「欠野」に関連した英語例文の一覧と使い方(2ページ目) - Weblio英語例文検索

しかし、得意とする分野では世界市場獲得を狙うことをはばからない意欲が、これらの企業の成功に欠かせなかった要因であろう。例文帳に追加

However, in the areas where they are strong, these companies have boldly set out to capture international markets, which is considered to be the key to their success. - 経済産業省

加盟国は、E-Commerceに必要不可欠なインフラを提供する「E-Commerce Enabling Sectors」を確立し、そして当該分野の貿易自由化を進めなければならない。例文帳に追加

Members shall identify and liberalize "E-Commerce Enabling Sectors" which provide the essential infrastructure for E-Commerce.  - 経済産業省

また、幅広い分野の先端的技術を組み合わせるためには、叡智を適切につなげてゆくための存在が不可欠である。例文帳に追加

Combining technologies in wide-ranging sectors will require appropriate linking of knowledge and intelligence. - 経済産業省

以上のようなエネルギー・環境分野における中国政府の取組は、中国一国のみならず、国際的な取組が不可欠となっている。例文帳に追加

It is essential that the efforts of the Chinese government in the area of energy and environment, as mentioned above, are addressed not just by China alone, but internationally. - 経済産業省

小辺路の気象は通年での観測記録を欠くが、十津川・野迫川の両村内もしくは高野山での観測記録から概要を推測できる。例文帳に追加

Although there is no year-round record of the weather of Kohechi, it can be roughly estimated from the record of observations in Totsukawa Village and Nosegawa Village, or from those in Mt. Koya.  - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

例えば、座標系のずれが図１（ｂ）に示すような分布である場合は、その分布に沿って視野を移動させながら、図１（ｃ）の如く要素視野Ｖ１〜Ｖ３による欠陥の探索を行う。例文帳に追加

If the coordinate system offset has the distribution shown in Fig.(b), the defect is searched by element view fields V1-V3 shown in Fig.(c) as the view field is moved along the distribution. - 特許庁

高倍率検査ステップＳ４では、高倍率の対物レンズ１４ｂを用いて、記憶された結晶欠陥の位置を視野領域の中に位置させて対物距離を変えて、視野領域の高倍率検査画像を取得する。例文帳に追加

In a high-magnification inspecting step S4, the high-magnification inspecting image of the visual field region is acquired by positioning the position of the stored crystal defect in the visual field region so as to change an objective distance through the use of a high-power objective lens 14b. - 特許庁

本発明は、塗面欠陥検査処理を実行すべき視野か、実行を要しないかあるいは実行すべきでない視野かを自動的に判別する手法を実現する。例文帳に追加

To realize a technique for automatically discriminating a visual field wherein processing for inspecting the flaw of a coating surface must be performed or a visual field wherein the processing for inspecting the flaw of the coating surface is not required or must not be performed. - 特許庁

このように新分野進出は決して易しいことではないが、既に述べたように企業成長を図る上で不可欠であり、新分野進出に「取り組まない」ことに対するリスクを企業は考える必要もある。例文帳に追加

Entering new fields is no easy matter. As noted above, however, it is essential to enterprise growth, and enterprises need to consider the risks of not taking any steps to enter new fields. - 経済産業省

我が地方と我が時代の粗野な嗜好——たとえば部屋の壁という壁に絵を並べ、床には家具を、家具には骨董品を、といった具合の——にとってさえも、密林の野蛮な生命の欠片はあまり趣味に合わなかっただろう。例文帳に追加

Even the barbarous taste of our time and country, which had loaded the walls of the room with pictures, the floor with furniture, and the furniture with bric-a-brac, had not quite fitted the place for this bit of the savage life of the jungle.  - Ambrose Bierce『男と蛇』

表面の欠陥の検出は透過及び暗視野反射画像を取得すると共に結合上方を使用して粒子及び他の表面の欠陥を検出することにより行われる。例文帳に追加

The detection of defects of the surfaces is executed by detecting the defects of the particles and the other surfaces by acquiring the transmitted and darkfield reflected images and using the upper part of the bonds. - 特許庁

マスク板10ａ〜10ｄには各々狭角135°の切欠きが形成され、それらの切欠き部がＸ線照射野の中心軸14へ向くように配置される。例文帳に追加

Cutouts of a sandwiching angle of 135° are respectively formed on the mask plates 10a to 10d, and these cutout parts are arranged so as to turn to the axis 14 of an X-ray irradiating field. - 特許庁

