「defect」に関連した英語例文の一覧と使い方(359ページ目) - Weblio英語例文検索

To provide an artificial quartz crystal having low line defect density in order to solve the extreme difficulty in growing the artificial quartz crystal having the decreased line defects as the generation of growth progresses in the current growth method of using a Y rod or Z plate as the seed quartz crystal.例文帳に追加

現状のＹ棒またはＺ板を種水晶として用いる育成法では、育成の世代が進むにつれて線状欠陥の少ない人工水晶を育成することは非常に困難である．本発明は上記課題を解決するためになされたものであって線状欠陥密度の低い人工水晶を提供することを目的とする。 - 特許庁

The analyzer is an inspection device interface module 214, constituted to simulate an inspection device interface 212 in at least one display unit, the inspection device interface includes functions usable on corresponding inspection tool, and at least one part of the inspection device interface includes the inspection device interface module, based on a defect result from the inspection tool.例文帳に追加

この装置は、前記少なくとも１つのディスプレイ装置中で検査器インタフェース（２１２）をシミュレーションするよう構成された検査器インタフェースモジュール（２１４）であって、前記検査器インタフェースは、対応する検査ツール上で利用可能な機能を含み、前記検査器インタフェースは、少なくとも一部は前記検査ツールからの欠陥結果に基づく、検査器インタフェースモジュールを含む。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a diaphragm for an air spring by which durability and molding accuracy of the diaphragm is considerably improved by satisfactorily preventing the occurrence of a defect such as a bare spot on the outer surface of the diaphragm without requiring the disposition of a vent hole in a vulcanization mold, that is, without causing a vent spew on a product diaphragm.例文帳に追加

加硫金型にベントホールを設ける必要なしに、いいかえれば、製品ダイアフラムにベルトスピューを発生させることなしに、そのダイアフラムの外表面へのベア等の欠陥の発生を十分に防止することで、ダイアフラムの耐久性および成形精度を大きく向上させた空気ばね用ダイアフラムの製造方法を提供する。 - 特許庁

A hole for converting the pressure of leaking gas or an obstacle to a gas current is installed for the gas leakage detecting device and an inspector hears the pressure of the leaking gas as an audible sound by the simple device, independently of the shape of the defective hole to be inspected nor leak conditions of gas to detect whether there is a defect.例文帳に追加

気体漏れの検出装置に漏れ気体の風圧を音響に変換する孔または気流の障害物を設置することにより、被検査対象の欠陥孔の形状、気体の漏れ条件に関わりなく、簡便な装置で漏洩気体の風圧を可聴音として検査者が聞き取り、欠陥の有無を検出できるようにした。 - 特許庁

The system capable of constructing this plan drawing-up support system dispensing with construction of a massive database, and easily operated, is provided by providing three or more participators, and by setting roles of an operator A for making the decision, an operator B for analyzing the plan to point out a defect, and an operator C determining offense and defense of the both.例文帳に追加

3名以上の参画者を設け、意思決定を行う操作者Ａ、計画を分析して欠点を指摘する操作者Ｂ、両者の攻防を判定する操作者Ｃの役割を設定することによって、膨大なデータベース構築を必要とせず、かつ操作が容易に計画立案支援システムの構築が可能となるシステムを提供する。 - 特許庁

The hydrogen separator includes a porous substrate, and a hydrogen-separating membrane disposed on at least one surface of the porous substrate, wherein the hydrogen-permeable membrane has a defect such that He gas leaked from the other membrane surface side when He gas is supplied on one membrane surface side at a pressure of 0.9 MPa is 0.5 ml/min or smaller per piece in average.例文帳に追加

多孔質支持体と、多孔質支持体の少なくとも一の面上に配設された水素分離膜とを備え、水素分離膜が、一方の膜面側に０．９ＭＰａの圧力でＨｅガスを供給した場合における、他方の膜面側から漏出するＨｅガスが、一個当たり平均０．５ｍｌ／ｍｉｎ以下の欠陥を有する水素分離体。 - 特許庁

To provide a method of manufacturing a semiconductor device with little bonding leakage current of a defective reason by reducing a crystal defect without heat treating at a high temperature for a long time and to provide the method of manufacturing the semiconductor device suitable to improve information maintenance property of a DRAM by this or to reduce the current at the standby time of an SRAM.例文帳に追加

