「interference test」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

To secure a sufficient test writing area in each recording layer while eliminating adverse effect caused by interference between layers produced by a recording condition optimization process in the test writing area of other recording layers in a multilayer optical recording medium of three or more layers.例文帳に追加

３層以上の多層光記録媒体において、他の記録層の試し書き領域における記録条件最適化プロセスによって生じる層間干渉による悪影響を排除するとともに、各記録層で十分な試し書き領域を確保できるようにする。 - 特許庁

The recording wavelengths of reference and signal lights generated by a laser light source 12 to output a plurality of test recording wavelengths λt at adjacent cycles λa are shifted to record interference patterns.例文帳に追加

隣接周期λａを隔てた複数の試験記録波長λｔが出力されるようレーザ光源１２が生成する参照光と信号光の記録波長をシフトさせて、干渉パターンを記録する。 - 特許庁

Therefore, quality improvement in a selection process can be performed by discovering defect caused by interference of bit liners which is hard to discover at I/O compression test of a multi-bit DRAM hitherto.例文帳に追加

したがって、従来多ビットＤＲＡＭのＩ／Ｏ圧縮テスト時の発見が難しかったビット線の干渉による不良を従来のテスト効率を損なうことなく発見することで、選別工程における品質向上ができる。 - 特許庁

This zone plate enables to conduct interference measurement for calibration without increasing unknown measurement error, because it can form the two null wave surfaces (the null wave surface for the test plane and the null wave surface for the Fizeau plane).例文帳に追加

このゾーンプレートは、２つのヌル波面（被検面のヌル波面、及びフィゾー面のヌル波面）を形成することが可能であるので、未知の測定誤差を増やすことなく校正用の干渉測定を行うことを可能とする。 - 特許庁

A wavelength scanning interferometer measures an absolute distance to an object on the basis of a signal of interference light between reference light, which is divided from a light flux emitted from a light source while changing a wavelength of the light flux, and test light.例文帳に追加

波長走査干渉計は、光源から射出される光束の波長を変更しながら該光束から分割された参照光と被検光との干渉光の信号に基づいて被検体までの絶対距離を計測する。 - 特許庁

To obtain not only pass/fail decision of an instrument to be tested but also a test result which enables evaluation of its immunity to interference waves, with a testing apparatus for performing immunity tests.例文帳に追加

イミュニティ試験を行う試験装置において、供試機器の合否判定だけでなく、妨害波に対する耐性を評価し得る試験結果が得られるようにする。 - 特許庁

To arrange at least one inspection reception element at a region corresponding to a test plate and to provide a means that has its own point and can reduce noise interference.例文帳に追加

一個以上の受検素子をテストプレートの対応する区域に配置し、且つその自分の地点を有し、ノイズ干渉を減少出来る手段を提供する。 - 特許庁

To provide a probe card for a semiconductor testing device, improving inconveniences in device test with the interference of a power current between a plurality of DUTs in the prove card applicable to a wafer prober device.例文帳に追加

ウエハプローバ装置に適用するプローブカードにおいて複数ＤＵＴ間の電源電流の干渉に伴うデバイス試験の不具合を改善可能とした半導体試験装置のプローブカードを提供する。 - 特許庁

To conduct the test of railroad remote radio used in communication in a train, without recording a bit error caused by radio interference.例文帳に追加

列車内通信に用いられる鉄道遠隔無線の試験において、混信によって引き起こされるビット誤りを記録することなく試験を行えるようにすることを課題とする。 - 特許庁

To reduce excessive test steps so as to suppress equipment cost while attaining reduction of interference of one and same radio base station with other cells.例文帳に追加

同一の無線基地局の他セルに対する干渉低減を行うことを可能としつつ、余計なテスト行程を減らし、装置コストを抑えることを可能とする。 - 特許庁

To provide an antireflection film, based on the background, which is excellent in chemical adhesion resistance and chemical abrasion resistance before and after a high temperature and high humidity endurance test, and has low haze, high transmissivity and no interference irregularities.例文帳に追加

