defectを含む例文一覧と使い方
該当件数 : 18303件
To improve an SN ratio of an image signal of a defect spot by adjusting an incident azimuth of each illumination light at a suitable angle for a pattern on a sample, when performing visual inspection of the sample by illuminating the sample with illumination light entering the sample obliquely with respect to the optical axis of an objective lens of a microscope, and by acquiring a sample image.例文帳に追加
顕微鏡の対物レンズの光軸に対して斜めに試料に入射する照明光により試料を照明して試料の画像を取得し試料の外観検査を行う際に、各照明光の入射方位を試料上のパターンに好適な角度に調整して、欠陥箇所の画像信号のSN比を向上する。 - 特許庁
To provide a method for manufacturing optical waveguides, by which a treatment comprising reacting a structural defect present in a light propagation part of the optical waveguide, e.g., an optical fiber, with deuterium molecules or hydrogen molecules having the same effect as that of the deuterium molecules can be performed in a shorter period of time, and a plurality of optical fibers can be collectively and simultaneously treated.例文帳に追加
本発明の目的は、光導波路、例えば光ファイバの、光が伝播する部分に存在する構造欠陥と重水素分子あるいはこれと同じ効果を有する水素分子とを反応させる処理を、より短時間に、かつ複数本の光ファイバを同時に一括処理できる光導波路の製造方法を提供することある。 - 特許庁
The defect inspection apparatus includes a light source 2 for irradiating light toward a substrate 1, a detection means 3 for detecting light reflected from the substrate 1, and a reflecting means 6 for shielding a region not to be measured 5 within the field of view of the detection means 3 and reflecting light irradiated from the light source 2 toward the detection means 3.例文帳に追加
欠陥検査装置は、基材1へ向けて光を照射する光源2、基材1からの反射光を検出する検出手段3、並びに前記検出手段3の視野内で非測定領域5を遮蔽すると共に光源2から照射された光を検出手段3へ向けて反射する反射手段6を備える。 - 特許庁
To provide a testing device for determination of a display defect including display irregularity and the like to be appeared on a display surface of a plane display device and a manufacturing method of the plane display device using this which are capable of making determination of display irregularity and the like precisely and reliably without being affected by skill level and some difference of operation conditions.例文帳に追加
平面表示装置の表示面に表れる表示ムラその他の表示欠陥を判定するのに用いる検査具、及びこれを用いる平面表示装置の製造方法において、表示ムラ等の判定を、熟練度や多少の作業条件の違いに左右されることなく、高い精度及び信頼度にて行うことができるものを提供する。 - 特許庁
The home ecological broom does not depend on the electric vacuum cleaner, considers the advantages and disadvantages of an age-old hand broom, removes the defect of poor hygiene to cause dust, uses urethane resin as a raw material, takes advantage of moderate flexibility, and uses has cylindrical or rod-shaped assembled mass of entities with the same thinness as the strength as the tip of the broom.例文帳に追加
電動式掃除機に頼らず、昔からある手箒の、長所、短所を考え、埃を立てる不衛生さの欠点を無くし、素材をウレタン樹脂とし適度の柔軟性を活かし、その強度と、同一の細さを持つ円筒形・棒状の、多数集合させた物で、箒の穂先として使用する事を特徴とする家庭用エコ箒 - 特許庁
To solve the problem that, in a defect inspection system using a plurality of detectors such as an upright detector and an oblique detector, if illumination light and wafer height are adjusted to the detection field of view of one detector, a defocused image is detected by other remaining detectors, resulting in degradation of the detection sensitivity.例文帳に追加
欠陥検査装置において、上方検出系や斜方検出系などの複数の検出系を使用する場合、一つの検出系の検出視野に対して照明光およびウェハ高さを合わせた場合、他の検出系においてデフォーカスした像を検出してしまうため、欠陥検出感度が低下するという問題を解決する。 - 特許庁