高温で長時間の熱処理を行うことなく、結晶欠陥を低減することによって、欠陥起因の接合リーク電流の少ない半導体装置の製造方法を提供し、これによってＤＲＡＭの情報保持特性を改善し、或いはＳＲＡＭの待機時電流を低減するために好適な半導体装置の製造方法を提供する。 - 特許庁

The optical disk comprises: a recording area which has the data recorded in one or more physical clusters; a defective area in which a defect occurs before or during recording the data in the optical disk capable of recording and/or reproducing the data; and a recording end area having information indicating the end of recording recorded before the defective area.例文帳に追加

光ディスクは、少なくとも１つの物理的クラスタにデータが記録される記録領域と、データを記録及び／または再生できる光ディスクにおいて、データ記録前または使用中に欠陥が生じた欠陥領域と、前記欠陥領域前に記録の終了を示す情報が記録された記録終了領域と、を含むことを特徴とする。 - 特許庁

The respective measured values based on signals from the respective sensor 3 are input to a quality determining part 4 and compared, and when there is a difference larger than the preset reference value between the measured value in the central part and the measured value in at least one end part of both end parts, the long molded article 5 is determined to be a bending defect.例文帳に追加

各センサ３からの信号に基づく各測定値を良否判定部４に入力して比較し、中央部における測定値と、両端部のうち少なくともいずれか一方の端部における測定値との間に、予め設定された基準値以上の差がある場合には、その長尺状成形品５を曲がり不良と判定する。 - 特許庁

To provide a design support system, a design method, a design support program and a manufacturing method of a semiconductor integrated circuit, with which occurrence of a design pattern that is a main cause of a circuit defect and is difficult to be lithography-processed can be suppressed, dispersion due to manufacture fluctuation is suppressed and yield can be improved.例文帳に追加

回路不良要因であるリソグラフィー処理困難な設計パターンの発生を抑制でき、製造変動によるばらつきを抑制して歩留まりの向上を図ることが可能な半導体集積回路の設計支援システム、半導体集積回路の設計方法、半導体集積回路の設計支援プログラム、半導体集積回路の製造方法を提供する。 - 特許庁

To provide a laminating composition for an auxiliary fixing body capable of minimizing a tensile stress peak during splicing, as there is possibility of big loss caused even by a trivial defect or the weak point of a process for exchanging a flying reel in a coating device due to high speed and large acceleration mass in the range of tons, and also to provide an adhesive tape.例文帳に追加

コーティング装置におけるフライングリール交換は、高速度と、トン範囲の大きな被加速質量とのために、このプロセスの周辺的な欠陥または弱点でさえも大きな損失をもたらす可能性があり、スプライシング中の引張応力のピークの最小化が出来る固定補助体用のラミネーティング組成物、接着テープを提供。 - 特許庁

Based on the acknowledgment, an image defect is evaluated in a boundary between a first density region where the base fog generation rate is almost constant even when the set density is varied and a second density region where the base fog generation rate increases with increase in the set density or in a density region near the boundary in the relation between the set density and the fog generation rate.例文帳に追加

その上で、設定濃度と地かぶりの発生率との関係において、設定濃度を変化させても地かぶりの発生率が略一定で推移する第１濃度域と、設定濃度が大きくなるにつれて地かぶり発生率が高くなる第２濃度域と、の境界またはその近傍濃度域において画像欠陥を評価する。 - 特許庁

Since a low stress inside sealing resin 15 is injected into a molding space A at a low pressure and a low velocity, and the inside sealing resin 15 seals a semiconductor element 11, part of a lead frame 12, and the wire 13, it is possible to prevent the defect such as the deformation and breaking of the wire 13, or short circuit between the wires 13.例文帳に追加

低応力の内側封止樹脂１５を成形空間Ａに低圧及び低速度で注入して、内側封止樹脂１５により半導体素子１１、リードフレーム１２の一部、ワイヤー１３を封止しているので、ワイヤー１３の変形や断線、あるいは各ワイヤー１３同士の短絡等の不良を良好に防止することができる。 - 特許庁