本発明は上記背景に鑑み、高温高湿耐久試験前後での耐薬品密着性、耐薬品擦傷性に優れ、低ヘイズ・高透過率・干渉むらのない反射防止フィルムを提供するものである。 - 特許庁

To provide a data transmission device wherein the assembling and test time of an apparatus panel for electronic apparatus system configuration is shortened, and electromagnetic interference is prevented.例文帳に追加

電子機器システム構成のための機器パネルの組み立てや試験時間の短縮化、および電磁障害防止を図ったデータ伝送装置を提供する。 - 特許庁

In order to test resistance of the electronic instrument 201 against the electromagnetic interference of first frequency f1, a generation part 102 generates a signal of second frequency f2 in the load applying apparatus 101.例文帳に追加

第１の周波数f1の電磁妨害に対する電子機器２０１の耐性を試験するため、負荷印加装置１０１において、発生部１０２は、第２の周波数f2の信号を発生する。 - 特許庁

To provide a wind tunnel capable of efficiently displaying the effect of a slotted wall, properly inhibiting wall interference, and performing measurement with high precision, even when the state of a test-piece in a measuring portion changes.例文帳に追加

測定部における供試体の状態が変化した場合においても、スロッティドウォールの効果を効率良く発揮させ、適正な壁干渉の抑制を実施でき、高精度な計測を可能とする風洞を提供する。 - 特許庁

To provide an antenna erecting device, which sets an antenna to a desired state, arranges it in a high place and easily performs work for conducting a test on a radio wave reflection interference and the like.例文帳に追加

アンテナを所望の状態に設定して高所へ配置し、電波反射障害等を試験する作業を容易に実行可能とするアンテナ掲揚装置を提供する。 - 特許庁

To provide a semiconductor integrated circuit, having a test pad control circuit for so performing a breakdown voltage that relaxes the control so that the interference due to high voltage will not occur, by checking the state of high voltage when it is selected and when it is non-selected.例文帳に追加

選択時及び非選択時の高電圧状態をチェックし、高電圧による障害が発生しないよう耐圧緩和制御を行うテストパッド制御回路を有する半導体集積回路を提供する。 - 特許庁

Hereby, when the electronic component is loaded on or unloaded from the test tray in the pushing block, interference between a picker and the pushing block does not occur, to thereby enhance working efficiency.例文帳に追加

したがって、本発明の押しブロックはテストトレイに電子部品をロードしたりアンロードする時、ピッカーと押しブロック間の干渉がなく、作業効率を増大させる。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a hard coating film which is excellent in adhesion after a light resistance test, in scratch resistance, in coating film hardness such as pencil hardness, and in leveling properties in coating, with less interference unevenness.例文帳に追加

本発明のハードコートフィルムの製造方法は、耐光試験後の密着性、耐擦傷性、鉛筆硬度等の塗膜硬度、塗工時のレベリング性に優れ、且つ干渉ムラも少ないハードコートフィルムを提供できる。 - 特許庁

To provide an automatic connection device for an electric instrument capable of efficiently executing a performance test for various kinds of electric instruments by preventing interference between a protrusion of the electric instrument and a moving body.例文帳に追加

電気計器の突起物と移動体とが干渉することを防止し、様々な種類の電気計器の性能試験を効率よく実施可能な電気計器用自動結線装置を提供する。 - 特許庁

To provide a high-frequency integrated circuit test apparatus capable of conducting tests such as measuring filter characteristics and interference characteristics of a high frequency integrated circuit, based on the level of an IF signal in its actual working condition.例文帳に追加

高周波集積回路のフィルタ特性、妨害特性の測定において、実使用状態でのＩＦ信号のレベルに基づいたテストができる高周波集積回路テスト装置が求められる。 - 特許庁

A non-interference-system wave front measuring part 3 stores the respective center-of-mass positions of a plurality of condensing spots based on the light condensed by a measuring object optical system 2 in a ground test, as reference center-of-mass positions.例文帳に追加

非干渉方式波面計測部３は、地上試験において測定対象光学系２で集光された光に基づく複数の集光スポットの各重心位置を基準重心位置とし記憶している。 - 特許庁

The determining part 214 determines the irradiation position of the signal light LS in order to avoid an area of small intensity of the interference light, which is to say, to avoid the opacified site in the test eye E.例文帳に追加