To provide a method for manufacturing a single crystal, in which the single crystal having a desired defect area can be efficiently manufactured in a short time at a high yield by controlling the ratio V/G by controlling change of the crystal temperature gradient G during pulling the single crystal without reducing the pulling speed V when the single crystal is grown by a Czochralski (CZ) method.例文帳に追加
CZ法により単結晶を育成する際に、引上げ速度Vを低速化させずに結晶引上げ中の結晶温度勾配Gの変化を制御することによりV/Gを制御して、所望の欠陥領域を有する単結晶を短時間で効率的に、かつ高い歩留まりで製造することのできる単結晶の製造方法を提供する。 - 特許庁
To provide a manufacturing method of a silicon substrate with a lifetime of 500 μsec or more that includes neither oxygen precipitates nor defects (RIE defect) detected by an RIE method such as COP or OSF at a depth of at least 1 μm from a surface serving as a device manufacture region, and to provide the silicon substrate manufactured by such method.例文帳に追加
デバイス作製領域となる表面から少なくとも1μmの深さに、酸素析出物、COP、OSF等のRIE法により検出される欠陥(RIE欠陥)が存在せず、かつ、ライフタイムが500μsec以上のシリコン基板の製造方法及び当該方法により製造されたシリコン基板を提供することを目的とする。 - 特許庁
To rapidly and efficiently recognize a defect in a report function, and also to investigate the cause of a fault by normally and visually monitoring whether electronic detection is reliably performed or not regardless of a situation during a game when the passage of a game ball is electronically detected, and a game state is changed by the detection.例文帳に追加
遊技球の通過を電子的に検出し、この検出によって遊技状態に変化を持たせる際に、この電子的な検出が確実になされているか否かを遊技中の状況に拘らず、常に目視にて監視することができ、報知機能の不良を迅速、かつ効率よく認識、並びに故障の原因を究明を行うことができる。 - 特許庁
To provide a steel plate for spot welding which prevents strength degradation due to defect or breaking caused by an inclusion when spot welding of the steel sheets is carried out, assures good workability, forms a welded zone with a high reliability, and is excellent in weld zone strength after welding; and to provide a spot welding joint excellent in weld zone strength.例文帳に追加
鋼板同士をスポット溶接した際に、介在物を起因とする欠陥や割れが生じて強度が低下するのを防止でき、良好な作業性を確保しつつ、信頼性の高い溶接部を形成することが可能な、溶接後の溶接部強度に優れるスポット溶接用鋼板、及び、溶接部の強度に優れるスポット溶接継手を提供する。 - 特許庁
To provide a medical surface-nanoscale processed titanium promoting the proliferation and the differentiation of osteoblastic cells, which performs osteoanagenesis by being packed into a joining part between an artificial bone and a bone, reinforcing material for a fractured bone part, various types and shapes of dental implant materials, a mesh-type reinforcing material and a screw and further into an osseous defect site of a jawbone.例文帳に追加
人工関節と骨との接合部や骨折部への補強材、各種形状の歯科インプラント材、メッシュ型補強材およびネジ、更には顎骨などの骨欠損部に填入することにより、骨再生を図ることができるようにした骨芽細胞系細胞の増殖と分化を促進する医療用ナノ表面加工チタンを提供する。 - 特許庁
The laminate is characterized in that a layer comprising an oxygen barrier base material A is provided to a single layer comprising a resin composition layer, which is prepared by compounding 0.5-50 wt.% of an inorganic compound, which has an oxygen defect, subjected to reduction treatment to a thermoplastic resin, or a multilayered structure containing it through an adhesive layer.例文帳に追加
還元処理を施した酸素欠陥を有する無機化合物を熱可塑性樹脂に対し、0.5重量%から50重量%の範囲で配合した樹脂組成物層の単層あるいはこの層を含む多層体に、接着層を介して酸素バリア性基材Aからなる層を設けたことを特徴とする積層体などを提供する。 - 特許庁
To extremely suppress and reduce deviation in a superposed image by evading a defect that the deviation in the superposed image is largely caused because the cycle of the rotational fluctuation of each photoreceptive drum is made different and making the phase of the cycle of the rotational fluctuation of each photoreceptive drum coincident in the full-color copying machine of four-series tandem type.例文帳に追加