The method for forming electric wiring or the electrode for the liquid crystal display, which does not have the thermal defect and is superior in adhesiveness, includes: using a copper target having a composition comprising 0.04 to 1 mass% oxygen and the balance Cu with unavoidable impurities; and sputtering the target in an inert gas atmosphere or in an inert gas atmosphere containing 3 vol% or less oxygen.例文帳に追加

酸素：０．０４〜１質量％を含有し、残部がＣｕおよび不可避不純物からなる組成を有する銅ターゲットを用い、不活性ガス雰囲気中または酸素：３体積％以下含んだ不活性ガス雰囲気中でスパッタリングする熱欠陥発生がなくかつ密着性に優れた液晶表示装置用配線または電極の形成方法。 - 特許庁

To provide a transparent conductive support that has both high electrical conductivity and transparency, is produced at a high speed, and reduces concern over occurrence of a light emission defect due to bending when an organic electronic element such as a flexible organic electroluminescence (EL) element and an organic solar cell is formed.例文帳に追加

本発明の目的は、高い導電性と透明性を兼ね備えてかつ、高速生産可能であり、フレキシブルな有機エレクトロルミネッセンス（ＥＬ）素子、有機太陽電池といった有機電子素子を形成した際に、折り曲げに対する発光不良を生ずる懸念を低減することが可能な透明導電性支持体を提供することにある。 - 特許庁

A single or a plurality of apertures are formed in the vicinities of solder balls of the integrated circuit device, a distance between the printed board and the integrated circuit device is measured by using a measuring means such as laser light from the opposite side of the side on which the integrated circuit device is packaged, and the contact defect position of the integrated circuit device is estimated by using the measured value.例文帳に追加

プリント基板のうち、集積回路デバイスのはんだボール近くに単数または複数の開口部を設け、プリント基板と集積回路デバイスとの距離を、集積回路デバイスが実装された側の反対側からレーザ光等の測定手段を用いて測定し、その値を用いて集積回路デバイスの接触不良箇所を推定する。 - 特許庁

The defect detection apparatus can correct an output luminance value of a background image according to a sensitivity characteristic of an imaging means in a background image correction step ST3 to approximate the output luminance value to an input value and correct the background image even if the background image is captured under a long exposure time and an extremely low luminance value.例文帳に追加

欠陥検出装置は、背景画像補正工程ＳＴ３にて撮像手段の感度特性に基づいて背景画像の出力輝度値を補正することで、露光時間を長くして輝度値が極端に低い背景用画像を撮像した場合でも、その出力輝度値を入力値に近似させることができ、背景画像の補正が実行できる。 - 特許庁

To provide CMP pad design for combining a structure of high rigidity necessary for excellent planarization efficiency, in addition to achievement of larger actual contact area with a workpiece and reduction or elimination of necessity for re-forming the texture, with a shape adaptability structure of low rigidity necessary for low defect ratio.例文帳に追加

加工物とのより大きな実接触面積を達成するだけでなく、テキスチャ再形成の必要性を減らすか、又は解消する加えて、良好なプラナリゼーション効率のために必要な高剛性の構造を、低い欠陥率のために必要な低剛性の形状適合性構造と組み合わせるＣＭＰパッド設計が要望されている。 - 特許庁

To provide sick house measures which avoid restriction on use of building materials etc. using phenol foam due to a defect that the phenol foam diffuses formaldehyde into the environment, and are effective to formaldehyde generated from furniture, building materials etc., and provide an effectively functioning formaldehyde decomposing and detoxifying means in a form of a practical building material panel.例文帳に追加

フェノールフォームがホルムアルデヒドを環境へ放散する欠点のため、これを用いた建材等が使用を制限される事態を回避すると共に、家具・建材等を発生源とするホルムアルデヒドに対して有効なシックハウス対策を提供すること、及びそのために、有効に機能するホルムアルデヒド分解無害化手段を実用的建材パネルの形で提供すること。 - 特許庁

To enhance the productivity of a thermoplastic resin sheet excellent in its thickness uniformity and reduced in its surface defect to a large extent by increasing the rotational speed of a cooling drum at a time of the extrusion molding of a thermoplastic resin and suppressing the generation of deteriorated resin increased in generation frequency as an increase in the rotational speed of the cooling drum.例文帳に追加