ウェーハ表面のＬＰＤの検出と暗視野像の検出とを並行して行うことができ、且つ、ＬＰＤの検出感度を高めた表面欠陥検査装置および表面欠陥検出方法を提供する。例文帳に追加

To provide a surface defect inspection apparatus and a surface defect inspection method capable of performing a detection of LPDs on a wafer surface and a detection of a dark field image in parallel with each other and having an improved detection sensitivity of the LPDs. - 特許庁

また、この切り欠き部を塞ぐように、ガンマ線遮蔽用シールドＢ１を備えたことにより、切り欠き部から肩・腕などで発生したガンマ線が視野外からの偶発同時係数として混入することを阻止することができる。例文帳に追加

Moreover, by having a shield B1 for being shielded from gamma rays so as to cover the notch, the intrusion of gamma rays generated in the shoulder, an arm, etc. from the notch as accidental simultaneous factors from the outside of the view can be prevented. - 特許庁

Ｅ１欠失ヘルパーＡｄゲノムを含む単離ＤＮＡ分子であって、該Ｅ１欠失ヘルパーＡｄゲノムが野生型ヘルパーＡｄゲノムよりも低い頻度でパッケージ化されるように変更されたパッケージ化シグナルを該Ｅ１欠失ヘルパーＡｄゲノムが含む単離ＤＮＡ分子である。例文帳に追加

Disclosed is an isolated DNA molecule including an E1-deleted helper Ad genome, wherein the E1-deleted helper Ad genome is altered so that the E1-deleted helper Ad genome is packaged in a lower frequency than that of a wild-type helper Ad genome. - 特許庁

光学式欠陥検査装置または光学式外観検査装置で検出した欠陥を観察する電子顕微鏡5において、欠陥を再検出する光学顕微鏡14を搭載し、この光学顕微鏡14で暗視野観察する際に瞳面に分布フィルタを挿入する構成とする。例文帳に追加

In an electronic microscope 5 for observing the defects detected by an optical defect inspection apparatus or an optical visual inspection apparatus, an optical microscope 14 for redetecting defects is mounted thereupon and a distribution filter is inserted in its pupil surface, when the optical microscope 14 is used to observe dark field. - 特許庁

光学式欠陥検査装置または光学式外観検査装置で検出した欠陥を電子顕微鏡等で詳細に観察する装置において、観察対象の欠陥を確実に電子顕微鏡等の視野内に入れることができ、かつ装置規模を小さくできる装置を提供する。例文帳に追加

To provide an apparatus for detailed observation of defects detected by an optical defect inspection apparatus or by an optical visual inspection apparatus capable of placing a defect to be observed into the field of view of an electronic microscope or the like, without fail, and reducing the size of the apparatus. - 特許庁

光学式欠陥検査装置または光学式外観検査装置で検出した欠陥を観察する電子顕微鏡5において、欠陥を再検出する光学顕微鏡14を搭載し、この光学顕微鏡14で暗視野観察する際に瞳面に分布偏光素子及び空間フィルタを挿入する構成とする。例文帳に追加

The electron microscope 5 for observing a defect detected by the optical defect inspection device or the optical appearance inspection device has a constitution wherein an optical microscope 14 for re-detecting the defect is loaded, and a distribution polarization element and a space filter are inserted onto a pupil surface when performing dark field observation by the optical microscope 14. - 特許庁

ウェーハ上の欠陥の種類を判別するためのアルゴリズムによれば、複数の暗視野部検出器を含むウェーハ検査装置によって測定されたウェーハ上の欠陥のサイズがＣＯＰの最大サイズを表わす限界値よりも小さければ前記欠陥の種類がパーチクルでないと判定する。例文帳に追加

According to algorithm for discriminating the kind of defect on a wafer, if the size of defect measured with a wafer inspection device containing a plurality of dark field part detectors is smaller than a limit value indicating the maximum size of COPs, the kind of defect is decided as being not particles. - 特許庁

光学式欠陥検査装置または光学式外観検査装置で検出した欠陥を電子顕微鏡等で詳細に観察する装置において、観察対象の欠陥を確実に電子顕微鏡等の視野内に入れることができ、かつ装置規模を小さくできる装置を提供する。例文帳に追加

To provide a device having a small device scale, allocating surely a defect of an observation object into a visual field of an electron microscope or the like, concerning a device for observing minutely by the electron microscope or the like, a defect detected by an optical defect inspection device or an optical appearance inspection device. - 特許庁