この発明は、4連タンデム式のフルカラー複写機において、各感光体ドラムの回転変動の周期が異なり、画像重ね合わせずれが大きく発生してしまうという欠点を回避して、各感光体ドラムの回転変動の周期の位相を合わせることにより、画像重ね合わせずれを極力抑制でき、低減できる。 - 特許庁
To provide an evaluation method for a silicon single-crystal wafer allowing the prediction of a breakdown voltage defect caused by the wafer quality after the completion of device manufacturing process by obtaining in advance in the stage of the wafer the evaluation result of a GOI characteristic which is close to the GOI characteristic obtained after the completion of the device manufacturing process (device product).例文帳に追加
本発明は、デバイス製造工程終了後(デバイス製品)のGOI特性の評価結果と近いGOI特性の評価結果を、ウェーハ段階で事前に得ることができ、デバイス製造工程終了後のウェーハ品質に起因する耐圧不良を予測することが可能となるシリコン単結晶ウェーハの評価方法を提供する。 - 特許庁
To provide an evaluation method for accurately evaluating a wafer surface quality, especially fine defects on the surface of a wafer and to provide a silicon wafer, for which a contamination or defect level that cannot be confirmed conventionally, is confirmed with this evaluation method, and especially a silicon wafer with which device characteristics will not degrade.例文帳に追加
従来のウェーハ評価方法では十分な評価を行うことができなかった、ウェーハ表面品質、特にウェーハ表面の微小な欠陥を精度良く評価方法を提供すると共に、この評価法により、今まで確認できなかった汚染や欠陥レベルまで確認されたウェーハ、特にデバイス特性が劣化しないシリコンウェーハを提供する。 - 特許庁
To provide a manufacturing method of a stencile mask for ion implantation, having excellent heat resistance, durability and ion implantation accuracy by reducing a critical defect of a stencile mask for ion implantation such as deformation of a membrane due to heat generated from an ion beam in an ion implantation process using the stensile mask for ion implantation to be executed in manufacture of semiconductor devices.例文帳に追加
半導体デバイス作製において行われる、イオン注入用ステンシルマスクを用いたイオン注入工程において、イオンビーム発熱に起因したメンブレンのたわみという、イオン注入用ステンシルマスクの致命的欠陥を低減し、優れた耐熱性や耐久性およびイオン注入精度を有するイオン注入用ステンシルマスクの製造方法を提供すること。 - 特許庁
To provide an image forming apparatus capable of maintaining the charging capability of a contact charging member of a charging device by removing unnecessary matter sticking on the contact charging member without wasting effective toner used for normal image forming operation and performing image formation free of picture quality trouble due to a defect in charging.例文帳に追加
通常の画像形成動作に使用される有効なトナーを消費することなく、帯電装置の接触帯電部材に付着する不要物を可能な限り取り除いて、その接触帯電部材の帯電能力を保持し、帯電不良に起因した画質障害が発生しない画像形成を行なうことができる画像形成装置を提供する。 - 特許庁
To provide a data communication adaptor that gives data to other information processing unit on the basis of the data from one information processing unit, reduces a data transmission time and a communication charge when the other information processing unit transmits the data through electric communication and improves a defect caused by a cable extended from the adaptor.例文帳に追加
一方の情報処理装置からのデータに基づいて他方の情報処理装置にデータを入力させるデータ通信用アダプタにおいて、他方の情報処理装置により電気通信によりデータを送信するときのデータ送信時間および通信料金を低減し、またアダプタから延出するケーブルに起因した不具合を改善する。 - 特許庁
To provide a magnetic head manufacturing method which can remarkably reduce the defect rate of the products by achieving a magnetic head manufacturing method which can actually form possible broken magnetic poles and bent magnetic poles in advance during the period the magnetic poles and their protective layers are formed in a manufacturing process of a magnetic head.例文帳に追加
磁気ヘッドの製造工程において、磁極が形成されてから当該磁極の保護層が形成されるまでの間に発生し得る磁極飛び・磁極曲りをあらかじめ現出させることが可能な磁気ヘッドの製造方法を実現し、それにより、製品の不良品率を著しく低下させることが可能な磁気ヘッドの製造方法を提供する。 - 特許庁