照射位置決定部２１４は、干渉光の強度が小さい領域を避けるように、つまり被検眼Ｅ内の混濁部位を避けるように、信号光ＬＳの照射位置を決定する。 - 特許庁

Hereby, since the number of layers of the test substrate can be decreased, a substrate cost is greatly reduced, and a wiring distance between layers is not narrowed, to thereby prevent generation of the mutual interference, and to guarantee measurement accuracy.例文帳に追加

これにより試験基板の層数を減らすことができるので、基板のコストは大幅に下がり、層間の配線距離も狭くならないので、相互干渉が起こらず測定精度を保証できる。 - 特許庁

To obtain a plastic lens exhibiting excellent durability even against a salt water boiling test by applying a hard coat layer having high adhesiveness on a polycarbonate resin plastic lens base without a primer layer, and to obtain a plastic lens that suppresses interference fringes and is improved in the appearance.例文帳に追加

ポリカーボネート樹脂製プラスチックレンズ基材に、プライマー層無しでも密着性の良いハードコート層を設け、塩水煮沸試験に対しても優れた耐性を示すプラスチックレンズを得ることである。 - 特許庁

To provide a probe package structure of a probe card, which provides superior electromagnetic shield effect for shielding against electromagnetic interference, a superior shield protection effect enough to effectively reduce the electromagnetic interference between probes, enabling the probes to act normally respectively and effectively improves the test yield of chips.例文帳に追加

優れた電磁気遮蔽効果を提供出来、電磁気干渉に対する遮蔽効果が優れており、優れる遮蔽保護効果を図れ、プローブ同士間の電磁気干渉を効果的に低減出来、プローブ同士がそれぞれノーマルに作用出来、チップのテストの歩留まりを効果的に向上できる、プローブカードのプローブ包み構造を提供する。 - 特許庁

To provide a method for measuring interference of a non-rotationally symmetric wavefront error in the reflection of an optical face and/or the penetration of an optical element capable of obtaining further higher precision than an ordinary known rotation position test at equal measuring points or obtaining the precision equal to that of the rotation position test at greatly reduced number of measuring points.例文帳に追加

光学面の反射における及び／又は光学要素の透過における非回転対称波面誤差の干渉測定のための方法であって、同等の測定点での通常の既知の回転位置テストよりも一層高い精度が得られ、又は大幅に少ない数の測定点で以って斯かる回転位置テストと同等の精度が得られるような方法を提供する。 - 特許庁

To provide a transmission wavefront measuring method of a birefringence optical element measuring properly a transmission wavefront, even when imaging an interference fringe having a domain where transmission wavefront information is not carried correctly by an influence of birefringence carried by a test optical element.例文帳に追加

被検光学素子が有する複屈折性の影響により透過波面情報が正しく担持されない領域を有する干渉縞が撮像されるような場合でも、透過波面測定を適正に行うことが可能な複屈折性光学素子の透過波面測定方法を得る。 - 特許庁

To provide a substrate for assaying an alkaline phosphatase without being influenced with hemolytic interference when assaying the alkaline phosphatase in a clinical test, a method for assaying using the substrate and an assaying reagent kit comprising the substrate.例文帳に追加

本発明の目的は臨床検査においてアルカリホスファターゼを測定する際に、溶血干渉の影響を受けることなく測定可能となる基質、及び当該基質を用いた測定方法、ならびに当該基質を含む測定試薬キットを提供することにある。 - 特許庁

To provide an engine control apparatus, reducing burdens of conformance test work and map preparation work, avoiding degradation in controllability caused by mutual interference, and making engine output values get closer to request values even when controlled variables are restricted not to exceed a range of use.例文帳に追加

適合試験作業及びマップ作成作業の負担軽減、及び相互干渉による制御性悪化回避を図るとともに、制御量が使用範囲を超えないよう制限されている場合であっても、エンジン出力値を要求値に近づけることができるエンジン制御装置を提供する。 - 特許庁