閉塞状態にある我が国経済を再活性化させるためには、成長分野や比較優位にある分野からセンシティブな分野等にいたるまでの幅広い分野に与える様々な影響について配慮した上で、国内市場と海外市場におけるビジネス環境を整備していくことが不可欠であり、我が国はこうした観点から常に最適な対外経済政策を選択し、立案・実施していく必要がある。例文帳に追加

To revitalize the occluded domestic economy, business conditions need to be improved in domestic and offshore markets, taking into consideration the impact on a wide range of areas from growth areas and areas with comparative advantage through to sensitive areas. Optimal external economic policy needs to be constantly selected, drafted and implemented from this perspective. - 経済産業省

過度のリスクテイク及びこれらの基本な原則への違背が、国際的な経済や金融の安定が損なわれる一因となったこの問題は、自己規制と市場規律に依拠する分野でも、公式のルールや監を伴う分野でも、共に生じたことから、市場機能が欠点を抱えていること明らかになった。例文帳に追加

Excessive risk taking and the violation of these basic principles contributed to undermine international economic and financial stability. This occurred both in areas that relied on self regulation and market discipline and in fields with formal rules and oversight, revealing flaws in the functioning of markets.  - 財務省

このような法規制そのものは、その趣旨からして必要欠くべからざるものであるが、その結果として医薬品等の分野では、その分野全体として、本来享受できるはずの特許期間がその規制に係る分だけ享受しえないこととなっている。例文帳に追加

Such legal regulations themselves are indispensable due to the importance of their role. However, these regulations have prevented inventors in the particular fields, such as drug products, from enjoying the benefits of their patent rights during the period required for approval.  - 特許庁

野生型ピロロキノリンキノン依存性グルコース脱水素酵素のアミノ酸配列において、１もしくは数個のアミノ酸を欠失、置換もしくは付加することにより、野生型と比較して、フェリシアン化物イオンをメディエーターとする測定系において、比活性を向上させる方法例文帳に追加

A method for increasing the specific activity of the modified-type dehydrogenase to be more active in comparison with a wild-type dehydrogenase in the measurement system in which the ferricyanide ions are used as the mediator comprises subjecting one or several amino acids to deletion, substitution, or addition in an amino acid sequence of the wild-type pyrroloquinoline quinone-dependent glucose dehydrogenase. - 特許庁

欠陥検査装置において、上方検出系や斜方検出系などの複数の検出系を使用する場合、一つの検出系の視野に対して、他の検出系の視野の位置を補正することによって、検査感度の低減を防ぐことが出来る。例文帳に追加

In the defect inspection system, when a plurality of detectors such as an upright detector and an oblique detector are used, the reduction of the inspection sensitivity can be prevented by correcting the field positions of the other remaining detectors with respect to the field of view of the one detector. - 特許庁

しかしながら、企業活動のグローバル化が進展する中で、海外事業活動が我が国製造企業の競争力強化に不可欠な条件となっていくとすれば、今後は、これまで軽視されてきた文化・観光等サービス分野にもその視野を広げていくことが一層重要と考えられる。例文帳に追加

However, if one realizes that amidst the advance of globalization of corporate activities, overseas business activity has become a necessary condition for strengthening the competitiveness of Japanese manufacturers, then it is even more important to widen the perspective to include the cultural, tourism and other service sectors that have been taken lightly until now. - 経済産業省

エッチング完了後の溝底ショート欠陥やスクラッチを検出するための高仰角照明による暗視野欠陥検出方法において、レンズ反射光などの迷光が像面に到達することによる検査感度を阻害することを防止する。例文帳に追加

To prevent stray light, such as lens-reflected light reaching an image surface from disturbing the inspection sensitivity in a dark field defect detection method by high elevation angle illumination for detecting groove bottom short-circuit defects or scratch, after the completion of etching. - 特許庁

過剰キャリアの濃度分布の測定前に、半導体ウェーハの表面から自然酸化膜を含む酸化膜を除去するので、濃度分布の測定視野内における無欠陥領域上と欠陥領域上での発光強度の差が増大する。例文帳に追加

Since an oxide film including a natural oxide film is removed from a surface of a semiconductor wafer before measuring concentration distribution of excess carriers, a difference of light emission on a non-defective region and on a defective region in a measuring visual field of the concentration distribution is increased. - 特許庁