To provide a pressure-sensitive adhesive film that has excellent performance for protecting optical sheets, permits high-accuracy defect inspection of the optical sheet to which the adhesive sheet is applied and gives good coating appearance, when the optical sheet after adhesive film is peeled off is coated with an adhesive or a hard coating agent or the like.例文帳に追加
光学シートの保護性能に優れ、粘着フィルムを貼った状態で光学シートの欠陥検査を精度良く行うことができ、また、粘着フィルムを剥離した後の光学シート表面に接着剤やハードコート剤等を塗工した時の塗工外観が良好である等の特長を有する光学シート保護用粘着フィルムを提供する。 - 特許庁
The start of the drive transistor threshold detection operation for boostrap is determined by off of the first detecting transistor T1 and the end of the threshold detection operation is determined by off of the switching transistor T3 connecting the drain of the drive transistor and a power source potential, thereby averting the sharpness defect caused by the current that the drive transistor flows after the threshold detection operation.例文帳に追加
そしてブートストラップ用ドライブトランジスタ閾値検出動作の開始を、第1の検知トランジスタT1のオフで決定し、また閾値検出動作の終了をドライブトランジスタのドレインと電源電位を接続しているスイッチトランジスタT3のオフで決定することにより、閾値検出動作後にドライブトランジスタが流す電流によって生じる画質不良を回避する。 - 特許庁
The circuit board 5 is held between a substrate correction tool 12 and a substrate correction guide 13 at one or more positions at least, and the circuit board 5 is heated and pressed by a semiconductor bare chip pressing tool 14 while being corrected by pressing, thereby preventing destruction of the semiconductor bare chip to be mounted later and preventing the recognition defect and erroneous recognition.例文帳に追加
回路基板5の少なくとも1箇所以上を基板矯正ツール12と基板矯正ガイド13で挟み込み、押圧して回路基板5の矯正を行いながら、半導体ベアチップ押圧ツール14にて押圧し、加熱加圧を行うことにより、後から実装する半導体ベアチップの破壊防止、認識不良及び誤認識の防止が可能となる。 - 特許庁
To provide an inkjet recorder and an inkjet recording method, capable of recording quickly a satisfactory image reduced in ink spreading between respective colors and reduced in deterioration of image quality, while reducing the generation of a stripe-like defect even in different kinds of recording media and ink, when carrying out multicolor printing at a high speed by a single path system.例文帳に追加
シングルパス方式で高速での多色印刷する場合において、記録媒体やインクの種類異なったとしてもスジ状の欠陥の発生を低減しつつ、各色インク間でのインク滲みが少なく画質劣化の少ない良好な画像を高速で記録することが可能なインクジェット記録装置及びインクジェット記録方法の提供。 - 特許庁
To provide an inkjet recorder and an inkjet recording method, capable of recording quickly a satisfactory image reduced in ink spreading between respective colors and reduced in deterioration of image quality, while reducing the generation of a stripe-like defect even in different kinds of recording media and ink, when carrying out multicolor printing at a high speed by a single path system.例文帳に追加
シングルパス方式で高速での多色印刷する場合において、記録媒体やインクの種類が異なったとしてもスジ状の欠陥の発生を低減しつつ、各色インク間でのインク滲みが少なく画質劣化の少ない良好な画像を高速で記録することが可能なインクジェット記録装置及びインクジェット記録方法の提供。 - 特許庁
The three sets of optical sensors 3 comprise a first optical sensor for detecting a base of the isotonic drink cap, a second optical sensor provided to detect an over-cap immediately before the detection, and a third sensor for searching slightly above the over-cap, wherein a defect in mounting the isotonic drink cap is determined according to a combination of detection signals from the optical sensors.例文帳に追加
3組の光センサー3は、スポーツキャップの基部を検出する第1の光センサーと、その検出開始直前にオーバーキャップを検出するように設けられた第2の光センサーと、オーバーキャップの僅か上方を検索する第3の光センサーとからなり、これらの光センサーからの検出信号の組合せによってスポーツキャップ装着不良を判定する。 - 特許庁