熱可塑性樹脂を押出し成形するに際し、冷却ドラム回転速度を上げることができ、しかも冷却ドラム回転速度を上げるに従いその発生頻度が高くなる目やにの発生を抑制することで、厚み均一性に優れた表面欠点の少ない熱可塑性樹脂シートの生産性を大幅に向上できる方法を提供する。 - 特許庁

To provide a method for manufacturing a printed circuit board in which a damage, a dirt does not occur on the surface of a photoresist layer from the contact of a board for a printed circuit board with a member in a conveying step or the like, and which has excellent followability of the photoresist layer to a ruggedness such as a nick or the like on a conductive board and very little defect.例文帳に追加

搬送工程等の部材とプリント配線板用基板の接触から生じるフォトレジスト層表面のキズ、汚れが発生せず、またフォトツールの汚れが生じず、また、導電性基板上の打痕等の凹凸部に対するフォトレジスト層の追従性が優れ、欠陥が非常に少ない、プリント配線板の作製方法を提供しようとするものである。 - 特許庁

In an optical element 1 having optical function surfaces 7, 8 including optically effective regions 10, 11, there are provided comparison standard parts 12, 14 for the visual inspection, that become comparison references when performing the visual inspection of surface defect of the optically effective regions 10, 11 based on their appearances, outside the optically effective regions 10, 11.例文帳に追加

光学有効領域１０、１１を含む光学機能面７、８を有する光学素子１において、前記光学有効領域１０、１１の外側に、前記光学有効領域１０、１１の表面欠陥を外観に基づいて検査する外観検査を行う際の比較基準となる外観検査用比較基準部１２、１４を有すること。 - 特許庁

To provide a semiconductor device which prevents a crystal defect pit of a semiconductor substrate in which an MIS transistor by formation of an application version insulating film is formed, prevents a malfunction of a circuit when including a low breakdown voltage MIS transistor, and can suppress a deviation of a threshold value in addition to prevent the malfunction of the circuit when including a high breakdown voltage MIS transistor.例文帳に追加

塗布型絶縁膜の形成によるＭＩＳトランジスタが形成された半導体基板の結晶欠陥ピットを防止し、低耐圧ＭＩＳトランジスタを含む場合は回路の誤動作を防止し、高耐圧ＭＩＳトランジスタを含む場合は回路の誤動作防止に加えて閾値のずれの抑制が可能な半導体装置を提供する。 - 特許庁

To avoid the defect that a construction machine carelessly operates when installing or uninstalling a table or when drawing up a document or eating and drinking by use of the table, in the case that the table disposed near an operation seat in use and stored in a storage holder in nonuse is provided in a driver's cab of the construction machine.例文帳に追加

建設機械の運転室に、使用時には運転座席の近傍に配設され、非使用時には収納ホルダーに収納されるテーブルを設けるにあたり、テーブルを取付けたり取外したりするときや、テーブルを用いて書類を作成したり飲食をしたりするときに、建設機械が不用意に作動してしまうような不具合を回避する。 - 特許庁

When the number of pixels each brightness value of which is over a specified separation threshold is smaller than a specified determination number, relative to pixels in an inspection domain by using the striped bright domain Db in a density image acquired by the imaging apparatus 3 as the inspection domain, an image processing device 4 determines to be a void defect wherein a void amount occupied in the inspection object is excessive.例文帳に追加

画像処理装置４は、撮像装置３により得られた濃淡画像のうち縞状明領域Ｄｂを検査領域とし検査領域内の画素について、輝度値が規定の分離閾値以上である画素の個数が規定した判定個数以下のときに、検査対象に占めるボイドの量が過剰であるボイド不良と判定する。 - 特許庁

A defect inspection device 1 includes a light source 2 for irradiating an inspection target surface 10 of a box B with a plurality of beans of slit light L; a camera 3 for photographing the slit light L emitted from the light source 2; and an image processing part 4 for determining the quality of the box B by processing an image G photographed by the camera 3.例文帳に追加

不良検査装置１は、箱Ｂの検査対象とする面１０に対して複数本のスリット光Ｌを照射する光源部２と、光源部２により照射されたスリット光Ｌを撮像するカメラ部３と、カメラ部３によって撮像された画像Ｇを処理して箱Ｂの良・不良を判定する画像処理部４と、を備えている。 - 特許庁