光源２２，２３のうち、一方の光源を受光器２５に対してＸ方向上流側に、他方の光源を受光器２５に対してＸ方向下流側に設置し、欠陥がないフイルムが位置するときに受光器２５が暗視野状態となり、欠陥があるフイルムが位置するときに受光器２５が受光状態となるようにする。例文帳に追加

When a film free from a flaw is positioned, the photodetector 25 reaches a dark-field state; when a film having a flaw is positioned, the photodetector 25 reaches a light detection state. - 特許庁

瓦桟１０の底面に浅い切欠部１０ａ，１０ｂを形成し、この切欠部１０ａ，１０ｂを通って外気を桟瓦１０と野地板１１や防水シート１３で区画される空間の中を流し、結露で生じた水滴を速やかに蒸発させる。例文帳に追加

Shallow notched parts 10a, 10b are formed in the bottom surface of the batten 10 for holding the tile, and outdoor air is made to flow through the notched parts 10a, 10b into the batten 10 and a space partitioned by a sheathing roof board 11 and a waterproof sheet 13 for the purpose of rapidly evaporating the water droplets generated by condensation. - 特許庁

所定の領域内に視野を害する欠陥があるか否かを容易かつ確実に検査することができ、また検査者の検査結果への影響を低減することができるようにした眼鏡レンズ外観検査用欠陥限度見本具およびその製造方法を提供する。例文帳に追加

To provide a defect limit specimen tool for visual inspection of an eyeglass lens that easily and certainly inspects whether there is a defect that has adverse effect on the field of view in a predetermined region and reduces the influence of an inspecting person on the inspection results. - 特許庁

本発明は、ダークスポット等の欠陥がある場合であってもその欠陥の視認性が低く、あるいは、広視野角性を有することにより、良好な画像表示を得ることが可能である電子表示媒体用ガスバリア膜を提供することを主目的とするものである。例文帳に追加

To provide a gas barrier film for an electronic display medium whereby an excellent image display can be obtained, because even if it has a defect such as a dark spot or the like, the visibility of the defect is low, or it has a wide angle of visibility. - 特許庁

この開口部Ｂは、野地板３に切欠部４を形成し、該切欠部４の外側に透過ガラス８を固定する取付枠６を取り付け、内側に垂木５を固定すると共に該垂木５にセル１を配列して構成したモジュール２を取り付けた取付部材７を固定する。例文帳に追加

This opening part B forms a cut part 4 in a roof board 3, an installation frame 6 to fix a transparent glass 8 is installed on the outer side of the cut part 4, a rafter 5 is fixed on the inside, and an installation member 7 on which a module 2 composed of arranged cells 1 is fixed to the rafter 5. - 特許庁

係止爪または切り欠きを設けた取付け部材に、天井用および内壁用のボードを取付けるか、または、取付けないで、係止爪または切り欠きに野縁受けまたは胴縁の縁部を挿入させるだけで、取付け部材を取付けることを可能とする取付け部材を提供する。例文帳に追加

To provide an attaching member capable of attaching an attaching member by attaching a ceiling or inner wall board to the attaching member providing a locking pawl or a notch or not attaching it and only by inserting a ceiling joist bracket or the edge part of a furring strip in the locking pawl or the notch. - 特許庁

前記複数の暗視野部検出器で各々検出された光量に応じて算出された複数の欠陥サイズ値間の相関関係が予め設定した基準条件を満足するなら、前記欠陥の種類がパーチクルでないと判定する。例文帳に追加

if the correlation between a plurality of defect size values calculated according to each quantity of light detected with a plurality of dark field part detectors satisfies a reference condition previously set, the kind of defect is decided as being not particles. - 特許庁

光照射により光学異方性層のレターデーションが変化する光学異方性層の製造方法、シュリーレン欠陥などの欠陥の少ない光学異方性層を、迅速に製造可能な光学異方性層の製造方法、および視野角拡大に寄与し得る新規な光学補償シートを提供する。例文帳に追加

To provide an optical anisotropic layer manufacturing method for manufacturing an optical anisotropic layer whose retardation is changed by light irradiation and quickly manufacturing the optical anisotropic layer in which defects such as a schlieren defect are reduced and to provide a new optical compensation sheet capable of contributing to the expansion of an angle of visibility. - 特許庁