In the layout verification method of a semiconductor device for verifying a formation defect which occurs in wiring on a chip layout, an area ratio between the total area of the same node wiring on the chip layout and the total area of a contact hole on the same node wiring is limited and based upon the limitation, propriety is judged to detect the portion where the wiring formation is defective.例文帳に追加
チップレイアウト上の配線で発生する形成不良を検証する半導体装置のレイアウト検証方法であって、チップレイアウト上で同一ノード配線の総面積と同一ノード配線上のコンタクトホールの総面積との面積比を制限し、この制限に基づいて良否判定することにより配線形成不良箇所を検出する。 - 特許庁
To provide a method of preparing chemical mechanical polishing aqueous dispersion capable of preventing a surface defect such as dishing, erosion, scratch or fang in a planarization process of a polishing object surface by chemical mechanical polishing, and to provide a chemical mechanical polishing aqueous dispersion preparing set excelling in long-term preservation stability, even in a condensed state.例文帳に追加
化学機械研磨による被研磨面の平坦化工程においてディッシング、エロージョン、スクラッチないしファング等の表面欠陥を抑制することができる化学機械研磨用水系分散体の調製方法、および濃縮状態においても長期保存安定性に優れる化学機械研磨用水系分散体調製用セットを提供することにある。 - 特許庁
A position in the material roll before the optical films F11, F21 bonded to the optical display unit W are cut is specified based on the panel information corresponding to the optical display unit W of the optical display device determined by the inspection of an inspecting apparatus 30 that a defect exists, and the roll information coordinated to the panel information.例文帳に追加
検査装置30の検査により欠点があると判断された光学表示装置の光学表示ユニットWに対応するパネル情報と、当該パネル情報に対応付けられたロール情報とに基づいて、当該光学表示ユニットWに貼り合せられている光学フィルムF11,F21が切断される前のロール原反における位置を特定する。 - 特許庁
To provide a vehicle floor material that is excellent in wear resistance and shock resistance, exerts durability over a long time and is much lighter than a steel plate, wherein the characteristics can be exerted and repaired in a state that the vehicle floor is placed on the vehicle even when a woody material with defect such as lesions on its surface is used.例文帳に追加
耐摩耗性や耐衝撃性に優れ、長期間に亘って耐久性を発揮し、しかも鋼板に比べて圧倒的に軽い車両用床材であって、表面に傷等の欠陥のある木質材料を用いた場合でも上記特性を発揮させることが可能で、車両に載せた状態で補修することも可能な車両用床材を提供すること。 - 特許庁
In the constitution, an AE sensor body 21 for detecting acoustic energy generated when pressurized gas sealed by contacting a detection surface 21a to a vessel surface 1a leaks from a small defect, and a holding means 22 to 25 for holding the AE sensor body 21 and uniformly contacting the detection surface 21a to the vessel surface 1a are provided.例文帳に追加
検出面21aを容器表面1aに接触させて封入した加圧気体が微細欠陥から漏洩するときに発生する音響エネルギを検出するAEセンサ本体21と、AEセンサ本体21を保持し、検出面21aを容器表面1aに均一に接触させる保持手段22〜25とを備えた構成としたものである。 - 特許庁
When radiating light onto a liquid crystal composition containing a photosensitive material, the alignment of liquid crystal molecules is adjusted by applying a voltage to the liquid crystal composition layer to achieve substantially orderly alignment of the liquid crystal molecules, or the alignment of the liquid crystal molecules is made uniform by adjusting the structure of the liquid crystal display device, or any display defect is driven out of the display area.例文帳に追加
感光性の材料を含む液晶組成物を感光させるに際して、液晶組成物層に電圧を印加して液晶分子の配向を調整し、液晶分子の配向をほぼ一定にし、あるいは液晶表示装置の構造を調整して液晶分子の配向を均一化し、または表示欠陥を表示領域外に規制する。 - 特許庁