To provide a real-time measurement branch type interferometer that takes a real-time measurement of light interference with high precision by suppressing disorder of a wavefront during passage through an optical element for converting a reference light and a test light into two circular polarized lights which have mutually opposite rotational directions of polarization.例文帳に追加

参照光および被検光を偏光の回転方向が互いに逆向きとなる２つの円偏光に変換するための光学素子を通過する際の波面の乱れを抑制し、実時間での光干渉測定をより高精度に行うことが可能な実時間測定分岐干渉計を得る。 - 特許庁

As for the external signal terminals 22 of the IC 21, the inspection apparatus 23 controls turning on/off of the FETs, by giving to the test control section 26 a selection signal for selecting an external signal terminal 22, to be driven and checks out the interference state of an internal signal transmission line between the external signal terminals 22.例文帳に追加

そして、検査装置２３を、ＩＣ２１の外部信号端子２２について、テスト制御部２６に駆動対象となる外部信号端子２２の選択信号を与えることでＦＥＴのオンオフを制御し、それらの端子２２の間における内部信号伝送路の干渉状態を検査する。 - 特許庁

To further improve accuracy of a test write power and to secure an optimum power margin by producing an optimum recording mark in a whole zone area of a disk, without being affected to the utmost by the thermal interference due to a linear velocity for every zone while unnecessitating a complicated algorithm or special constitution.例文帳に追加

複雑なアルゴリズムや特別な構成を要せずに、ゾーン毎の線速度による熱的干渉を極力受けず、テストライトパワーのさらなる精度向上およびディスクのゾーン全域で最適な記録マークを生成し最適なパワーマージンを確保する。 - 特許庁

To provide an antireflection film which does not cause color generation such as interference irregularities, is excellent in resistance to scuffing and excellent in adhesiveness and, in particular, has superior resistance to scuffing and adhesiveness even after a light resistance test, and to provide a polarizing plate and an image display apparatus using the antireflection film.例文帳に追加

本発明の目的は、干渉むらのような色味発生がなく、耐擦傷性や密着性に優れ、特に耐光性試験後も優れた耐擦傷性や密着性を有する反射防止フィルム、これを用いた偏光板、画像表示装置を提供することにある。 - 特許庁

A calculation control device 200 forms OCT images of the fundus oculi Ef from the result of the detection of new interference light LC in conformity of the new signal light LS through the test eye E and the new reference light LR through a reference mirror 174.例文帳に追加

演算制御装置２００は、被検眼Ｅを経由した新たな信号光ＬＳと、参照ミラー１７４を経由した新たな参照光ＬＲとに基づく新たな干渉光ＬＣの検出結果に基づいて眼底ＥｆのＯＣＴ画像を形成する。 - 特許庁

A cathode is formed first, and a luminous layer is formed by deposition, followed by forming by sputtering of an anode, forming by deposition of multi-layer interference layers, and coating of a protective layer, and finally, a package is completed as well as a device test is carried out to complete the organic EL full color panel.例文帳に追加

先にカソードを形成し、更に発光層を蒸着形成し、さらにアノードをスパッタ形成し、さらに複数層の干渉層を蒸着形成し、さらに保護層を塗布し、最後にパッケージ完成し並びにデバイス試験を行い有機ＥＬフルカラーパネルを完成する。 - 特許庁

Then, an inter-bit interference extraction test for the semiconductor memory loaded on the memory module can be performed based on the mat information.例文帳に追加

メモリモジュール製造時にメモリモジュールのＳＰＤに半導体メモリのマット情報を記録し、装置でのメモリ試験でＳＰＤに記録したマット情報を読み出し、このマット情報は、メモリモジュールに搭載された半導体メモリ用のビット間干渉摘出試験を実施する。 - 特許庁

To provide an electromagnetic waves generator, regardless of being capable of emitting electromagnetic waves having high electric field intensity, which can use a conventional antenna having a low withstanding voltage and can use a conventional electric power amplifier having a low withstanding voltage/low output and an interference immunity test apparatus using the electromagnetic waves generator.例文帳に追加