To prevent defect, in which a shape of adhesion unevenness is copied in a graphic, by a concise and low cost means if an adhesive applied to a reverse surface of a solid state image sensing element has its adhesion unevenness when the reverse surface of the solid state image sensing element formed on a semiconductor substrate is adhered to an element supporting surface of a package by using the adhesive such as silver paste.例文帳に追加

半導体基板に形成した固体撮像素子の裏面を、銀ペーストのような接着剤を使用してパッケージの素子支持面に接着する場合に、固体撮像素子の裏面に塗布した接着剤に付着むらがあると、その付着むらの形状が画像に写し込まれてしまうという不具合を、簡明で低コストの手段によって防止する。 - 特許庁

To provide a shading correction method wherein, in detection of surface defects using an image, a part or all of a large-area defect flatly extending over a wide range on a surface to be inspected is not removed from an image by correction, and no rebounding phenomenon occurs in the corrected image in the vicinity of a boundary between the inside and outside of the target to be inspected.例文帳に追加

画像を用いた表面欠陥検出に際し、検査対象表面上の広い範囲に平坦に広がる大面積欠陥が補正によって画像からその一部または全体が除去されず、かつ検査対象内と外との境界部付近において補正された画像に跳ね返り現象が発生しないシェーディング補正方法を提供すること。 - 特許庁

Besides, since the inter-layer insulating film 6 is formed between the respective terminals as well, even when etching is performed for the etching time for the ITO formed on the inter-layer insulating film 6, no ITO is left between the terminals, the ITO can be patterned through one time of resist pattern forming process and etching process, and the occurrence of a leak defect between terminals can be prevented.例文帳に追加

また、各端子間にも層間絶縁膜６が形成されているため、層間絶縁膜６上に形成されたＩＴＯに対するエッチング時間でエッチングを行っても端子間にＩＴＯが残ることなく、一回のレジストパターン形成工程及びエッチング工程でＩＴＯのパターン形成を行うことができ、端子間のリーク不良の発生を防止できる。 - 特許庁

The decoder can avoid the occurrence of an unexpected defect through carelessness at the time of transferring data by setting the clock used at the time of transferring a transport stream from external equipment received by means of a digital interface means 20 to a decoding means 14 at the clock speed corresponding to such a transport stream that can be inputted through the interface means 20 and has the most fast transmission speed.例文帳に追加

ディジタルインターフェース手段２０で受信した外部機器からのトランスポートストリームを復号処理手段１４に転送する際に用いられるクロックを、ディジタルインターフェイス手段２０を介して入力可能な最も伝送速度の速いトランスポートストリームに対応したクロックスピードに設定することにより、データの転送取りこぼしを回避し得る。 - 特許庁

Therefore, even if the heater plate has slight unevenness or projections on its surface, the mounting jig is placed in secure contact, temperature tracking characteristics of the mounting jig for the temperature of the heater plate are improved, and the mounting jig can be brought under temperature control suitable for liquid crystal injection through the heater plate, so defect generation during the liquid crystal injection are reduced to improve the yield.例文帳に追加

従って、ヒータ・プレートの表面に多少の凹凸や突起があっても接触は確実となり、ヒータ・プレートの温度に対する搭載治具の温度の追従性がよく、ヒータ・プレートを経て前記搭載治具を液晶注入に最適な温度制御を行うことができるので、液晶注入時の不良発生が少なくなり歩留まりが向上する。 - 特許庁

In a semiconductor test device provided with a fail memory storing defect information of a semiconductor memory to be tested having a spare column memory and a spare row memory, the fail memory has such constitution that the memory is divided into a fail memory 110 for semiconductor memory, a fail memory 120 for spare column, a fail memory 130 for spare row, and a fail memory 140 for spare intersection.例文帳に追加

スペアコラムメモリ及びスペアロウメモリを有する被試験半導体メモリの不良情報を記憶するフェイルメモリを備えた半導体試験装置において、上記フェイルメモリを、半導体メモリ用フェイルメモリ１１０、スペアコラム用フェイルメモリ１２０、スペアロウ用フェイルメモリ１３０及びスペア交差用フェイルメモリ１４０に分割した構成とする。 - 特許庁