To suppress sweeping, fogging, toner scattering, faulty cleaning and an image defect called vertical streaks of a deep color in an image forming method and an image forming unit by a nonmagnetic one-component jumping development system, and to provide an image forming method and an image forming unit in which neither density lowering under a shielding member nor toner deposition on the shielding member is caused.例文帳に追加
非磁性一成分ジャンピング現像方式における画像形成方法や画像形成ユニットにおいて、掃き寄せ、カブリ、トナー飛散、クリーニング不良、濃色縦スジと呼ばれる画像欠陥を改善し、遮蔽部材による濃度薄や遮蔽部材へのトナー付着を起こさない画像形成方法や画像形成ユニットを提供することにある。 - 特許庁
To provide a positive resist composition, in which the problems of the performance improvement technique of a microphoto application of its own using far ultraviolet ray, particularly ArF excimer laser beam are solved and concretely, the improvement of sensitivity and resolution and a problem of generation of development defect at the time of developing are resolved and which is small in roughness and fineness dependency and capable of obtaining an excellent resist pattern.例文帳に追加
遠紫外光、とくにArFエキシマレーザー光を使用するミクロフォトファブリケ−ション本来の性能向上技術の課題を解決することであり、具体的には、感度及び解像力に優れ、現像の際の現像欠陥発生の問題が解消され、疎密依存性が少なく優れたレジストパターンが得られるポジ型レジスト組成物を提供すること。 - 特許庁
To provide parison for a balloon that helps stably manufacture a balloon catheter without causing failure to expand, explosion at the moment of expansion, and does not cause an appearance defect such as a split, a crack, a pinhole, a dent or the like on the surface of a balloon even if the balloon is formed, when carrying out biaxial drawing blow molding in the manufacture of a polyamide elastomer balloon.例文帳に追加
本発明は、ポリアミドエラストマー製のバルーン作製において、二軸延伸ブロー成形をする際に、膨らまなかったり、膨らんだ途端に破裂するようなことがなく、また成形できてもバルーン表面に割れ、ひび、ピンホール、くぼみ等の外観不良を生じない、安定してバルーンカテーテルを作製できるバルーン用パリソンを提供する。 - 特許庁
By adding linear replacement control (LRC) bits to an SDL (secondary defect list) entry in order to distinguish defective block information listed in the SDL entry according to a linear replacement algorithm from defective block information listed in the SDL according to a skipping algorithm, the optical recording medium recording/reproducing device transmits correct information to a host.例文帳に追加
リニア交替アルゴリズムに従ってSDLエントリにリストされた欠陥ブロック情報と、スキッピング・アルゴリズムに従ってSDLエントリにリストされた欠陥ブロック情報とを区別するために、リニア交替制御(LRC)ビットを2次欠陥リスト(SDL)エントリに追加し、これによって光記録媒体記録/再生装置が、ホストに正しい情報を送信できるようにする。 - 特許庁
To provide a catalyst to be used for the reaction of producing methane by reaction of hydrogen with carbon dioxide, carbon monoxide, or their gas mixture, wherein the catalyst has high activity, improved durability, and is free from a defect, that is, deterioration of capability due to wear even if it is used for a fluidized-bed reactor; and to provide a method for producing the catalyst.例文帳に追加
二酸化炭素、一酸化炭素またはそれらの混合ガスと水素との反応によりメタンを生成させる反応に使用する触媒であって、高い活性を有するとともに、改善された耐久性を有し、流動床反応器に使用した場合でも摩耗による性能の劣化という欠点のない触媒と、その製造方法を提供する。 - 特許庁
To provide an oxetane compound capable of recording a high-precision image having excellent letter quality and free from the generation of color mixing defect, an actinic energy curable composition containing the oxetane compound, an ink composition for ink-jet recording, an image-forming method by ink-jet recording with the composition, a printed material free from crease and curl and a recording apparatus.例文帳に追加
本発明の目的は、文字品質に優れ、色混じりの発生がなく、高精細な画像を記録することができるオキセタン化合物と、これを用いた活性エネルギー線硬化組成物、インクジェット用インク組成物と、これを用いたインクジェット記録方法による画像形成方法、しわやカールの発生が無い印刷物と記録装置を提供することにある。 - 特許庁