また、暗視野照明で被検査基板の検査面の暗視野画像を撮像する第１の撮像手段と、前記検査面に照射された単一波長の光の回折画像を撮像する第２の撮像手段と、前記暗視野画像および前記回折画像に基づいて前記検査面の欠陥を検査する検査手段とを有することを特徴とする。例文帳に追加

Further, the substrate inspection apparatus has a first imaging means for capturing a dark field image of the inspection surface of the substrate under inspection by dark field illumination, a second imaging means for capturing the diffraction image of the light of the single wavelength irradiated on the inspection surface and an inspection means for inspecting the flaw of the inspection surface on the basis of the dark field image and the diffraction image. - 特許庁

光学式欠陥検査装置または光学式外観検査装置で検出した欠陥を観察する電子顕微鏡5において、欠陥を再検出する光学顕微鏡14を搭載し、この光学顕微鏡14で暗視野観察する際に瞳面に分布偏光素子及び空間フィルタを挿入する構成とする。例文帳に追加

An electronic microscope 5, for observing defects detected by an optical defect inspection apparatus or an optical visual inspection apparatus, is configured in such a manner that an optical microscope 14 for redetecting defects is mounted thereupon and that a distribution polarization element and a spatial filter are inserted in its pupil surface, when the optical microscope 14 is used to observe dark field. - 特許庁

次低倍率観察モード及び高倍率観察モードを有する顕微鏡装置を用い、低倍率観察モードで前記欠陥を指示するマークを検出し、さらに高倍率観察モードにおいて、検出したマークを用いて観察すべき欠陥を視野内に位置させ、微細欠陥を高倍率観察モードで観察する工程とを具える。例文帳に追加

The method has stages of detecting the marks indicating the defects in the low-magnification observation mode by using a microscopic apparatus having the low-magnification observation mode and the high-magnification observation mode and further observing the microdefects with the high-magnification mode by locating the defects to be observed within a visual field by using the detected marks in the high-magnification observation mode. - 特許庁

ことに、高野山の経蔵がそれまでの火災などのために欠部があるのを、宋版・高麗版などを校合した上で補ったのは、ほとんど快道の業績によるものと目されている。例文帳に追加

Particularly, Kaido is believed to have played a vital role in collating sutras in a kyozo (sutra repository) in Mt. Koya, some of which had been missing due to fire, with Song and Koryo versions and complementing them.  - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

維新後、十世石井一斎は津村又喜（葛野流）、清水然知（高安流）とともに大鼓方の三名人と呼ばれたが、後嗣を欠いたために宗家は絶えた。例文帳に追加

Its head family extinguished after the Meiji Restoration since the 10th Issai ISHII, who was called one of three masters of otsuzumi-kata along with Mataki TSUMURA (Kadono school) and Nenchi (然知) SHIMIZU (Takayasu school), had no children.  - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

これをオリンピック担当大臣の河野一郎が「記録性に欠ける」と批判したことから、「『東京オリンピック』は記録映画か芸術作品か」という大論争を呼び起こすことになった。例文帳に追加

The criticism by Ichiro KONO, Minister of the Olympics saying 'It lacks in recording performance' caused big controversy 'whether "Tokyo Olympic" is a record film or an art.'  - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

但し、現存の絵巻は、冒頭の真備が入唐して幽閉される詞書および、後半部分である「野馬台詩」の解読に成功して帰国を果たす場面は欠いている。例文帳に追加

However, the existing picture scroll is lacking the part of the kotobagaki (epigraphs, head notes) about Makibi arriving in Tang and being imprisoned in the opening scene, and the scene where Makibi succeeds in breaking a code of the 'Yamatai shi' (Poem on Japan) in the latter part.  - Wikipedia日英京都関連文書対訳コーパス

ミレニアム開発目標（MDGs）の達成に向けた一層の努力が必要とされる中で、インフラ分野での支援が、適切かつ効果的に行われることが、途上国の開発を進める上で必要不可欠であることに疑いの余地はありません。例文帳に追加

When further efforts are needed to achieve the Millennium Development Goals, there is no question that efficient and effective infrastructure support is indispensable to advance development. - 財務省

情報通信技術の進展は、世界経済の新たな繁栄のために必要不可欠なものであり、ＡＤＢにおいても情報通信技術分野への積極的な取り組みが重要であります。例文帳に追加

The advancement of ICT is indispensable to the new prosperity of the world economy. So, it is critical for ADB to take steps to help the region fully exploit its ICT potential.  - 財務省