To compensate an oxygen defect in a Ta2O5 film and to minimize the formation of an oxide film at the interface between the Ta2O5 film and an Si substrate during a heat treatment process for crystallizing the Ta2O5 film, and to minimize the diffusion of impurity elements in a channel doped region in a semiconductor device having the Ta2O5 film as a gate insulating film.例文帳に追加

Ｔａ_2 Ｏ_5 膜をゲート絶縁膜として有する半導体装置において、前記Ｔａ_2 Ｏ_5 膜中の酸素欠損を補償し、またこれを結晶化させる熱処理工程の際に前記Ｔａ_2 Ｏ_5 膜とＳｉ基板との界面において生じる酸化膜の形成を最小化し、またチャネルドープ領域中の不純物元素の拡散を最小化する。 - 特許庁

Further, there is a gap between each columnar member 22 and the frame member 16, so the air bubble 30 is held stably in the gap while being in contact with the frame member 16 and columnar member 22 to suppress the movement of the air bubble 30 to the display region E, and the generation of the display defect due to the air bubble 30 can be more effectively suppressed.例文帳に追加

また、柱状部材２２は、フレーム部材１６との間に間隙を有するので、気泡３０は、フレーム部材１６と柱状部材２２とに接して、そのフレーム部材１６と柱状部材２２との間隙に安定的に保持されることにより、表示領域Ｅへの移動が抑制され、気泡３０による表示不良の発生を、より抑制することができる。 - 特許庁

Thus, target defect determination is carried out even when an inspection environment is not set to a low temperature.例文帳に追加

書き込み期間を自由に選択できる回路（９）を内蔵し、メモリセルに製品仕様の書込みタイミングよりも短いテスト用タイミングでデータの書込み期間を実施し、メモリセルに蓄えられる電荷量を制限した状態で書き込まれたデータが正常かどうかをチェックしてメモリセルの検査を行うことによって、検査環境を低温にしなくても、目的の不良判別を実現できる。 - 特許庁

When the focal distance is short (that means, the photographing viewing angle is wide), a bright photographic image is obtained by increasing the light transmissive effective diameter of the light shielding member, and when the focal distance is long (that means, the photographing viewing angle is narrow), the occurrence of an image defect is accurately avoided by decreasing the light transmissive effective diameter of the light shielding member.例文帳に追加

焦点距離が短い（すなわち、撮影画角が広い）ときには、遮光部材の光透過有効径を増加させることによって明るい撮影画像を得ることができ、焦点距離が長い（すなわち、撮影画角が狭い）ときには遮光部材の光透過有効径を減少させることによって、高精度に画像欠陥の発生を回避することができる。 - 特許庁

(i) Where a program does not have normally expected function nor quality (judged by the reasonable standard based on the trade practice); and (ii) where any malfunction occurs when the program is used under the usually predictable circumstances or along with the usually predictable way of use, then the bug in the program is deemed to be a defect, and the user can hold the Vendor responsible therefor. 例文帳に追加

①取引の通念に照らし合理的に期待される通常有すべき機能・品質をプログラムが有していない場合であって、かつ②通常予見可能な使用環境・使用方法の範囲内で動作上の不具合が発生した場合、そのプログラムのバグは瑕疵に該当するものと解され、ベンダーの責任を問うことができる。 - 経済産業省

(1) Where the user is a consumer Some license agreements have disclaimer clauses concerning defect warranty liability or main obligation of the contract. However, in consumer contracts, the following special clauses are likely to be declared invalid as violations of Subparagraphs 1, 2, or 5, Paragraph 1, Article 8 r Article 10 of the Consumer Contract Act: . 例文帳に追加

①ユーザーが消費者である場合ライセンス契約に、ベンダーの瑕疵担保責任又は債務不履行責任を免責する特約が置かれることがあるが、消費者契約の場合、下記のような特約については、消費者契約法第８条第１項第１号，第２号，第５号又は第１０条に該当し、無効と解される可能性がある。 - 経済産業省

A defect correction unit 330 detects respective edges of a first image formed by the pixel values of image generation pixels and a second image formed by the pixel values of phase difference detection pixels among pixel values included in image data generated by an image pickup apparatus comprising plural image generation pixels and plural pairs of phase difference detection pixels.例文帳に追加