Resin layers are formed by packing a resin to the circumferences of the elements arranged on the front surface of a release material layer and the elements and the peeling surfaces of the resin layers are formed flush with each other by peeling the resin layers from the release material layer, by which electrode pads and wiring are easily formed while the defect of connection is suppressed.例文帳に追加
本発明は、離型材層の表面に配置された素子の周囲に樹脂を充填して樹脂層を形成し、前記樹脂層を前記離型材層より剥離することにより前記素子と前記樹脂層の剥離面を同一平面に形成することにより、接続不良を極力抑えながら電極パッド及び配線を容易に形成することができる。 - 特許庁
To provide an inexpensive and compact examination device capable of improving the examination quality by providing an examiner with an examination image of high visibility of a defect using a camera having a usual resolution, and to provide an examination device allowing the same examiner to take charge also of examination of different power generation plants without examination at the side.例文帳に追加
通常の解像度を有するカメラを用いて検査員に欠陥の視認性が良い検査画像を提供することで、検査品質が向上できる低コストでコンパクトな検査装置を提供することができると共に、検査員が現場で検査することなく、同一の検査員が異なる発電プラントの検査も担当できる検査装置を提供する。 - 特許庁
To provide a detection method and a detection apparatus of stain defects that have high detection output also for a defect having a low contract or a small size, automatically determine a threshold for detection as the stain defects, based on statistical brightness data in a detected image, and further achieve the quantitative evaluation of the detected stain defects.例文帳に追加
コントラストの低い、あるいはサイズの小さい欠陥に対しても高い検出力を有するとともに、シミ欠陥として検出するための閾値を検出画像内の輝度統計データに基づいて自動的に決定し、さらに検出されたシミ欠陥の定量評価を可能にしたシミ欠陥の検出方法及びその検出装置を提供する。 - 特許庁
The substrate inspection method detects the defect on the basis of a plurality of detection brightness values and a plurality of comparison brightness values determined to detect diffusion light from a detection position on a substrate and a comparison position corresponding thereto with a plurality of detectors arranged in different directions under dark field illumination.例文帳に追加
本発明に係る基板検査方法は、暗視野照明下において基板上の検査位置及びこれに対応する比較位置からの散乱光を異なる方向に配置された複数の検出器により検出して得られた複数の検査用輝度値及び複数の比較用輝度値に基づいて欠陥を検出する基板検査方法である。 - 特許庁
To provide a method for manufacturing a single crystal, in which the single crystal having a desired defect area can be efficiently manufactured in a short period of time by controlling the ratio V/G by controlling a change in the crystal temperature gradient G during pulling the single crystal without reducing the pulling speed V when the single crystal is grown by a Czochralski (CZ) method.例文帳に追加
CZ法により単結晶を育成する際に、引上げ速度Vを低速化させずに引上げ中の結晶温度勾配Gの変化を制御することによりV/Gを制御して、所望の欠陥領域を有する単結晶を短時間で効率的に製造することのできる単結晶の製造方法を提供する。 - 特許庁
The scattering light emitted from the semiconductor substrate 2 is detected by using a CCD camera 3, haze being background light eliminating the scattering light caused by a shape including crystal defect existing in the semiconductor substrate 2, particles and pits is measured, and the recombined life time of a carrier in the semiconductor substrate 2 is found in non-destruction and non-contamination.例文帳に追加
CCDカメラ3を用いて半導体基板2から発生した散乱光を検出し、半導体基板2中に存在する結晶欠陥、パーティクル、ピットを含む形状に起因するこの散乱光を除いた背景光であるヘイズを計測し、この散乱強度に基づいて半導体基板2中のキャリアの再結合ライフタイムを非破壊かつ非汚染で求める。 - 特許庁
A surface wave 9 and the elastic wave 10 in the irradiation are detected with the lapse of time by a laser interferometer 8 for collimating the surface 2 of the diagnosed portion 4, the presence of an internal defect 5 or a buried body in the concrete structure 1 in the diagnosed portion 4 is diagnosed based on a waveform change from detection of the surface wave 9 to detection of the final elastic wave 10.例文帳に追加