高い電界強度の電波を放射できる電磁波発生装置であっても，従来の低い耐電圧のアンテナが使用でき，また，従来の低い耐電圧・低出力の電力増幅器が使用できる電磁波発生装置を提供する。 - 特許庁

To provide an antireflection film which does not cause color generation such as interference irregularities, is excellent in abrasion resistance and adhesiveness and, in particular, has superior abrasion resistance and adhesiveness even after a light resistance test and further to provide a polarizing plate and an image display apparatus using the antireflection film.例文帳に追加

本発明の目的は、干渉むらのような色味発生がなく、耐擦傷性や密着性に優れ、特に耐光性試験後も優れた耐擦傷性や密着性を有する反射防止フィルム、これを用いた偏光板、画像表示装置を提供することにある。 - 特許庁

To provide an antireflective film with which no tint such as interference unevenness is produced, which is excellent in scratch resistance and adhesiveness, and which, in particular, has excellent scratch resistance and adhesiveness even after light resistance test; and to provide a polarizing plate, and an image display device using the same.例文帳に追加

本発明の目的は、干渉むらのような色味発生がなく、耐擦傷性や密着性に優れ、特に耐光性試験後も優れた耐擦傷性や密着性を有する反射防止フィルム、これを用いた偏光板、画像表示装置を提供することにある。 - 特許庁

To solve the problem that an actual network communication speed is unclear although it is understandable whether or not a radio wave interference occurs, only by measuring an electric field strength, and that it is impossible to clarify a transmission status only by measuring the transmission speed using a communication speed test server of the Internet, thus posing difficulty in taking proper steps.例文帳に追加

電界強度を計測しただけでは、電波干渉が発生しているかは理解できるものの、実際のネットワーク通信速度は不明であり、またインターネットの通信速度テストサーバを用いて通信速度を計測しただけでは、伝播の状況が明らかでなく、対応が困難であるという問題を解決する。 - 特許庁

When detecting an analyte (esp. a tumor marker) in a sample immunologically, the method of this invention is to add to a test preparation a substance including a peptide sequence from the framework region of variable domain of a detecting antibody or an antibody for immunothrapy or scintigraphy in order to reduce interference.例文帳に追加

本発明は、サンプル中のアナライト、特に腫瘍マーカーの検出のための免疫学的方法に関し、該方法においては、干渉を減少させるために検出される抗体または免疫療法もしくはシンチグラフィーのために使用される抗体の可変ドメインのフレームワーク領域に由来するペプチド配列を含む物質を試験調製物に加える。 - 特許庁

To provide an optical laminated biaxially stretched polyester film for realizing the reduction of an interference color fringe and the enhancement of the boiling test endurance of adhesiveness at the time of hard coat processing and the reduction of a thermally precipitated oligomer at the time of heating while holding the conventional advantage of a transparent laminated film using a biaxially stretched polyester film.例文帳に追加

二軸延伸ポリエステルフィルムを用いた透明積層フィルム従来の利点の有したまま、ハードコート加工時の干渉色むらの軽減と接着性の煮沸試験耐性の向上、加熱時の加熱析出オリゴマーの低減を実現する光学用積層二軸延伸ポリエステルフィルムを提供する事が課題である。 - 特許庁

This interferometer 10 includes a beamsplitter 32 for splitting a source beam into a test beam 40 and the reference beam 42, an imaging device 24 for detecting an interference pattern, a mirror 38 for reflecting the test beam toward the imaging device, a micromirror 44 for reflecting a portion of the reference beam toward the imaging device and a focusing mechanism 34 for focusing the reference beam on the micromirror.例文帳に追加

干渉計１０は、ソースビーム１４を試験ビーム４０及び基準ビーム４２に分割するビームスプリッタ３２と、干渉パターンを検出する結像デバイス２４と、前記試験ビームを結像デバイスの方向に反射するミラー３８と、前記基準ビームの部分を前記結像デバイスの方向に反射するマイクロミラー４４と、及び、前記基準ビームを前記マイクロミラーに集光する集光機構３４と、を含む。 - 特許庁