有する反射防止フィルム、これを用いた偏光板、画像表示装置を提供することにある。 - 特許庁

As for the external signal terminals 22 of the IC 21, the inspection apparatus 23 controls turning on/off of the FETs, by giving to the test control section 26 a selection signal for selecting an external signal terminal 22, to be driven and checks out the interference state of an internal signal transmission line between the external signal terminals 22.例文帳に追加

そして、検査装置２３を、ＩＣ２１の外部信号端子２２について、テスト制御部２６に駆動対象となる外部信号端子２２の選択信号を与えることでＦＥＴのオンオフを制御し、それらの端子２２の間における内部信号伝送路の干渉状態を検査する。 - 特許庁

To provide a real-time measurement branch type interferometer that takes a real-time measurement of light interference with high precision by suppressing disorder of a wavefront during passage through an optical element for converting a reference light and a test light into two circular polarized lights which have mutually opposite rotational directions of polarization.例文帳に追加

参照光および被検光を偏光の回転方向が互いに逆向きとなる２つの円偏光に変換するための光学素子を通過する際の波面の乱れを抑制し、実時間での光干渉測定をより高精度に行うことが可能な実時間測定分岐干渉計を得る。 - 特許庁

To provide an engine control apparatus, reducing burdens of conformance test work and map preparation work, avoiding degradation in controllability caused by mutual interference, and making engine output values get closer to request values even when controlled variables are restricted not to exceed a range of use.例文帳に追加

適合試験作業及びマップ作成作業の負担軽減、及び相互干渉による制御性悪化回避を図るとともに、制御量が使用範囲を超えないよう制限されている場合であっても、エンジン出力値を要求値に近づけることができるエンジン制御装置を提供する。 - 特許庁

To provide a transmission wavefront measuring method of a birefringence optical element measuring properly a transmission wavefront, even when imaging an interference fringe having a domain where transmission wavefront information is not carried correctly by an influence of birefringence carried by a test optical element.例文帳に追加

被検光学素子が有する複屈折性の影響により透過波面情報が正しく担持されない領域を有する干渉縞が撮像されるような場合でも、透過波面測定を適正に行うことが可能な複屈折性光学素子の透過波面測定方法を得る。 - 特許庁

This interferometer 10 includes a beamsplitter 32 for splitting a source beam into a test beam 40 and the reference beam 42, an imaging device 24 for detecting an interference pattern, a mirror 38 for reflecting the test beam toward the imaging device, a micromirror 44 for reflecting a portion of the reference beam toward the imaging device and a focusing mechanism 34 for focusing the reference beam on the micromirror.例文帳に追加

干渉計１０は、ソースビーム１４を試験ビーム４０及び基準ビーム４２に分割するビームスプリッタ３２と、干渉パターンを検出する結像デバイス２４と、前記試験ビームを結像デバイスの方向に反射するミラー３８と、前記基準ビームの部分を前記結像デバイスの方向に反射するマイクロミラー４４と、及び、前記基準ビームを前記マイクロミラーに集光する集光機構３４と、を含む。 - 特許庁

To provide an optical laminated biaxially stretched polyester film for realizing the reduction of an interference color fringe and the enhancement of the boiling test endurance of adhesiveness at the time of hard coat processing and the reduction of a thermally precipitated oligomer at the time of heating while holding the conventional advantage of a transparent laminated film using a biaxially stretched polyester film.例文帳に追加

二軸延伸ポリエステルフィルムを用いた透明積層フィルム従来の利点の有したまま、ハードコート加工時の干渉色むらの軽減と接着性の煮沸試験耐性の向上、加熱時の加熱析出オリゴマーの低減を実現する光学用積層二軸延伸ポリエステルフィルムを提供する事が課題である。 - 特許庁

To solve the problem that an actual network communication speed is unclear although it is understandable whether or not a radio wave interference occurs, only by measuring an electric field strength, and that it is impossible to clarify a transmission status only by measuring the transmission speed using a communication speed test server of the Internet, thus posing difficulty in taking proper steps.例文帳に追加

電界強度を計測しただけでは、電波干渉が発生しているかは理解できるものの、実際のネットワーク通信速度は不明であり、またインターネットの通信速度テストサーバを用いて通信速度を計測しただけでは、伝播の状況が明らかでなく、対応が困難であるという問題を解決する。 - 特許庁

When detecting an analyte (esp. a tumor marker) in a sample immunologically, the method of this invention is to add to a test preparation a substance including a peptide sequence from the framework region of variable domain of a detecting antibody or an antibody for immunothrapy or scintigraphy in order to reduce interference.例文帳に追加

本発明は、サンプル中のアナライト、特に腫瘍マーカーの検出のための免疫学的方法に関し、該方法においては、干渉を減少させるために検出される抗体または免疫療法もしくはシンチグラフィーのために使用される抗体の可変ドメインのフレームワーク領域に由来するペプチド配列を含む物質を試験調製物に加える。 - 特許庁