被診断部位4の表面2を視準するレーザ干渉計8により前記照射時の表面波9と弾性波10とを経時的に検出し、表面波9の検出から最終の弾性波10の検出までの波形変化から被診断部位4におけるコンクリート構造物1の内部欠陥5又は埋設物の有無を診断する。 - 特許庁
To provide a drying device of garbage which prevents draining defect from being caused by slime or mold generated in a sub-drain channel or a strainer provided in a sub-drain port, and clogging of a strainer, in the case of providing the sub-drain channel bypassing a drying vessel and discharging sink drain when drying garbage.例文帳に追加
生ごみの乾燥処理を行っているときにシンク排水を排出可能な乾燥容器をバイパスする副排水路を設けた場合おいて、副排水路や副排水口に備えられたストレーナにヌメリやカビ等が発生し、またストレーナが目詰まりして排水不良が生じるのを解決できる生ごみの乾燥処理装置を提供する。 - 特許庁
This signal processing means 2 detects, as an echo signal, a flaw detection signal having a height of a predetermined threshold or higher, among flaw detection signals output from the ultrasonic probe 1, and, determines the existence of the defect when continuously detecting the echo signal in the axial direction of the pipe P at a specific position of the circumferential direction of the pipe P.例文帳に追加
信号処理手段2は、超音波探触子1から出力される探傷信号の内、所定のしきい値以上の高さを有する探傷信号をエコー信号として検出し、該エコー信号を管Pの周方向の特定位置において管Pの軸方向に連続的に検出したときに、欠陥が存在すると判定する。 - 特許庁
By attaching an ultrasonic receiver which receives SH wave and an ultrasonic transmitter which sends SH wave through a coupling medium on an exposed surface of a concrete structure 11 of which the part is laid underground, and by analyzing the pattern of the SH wave the receiver receives, the position or size of a defect of the concrete structure 11 can be detected.例文帳に追加
地盤にその一部が埋設されたコンクリート構造物11の露出面にSH波を受信する超音波受信子とSH波を発信する超音波発信子とを接触媒質を介して密着させ、前記受信子で受信されるSH波のパターンを解析してコンクリート構造物11の欠陥の位置やサイズを検出する。 - 特許庁
The ink for correcting the minute defect in colored pattern contains monomer having at least a colorant, a dispersing agent, and a reactive functional group and a solvent, wherein the solvent contains 40-100 wt.% of a solvent (A) having boiling point of 160-250°C and specific evaporation rate of 40 or less based on the total amount of solvent.例文帳に追加
少なくとも、着色剤と、分散剤と、反応性官能基を有するモノマーと、溶剤を含有し、前記溶剤が、沸点が160℃〜250℃で、且つ比蒸発速度が40以下の溶剤(A)を溶剤全量に対して40重量%〜100重量%の範囲で含有することを特徴とする、微小着色パターン欠陥修正用インキ。 - 特許庁
In the semiconductor multilayer film comprising an Si single crystal substrate, and an Si_1-XGe_X (0<X≤1) film formed thereon, the Si_1-XGe_X film is preferably formed by magnetron sputtering method such that the surface defect density on the Si_1-XGe_X film becomes 10^4/cm^2 or less.例文帳に追加
Si単結晶基板と、このSi単結晶基板上に形成されたSi_1−XGe_X(0<X≦1)膜とを具えた半導体積層膜において、前記Si_1−XGe_X膜は好ましくはマグネトロンスパッタリング法で形成し、前記Si_1−XGe_X膜の表面欠陥密度が10^4/cm^2以下となるようにする。 - 特許庁
To provide a nonmagnetic single component color toner which satisfies the optimum conditions relating to distribution of the toner particle size, which does not cause an image defect in an initial stage such as fog or cleaning failure, which suppresses increase in the particle size due to toner selection phenomenon in a life test for continuous printing, and which is free from a problem such as increase in the image density.例文帳に追加
トナー粒径分布に関しての最適条件を満足し、かぶりやクリーニング不良などの初期的な画像不良を生じることがなく、連続印字のライフテストにおいても、トナー選択現象による粒径の増大化を抑制し、画像濃度の上昇などの不具合がない非磁性一成分カラートナーを提供することを目的とする。 - 特許庁
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