欠陥補正部３３０は、画像生成画素と一対の位相差検出画素とのそれぞれを複数備える撮像素子により生成される画像データに含まれる画素値のうち前記画像生成画素の画素値により形成される第１像と、前記位相差検出画素の画素値により形成される第２像とのそれぞれのエッジを検出する。 - 特許庁

To provide a defect inspection device and its method capable of executing inspection by discriminating an adhering foreign matter from scratches having various shapes generated on the surface when abrading or grinding such as CMP or the like is applied to a processing object (for example, an insulating film on a semiconductor substrate) in semiconductor manufacture or magnetic head manufacture.例文帳に追加

半導体製造や磁気ヘッド製造において、被加工対象物（例えば、半導体基板上の絶縁膜）に対してＣＭＰなどの研磨または研削加工を施した際、その表面に生じる様々な形状を有するスクラッチと付着する異物とを弁別して検査することができるようにした欠陥検査装置およびその方法を提供することにある。 - 特許庁

The ultrasonic flaw detection method performs ultrasonic flaw detection of defects, such as cracks that are generated at the fillet-welding section by applying ultrasonic waves that are generated by a transmission probe via welding beads at one side and receiving ultrasonic waves that are reflected by such defect as cracks, using a reception probe via welding beads at the opposite side.例文帳に追加

本発明の請求項１に係る超音波探傷方法は、隅肉溶接部に発生するき裂等の欠陥検出を、送信探触子より発した超音波を片側の溶接ビードを介して入射し、き裂等の欠陥で反射した超音波をその反対側の溶接ビードを介して受信探触子により受信することにより超音波探傷を行うものである。 - 特許庁

To enable quick determination of the angle of refraction or the propagation velocity of an ultrasonic wave in the incidence of the ultrasonic wave, even if a specimen is acoustically anisotropic in an ultrasonic flaw detector and moreover, holding of the angle of refraction within a fixed range as required by eventually specifying the position of a defect in a short time.例文帳に追加

超音波探傷装置において、音響異方性のある被検体であっても超音波が入射するときの屈折角あるいは超音波の伝播速度を迅速に求めることを可能とし、その結果、短時間で欠陥の位置を特定でき、さらに、音響異方性のある被検体についても、必要に応じて屈折角を一定の範囲に抑えることを可能にする。 - 特許庁

To provide a device allowing technical personnel having gone through average training and having average ability to prepare a defect-free specimen by remarkably enlarging specimen preparing speed to improve the quality of an instantaneous immobilized structure specimen to be tested, improving the reliability and reproducibility of specimen preparation, and facilitating operational technical process during specimen preparation.例文帳に追加

試料調製速度を著しく大きくして被検対象の瞬間構造固定試料の質を改善することを可能にし、試料調製の確実性と再現性を改善し、かつ試料調製の際の操作技術的経過を容易にして平均的な訓練を受けかつ平均的な才能を有する技術員でも欠陥のない試料を調製する装置を提供する。 - 特許庁

To prevent residual toner from being discharged onto a surface of an image carrier at unintended timing or to suppress a defect in cleaning residual toner on the image carrier surface as to a cleaning device which is employed for an electrophotography system such as a copying machine, facsimile equipment, and removes a residue such as residual toner and an image forming apparatus equipped with the cleaning device.例文帳に追加

複写機、ファクシミリなどの電子写真方式で採用される、残留トナー等の残留物を除去するクリーニング装置、およびそのクリーニング装置を備えた画像形成装置に関し、意図しないタイミングで残留トナーが像担持体表面に吐き出されたり、あるいは像担持体表面における残留トナーのクリーニング不良が引き起こされることを抑える。 - 特許庁

To detect defects even in incomplete unit patterns, in which parts of a pattern are absent in defect inspection for detecting defects present in the surfaces of samples, by comparing corresponding parts with one another of unit patterns which repeatedly appear in correspondence, to repeated patterns in inspection images acquired by imaging the surfaces of the samples in which the repetitive patterns are formed.例文帳に追加

繰り返しパターンが形成された試料の表面を撮像して得られる検査画像において、この繰り返しパターンに対応して繰り返し現れる単位パターンのそれぞれの対応する部分同士を比較することにより、試料の表面に存在する欠陥を検出する欠陥検査において、一部のパターンが欠けた不完全な単位パターンにおいても欠陥検出を可能にする。 - 特許庁